JPS60247157A - 探傷方法及び装置 - Google Patents
探傷方法及び装置Info
- Publication number
- JPS60247157A JPS60247157A JP10404784A JP10404784A JPS60247157A JP S60247157 A JPS60247157 A JP S60247157A JP 10404784 A JP10404784 A JP 10404784A JP 10404784 A JP10404784 A JP 10404784A JP S60247157 A JPS60247157 A JP S60247157A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspected
- flaw
- magnetic field
- static magnetic
- slab
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁性体の被検査材の表面及び表皮下に存する疵
を検出する探傷方法及び装置に関し、更に詳述すれば被
検査材の表面にこれに沿う静磁場を形成せしめ、該表面
に疵が存する場合の静磁場の変化１こより移動する様に
なしである検査コイルの移動距離を測定することにより
疵検出を行う全く新しい探傷方法及びその実施に使用す
る装置を提案するものである。 。
を検出する探傷方法及び装置に関し、更に詳述すれば被
検査材の表面にこれに沿う静磁場を形成せしめ、該表面
に疵が存する場合の静磁場の変化１こより移動する様に
なしである検査コイルの移動距離を測定することにより
疵検出を行う全く新しい探傷方法及びその実施に使用す
る装置を提案するものである。 。
スラブ、鋼管等の被検査材の表面及び表皮下に存在する
疵を探傷する方法としては、従来より渦流探傷方法、漏
洩磁束探傷方法等積々の方法が実施されているが、これ
らの従来方法にあっては、何れも被検査材の表面及び表
皮下に疵が存在する場合の渦電流、磁場の変動を磁気セ
ンサにて検出することにより疵検出を行うものであった
。
疵を探傷する方法としては、従来より渦流探傷方法、漏
洩磁束探傷方法等積々の方法が実施されているが、これ
らの従来方法にあっては、何れも被検査材の表面及び表
皮下に疵が存在する場合の渦電流、磁場の変動を磁気セ
ンサにて検出することにより疵検出を行うものであった
。
この様な従来方法にあっては、磁気センサの検出感度の
向上を図るためには磁気センサを可及的に被検査材に近
接せしめる必要がある。しかしながら、被検査材は搬送
中に振動するため、該振動が大きい場合は被検査材が磁
気セン号に衝突し、これを破損する虞れがある。このた
め磁気センサを被検査材に近接せしめるには限界があり
、探傷感度を向上する上での制約となっていた。
向上を図るためには磁気センサを可及的に被検査材に近
接せしめる必要がある。しかしながら、被検査材は搬送
中に振動するため、該振動が大きい場合は被検査材が磁
気セン号に衝突し、これを破損する虞れがある。このた
め磁気センサを被検査材に近接せしめるには限界があり
、探傷感度を向上する上での制約となっていた。
そこで、磁気セン号の破損を防止し、また、該磁気セン
サの検出感度の向上を図る方法として、例えば、磁気セ
ンサと被検査材との空隙距離（以下リフトオフという）
を大きくし、そのときの磁気センサの検出感度の低下を
補うべく磁気センサに連なる信号処理系に感度補償のた
めの回路を設ける方法がある。
サの検出感度の向上を図る方法として、例えば、磁気セ
ンサと被検査材との空隙距離（以下リフトオフという）
を大きくし、そのときの磁気センサの検出感度の低下を
補うべく磁気センサに連なる信号処理系に感度補償のた
めの回路を設ける方法がある。
しかしながら、このような方法による場合は信号処理系
が複雑になる等の理由により磁気センサの検出感度の低
下を補う上での制約があり、結局リフトオフを大きくす
るには限界があった。
が複雑になる等の理由により磁気センサの検出感度の低
下を補う上での制約があり、結局リフトオフを大きくす
るには限界があった。
〔目的〕
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、検査
コイルを被検査材の表面に対して接離移動可能に設げ、
また、該被検査材の表面に臨設しである磁化手段にて被
検査材の表面の検査コイルと対向する部分に該表面に沿
う静磁場を形成せしめ、被検査材の表面及び表皮下に疵
が存在する場合の静磁場の乱れに起因する検査コイルの
移動距離を測定することにより疵検出を行うこととして
、複雑な信号処理系を要さずに従来方法よりもリフトオ
フを大きくし得、事故の虞れがない探傷方法及びその実
施に使用する装置を提供することを目的とする。
コイルを被検査材の表面に対して接離移動可能に設げ、
また、該被検査材の表面に臨設しである磁化手段にて被
検査材の表面の検査コイルと対向する部分に該表面に沿
う静磁場を形成せしめ、被検査材の表面及び表皮下に疵
が存在する場合の静磁場の乱れに起因する検査コイルの
移動距離を測定することにより疵検出を行うこととして
、複雑な信号処理系を要さずに従来方法よりもリフトオ
フを大きくし得、事故の虞れがない探傷方法及びその実
施に使用する装置を提供することを目的とする。
本発明に係る探傷方法は、検査コイルを被検査材の表面
に対して接離移動可能に設け、また、被検査材の表面の
前記検査コイルと対向する部分に該表面に沿う静磁場を
形成すべき磁化手段を設け、被検査材の表面に疵が存在
する場合の前記静磁場の乱れに起因する前記検査コイル
の移動の距離を測定することにより疵を検出することを
特徴とする。
に対して接離移動可能に設け、また、被検査材の表面の
前記検査コイルと対向する部分に該表面に沿う静磁場を
形成すべき磁化手段を設け、被検査材の表面に疵が存在
する場合の前記静磁場の乱れに起因する前記検査コイル
の移動の距離を測定することにより疵を検出することを
特徴とする。
以下本発明をその実施例を示す図面に基づいて詳述する
。
。
第１図は本発明に係る探傷方法の実施に使用する装置の
略示正面図である。
略示正面図である。
図中１はスラブであって、図示しない搬送装置により図
面の表裏方向に移送される。スラブ１の移送域の所定の
位置には磁極Ｎ極、Ｓ極をスラブ１の板幅方向に対向し
、その間にスラブ１を通過させるようにして電磁石２を
設けである。電磁石２は直流電源１１に接続されており
、該直流電源１１から直流を通流されると、その直下に
位置するスラブ１の表層部にその板幅方法に向かう静磁
場を形成する。なお、電磁石２の代わりに永久磁石を設
けることとしてもよい。
面の表裏方向に移送される。スラブ１の移送域の所定の
位置には磁極Ｎ極、Ｓ極をスラブ１の板幅方向に対向し
、その間にスラブ１を通過させるようにして電磁石２を
設けである。電磁石２は直流電源１１に接続されており
、該直流電源１１から直流を通流されると、その直下に
位置するスラブ１の表層部にその板幅方法に向かう静磁
場を形成する。なお、電磁石２の代わりに永久磁石を設
けることとしてもよい。
電磁石２の上方には支持部材５を設けである。
支持部材５は板幅方向の走査のために図示しない駆動手
段によりスラブ１の板幅方向に移動されるようになって
いる。支持部材５には検査コイル３をその軸心をスラブ
１の表面に垂直にして、その表面から適長だけ離してコ
イルバネ６．６を介して上下方向への移動可能に吊支し
である。
段によりスラブ１の板幅方向に移動されるようになって
いる。支持部材５には検査コイル３をその軸心をスラブ
１の表面に垂直にして、その表面から適長だけ離してコ
イルバネ６．６を介して上下方向への移動可能に吊支し
である。
支持部材５の検査コイル３の真上に相当する下面には検
査コイル３との距離を測定する距離センサ４、例えば光
学センサ、マイクロ波センサ、超音波センサを設けであ
る。距離センサ４の測定結果は後述する比較器１３に入
力される。
査コイル３との距離を測定する距離センサ４、例えば光
学センサ、マイクロ波センサ、超音波センサを設けであ
る。距離センサ４の測定結果は後述する比較器１３に入
力される。
さて、この様な構成においてスラブ１の表面に疵１４が
存在する場合は該疵１４部から図中破線で示す如く磁束
が漏洩し、疵１４が検査コイル３直下を通過する前後に
はこの漏洩磁束により静磁場が変化する。そして、この
静磁場の水平方向成分の変化により検査コイル３には誘
導電流が流れ、従ってフレミングの左手の法則により上
下方向の電磁力が作用する。この結果、その前後におい
て検査コイル３は第２図に示す様に上下方向に振動する
。
存在する場合は該疵１４部から図中破線で示す如く磁束
が漏洩し、疵１４が検査コイル３直下を通過する前後に
はこの漏洩磁束により静磁場が変化する。そして、この
静磁場の水平方向成分の変化により検査コイル３には誘
導電流が流れ、従ってフレミングの左手の法則により上
下方向の電磁力が作用する。この結果、その前後におい
て検査コイル３は第２図に示す様に上下方向に振動する
。
而して、この振動の振幅ΔＬ（疵１４が存在しない場合
の距離センサ４〜検査コイル３間の空隙距離ＬＱと疵１
４が存在する場合の距離センサ４〜検査コイル３間の空
隙距離Ｌ１との差に相当する）は距離センサ４にて測定
され比較器１３に入力される。
の距離センサ４〜検査コイル３間の空隙距離ＬＱと疵１
４が存在する場合の距離センサ４〜検査コイル３間の空
隙距離Ｌ１との差に相当する）は距離センサ４にて測定
され比較器１３に入力される。
比較器１３には疵１４の存否の判定基準となる閾値ΔＬ
口が設定されており、ΔＬ〉ΔＬｏなる場合は疵１４が
存在するとし警報器１５を作動させ、また、図示しない
マーキング装置に所定信号を発する。
口が設定されており、ΔＬ〉ΔＬｏなる場合は疵１４が
存在するとし警報器１５を作動させ、また、図示しない
マーキング装置に所定信号を発する。
叙上の如き本発明による場合はスラブ１の表面〜検査コ
イル３間距離がリフトオフとなり、電磁石２への通電電
流を高めることにより検出感度の上昇を図ることができ
るので、リフトオフを大きくすることができる。また、
その構成により感度補償のための回路構成を要せず簡潔
な構成にて疵検出が行なえる。更にスラブ１の搬送中の
上下変動を何等かの手段にて検出し、この変動分を補正
量として距離センサ４の測定結果に加味する場合は疵の
存否のみならず、その深さも検出することができる。
イル３間距離がリフトオフとなり、電磁石２への通電電
流を高めることにより検出感度の上昇を図ることができ
るので、リフトオフを大きくすることができる。また、
その構成により感度補償のための回路構成を要せず簡潔
な構成にて疵検出が行なえる。更にスラブ１の搬送中の
上下変動を何等かの手段にて検出し、この変動分を補正
量として距離センサ４の測定結果に加味する場合は疵の
存否のみならず、その深さも検出することができる。
なお、上述の実施例では本発明方法をスラブの探傷に適
用する場合について述べたが、鋼管等の他の磁性体の探
傷についても適用できることは勿論である。
用する場合について述べたが、鋼管等の他の磁性体の探
傷についても適用できることは勿論である。
以上詳述した如く本発明に係る探傷方法は、検査コイル
を被検査材の表面に対して接離移動可能に設け、また、
該被検査材の表面に臨設しである磁化手段にて被検査材
の表面の検査コイルと対向する部分に該表面に沿う静磁
場を形成せしめ、被検査材の表面及び表皮下に疵が存在
する場合の静磁場の乱れに起因する検査コイルの移動距
離を測定することにより疵検出を行うものであるので、
静磁場の大きさを高めることにより検出感度の上昇を図
り得、これによりリフトオフを大きくすることができ、
事故の虞れのない安定した疵検出が行え、また、複雑な
信号処理系を要しない等、本発明は優れた効果を奏する
。
を被検査材の表面に対して接離移動可能に設け、また、
該被検査材の表面に臨設しである磁化手段にて被検査材
の表面の検査コイルと対向する部分に該表面に沿う静磁
場を形成せしめ、被検査材の表面及び表皮下に疵が存在
する場合の静磁場の乱れに起因する検査コイルの移動距
離を測定することにより疵検出を行うものであるので、
静磁場の大きさを高めることにより検出感度の上昇を図
り得、これによりリフトオフを大きくすることができ、
事故の虞れのない安定した疵検出が行え、また、複雑な
信号処理系を要しない等、本発明は優れた効果を奏する
。
図面は本発明の実施例を示すものであり、第１図は本発
明方法の実施に使用する装置の略示正面図、第２図は検
査コイルの振動波形図である。 ■・・・スラブ ２・・・電磁石 ３・・・検査コイル
４・・・距離センサ ６，６・・・コイルバネ特 許
出願人 住友金属工業株式会社代理人 弁理士 河 野
登 夫 ＄１図 第 ２ 図
明方法の実施に使用する装置の略示正面図、第２図は検
査コイルの振動波形図である。 ■・・・スラブ ２・・・電磁石 ３・・・検査コイル
４・・・距離センサ ６，６・・・コイルバネ特 許
出願人 住友金属工業株式会社代理人 弁理士 河 野
登 夫 ＄１図 第 ２ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 検査コイルを被検査材の表面に対して接離移動可
能に設け、また、被検査材の表面の前記検査コイルと対
向する部分に該表面に沿う静磁場を形成すべき磁化手段
を設け、 被検査材の表面及び表皮下に疵が存在する場合の前記静
磁場の乱れに起因する前記検査コイルの移動の距離を測
定することにより疵を検出することを特徴とする探傷方
法。 ２、被検査材の表面に対して接離移動可能に設けである
検査コイルと、 被検査材の表面に沿う静磁場を形成する磁化手段と、 前記検査コイルに対設してあって、それとの離隔寸法を
測定する距離計と を具備することを特徴とする探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10404784A JPS60247157A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 探傷方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10404784A JPS60247157A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 探傷方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60247157A true JPS60247157A (ja) | 1985-12-06 |
Family
ID=14370300
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10404784A Pending JPS60247157A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 探傷方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60247157A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4789880A (en) * | 1986-07-16 | 1988-12-06 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Focusing device for use in optical apparatuses |
| CN107144628A (zh) * | 2017-05-18 | 2017-09-08 | 华中科技大学 | 一种基于缺陷漏磁场源与主动探测磁源的电磁检测方法 |
-
1984
- 1984-05-22 JP JP10404784A patent/JPS60247157A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4789880A (en) * | 1986-07-16 | 1988-12-06 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Focusing device for use in optical apparatuses |
| CN107144628A (zh) * | 2017-05-18 | 2017-09-08 | 华中科技大学 | 一种基于缺陷漏磁场源与主动探测磁源的电磁检测方法 |
| CN107144628B (zh) * | 2017-05-18 | 2020-07-10 | 华中科技大学 | 一种基于缺陷漏磁场源与主动探测磁源的电磁检测方法 |
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