JPS60236500A - 線形粒子加速装置 - Google Patents
線形粒子加速装置Info
- Publication number
- JPS60236500A JPS60236500A JP9317384A JP9317384A JPS60236500A JP S60236500 A JPS60236500 A JP S60236500A JP 9317384 A JP9317384 A JP 9317384A JP 9317384 A JP9317384 A JP 9317384A JP S60236500 A JPS60236500 A JP S60236500A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- particle accelerator
- linear particle
- current
- output
- target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims description 19
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 8
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 101100411640 Schizosaccharomyces pombe (strain 972 / ATCC 24843) rad8 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 235000014347 soups Nutrition 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Particle Accelerators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は線形粒子加速装置に関し、特にベンディングシ
ステムを用いない線形粒子加速装置において、ＸＳ照射
時における、出力エネルギーの異常を検出することので
きる線形粒子加速器！に関する。 〔従来技術〕 一般に線形粒子加速装置においては、成る高周波電力に
よシミ子を加速する場合、そのビーム電流と加速エネル
ギとの間には下記の如き関係がある。 ■＝加速エネルギー（ＭｅＶ）、Ｆ、Ｇ：定数、β：カ
ップリング係数、Ｐｏ：高周波電力（ＭＷ ）、ＺＴ”
：シャントインピ、−ダンス（ＭΩ／ｉ）、 。 ｌＴ＝加速管の長さくｍ）、ｉｂ：ビーム電流（Ａ）こ
こで、Ｆ、Ｇ、βｔＺＴ”ｓノ丁は加速管特有の定数で
あるので（１）式は ｖ＝ｋｘ−Ｊワに、 ｔｂＨＨ＋ （２）となる。ただ
し、 −従って（２）式よシ、加速エネルギーＶを一定に保つ
ためには、高周波電力ｐｏを一定に保つ必要がある。 しかしながら高周波電力ＰＯはその発生装置の動作状態
や、高周波立体回路の効率等の変化によシ実質的な加速
管表供給させる高周波電力は変動する可能性がある。゛
このため加速エネルギーは常変動する可能性があるが、
この変、動輪が６−１大きいと、治療計画上不具会が生
じ、る。従来、加速エネルギーの変動を検出するためＫ
は、ベンディングマグネットを用いて出力ビームをベン
ディングさせ、ベンディングマグネットを一種のエネル
ギースリットとして用い、ベンディング電流をモニター
する事によシ、間接的にエネルギーの変動を検出すると
いう手段を用いていた。したがって、エネルギー変動を
直接検出していない点、及びベンディングシステムを用
いない装置に対しては、適用出来ない等の欠点があった
。
ステムを用いない線形粒子加速装置において、ＸＳ照射
時における、出力エネルギーの異常を検出することので
きる線形粒子加速器！に関する。 〔従来技術〕 一般に線形粒子加速装置においては、成る高周波電力に
よシミ子を加速する場合、そのビーム電流と加速エネル
ギとの間には下記の如き関係がある。 ■＝加速エネルギー（ＭｅＶ）、Ｆ、Ｇ：定数、β：カ
ップリング係数、Ｐｏ：高周波電力（ＭＷ ）、ＺＴ”
：シャントインピ、−ダンス（ＭΩ／ｉ）、 。 ｌＴ＝加速管の長さくｍ）、ｉｂ：ビーム電流（Ａ）こ
こで、Ｆ、Ｇ、βｔＺＴ”ｓノ丁は加速管特有の定数で
あるので（１）式は ｖ＝ｋｘ−Ｊワに、 ｔｂＨＨ＋ （２）となる。ただ
し、 −従って（２）式よシ、加速エネルギーＶを一定に保つ
ためには、高周波電力ｐｏを一定に保つ必要がある。 しかしながら高周波電力ＰＯはその発生装置の動作状態
や、高周波立体回路の効率等の変化によシ実質的な加速
管表供給させる高周波電力は変動する可能性がある。゛
このため加速エネルギーは常変動する可能性があるが、
この変、動輪が６−１大きいと、治療計画上不具会が生
じ、る。従来、加速エネルギーの変動を検出するためＫ
は、ベンディングマグネットを用いて出力ビームをベン
ディングさせ、ベンディングマグネットを一種のエネル
ギースリットとして用い、ベンディング電流をモニター
する事によシ、間接的にエネルギーの変動を検出すると
いう手段を用いていた。したがって、エネルギー変動を
直接検出していない点、及びベンディングシステムを用
いない装置に対しては、適用出来ない等の欠点があった
。
本発明の目的は、上述の欠点を除去し、ビーム電流と電
離電流との間の特定の関係を利用して出力エネルギーの
変動を精度よく検出することの出来る線形粒子加速装置
を提供することにある。 〔発明の構成〕 本発明の線形粒子加速装置は、線形粒子加速器から照射
されるＸ線に応じた電離電流を検出する電離箱と、前記
線形粒子加速器のターゲット電流を検出するモニター回
路と、前記電離電流と前記ターゲット電流の差分に対応
する差出力を得る手段と、この差出力が所定の範囲外で
あることを示す制御信号を出力する比較手段と、前記制
御信号の入力によジインターロック機構を介して前記線
形粒子加速器の出力ビームを停止するインターロック回
路とを具備することを特徴とする。 〔原理と作用〕 一般に線形粒子加速器をｘｍ源として使用する場合、タ
ーゲットに重金属を用い前方に於けるＸ線強度をＷＸ
（ＲＡＤ８／ｍｉ ｎ／ｍ）とすればＷｘ＝に−ｉ’Ｖ
” −−−・・（３）ｉ：ビーム電流（平均値）（μ人
）、ｎ：定数、■：電子のエネルギー（ＭｅＶ）、ｋ：
ターゲツト材質による定数 という関係が成立する。本発明は、このＸ線強度Ｗｘ即
ちＸ線出力とビーム電流即ちターゲット電〜 流の特定の関係を利用し、出力エネルギー■の変動を検
出しようとするものである。 〔実施例〕 以下、本発明について、図面を参照して詳細に説明する
。第１図は本発明の線形粒子加速装置の一実施例のブロ
ック図を示し、電離箱１と、ターゲット電流モニター回
路２と、増幅器３および４と、差動増幅器５と、比較器
６と、基準電圧発生器７と、インターロック回路８とを
示している。 次に本実施例の動作について説明する。線形粒ヱ＋ｎオ
壮ａ＃晶ξ−鋪１ Ｙ鎖端（開始づｈイ亀へ入汁鮨にお
いては、電離箱１から出力される電離電流を検出し、前
記電離電流は、電流−電圧変換器を含む増幅器３を介し
て差動増幅器５の一方の入力端子に入力される。一方、
ターゲット電流モニター回路２から出力するターゲット
電流は増幅器４によシミ圧に変換、増幅され、差動増幅
器５の他方の入力端子に入力される。差動増幅器５にお
いては前述のとお族Ｘ線の線量に対応する電離箱１の電
離電流出力の増幅器３を介する出力電圧ｖＩＬと、ター
ゲット電流モニタ回路２から検出され′るターゲット電
流の増幅器゛４を介する出力電圧ｖＴとを入力してｖＲ
−ＶＴに対応する差出力電圧を出力して比較器６に入力
する。比較器６においては、基準電圧発生器７において
生成される所定の上限電圧と下限電圧とを入力して、差
動増幅器５よシ入力される前記ｖ 、−Ｖ Ｔに対応す
る差出力との比較をとシ前記差出力が増大して、前記上
限電圧を越える場合、または前記差出力が減少して前記
下限電圧を越える場合において、インターロック機構（
図示せず）を作動させる制御信号をインターロック回路
８に出力する。インターロック回路８は前記制御信号を
入力して、前記インターロック機構を介して線形粒子加
速装置の出力ビームを停止する。 ここでＸ、＠の１ｔＡｊｔ （Ｗｘ ）と電子ビーム電
流（りとの間には（３）式の関係が成立するので、電子
ビーム電流即ちターゲット電流ＩＴと、Ｘ線による電離
電流Ｉｃの間には、電子のエネルギーＶをパラメータと
する比例関係が成り立つ。従って、線形粒子加速装置に
おいて前記電子のエネルギーＶが変化すれば、ターゲッ
ト電流ＩＴと電離電流Ｉｃとの対比において、極めて容
易にそのエネルギーの変化を判利することが出来る。 なお前述のターゲット電流ＩＴと電離電流Ｉｃとの比較
は電子ビームのパルス毎に比較してもよいし、または、
所定の時間における前記ＩＴおよびＩｃの平均値はもし
くは積分値を用いて比較してもよい。また、基準電圧発
生器７において、生成される所定の上限電圧と下限電圧
は治療上問題とならない範囲内で適当に設定が可能であ
る〇〔発明の効果〕 以上詳細に説明したように、本発明の線形粒子加速装置
は、Ｘ線の照射運用時において、Ｘ線エネルギーの変動
を検出することが可能であり、その変動の度合に応じて
、インターロック機能を含む安全対策が可能になるとい
う効果がある。
離電流との間の特定の関係を利用して出力エネルギーの
変動を精度よく検出することの出来る線形粒子加速装置
を提供することにある。 〔発明の構成〕 本発明の線形粒子加速装置は、線形粒子加速器から照射
されるＸ線に応じた電離電流を検出する電離箱と、前記
線形粒子加速器のターゲット電流を検出するモニター回
路と、前記電離電流と前記ターゲット電流の差分に対応
する差出力を得る手段と、この差出力が所定の範囲外で
あることを示す制御信号を出力する比較手段と、前記制
御信号の入力によジインターロック機構を介して前記線
形粒子加速器の出力ビームを停止するインターロック回
路とを具備することを特徴とする。 〔原理と作用〕 一般に線形粒子加速器をｘｍ源として使用する場合、タ
ーゲットに重金属を用い前方に於けるＸ線強度をＷＸ
（ＲＡＤ８／ｍｉ ｎ／ｍ）とすればＷｘ＝に−ｉ’Ｖ
” −−−・・（３）ｉ：ビーム電流（平均値）（μ人
）、ｎ：定数、■：電子のエネルギー（ＭｅＶ）、ｋ：
ターゲツト材質による定数 という関係が成立する。本発明は、このＸ線強度Ｗｘ即
ちＸ線出力とビーム電流即ちターゲット電〜 流の特定の関係を利用し、出力エネルギー■の変動を検
出しようとするものである。 〔実施例〕 以下、本発明について、図面を参照して詳細に説明する
。第１図は本発明の線形粒子加速装置の一実施例のブロ
ック図を示し、電離箱１と、ターゲット電流モニター回
路２と、増幅器３および４と、差動増幅器５と、比較器
６と、基準電圧発生器７と、インターロック回路８とを
示している。 次に本実施例の動作について説明する。線形粒ヱ＋ｎオ
壮ａ＃晶ξ−鋪１ Ｙ鎖端（開始づｈイ亀へ入汁鮨にお
いては、電離箱１から出力される電離電流を検出し、前
記電離電流は、電流−電圧変換器を含む増幅器３を介し
て差動増幅器５の一方の入力端子に入力される。一方、
ターゲット電流モニター回路２から出力するターゲット
電流は増幅器４によシミ圧に変換、増幅され、差動増幅
器５の他方の入力端子に入力される。差動増幅器５にお
いては前述のとお族Ｘ線の線量に対応する電離箱１の電
離電流出力の増幅器３を介する出力電圧ｖＩＬと、ター
ゲット電流モニタ回路２から検出され′るターゲット電
流の増幅器゛４を介する出力電圧ｖＴとを入力してｖＲ
−ＶＴに対応する差出力電圧を出力して比較器６に入力
する。比較器６においては、基準電圧発生器７において
生成される所定の上限電圧と下限電圧とを入力して、差
動増幅器５よシ入力される前記ｖ 、−Ｖ Ｔに対応す
る差出力との比較をとシ前記差出力が増大して、前記上
限電圧を越える場合、または前記差出力が減少して前記
下限電圧を越える場合において、インターロック機構（
図示せず）を作動させる制御信号をインターロック回路
８に出力する。インターロック回路８は前記制御信号を
入力して、前記インターロック機構を介して線形粒子加
速装置の出力ビームを停止する。 ここでＸ、＠の１ｔＡｊｔ （Ｗｘ ）と電子ビーム電
流（りとの間には（３）式の関係が成立するので、電子
ビーム電流即ちターゲット電流ＩＴと、Ｘ線による電離
電流Ｉｃの間には、電子のエネルギーＶをパラメータと
する比例関係が成り立つ。従って、線形粒子加速装置に
おいて前記電子のエネルギーＶが変化すれば、ターゲッ
ト電流ＩＴと電離電流Ｉｃとの対比において、極めて容
易にそのエネルギーの変化を判利することが出来る。 なお前述のターゲット電流ＩＴと電離電流Ｉｃとの比較
は電子ビームのパルス毎に比較してもよいし、または、
所定の時間における前記ＩＴおよびＩｃの平均値はもし
くは積分値を用いて比較してもよい。また、基準電圧発
生器７において、生成される所定の上限電圧と下限電圧
は治療上問題とならない範囲内で適当に設定が可能であ
る〇〔発明の効果〕 以上詳細に説明したように、本発明の線形粒子加速装置
は、Ｘ線の照射運用時において、Ｘ線エネルギーの変動
を検出することが可能であり、その変動の度合に応じて
、インターロック機能を含む安全対策が可能になるとい
う効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図でおる。
１・・・・・・電離箱、２・・・・・・ターゲット社流
モニタ回路、３．４・・・・・・増幅器、５・・・・・
・差動増幅器、６・・・・・・比較器、７・・・・・・
基準電圧発生器、８・・自・・インターロック回路。
モニタ回路、３．４・・・・・・増幅器、５・・・・・
・差動増幅器、６・・・・・・比較器、７・・・・・・
基準電圧発生器、８・・自・・インターロック回路。
Claims (1)
- 線形粒子加速器から照射されるＸ線に応じた電離電流を
検出する電離箱と、前記線形粒子加速器のターゲットｉ
ｔ流を検出するモニター回路と、前記電離電流と前記タ
ーゲット′＃ｌＬ流の差分に対応する差出力を得る手段
と、この差出力が所定の範囲外であることを示す制御信
号を出力する比較手段と、前記制御信号の入力によジイ
ンターロック機構を介して前記線形粒子加速器の出力ビ
ームを停止するＩインター四ツ２回路とを具備すること
を特徴とする線形粒子加速装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9317384A JPS60236500A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 線形粒子加速装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9317384A JPS60236500A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 線形粒子加速装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60236500A true JPS60236500A (ja) | 1985-11-25 |
Family
ID=14075175
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9317384A Pending JPS60236500A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 線形粒子加速装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60236500A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017201605A (ja) * | 2016-05-06 | 2017-11-09 | 日本メジフィジックス株式会社 | サイクロトロン制御装置、サイクロトロン、サイクロトロン制御プログラムおよび放射性薬剤の製造方法 |
| JP2017204337A (ja) * | 2016-05-09 | 2017-11-16 | 日本メジフィジックス株式会社 | サイクロトロン制御装置、サイクロトロン、サイクロトロン制御プログラムおよび放射性薬剤の製造方法 |
-
1984
- 1984-05-10 JP JP9317384A patent/JPS60236500A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017201605A (ja) * | 2016-05-06 | 2017-11-09 | 日本メジフィジックス株式会社 | サイクロトロン制御装置、サイクロトロン、サイクロトロン制御プログラムおよび放射性薬剤の製造方法 |
| JP2017204337A (ja) * | 2016-05-09 | 2017-11-16 | 日本メジフィジックス株式会社 | サイクロトロン制御装置、サイクロトロン、サイクロトロン制御プログラムおよび放射性薬剤の製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0415226B1 (en) | Apparatus and metod for inhibiting the generation of excessive radiation | |
| US12387900B2 (en) | Systems and methods for real-time energy and dose monitoring of an X-ray linear accelerator | |
| EP0322656A1 (en) | Assembly and method for monitoring the lateral position of a beam of ionizing radiation | |
| US20050100133A1 (en) | Microfocus x-ray apparatus | |
| JPH05154209A (ja) | 放射線治療装置 | |
| EP0705058B1 (en) | Device for supplying electric power to flashlamp and method thereof | |
| JPS607049A (ja) | 電位測定装置 | |
| JP5614679B2 (ja) | イオンビーム照射装置におけるフィードバックシステム | |
| US2829272A (en) | X-ray apparatus and method | |
| JP2021144917A (ja) | 粒子加速器の診断装置、粒子加速器の診断方法及び粒子加速器の診断プログラム | |
| US3377506A (en) | Electromagnetic current control for a hollow cathode | |
| US4471265A (en) | Apparatus for counteracting the cathode current increase occurring during warming-up in a travelling-wave tube in response to variation in the grid-cathode distance | |
| EP0429402A2 (en) | A device for supplying power to gas-discharge lamps for use in motor vehicles | |
| JPS59169044A (ja) | 電界放射形電子ビ−ム装置 | |
| US4884043A (en) | High-frequency generator | |
| JPH0143277B2 (ja) | ||
| JP3504966B2 (ja) | Ｘ線装置 | |
| JPS60158390A (ja) | 中性子源領域検出器の動作可能性を決定する方法 | |
| JPH07136290A (ja) | 放射線治療装置 | |
| SU1363098A1 (ru) | Бесконтактный датчик параметров ускоренного пучка зар женных частиц | |
| Blinov et al. | Collective interactions ofrunaway'electrons with the plasma in the stellarator S-1 | |
| US2627036A (en) | Photorelay circuit | |
| JPH0193098A (ja) | パルスｘ線発生装置 | |
| JPH025349A (ja) | ディスク電流の異常検知装置 | |
| Krafft et al. | Electron-beam diagnostics for Jefferson Lab's high power free electron laser |