JPS6027102A - 金属薄膜抵抗体 - Google Patents

金属薄膜抵抗体

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JPS6027102A
JPS6027102A JP58136366A JP13636683A JPS6027102A JP S6027102 A JPS6027102 A JP S6027102A JP 58136366 A JP58136366 A JP 58136366A JP 13636683 A JP13636683 A JP 13636683A JP S6027102 A JPS6027102 A JP S6027102A
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JP
Japan
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thin film
resistance
film resistor
silicon
metal thin
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JP58136366A
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斉藤 正光
原 義雄
秀幸 鈴木
優 小山
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TAISEI KOKI KK
TAISEI KOUKI KK
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TAISEI KOKI KK
TAISEI KOUKI KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、クロム(Cr)、タンタル(TaJ、アルミ
ニウム(Al)およびシリコン(Si )よりなる合金
薄膜音用いた金属薄膜抵抗体に関する。
近年薄1俟俳抗体の進歩は目さましいものがあり安定度
の商い抵抗体として窒化クンタル薄族抵仇体がυd発さ
れ、また、尚い固有抵抗にもつ抵抗体とし−t er 
−siuサーメットが実用化されている。
すなわち銀化タンタル博+’lA * Dシ体は良好な
抵抗温度係数とすぐれた安定住金もつでいるが、固有抵
抗は約260μΩ・画で、実用膜厚における面状抵抗上
20〜1009フ口にすぎず、薄IN集績回路をさらに
小型化しようとする場合や、個別抵抗器として大きな抵
抗+it得ようとすることは困蝋である。さらに窒化タ
ンタル薄膜を生成するには通常活性スパッタリング法が
用いられ、共窒槽内に微せの活性ガスの導入とその制御
に厳密な哲理を必要とする。またCr−8iリサ一メツ
ト抵抗体は比戟的商い固有抵抗を有するがその女5i1
 r現が低く、丹現性が悪いなどの製造技術上の問題も
多い。
ところで、さきに@明されたシリコンと、タンタル、ニ
オブ、チタン、ジルコン、モリブデン。
タングステン等の中の1つとの2成分糸傅膜抵机体Cよ
一応上記の欠陥を補い、現状では最もすぐれた薄膜抵抗
体として尚く評価できるものである。
すなわち、熱処理dfA度を調整することに上り広い固
有抵抗)鉋囲に亘シ低い抵抗幌度係叡ゲもっことができ
るものでろる。
しかしながら抵抗体の安顧1ユ熱処理編度に閑係し、賜
い安定度をめようとすれは熱処理温度も而くなり、その
時の低い抵抗温度係数に対応する組成または固有抵抗は
自ら決定もれて選択の自由はなくなる。
こ\でシリコン合金薄膜抵抗体の一例として、シリコン
−タンタル合金薄膜抵抗体の熱処理温度と安定助の関係
tl−説明する。
第1図の曲線Aはシリコン−タンタル合金i1膜抵抗体
の組成に対する固有抵抗ρ(μΩ・cm ) f:示し
、同じく曲線Bは抵抗温度係数TCR(卿/℃)をわら
れしている。なお、横IIIIIlはシリコンの組成比
り、%)) ’に示し図中のA/ 、B/はそれぞれA
空中において650 ”Cで熱処理した後の値を示す曲
線である。
第1図かられかるように、シリコン官有鼠18〜65原
子係のものは適当な熱処理により抵抗温度係数が殆んど
Oのものが得られることが示されている。ここでシリコ
ン言/11皺と熱処理温度を変えて抵抗器11を係数の
小さい試料を第1表の扁1〜腐4に7ドず。なお、屑5
は比較のために試料准lと同じもの’kJc空中650
℃で熱処理したものでめる。
第1表の試料を150℃の恒温槽中に1000時1ul
放置した後の抵抗値変格を測定したら第2表のようにな
った。この表よシ明らかなように抵抗体の安定性は熱処
理温度に大きく依存しておシ、組成比の影響は少ないこ
とがわかる。
他のシリコン・金属系薄膜抵抗体についてもはヌ同様な
結果が認められた。すなわち、2成分系合金薄膜抵抗体
においては最も安定な熱処理を行ない、小さい抵抗温度
係数をめると固有抵抗と組成は自から定まってしまい、
そのため薄膜集積回路の設H1および個別抵抗器の製造
上大きな制約を受ける欠点があった。
本発明は上記従来の欠点に鑑みなされたもので、クロム
゛タンタル°アルミニウム°シリコンよりなる合金薄膜
を用いて構成した抵抗体であって、適宜熱処理を施すこ
とによって、抵抗温度係数(TCR)、三次歪み(TH
I)、ノイズ特性、寿命特性の優れた金属薄膜抵抗体を
提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明によれば、クロム67
〜83原子係、タンタル7〜25W、子%およびアルミ
ニウム11原子係以下、シリコン5原子%以下よりなる
合金薄膜を用い、この合金薄膜を好ましくは300°C
〜500℃で熱処理した金属薄膜抵抗体を構成する。
以下、本発明の一実施例を表および図面によシ説明する
第3表に、未処理時の各組成比(原子%)における抵抗
温度係数′rC几(ppm/℃)を示す。これからも明
らかなように1番〜8査の組成比では’rcitが±1
00(ppIl/℃)の範囲内におり、9番〜12査の
組成比では1’ e l(が±100(pIIl/℃〕
の純量外でおる。即ち、クロム67〜83原子[有]、
タンタル7〜25原子俤およびアルミニウム11原子%
以下、シリコン5原子係以下の組成内(第3表1査〜8
番)、が最適の抵抗温度係数値であることを示している
第 3 表 第2図は、クロム78原子%、タンタル13原子係、ア
ルミニウム7原子係、シリコン2原子%の場合の熱処理
篇度における抵抗温度係数T CR(pplI/℃)、
ノイズ(db)、三次歪みTHI(db)および面積抵
抗値R(Ω/口)を示したものである。第2図において
、抵抗温度係数′r CHは5011% / °C以下
、ノイズ特性は約−40db、三次歪みTHI 特性は
約−130db〜−140db、面積抵抗値Rは約10
〜20Ω/口を示す。これらから明らかなように、上記
組成によシ熱処理を施すことによって、耐環境性が良好
となり、三次歪みT)II特性が優れたものとなる。
次にこの発明の試料の作製方法について説明する。スパ
ッタリング条件はあらかじめベルジャ内を3 X 1O
−7Torr、に排気した後、高純度アルゴンガスを1
8〜20 X 10−’ Torr−導入し、陰極′電
圧−5,7〜−6,5kV、電流密度0.2−0.5 
+nA /crrtで2極スパツタリングにより行なっ
た。11父膜速度は50〜15oA/m+++で必る。
膜組成は、クロム、タンタル、アルミニウム、シリコン
の金Me用い、七の面積比を変えることにより決定し、
熱処理は人気中で数分間貸なった。
ここで、上記金属薄膜の抵抗器としての安定性を示すた
め、第3図および第4図にクロム78,7原子%、タン
タル11.81113を子係、アルミニウム7.1原子
係、シリコン2.4原子係の組成における高温放置試験
および耐湿負荷寿命試験を1,000 時間行った結果
を示す。この結果、第3図の高温放置試験における抵抗
値変化率は0.1以下であり、第4図の耐湿負荷寿命試
験における抵抗値変化率は0.02%以下であった。し
たがって、これらの試験からも明らかなように諸条件に
おいて安ボ性に優れ、とりわけ耐湿負荷寿命特性に優れ
ているといえる。
以上、上記実施例からも明ら〃・なように本発明によれ
ば、久ロム、タンタル、アルミニウム、シリコンよりな
る合金薄膜を用いてS成された抵抗体でイ)って、適宜
熱処理を施すことによって、抵抗温度係i11.(’l
’ckt)、三次歪み(n−ti)、ノイズ特性、寿館
特性の優れた金属薄膜抵抗体を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のシリコン・タンタル金属薄膜抵抗体の組
成比と固有抵抗との関係図、第2図は本発明の金属薄膜
抵抗体の熱処理による抵抗温度係数(’rci−t、)
・三次歪み(’PH1)・ノイズ・面積抵抗値を示した
グラフ、第3図は本発明の金属薄膜抵抗体の高温放置試
験結果を示したグラフ、第4図は本発明の金属薄膜抵抗
体の耐湿負荷寿命試験結果を示したグラフである、 図中ρは固有抵抗、TC比は抵抗温度係数、′V1−I
Iは三次歪み、Δ)1/几は抵抗値変化率、tFi試験
時間である。 代理人 弁理士 守 合 −維 第 l 図 牟 2 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 クロム67〜83原子係、タンタル7〜25原子
    %、アルミニウム11原子係以下およびシリコン5原子
    悌以下よpなる合金薄膜を用いて構成したこと′It特
    徴とする金属薄膜抵抗体。 2、611記合金#膜t−300℃〜500℃の偏置で
    熱処111したものを用いで構成したことを特徴とする
    特π「請求の+li包囲第1Xj&記載の全編薄膜抵抗
    体〇
JP58136366A 1983-07-25 1983-07-25 金属薄膜抵抗体 Granted JPS6027102A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58136366A JPS6027102A (ja) 1983-07-25 1983-07-25 金属薄膜抵抗体

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JP58136366A JPS6027102A (ja) 1983-07-25 1983-07-25 金属薄膜抵抗体

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6027102A true JPS6027102A (ja) 1985-02-12
JPH0412601B2 JPH0412601B2 (ja) 1992-03-05

Family

ID=15173484

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58136366A Granted JPS6027102A (ja) 1983-07-25 1983-07-25 金属薄膜抵抗体

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JP (1) JPS6027102A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007270480A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Railway Technical Res Inst レール

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007270480A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Railway Technical Res Inst レール

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JPH0412601B2 (ja) 1992-03-05

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