JPS602711B2 - 複数個のマイクロコンピユ−タの同期方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は複数個のマイクロコンピュータの同期方法に関
するものである。

複数個の同一なマイクロコンピュータを同時に同一な動
作をさせる場合、そのマイクロコンピュータのーマシン
サィクルを構成するステートを同期させる必要がある。

そこで本発明は、各マイクロコンピュータから特定ステ
ートにあることを示すステート信号が出力されると、そ
のマイクロコンピュータへのクロック信号の入力を一時
禁止し、全てのマイクロコンピュータへのステートが同
一になった時に、クロツク信号の各マイクロコンピュー
タへの入力の禁止を解除するようにした複数個のマイク
ロコンピュータの同期方法を実現したものである。以下
図面を参照して本発明を詳細に説明する。第１図は本発
明を実施した基板検査装置の概略構成図である。第１図
において、１はこの基板検査装置を制御する基板検査制
御回路、２，３はそれぞれ基準用基板、検査基板であり
、両基板ともマイクロコンピュータを含む同一な電子回
路より構成され、基準用基板２は正常に動作することが
予め確認されている。前記マイクロコンピュータは、ー
マシンサイクルが４つのステートより構成されており、
その第３のステートにあるとき外部にステート信号を出
力し、またＲＥＳＥＴ信号がＬＯＷのとき、内部状態及
び外部出力ボートは初期状態を保持し、ＲＥＳＥＴ信号
がＨＩＧＨになった後初めての第１ステートから動作を
開始する。４は本発明に係るマイクロコンピュータ同期
動作制御回路であり、その詳細は後述するが、この基板
検査装置において、基準用基板２と検査基板３とを同期
させて動作させるために、両基板に実装されたマイクロ
コンピュータの同期動作を制御する。

５は基準用基板２及び検査基板３から出力される出力信
号ＱＵＴＩ及びＱＵＴ２を入力し、その信号を比較して
偏差信号ＣＳを基板検査制御回路１に出力する信号比較
回路である。

ここでＱＵＴＩ及びＱＵＴ２は、ともに複数の出力信号
より構成されている。また偏差信号ＣＳもＱＵＴＩ及び
ＱＵＴ２を構成する複数の出力信号に対応した複数の信
号より構成されている。６，７はそれぞれ不良箇所を表
示及び印字用紙上に印字するための表示装置及び印字装
置である。

次にこの基板検査装置の検査動作を説明する。

検査を開始すると、基板検査制御回路１はマイクロコン
ピュータ同期動作制御回路４にスタート信号８０Ｎを出
力する。マイクロコンピュータ同期動作制御回路４では
信号ＢＧＮを受取ると、基準用基板２にクロック信号Ｘ
１、検査基板３にクロック信号×２を出力するとともに
、両基板へのＲＥＳＥＴ信号であるＲＳＴをＬＯＷにす
る。次に基準用基板２、検査基板３からステート信号Ｓ
Ｔ３１，ＳＴ３２を入力し、クロック信号Ｘ１，Ｘ２を
制御し両基板に実装されたマイクロコンピュ−夕の同期
をとる。そして同期がとれると信号ＲＳＴをＨＩＧＨに
し、両マイクロコンピュータのリセットを解除し、動作
開始を可能にするとともに、基板検査制御回路１と信号
比較回路５とにサンプリング信号ＸＣを出力する。基板
検査制御回路１はサンプリング信号ＸＣが入力されると
、それに同期して基準用基板２と検査基板３とへの入力
信号ＩＮＰを出力する。入力信号ＷＰは複数の入力信号
より構成されており、また予めプログラミングされてい
て、そのプログラムを変更すれば種々の基板の検査が可
能である。基準用基板２及び検査基板３は入力信号ｍＰ
が入力されると、それに応答してそれぞれ出力信号ＱＵ
Ｔ１，ＱＵＴ２を出力する。信号比較回路５はＱＵＴ１
，ＱＵＴ２が入力されると、サンプリング信号ＸＣに同
期してその両信号を比較し、その偏差信号ＣＳを基板検
査制御回路１に出力する。基板検査制御回路１は偏差信
号ＣＳが入力されると、その偏差値と予め定められた許
容値とを比較し、偏差値の方が大なるときは、不良であ
ると判定する。不良があった場合は、その不良箇所、偏
差値及び許容値を表示装置に表示するとともに、印字装
置に印字し、検査動作を中止する。また全検査プログラ
ムを終了すると良品と判定し、その旨を表示装置に表示
するとともに、印字装置に印字する。次に第２図及び第
３図によって、本発明に係るマイクロコンピュータ同期
動作制御回路４を更に詳しく説明する。

第２図はマイクロコンピュータ同期動作制御回路４のブ
ロック図であり、１１は発振器、１２はステート信号制
御回路、１３はクロック信号制御回路である。第３図は
各部信号波形図であり、ａは発振器１１よりクロツク信
号制御回路１３への所定の周波数を持つクロック信号Ｃ
Ｋ、ｂ，ｈはクロツク信号制御回路１３よりそれぞれ基
準用基板２、検査基板３へのクロツク信号Ｘ１，Ｘ２、
ｇ、及びｍはそれぞれＸ１，Ｘ２を制御するクロック制
御信号ＣＣ１，ＣＣ２、ｎはＲＥＳＥＴ信号ＲＳＴ、ｐ
はサンプリング信号ＸＣ、ｃ，ｄ，ｆはそれぞれ基準用
基板２に実装されたマイクロコンピュータの内部ステー
トがそれぞれ第１ステート、第２ステート、第４ステー
トであることを示し、ｅは基準用基板２から出力される
ステート信号ＳＴ３１、またｉ，ｉ，１はそれぞれ検査
基板３に実装されたマイクロコンピュータの内部ステー
トがそれぞれ第１ステート、第２ステート、第４ステー
トであることを示し、ｋは検査基板３から出力されるス
テート信号ＳＴ３２である。次にマイクロコンピュータ
同期動作制御回路４の動作を説明する。

基板検査制御回路１より信号ＢＧＮが到来すると、発振
器１１よりクロック信号ＣＫがクロツク信号制御回路１
３に出力される。クロツク信号制御回路１３はクロツク
信号ＣＫと信号ＣＣＩとのオア信号×１、及びクロック
信号ＣＫと信号ＣＣ２とのオア信号Ｘ２とをそれぞれ出
力する。またリセット信号制御回路１４はＲＥＳＥＴ信
号ＲＳＴを出力する。いま基準用基板２上のマイクロコ
ンビュー外ま第４ステートから内部ステートを開始し、
検査基板３上のマイクロコンピュータは第２ステートか
ら内部ステートを開始したとする。それぞれのマイクロ
コンピュータはクロツク信号×１，×２に同期して内部
ステ−トを移行する。検査基板３上のマイクロコンピュ
ータが第３ステートになりステート信号ＳＴ３２を出力
すると、ステート信号制御回路１２はそれに応答して信
号ＣＣ２を日に日にする。それによってクロック信号Ｘ
２はＨＩＧＨ状態になり、検査基板３のマイクロコンピ
ュータは第３ステート状態を保持する。次に基準用基板
２上のマイクロコンピュータが第３ステートになりステ
ート信号ＳＴ３１を出力し、両マイクロコンピュータと
も第３ステートになると、ステート信号制御回路１２は
信号ＣＣ２をＬＯＷにするとともに信号ＲＳＴをＨＩＧ
Ｈにする。またクロツク信号制御回路１３は信号ＲＳＴ
が批ＧＨになった後、最初の第１ステートに対応するク
ロック信号からサンプリング信号）（Ｃを出力する。こ
のようにして、マイクロコンピュータ同期動作制御回路
４は両マイクロコンピュータの同期動作を制御する。

またこの例ではステート信号ＳＴ３２がステート信号Ｓ
Ｔ３１より先に出力された例について説明したが、この
逆にステート信号ＳＴ３１がステート信号ＳＴ３２より
先に出力されても同様に制御される。また本実施例では
、基板検査装置に応用した例について説明したが、それ
以外に全く異なる動作をする複数個のマイクロコンピュ
ータを同時に動作させる場合にも応用できる。

以上のように本発明は、複数個のマイクロコンピュータ
のクロツク信号をステート信号により制御することによ
り、そのクロック信号の入力を禁止し、全てのマイクロ
コンピュータのステートが同一になった時に、そのクロ
ツク信号の入力を解除するようにした複数個のマイクロ
コンピュータの同期方法を実現したものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を実施した一例を示す基板検査装置、第
２図は本発明に係るマイクロコンピュータ同期動作制御
回路、第３図は各部信号波形図である。 図中２はマイクロコンピュータを実装した基準用基板、
３はマイクロコンピュータを実装した検査基板、４はマ
イクロコンピュータ同期動作制御回麟、１１は発振器、
１２はステート信号制御回略、１３はクロツク信号制御
回路、信号ＳＴ３１，ＳＴ３２はステート信号、信号Ｘ
１，Ｘ２はクロツク信号である。 第１図 第２図 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 一マシンサイクルを構成する複数個のステートのう
   ちの特定のステートにあるとき、外部にステート信号を
   出力するとともに、外部からのクロツク信号によってス
   テートを移行し、所定の動作を実行するマイクロコンピ
   ユータを複数個有し、前記各マイクロコンピユータから
   前記ステート信号が出力されると、そのマイクロコンピ
   ユータへのクロツク信号の入力を一時禁止しそのステー
   トを保持し、全てのマイクロコンピユータのステートが
   同一になったときに、前記クロツク信号の各マイクロコ
   ンピユータへの入力の禁止を解除するようにしたことを
   特徴とする複数個のマイクロコンピユータの同期方法。