JPS60243780A - 画像処理装置 - Google Patents
画像処理装置Info
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- JPS60243780A JPS60243780A JP59100222A JP10022284A JPS60243780A JP S60243780 A JPS60243780 A JP S60243780A JP 59100222 A JP59100222 A JP 59100222A JP 10022284 A JP10022284 A JP 10022284A JP S60243780 A JPS60243780 A JP S60243780A
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- 230000006870 function Effects 0.000 claims abstract description 21
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Landscapes
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、テレビカメラによって撮像され、多値化され
たデジタル画像情報を処理する画像処理装置に関する。
たデジタル画像情報を処理する画像処理装置に関する。
背景技術
従来から濃淡画像のパターン認識を9デなうには、まず
画像中のエツジを取り出して線画(論理「0」と論理「
1」とから成り論理(1」が連なって線を描く画像)を
作成し、その後その線画の特徴を抽出してパターンの認
識を行な一層ている。濃淡画像からエツジを抽出するに
は、画像中の濃度の変化を取り出せばよいので一般に微
分法が用いられる。その微分法により、画像のエツジ要
素を抽出することかできる。たとえば3×3−次元微分
オペレータの横方向の変化を7×とし、その縦方向の変
化を/yとすると、2次元釣機分値の大きさIEIは次
の第1式でまる。
画像中のエツジを取り出して線画(論理「0」と論理「
1」とから成り論理(1」が連なって線を描く画像)を
作成し、その後その線画の特徴を抽出してパターンの認
識を行な一層ている。濃淡画像からエツジを抽出するに
は、画像中の濃度の変化を取り出せばよいので一般に微
分法が用いられる。その微分法により、画像のエツジ要
素を抽出することかできる。たとえば3×3−次元微分
オペレータの横方向の変化を7×とし、その縦方向の変
化を/yとすると、2次元釣機分値の大きさIEIは次
の第1式でまる。
l E l ”ax2+ay2 ・・・(1)またその
変化の方向は次の第2式でまる。
変化の方向は次の第2式でまる。
l E = t a n −’ (A y / 11
x ) −(2)上記第1式および第2式の演算処理で
はは、画像のエツジ線の幅は広いので、さらにエツジ線
の幅を1個の画素の幅に細めるため更に強い微分値を有
する息を抽出すする2値化処理を行なう。この2値化処
理を行なうと、原画は大略的にエツジ線画となる。ここ
で大略的とは、原画のフントラストが十分でなかったり
、ノイズの多い画像ではエツジ線は不連続になりやすい
ということである。
x ) −(2)上記第1式および第2式の演算処理で
はは、画像のエツジ線の幅は広いので、さらにエツジ線
の幅を1個の画素の幅に細めるため更に強い微分値を有
する息を抽出すする2値化処理を行なう。この2値化処
理を行なうと、原画は大略的にエツジ線画となる。ここ
で大略的とは、原画のフントラストが十分でなかったり
、ノイズの多い画像ではエツジ線は不連続になりやすい
ということである。
このようなエツジ線の不連続を連続させるために、不連
続なエツジの端点より始めて、着目する画素とその周囲
点の画素間の評価関数を計算し、その評価関数値の最も
大きい周囲点へとエツジを延長して行き、他のエッソ点
にぶつ力・るまで延長を行なう。この評価関数j−1は
、次の第3式に示すようになる。
続なエツジの端点より始めて、着目する画素とその周囲
点の画素間の評価関数を計算し、その評価関数値の最も
大きい周囲点へとエツジを延長して行き、他のエッソ点
にぶつ力・るまで延長を行なう。この評価関数j−1は
、次の第3式に示すようになる。
)1=lEilXcos(/Eo−/Ei) ・・・(
3)ただし、IEil は着目する周囲点の1点の微分
値の大きさ、l E iは/E(〉に対する微分値の方
向である。従来から以上のような理論に基づいて、画像
の抽出が行なわれる。
3)ただし、IEil は着目する周囲点の1点の微分
値の大きさ、l E iは/E(〉に対する微分値の方
向である。従来から以上のような理論に基づいて、画像
の抽出が行なわれる。
第1図は、情報処理学会第23回(昭和56年後期)全
国大会において発表された富田文明氏の[エツジを利用
した領域抽出」に関する画像処理装置のブロック図であ
る。画像メモリMは、画面上の複数の画素に個別的対応
する画像データをそれぞれストアするメモリである。ア
ドレス制御部ADCは、画像メモリMにストアされた画
像データを第2図(A)に示すように画面上を順次直線
走査すると、画面」二の左上の画素から右下の画素まで
順次走査周期毎に読み出される。アドレス制御部ADC
は、第3図(A )に示すようにカウンタCT1とコン
パレータCP1とを含み枯成される。カウンタCTIは
、クロック端子CKに与えられた前記走査周期毎のクロ
ックパルスをカウントし、そのカラン1出力を画像メモ
リMのアドレス15号として画像メモリMに与える。コ
ンパレータCP】は、予め設定された最終の画素に対応
する画像データがストアされている画像メモリMの最終
アドレスとカウンタCT1の前記カウント出力であるア
ドレス信号とを比較し、一致したとき端子P=Qからカ
ウンタCTIのクリア端子CLIこクリアイ3号を与え
る。このクリア信号」こぶって、カウンタCT1はクリ
アされ、また再び第4図(A)に示すように0番地から
最終番地までカウントする。
国大会において発表された富田文明氏の[エツジを利用
した領域抽出」に関する画像処理装置のブロック図であ
る。画像メモリMは、画面上の複数の画素に個別的対応
する画像データをそれぞれストアするメモリである。ア
ドレス制御部ADCは、画像メモリMにストアされた画
像データを第2図(A)に示すように画面上を順次直線
走査すると、画面」二の左上の画素から右下の画素まで
順次走査周期毎に読み出される。アドレス制御部ADC
は、第3図(A )に示すようにカウンタCT1とコン
パレータCP1とを含み枯成される。カウンタCTIは
、クロック端子CKに与えられた前記走査周期毎のクロ
ックパルスをカウントし、そのカラン1出力を画像メモ
リMのアドレス15号として画像メモリMに与える。コ
ンパレータCP】は、予め設定された最終の画素に対応
する画像データがストアされている画像メモリMの最終
アドレスとカウンタCT1の前記カウント出力であるア
ドレス信号とを比較し、一致したとき端子P=Qからカ
ウンタCTIのクリア端子CLIこクリアイ3号を与え
る。このクリア信号」こぶって、カウンタCT1はクリ
アされ、また再び第4図(A)に示すように0番地から
最終番地までカウントする。
シフトレジスタSRIおよびラッチ回路Ll。
L2.L3は、画像メモリMに予めストアされている画
面の走査線の1ライン分の画素に対応する画像データを
シフト動作によりストアするものである。このシフト動
作は、アドレス制御部A D CのカウンタCKに与え
られる画素の表ホな1個ずつ進めている走査周期毎のク
ロックパルスにより行なわれる。ラッチ回路Ll、L2
、L3は、1画素に対応する画像データをそれぞれラッ
チするものであってシフトレジスタSRIの最終段から
の画像データを順次ラッチする。シフトレジスタSR2
およびラッチ回路L4 、L5 、L6は、画像メモリ
Mに予めストアされている画面の走査線の1ライン分の
画素に対応する画像データをシフ1動作によりストアす
るものである。この1ラインは、前記のシフトレジスタ
SRIおよびラッチ回路1.i、L2、L3に関連する
1ラインの画面」二の次のラインを言う。ラッチ回路L
4 IL5 ll−6は・1画素に対応する画像データ
をそれぞれラッチするものであって、シフトレジスタS
R2の最終段からの画像データを順次ラッチする。シ
フトレジスタS R3およびラッチ回路L7.L8゜L
9は、画像メモリMに予めスI・アされてし・る画面の
走査線の1ライン分の画素に対応する画像データをシフ
ト動作によりストアするものでアル。この1ラインは、
前記のシフトレジスタSR2およびラッチ回路L4 、
L5 、L6はに関連する1ラインの画面上の次のライ
ンを言う。
面の走査線の1ライン分の画素に対応する画像データを
シフト動作によりストアするものである。このシフト動
作は、アドレス制御部A D CのカウンタCKに与え
られる画素の表ホな1個ずつ進めている走査周期毎のク
ロックパルスにより行なわれる。ラッチ回路Ll、L2
、L3は、1画素に対応する画像データをそれぞれラッ
チするものであってシフトレジスタSRIの最終段から
の画像データを順次ラッチする。シフトレジスタSR2
およびラッチ回路L4 、L5 、L6は、画像メモリ
Mに予めストアされている画面の走査線の1ライン分の
画素に対応する画像データをシフ1動作によりストアす
るものである。この1ラインは、前記のシフトレジスタ
SRIおよびラッチ回路1.i、L2、L3に関連する
1ラインの画面」二の次のラインを言う。ラッチ回路L
4 IL5 ll−6は・1画素に対応する画像データ
をそれぞれラッチするものであって、シフトレジスタS
R2の最終段からの画像データを順次ラッチする。シ
フトレジスタS R3およびラッチ回路L7.L8゜L
9は、画像メモリMに予めスI・アされてし・る画面の
走査線の1ライン分の画素に対応する画像データをシフ
ト動作によりストアするものでアル。この1ラインは、
前記のシフトレジスタSR2およびラッチ回路L4 、
L5 、L6はに関連する1ラインの画面上の次のライ
ンを言う。
最終段のラッチ回路L9から送出される画像データは、
画像メモリM内の予め定めた画面上の画素に対応するメ
モリ領域に再びストアされる。
画像メモリM内の予め定めた画面上の画素に対応するメ
モリ領域に再びストアされる。
このようにシフトレジスタsRi・〜SR3とラッチ回
路L1〜L9とによって、ラッチ回路L 1 = L
9からは第5図に示すように中央の画素5とその周囲の
8個の画素1〜4,6〜9にそれぞれ対応する画像デー
タが同時に送出され、各画像データは評価画素選択部S
Tに与えられる。!tTJ5図に示す9個の画素1〜9
は、シフトレジスタSRIに与えられるシフトパルスと
ラッチ回路L 1〜L9に与えられるラッチパルスによ
って画面B上を矢符Xで示す方向に見かけ上移動し、画
面Bの左上から右下方向へ順次直線走査を行なう。
路L1〜L9とによって、ラッチ回路L 1 = L
9からは第5図に示すように中央の画素5とその周囲の
8個の画素1〜4,6〜9にそれぞれ対応する画像デー
タが同時に送出され、各画像データは評価画素選択部S
Tに与えられる。!tTJ5図に示す9個の画素1〜9
は、シフトレジスタSRIに与えられるシフトパルスと
ラッチ回路L 1〜L9に与えられるラッチパルスによ
って画面B上を矢符Xで示す方向に見かけ上移動し、画
面Bの左上から右下方向へ順次直線走査を行なう。
評価画素選択部STは、着目する中央の画素の画像デー
タを基にして、周囲の8個の画素の画像データの中から
その中火の画素が゛移動すると思われる3方向に対応す
る3個の画素の画像データを選択し、評価テーブルT
B 1 = T I33にそれぞれ与える。評価テーブ
ル′「B1〜TB3は、前記3個の画素の画像データに
関する評価関数値を算出し、評価部1−I Kに与える
。評価部1(Kは、前記評価関数値を比較検討し、最大
の評価関数値を評価画素書き込み部K M i:書き込
む。評価画素書き込み部KMは、評価部HKからの最大
評価関数値に対応する画素の画像データを再びラッチ回
路L1〜L4.L6〜L9のいずれかに書き込み、最終
的に画像メモリMに書き込まれる。
タを基にして、周囲の8個の画素の画像データの中から
その中火の画素が゛移動すると思われる3方向に対応す
る3個の画素の画像データを選択し、評価テーブルT
B 1 = T I33にそれぞれ与える。評価テーブ
ル′「B1〜TB3は、前記3個の画素の画像データに
関する評価関数値を算出し、評価部1−I Kに与える
。評価部1(Kは、前記評価関数値を比較検討し、最大
の評価関数値を評価画素書き込み部K M i:書き込
む。評価画素書き込み部KMは、評価部HKからの最大
評価関数値に対応する画素の画像データを再びラッチ回
路L1〜L4.L6〜L9のいずれかに書き込み、最終
的に画像メモリMに書き込まれる。
タイミング制御部TMCは、アドレス制御部A D C
へのクロック信号、シフ1−レジスタS R1〜S’
R3へのシフト信号およびラッチ回路1゜1〜L9への
ラッチ(i号などの各種タイミング信号を送出する。
へのクロック信号、シフ1−レジスタS R1〜S’
R3へのシフト信号およびラッチ回路1゜1〜L9への
ラッチ(i号などの各種タイミング信号を送出する。
ここで第6図に示す70−チャ−1および第7図に示す
タイミングチャーIを参照して、第1図に示r先イ)−
技術の画像処理装置の動作を説明する。画像処理装置が
動作状態に入り、ステップn1からステップn2に移る
。ステップn2では、アドレス制御部ADCは、画像メ
モリMに予めストアされた1画面分の画素の画像データ
を第7図(A)に示すメモリ読み出し用クロック(ii
号で読み出す。ステップo 3では、画像メモ17 M
から読み出された画面の走査線の各1ライン分の画素に
対応する画像データをシフトレジスタSR1とラッチ回
路Ll−L3と、シフトレジスタSR2とラッチ回路L
4−L6と、シフ)レジスタSR3とラッチ回ML7−
L9とにそれぞれストアする。シフトレジスタS R1
−SR3は、第7図(B)に示すシフトクロック信号に
より画像メモリM h−らの画像データをシフト騒スト
アする。ラッチ回路L1〜L9は、第7図(C)に示す
ラッチクロック信号によりラッチ動作を行なう。ステッ
プn4では、評価画素選択部STは前述で説明した動作
により、着目する画牽の周囲の8@豪の内鰭1h−#−
人と毘われる方向に位置する画素を選び出す。評価画素
選択部STは、第7図(D)に示rパルス幅の処理時間
を有する。
タイミングチャーIを参照して、第1図に示r先イ)−
技術の画像処理装置の動作を説明する。画像処理装置が
動作状態に入り、ステップn1からステップn2に移る
。ステップn2では、アドレス制御部ADCは、画像メ
モリMに予めストアされた1画面分の画素の画像データ
を第7図(A)に示すメモリ読み出し用クロック(ii
号で読み出す。ステップo 3では、画像メモ17 M
から読み出された画面の走査線の各1ライン分の画素に
対応する画像データをシフトレジスタSR1とラッチ回
路Ll−L3と、シフトレジスタSR2とラッチ回路L
4−L6と、シフ)レジスタSR3とラッチ回ML7−
L9とにそれぞれストアする。シフトレジスタS R1
−SR3は、第7図(B)に示すシフトクロック信号に
より画像メモリM h−らの画像データをシフト騒スト
アする。ラッチ回路L1〜L9は、第7図(C)に示す
ラッチクロック信号によりラッチ動作を行なう。ステッ
プn4では、評価画素選択部STは前述で説明した動作
により、着目する画牽の周囲の8@豪の内鰭1h−#−
人と毘われる方向に位置する画素を選び出す。評価画素
選択部STは、第7図(D)に示rパルス幅の処理時間
を有する。
ステップn5において、評価テーブルTBI〜TB3は
、評価画素選択部S″I゛で選ばれた3個の画素の画像
データの評価関数値を算出する。
、評価画素選択部S″I゛で選ばれた3個の画素の画像
データの評価関数値を算出する。
評価テーブルTBI〜TB3の評価関数値の算出時間は
、第7図(E)に示すパルス幅である。
、第7図(E)に示すパルス幅である。
ステップn 6およびn7では、評価部II Kにおい
てステップn5における各評価関数値をトめ定めた値で
比較し、各評価関数&iのいずれがが予め定めた値より
大きいときステップn )iに移り、それ以外のときは
ステップ112に戻る。評価部HKの処理時間は、第7
図(1勺に11((パルス幅である。ステップn 8で
は、ステップ117で判断された評価部HKからの最大
at’ l1lli関数値に対応する画素の画像データ
がI(Jび最終的に画像メモリMに書き込まれる。第7
図((i )t、二小すパルス幅は、画像メモリM1.
:Il!!I像デ〜りが111.き込まれる時間を示す
。以上のような一連の動作が終丁するとステ゛ンプn
8からステップ夏121こ戻り、同様な処理動作が行な
われる。
てステップn5における各評価関数値をトめ定めた値で
比較し、各評価関数&iのいずれがが予め定めた値より
大きいときステップn )iに移り、それ以外のときは
ステップ112に戻る。評価部HKの処理時間は、第7
図(1勺に11((パルス幅である。ステップn 8で
は、ステップ117で判断された評価部HKからの最大
at’ l1lli関数値に対応する画素の画像データ
がI(Jび最終的に画像メモリMに書き込まれる。第7
図((i )t、二小すパルス幅は、画像メモリM1.
:Il!!I像デ〜りが111.き込まれる時間を示す
。以上のような一連の動作が終丁するとステ゛ンプn
8からステップ夏121こ戻り、同様な処理動作が行な
われる。
次に画像のエツジ追跡を行なう処理動作について説明す
る。エツジ追跡を行なう場合、第8図に示すようにテレ
ビカメラCMからの画像信号を微分回路DFに通した後
、アナログ/デジタル変換器Pによって画面上の各画素
毎にデジタルの画像データに変換し、この画像データを
1画面分画像メモリMにストアしている。たとえば、第
9図(A)に示すような画像をテレビカメラCMで撮像
した場合、微分回路DFで微分した後の画像は第9図(
B)に示すようなエツジ部分が強調されたものとなる。
る。エツジ追跡を行なう場合、第8図に示すようにテレ
ビカメラCMからの画像信号を微分回路DFに通した後
、アナログ/デジタル変換器Pによって画面上の各画素
毎にデジタルの画像データに変換し、この画像データを
1画面分画像メモリMにストアしている。たとえば、第
9図(A)に示すような画像をテレビカメラCMで撮像
した場合、微分回路DFで微分した後の画像は第9図(
B)に示すようなエツジ部分が強調されたものとなる。
つまり、変化の大きいエツジ部は大きな微分値を有し、
変化のないエツジ部は小さな微分値となる。第9図(A
)においてラインa上の画像信号の濃淡レベルは第10
図(A>に示すようになり、これを微分すると第10図
(B)に示すようになる。また第10図(B)に示す微
分値の絶対値は第10図(Calこ示すようになる。第
10図(C)に示す信号を画面」二の走査線の各ライン
毎に取り出し、合成することにより第9図(B)の微分
画像が得られる。
変化のないエツジ部は小さな微分値となる。第9図(A
)においてラインa上の画像信号の濃淡レベルは第10
図(A>に示すようになり、これを微分すると第10図
(B)に示すようになる。また第10図(B)に示す微
分値の絶対値は第10図(Calこ示すようになる。第
10図(C)に示す信号を画面」二の走査線の各ライン
毎に取り出し、合成することにより第9図(B)の微分
画像が得られる。
評価画素選択部STは、ラッチ回路り、 5にラッチさ
れる。画素の画像データを中心とした第5図に示すよう
な3×3のマトリクスにおいて、画像のエツジとして追
跡すべき画素の候補を中心画素の周囲8画素から選ぶ。
れる。画素の画像データを中心とした第5図に示すよう
な3×3のマトリクスにおいて、画像のエツジとして追
跡すべき画素の候補を中心画素の周囲8画素から選ぶ。
たとえば、ラッチ回路L5にラッチされている画像デー
タに対応する画素の微分方向がラッチ回路L3の方向に
向いていると外、エツジの延にの候補としてはラッチ回
路L2.L3.L6にラッチされる画像データにそれぞ
れ対応する画素が選ばれる。
タに対応する画素の微分方向がラッチ回路L3の方向に
向いていると外、エツジの延にの候補としてはラッチ回
路L2.L3.L6にラッチされる画像データにそれぞ
れ対応する画素が選ばれる。
ラッチ回路L5にラッチされている画像データである微
分ベクトルの大きさとノj向のうち微分方向をコード化
するために、第11図に示すような評価画素選択部ST
に含まれる回路が構成される。
分ベクトルの大きさとノj向のうち微分方向をコード化
するために、第11図に示すような評価画素選択部ST
に含まれる回路が構成される。
第11図において、トライステートデート回路01〜G
8は、ラッチ回路L1 、L2.L3゜LB 、1.、
.9 、LB 、L7 、L4がらの各画像データを受
信して、その各画像データの通過を制御する。ラッチ回
路LA 、LB 、LCは、トライステートゲート回路
G1〜G8からの画像データをストアする。カウンタ回
路CNiは、クロック信号によってラッチ回路LA 、
LB 、LCにトライステ−1デート回路G 1 =
G 8がらの画像データを順次ラッチさせるためのタイ
ミングイJ号を作成する。デコーダ回路DC,は、クロ
ック信号をカウントするカウンタ回路CN2からの信号
をデコード化し、トライステートデート回路61〜G8
のデートを開くタイミングを作成する。このカウンタ回
路CN2は、ラッチ回路L5にラッチされいてる微分方
向コードをプリセット値として与えられ、このプリセッ
ト値に対応するトライステートデート回路61〜G8の
うち3個を順次デート解放する。
8は、ラッチ回路L1 、L2.L3゜LB 、1.、
.9 、LB 、L7 、L4がらの各画像データを受
信して、その各画像データの通過を制御する。ラッチ回
路LA 、LB 、LCは、トライステートゲート回路
G1〜G8からの画像データをストアする。カウンタ回
路CNiは、クロック信号によってラッチ回路LA 、
LB 、LCにトライステ−1デート回路G 1 =
G 8がらの画像データを順次ラッチさせるためのタイ
ミングイJ号を作成する。デコーダ回路DC,は、クロ
ック信号をカウントするカウンタ回路CN2からの信号
をデコード化し、トライステートデート回路61〜G8
のデートを開くタイミングを作成する。このカウンタ回
路CN2は、ラッチ回路L5にラッチされいてる微分方
向コードをプリセット値として与えられ、このプリセッ
ト値に対応するトライステートデート回路61〜G8の
うち3個を順次デート解放する。
第1図に戻って、評価テーブルTBI〜TBSは評価部
HKに与える評価関数値を評価関数に従って算出するm
l蕗で木っで一膵価朋齢dエツジ延長の各候補画素の微
分値とエツジ延長方向を示す微分方向とラッチ回路L5
にラッチされる画像データの微分方向とによって構成さ
れる。微分方向は、水平方向と垂直方向の微分ベクトル
とによってめることができる。評価部HKは、評価テー
ブルTBI〜]゛B3で計算された値についてエツジ延
長の各候補点の値を比較して最も大きな値を有する候補
点を追跡画素と評価する。評価画素書き込み部KMは、
評価部HKで選ばれた画素に一ついて結果をラッチ回路
L1〜L4 、L6〜I、5]のいずれかに書き込み・
画素の内容を書き換える。
HKに与える評価関数値を評価関数に従って算出するm
l蕗で木っで一膵価朋齢dエツジ延長の各候補画素の微
分値とエツジ延長方向を示す微分方向とラッチ回路L5
にラッチされる画像データの微分方向とによって構成さ
れる。微分方向は、水平方向と垂直方向の微分ベクトル
とによってめることができる。評価部HKは、評価テー
ブルTBI〜]゛B3で計算された値についてエツジ延
長の各候補点の値を比較して最も大きな値を有する候補
点を追跡画素と評価する。評価画素書き込み部KMは、
評価部HKで選ばれた画素に一ついて結果をラッチ回路
L1〜L4 、L6〜I、5]のいずれかに書き込み・
画素の内容を書き換える。
りお本末は8画素全てを評価すべきであるが、8個の画
素から3個の画素を選ぶのは評価関数に直線性をもたせ
であるので、3X3のマトリクスの中心画素における微
分方向によってエツジ゛追跡で選び出されする画素が限
定されているためである。上記直線性とは、エツジの追
跡を同一方向に進めることをいう。エツジ追跡の処理を
行なう場合、中心画素がエツジであり、評価されるのは
エツジの続きの画素であるとする。
素から3個の画素を選ぶのは評価関数に直線性をもたせ
であるので、3X3のマトリクスの中心画素における微
分方向によってエツジ゛追跡で選び出されする画素が限
定されているためである。上記直線性とは、エツジの追
跡を同一方向に進めることをいう。エツジ追跡の処理を
行なう場合、中心画素がエツジであり、評価されるのは
エツジの続きの画素であるとする。
ラッチ回路L 5にラッチされている画像データに対応
する画素にエツジがあり、たとえばラッチ回路L4にラ
ッチされている画像データに対応する画素が評価部)−
I Kで選び出された場合、走査周期後の次の処理では
、ラッチ回路L4にラッチされていた前記画像データを
中心にして3X3のマトリクスでエツジ追跡の処理が再
び行なわれる。つまり、3×3のマトリクス内で評価し
た画素がラッチ回路Ll 、L2 、L3 。
する画素にエツジがあり、たとえばラッチ回路L4にラ
ッチされている画像データに対応する画素が評価部)−
I Kで選び出された場合、走査周期後の次の処理では
、ラッチ回路L4にラッチされていた前記画像データを
中心にして3X3のマトリクスでエツジ追跡の処理が再
び行なわれる。つまり、3×3のマトリクス内で評価し
た画素がラッチ回路Ll 、L2 、L3 。
L4にそれぞれラッチされる画像データに対応する各画
素の場合には、それらの画素の画像データがラッチ回路
L5にラッチされたときにエツジ追跡することができ、
1画面の全画素走査中にエツジ追跡の処理動作を行なう
ことができる。しかし、評価した画素がラッチ回路L6
゜L7 、L8 、L9にラッチされている画像データ
に対応する各画素である場合には、次の画面の画素走査
を待たなければエツジ追跡処理を行なうことができない
。画面上で説明すると、第12図(A)に示すようにエ
ツジが左」二から右下へ進む場合では1度の画素走査で
エツジの追跡が完了するが、第12図(B)に示すよう
にエツジが左下から右上−進む場合ではエツジに含まれ
る画素数の走査回数が必要となり、先行技術ではエツジ
追跡処理時間が長くなるという欠点があった 目 的 本発明の目的は、上述の技術的課題を解決し、高速で画
像処理を行なうことかで外る画像処理装置を提供するこ
とである。
素の場合には、それらの画素の画像データがラッチ回路
L5にラッチされたときにエツジ追跡することができ、
1画面の全画素走査中にエツジ追跡の処理動作を行なう
ことができる。しかし、評価した画素がラッチ回路L6
゜L7 、L8 、L9にラッチされている画像データ
に対応する各画素である場合には、次の画面の画素走査
を待たなければエツジ追跡処理を行なうことができない
。画面上で説明すると、第12図(A)に示すようにエ
ツジが左」二から右下へ進む場合では1度の画素走査で
エツジの追跡が完了するが、第12図(B)に示すよう
にエツジが左下から右上−進む場合ではエツジに含まれ
る画素数の走査回数が必要となり、先行技術ではエツジ
追跡処理時間が長くなるという欠点があった 目 的 本発明の目的は、上述の技術的課題を解決し、高速で画
像処理を行なうことかで外る画像処理装置を提供するこ
とである。
実施例
第13図は、本発明の一実施例の電気的構成を示すブロ
ック図である。第13図において、第1図に示す構成要
素に対応するものには同一の参照符を付す。第13図に
示す画像前処理回路は、アドレス制御部ADCiによっ
て、画像メモ17 Mからの画像データの読み出しを行
なうために第2図(A)に示すように画面上を順次直線
走査を行なう。これに上り画像データは画面−L二の左
上の画素がら右下の画素まで順次走査周期毎に読み出さ
れ、エツジ追跡などの画像処理をイ)°なう。次に画像
データは第2図(B)に示すように画面上の右下の画素
から左上の画素まで順次走査周期毎に読み出され、画像
処理を行なう。その他の動作は先行技術と同様である。
ック図である。第13図において、第1図に示す構成要
素に対応するものには同一の参照符を付す。第13図に
示す画像前処理回路は、アドレス制御部ADCiによっ
て、画像メモ17 Mからの画像データの読み出しを行
なうために第2図(A)に示すように画面上を順次直線
走査を行なう。これに上り画像データは画面−L二の左
上の画素がら右下の画素まで順次走査周期毎に読み出さ
れ、エツジ追跡などの画像処理をイ)°なう。次に画像
データは第2図(B)に示すように画面上の右下の画素
から左上の画素まで順次走査周期毎に読み出され、画像
処理を行なう。その他の動作は先行技術と同様である。
アドレス制御部ADC1は、第3図(B)に示すように
アップグランカウンタCT2と、コンパレータCP2と
、アップダウン制御部UDCとを含み構成される。ア゛
へプダウンヵウンタCT2は、そのクロック端子CKに
与えられる走査周期毎のクロックパルスをカウントし、
そのカウント出力を画像メモリMのアドレス43号とす
る。フンパレータCP2は、端子Pに与えられる最終ア
ドレスと端子Qに与えられる前記カウント出力とを比較
し、それらが一致したとき端子P=Qがら一致出カをア
ップダウン制御部UDCに与える。アップダウン制御8
1SUDCは、前記一致出方に上りアップカウント動作
からダウンカウント動作になる。前記最終アドレスとは
、画面上の右下の画素の画像データが画像メモリMにス
F了されている番地をいう。このように7ツプダウンカ
ウンタCT2がらのカウント出力により画像メモリMは
tjS4図(B)に示すように0番地から最終番地まで
読み出され、最終番地がら0番地まで逆に読み出される
。
アップグランカウンタCT2と、コンパレータCP2と
、アップダウン制御部UDCとを含み構成される。ア゛
へプダウンヵウンタCT2は、そのクロック端子CKに
与えられる走査周期毎のクロックパルスをカウントし、
そのカウント出力を画像メモリMのアドレス43号とす
る。フンパレータCP2は、端子Pに与えられる最終ア
ドレスと端子Qに与えられる前記カウント出力とを比較
し、それらが一致したとき端子P=Qがら一致出カをア
ップダウン制御部UDCに与える。アップダウン制御8
1SUDCは、前記一致出方に上りアップカウント動作
からダウンカウント動作になる。前記最終アドレスとは
、画面上の右下の画素の画像データが画像メモリMにス
F了されている番地をいう。このように7ツプダウンカ
ウンタCT2がらのカウント出力により画像メモリMは
tjS4図(B)に示すように0番地から最終番地まで
読み出され、最終番地がら0番地まで逆に読み出される
。
このような処理動作によって、3×3のマトリクスのラ
ッチ回路L6.1..7 、L、8 、L9が評価され
たときにも1つの画面の走査中に処理することができ、
往復走査ですべてのエツジ追跡処理が完了する。したが
ってエツジ追跡時間は、短縮されることになる。
ッチ回路L6.1..7 、L、8 、L9が評価され
たときにも1つの画面の走査中に処理することができ、
往復走査ですべてのエツジ追跡処理が完了する。したが
ってエツジ追跡時間は、短縮されることになる。
さらに本発明は、以下の問題点を解決して、画像処理時
間を短縮するものである。
間を短縮するものである。
画像処理をデジタルで行なう場合、たとえば第5図に示
すように縦と横とを256画素でそれぞれ分解すると、
1画面上の画素数が65536個となり、処理する画素
数が大きくなる。
すように縦と横とを256画素でそれぞれ分解すると、
1画面上の画素数が65536個となり、処理する画素
数が大きくなる。
1画素を処理する時間Tは、横の画素数をN 11 。
縦の画素数をNV、走査周期を1’ Sとすると、次の
第4式に表わされる。
第4式に表わされる。
T = N HX N V X T S ・・・(4)
このよう−に高分解能の処理を11なう場合、つまり画
素数を少な(出来ない場合に時間が多くかかるという問
題か生じる。本発明は、この問題点を解決するものであ
る。
このよう−に高分解能の処理を11なう場合、つまり画
素数を少な(出来ない場合に時間が多くかかるという問
題か生じる。本発明は、この問題点を解決するものであ
る。
第13図に示す本件実施例は、3個のラッチ回路L10
、L、11 、L12を追加して、3×4の71リク
スとし、ラッチ回路L 4にラッチされる画像データに
対応する画素を中心画素とし、ラッチ回路L 1 +
L 2 r 1−5 + L 7 r L 8 +L1
0 、Ll 1 、L12にラッチされる画像データに
対応する各画素を周囲の8個の画素として、各画像デー
タを評価画素選択部STに与える。2Y価画累選択部S
Tによって選択された画素の画像データは、ラッチ回路
L13 、Ll4゜L +、 5で1走査周期の間だけ
保長し、次の走査周期においてラッチ回路L5にラッチ
されている画像データとともに評価テーブルTBI〜T
BSにそれぞれ与えて5T価関数値を算出する。
、L、11 、L12を追加して、3×4の71リク
スとし、ラッチ回路L 4にラッチされる画像データに
対応する画素を中心画素とし、ラッチ回路L 1 +
L 2 r 1−5 + L 7 r L 8 +L1
0 、Ll 1 、L12にラッチされる画像データに
対応する各画素を周囲の8個の画素として、各画像デー
タを評価画素選択部STに与える。2Y価画累選択部S
Tによって選択された画素の画像データは、ラッチ回路
L13 、Ll4゜L +、 5で1走査周期の間だけ
保長し、次の走査周期においてラッチ回路L5にラッチ
されている画像データとともに評価テーブルTBI〜T
BSにそれぞれ与えて5T価関数値を算出する。
評価部HKは、前述したように評価テーブルTBI〜T
B3で計算された値1.二ついてエツジ延長の各候補点
になる画素の画像データの評価関数値を比較して最も大
きな値を訛価画素書き込み部KMに与える。評価画系書
き述部KMは、評価部HKからの最大評価関数値に対応
する画素の画像データを再びラッチ回路L 1〜I−4
゜L5〜L 9のいずれかにラッチさせ、最終的に画像
メモリMにストアする。タイミング制御部T M Cは
、第15図(A)に示すメモリ読み出しクロック信号、
第15図(B)に示すシフトクロック信号、第15図(
C)に示すラッチクロック信号などの各種タイミング信
号を送出する。前記読み出しクロック信号は画像メモリ
Mの内容を読み出す信号であり、前記シフトクロック信
号はシフトレジスタS I? 1 = S R3のシフ
ト動作を行なわせる信号である。またラッチクロック信
号は、ラッチ回路L 1− L 12のラッチ動作を行
なわせる信号である。第15図(D)に示すパルス幅は
評価画素選択部STの処理時fillであり、第15図
(E)に示すパルス幅は評価テーブルTBI〜′I″B
2の算出時間である。また第15図(F゛)に示針パル
ス幅は評価部HKの処理時間であり、第15図(に)に
示すパルス幅は画像メモリMのメモリ:2J、き込み時
間である。このように第15間(D)に示すように評価
画素選択処理と第1513(E)に示すように評価テー
ブル算出とが同しタイミングでおこなわれるのでエツジ
追跡などの処理時間を短縮することができる。
B3で計算された値1.二ついてエツジ延長の各候補点
になる画素の画像データの評価関数値を比較して最も大
きな値を訛価画素書き込み部KMに与える。評価画系書
き述部KMは、評価部HKからの最大評価関数値に対応
する画素の画像データを再びラッチ回路L 1〜I−4
゜L5〜L 9のいずれかにラッチさせ、最終的に画像
メモリMにストアする。タイミング制御部T M Cは
、第15図(A)に示すメモリ読み出しクロック信号、
第15図(B)に示すシフトクロック信号、第15図(
C)に示すラッチクロック信号などの各種タイミング信
号を送出する。前記読み出しクロック信号は画像メモリ
Mの内容を読み出す信号であり、前記シフトクロック信
号はシフトレジスタS I? 1 = S R3のシフ
ト動作を行なわせる信号である。またラッチクロック信
号は、ラッチ回路L 1− L 12のラッチ動作を行
なわせる信号である。第15図(D)に示すパルス幅は
評価画素選択部STの処理時fillであり、第15図
(E)に示すパルス幅は評価テーブルTBI〜′I″B
2の算出時間である。また第15図(F゛)に示針パル
ス幅は評価部HKの処理時間であり、第15図(に)に
示すパルス幅は画像メモリMのメモリ:2J、き込み時
間である。このように第15間(D)に示すように評価
画素選択処理と第1513(E)に示すように評価テー
ブル算出とが同しタイミングでおこなわれるのでエツジ
追跡などの処理時間を短縮することができる。
第14図(A)はラッチ回路L1〜I、12で構成され
る3×4のマトリクスを示し、第14図(13)はル1
′価画累選択部S′Fで処理する3×3のマトリクスを
示し、第14図(C)は評価部)(Kで処理rる3×3
の71−リクスを示す。
る3×4のマトリクスを示し、第14図(13)はル1
′価画累選択部S′Fで処理する3×3のマトリクスを
示し、第14図(C)は評価部)(Kで処理rる3×3
の71−リクスを示す。
1走査周期が終了すると、評価画素選択部5TIJ:F
514cI(F3)の3×3のマトリクスの画像データ
を第14図(C)の3×3のマトリクスの画像データに
移す。つまり、ラッチ回路L10の画イΦデータl十う
ツ千ml脇11へ欽Oラ・ソチ回路I、1の画像データ
はラッチ回路1,2へ移る。同様にラッチ回路l−11
の画像データはラッチ回路L4へ移り、ラッチ回路L
4の画像データはラッチ回路L 5−\移る。、Qのラ
ッチ回路に一層いても同様に画像データが1つ右・\シ
フトする。このようにラッチ回路L10〜1.12の3
個を追加することによって、’(S 171図(B)に
示す3×3のマトリクスで+if 1′の、1lW−を
行ない、次に1クロツクシフトした第14図(c)に示
す3×3のマトリクスを、?i算するとき第14図(B
)に示す3×3のマトリクスの、il $7.結果を利
用することができ、後半の計算時間が短縮される。した
がって画像処理に要゛Yる時間は、全体として短縮され
ることになる。
514cI(F3)の3×3のマトリクスの画像データ
を第14図(C)の3×3のマトリクスの画像データに
移す。つまり、ラッチ回路L10の画イΦデータl十う
ツ千ml脇11へ欽Oラ・ソチ回路I、1の画像データ
はラッチ回路1,2へ移る。同様にラッチ回路l−11
の画像データはラッチ回路L4へ移り、ラッチ回路L
4の画像データはラッチ回路L 5−\移る。、Qのラ
ッチ回路に一層いても同様に画像データが1つ右・\シ
フトする。このようにラッチ回路L10〜1.12の3
個を追加することによって、’(S 171図(B)に
示す3×3のマトリクスで+if 1′の、1lW−を
行ない、次に1クロツクシフトした第14図(c)に示
す3×3のマトリクスを、?i算するとき第14図(B
)に示す3×3のマトリクスの、il $7.結果を利
用することができ、後半の計算時間が短縮される。した
がって画像処理に要゛Yる時間は、全体として短縮され
ることになる。
第3図(C)は、本発明の他の実施例のアドレス制御部
ADC2のクロック図である。第2図および第12図を
参照して、アドレス制御部ADC2の動作を説明する。
ADC2のクロック図である。第2図および第12図を
参照して、アドレス制御部ADC2の動作を説明する。
第3図(B)に示すアツブグウンヵウンクCT 2内部
をXアドレス)Yアドレスとの2つにシ用けf Z 、
r’:十スシ第;3図(C)に示すようにアップダウン
カウンタCT3および(i T 4となる、まず第2図
(C)に示すようにエツジ追跡の走査を画面の左下から
画面の右上まで1回行なう動作を説明する画面の画素数
は、横のX方向に256回、縦のY方向lこ256回あ
るものとし、画面のに上の画素を基準としてカラン1す
る。ただし、この左上のll!il累の位置を画面上で
X=O,Y=11として考える。第3図(C)に示す走
査の出発点となる画素の位置はX二〇、Y=255であ
るので、アップダウン制御部UDC2は、アップダウン
カウンタCT3を最初0にセットし、アップカウント動
作させ、アップダウンカウンタCT4を最初255にセ
ットし、ダウンカウント動作させる。ただしアップダウ
ンカウンタCT3 、CT4は、初期セットで1つカウ
ントしたものとする。これによって、エツジ追跡走査は
、第3図(C)に示すように画面の左下から右上までお
こなうことがで評る。アップダウンカウンタCT3の出
力であるXアドレス信号とアップダウンカウンタC′「
4の出力であるYアドレス信号とによって、画像メモリ
M1こスY了されている画像データは読み出される。
をXアドレス)Yアドレスとの2つにシ用けf Z 、
r’:十スシ第;3図(C)に示すようにアップダウン
カウンタCT3および(i T 4となる、まず第2図
(C)に示すようにエツジ追跡の走査を画面の左下から
画面の右上まで1回行なう動作を説明する画面の画素数
は、横のX方向に256回、縦のY方向lこ256回あ
るものとし、画面のに上の画素を基準としてカラン1す
る。ただし、この左上のll!il累の位置を画面上で
X=O,Y=11として考える。第3図(C)に示す走
査の出発点となる画素の位置はX二〇、Y=255であ
るので、アップダウン制御部UDC2は、アップダウン
カウンタCT3を最初0にセットし、アップカウント動
作させ、アップダウンカウンタCT4を最初255にセ
ットし、ダウンカウント動作させる。ただしアップダウ
ンカウンタCT3 、CT4は、初期セットで1つカウ
ントしたものとする。これによって、エツジ追跡走査は
、第3図(C)に示すように画面の左下から右上までお
こなうことがで評る。アップダウンカウンタCT3の出
力であるXアドレス信号とアップダウンカウンタC′「
4の出力であるYアドレス信号とによって、画像メモリ
M1こスY了されている画像データは読み出される。
次に第2図(D)$こ示すようにエツジ追跡走査を画面
の右上から画面の左[:よで1回行なう動作を説明する
。第2図(D)に示す走査の出発点となる画素の位置は
X=255.Y−0であるので、アップダウン制御部[
11) C2は、アップダウンカウンタCT3を最初2
55にセットしダウンカウント動作させ、アップダウン
カウンタCT4を最初Oにセラ1しアップカウント動作
させる。これによって、エラ/”追跡走査は第3図(■
))に示すように画面の右」二がら左下まで行なうこと
ができる。
の右上から画面の左[:よで1回行なう動作を説明する
。第2図(D)に示す走査の出発点となる画素の位置は
X=255.Y−0であるので、アップダウン制御部[
11) C2は、アップダウンカウンタCT3を最初2
55にセットしダウンカウント動作させ、アップダウン
カウンタCT4を最初Oにセラ1しアップカウント動作
させる。これによって、エラ/”追跡走査は第3図(■
))に示すように画面の右」二がら左下まで行なうこと
ができる。
第2図(C)に示すようなエツジ追跡走査により、第1
2図(C’ )に示すような方向のエツジ追跡が1回の
走査で可能となり、また第2図(D)に示すようなエツ
ジ追跡走査により第12図(D )に示すような方向の
エツジ追跡が1回の走査で可能となる。
2図(C’ )に示すような方向のエツジ追跡が1回の
走査で可能となり、また第2図(D)に示すようなエツ
ジ追跡走査により第12図(D )に示すような方向の
エツジ追跡が1回の走査で可能となる。
本イ′1実施例では、第13図に示すようにラッチ回路
+−]〜1,12を3×4のマトリクスに構成したが、
NX (N+M)のマトリクスを構成して同様な動作を
行なうようにしてもよい。
+−]〜1,12を3×4のマトリクスに構成したが、
NX (N+M)のマトリクスを構成して同様な動作を
行なうようにしてもよい。
効 果
以J、のように本発明によれば、画像メモリから順次読
み出される画像データをシフトパルスにより順次シフト
しなから一時スY了し、画像のエツジ点しこなる中央の
画素の画像データとその周囲の画素の画像データとを同
時に送出し、その時点からのシフトパルスでI+ij記
画像データをシフトして一時スドアし、その中央の画素
の画像データとその周囲のII!il素の画像データと
を同時に送出する一時記憶部をふくむことによって、画
像処理を高速で行なうことができる。
み出される画像データをシフトパルスにより順次シフト
しなから一時スY了し、画像のエツジ点しこなる中央の
画素の画像データとその周囲の画素の画像データとを同
時に送出し、その時点からのシフトパルスでI+ij記
画像データをシフトして一時スドアし、その中央の画素
の画像データとその周囲のII!il素の画像データと
を同時に送出する一時記憶部をふくむことによって、画
像処理を高速で行なうことができる。
第1図は先行技術の画像処理装置のブロック図、第2図
は走査方向を説明するための図、第:(図(A)は先行
技術のアドレス制御部のプロドレス制御部のブロック図
、第3し1(C)は本発明の他の実施例のアドレス制御
部ノブロック図、第4図(Δ)は先行技術のアドレス変
化を説明側るための図、第4図(13)は本発明の一実
施例アドレス変化を説明するrこ−)のし1、第5図は
一時記憶部1こよって同時レニ画像データが取り出され
る9個の画素の説明をするための菌、第6図は先行技術
の動作を説明するための70−チャート、第7図は先イ
I技術の動作を説明するためのタイミングチャート、第
8図はエツジ追跡時の前処理動作を行なう回路のブロッ
ク図、第9図は画像の微分を説明するための図、第10
図(A>は特定のラインの画像化す、第10図CB)は
その微分信号、第1()図(C)はその絶対値信号の波
形図、t511図は評価画素選択部のブロック図、第1
2図はエツジ追跡のJj向の説明図、第13図は本発明
の−・′に地側のフロック図、第14図は本発明の一実
施例の画素選択の説明図、第15図は本発明の一実施例
のM・・・画像メモリ、ADCI 、ADC2・・・ア
ドレス制御部、S I< 1〜S R3−・−シフトレ
ジスタ1−1〜L12・・・ラッチ回路、ST・・−評
価画素選択部、TBI〜TB3・・・評価テーブル、)
T K −=評価部 代理人 弁理士 画数 圭一部 図面の浄書(内容に変更なし) 第1図 第12IiIl (A) (B) (C) (D) 手続補正書(方式) 昭和59年 9月27日 特許庁長官殿 2、発明の名称 画像処理装置 3、補正をする者 事件との関係 出願人 住所 名 称 (583)松下電工株式会社(ばか1名)代表
者 4、代理人 住 所 大阪市西区西本町1丁目13番38号 新興産
ビル国装置EX 0525−5985 INTAPT
J国際FAX Gnl&Gn (06)53B−024
76、補正の対象 原書、図面および委任状 7、補正の内容 (1)訂正願書を別紙のとおりに補充する。 (2)図面の浄書(内容に変更なし)。 (3)委任状を別紙のとおりに補充する。 以 上
は走査方向を説明するための図、第:(図(A)は先行
技術のアドレス制御部のプロドレス制御部のブロック図
、第3し1(C)は本発明の他の実施例のアドレス制御
部ノブロック図、第4図(Δ)は先行技術のアドレス変
化を説明側るための図、第4図(13)は本発明の一実
施例アドレス変化を説明するrこ−)のし1、第5図は
一時記憶部1こよって同時レニ画像データが取り出され
る9個の画素の説明をするための菌、第6図は先行技術
の動作を説明するための70−チャート、第7図は先イ
I技術の動作を説明するためのタイミングチャート、第
8図はエツジ追跡時の前処理動作を行なう回路のブロッ
ク図、第9図は画像の微分を説明するための図、第10
図(A>は特定のラインの画像化す、第10図CB)は
その微分信号、第1()図(C)はその絶対値信号の波
形図、t511図は評価画素選択部のブロック図、第1
2図はエツジ追跡のJj向の説明図、第13図は本発明
の−・′に地側のフロック図、第14図は本発明の一実
施例の画素選択の説明図、第15図は本発明の一実施例
のM・・・画像メモリ、ADCI 、ADC2・・・ア
ドレス制御部、S I< 1〜S R3−・−シフトレ
ジスタ1−1〜L12・・・ラッチ回路、ST・・−評
価画素選択部、TBI〜TB3・・・評価テーブル、)
T K −=評価部 代理人 弁理士 画数 圭一部 図面の浄書(内容に変更なし) 第1図 第12IiIl (A) (B) (C) (D) 手続補正書(方式) 昭和59年 9月27日 特許庁長官殿 2、発明の名称 画像処理装置 3、補正をする者 事件との関係 出願人 住所 名 称 (583)松下電工株式会社(ばか1名)代表
者 4、代理人 住 所 大阪市西区西本町1丁目13番38号 新興産
ビル国装置EX 0525−5985 INTAPT
J国際FAX Gnl&Gn (06)53B−024
76、補正の対象 原書、図面および委任状 7、補正の内容 (1)訂正願書を別紙のとおりに補充する。 (2)図面の浄書(内容に変更なし)。 (3)委任状を別紙のとおりに補充する。 以 上
Claims (1)
- テレビカメラにより撮像され、その画像信号の各画素毎
に多値化された画像データを1画面分記憶する画像メモ
リと、画面上の各画素の画像データを予め定めた周期で
一方向に順次直線走査しながら読み出し、次に逆方向に
順次直線走査しながら読み出すアドレス制御部と、前記
画像メモリから順次読み出される画像データをシフトパ
ルスにより順次シフトしながら一時スドアし、画像のエ
ツジ点になる中央の画素の画像データとその周囲の画素
の画像データとを同時に送出し、その時点からのシフト
パルスで前記画像データをシフトして一時スドアし、そ
の中央の画素の画像データとその周囲の画素の画像デー
タとを同時に送出する一時記憶部と、この一時記憶部か
ら送出される周囲の画素の画像データの中からエツジ延
長の候補点となる画素の画像データを選択する評価画素
選択部と、この評価画素選択部によって選択された画素
の画像データの評価関数値を比較し、最大の評価関数値
を送出する評価部とを含むことを特徴とする画像処理装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59100222A JPS60243780A (ja) | 1984-05-17 | 1984-05-17 | 画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59100222A JPS60243780A (ja) | 1984-05-17 | 1984-05-17 | 画像処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60243780A true JPS60243780A (ja) | 1985-12-03 |
| JPH0310990B2 JPH0310990B2 (ja) | 1991-02-14 |
Family
ID=14268265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59100222A Granted JPS60243780A (ja) | 1984-05-17 | 1984-05-17 | 画像処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60243780A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59100223A (ja) * | 1982-11-27 | 1984-06-09 | Tocera Eng Co Ltd | 長尺構造物の溶接部加熱方法 |
-
1984
- 1984-05-17 JP JP59100222A patent/JPS60243780A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59100223A (ja) * | 1982-11-27 | 1984-06-09 | Tocera Eng Co Ltd | 長尺構造物の溶接部加熱方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0310990B2 (ja) | 1991-02-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |