JPS6027131A - ホトレジスト塗布方法 - Google Patents
ホトレジスト塗布方法Info
- Publication number
- JPS6027131A JPS6027131A JP58136218A JP13621883A JPS6027131A JP S6027131 A JPS6027131 A JP S6027131A JP 58136218 A JP58136218 A JP 58136218A JP 13621883 A JP13621883 A JP 13621883A JP S6027131 A JPS6027131 A JP S6027131A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- photoresist
- coating method
- coating
- baking
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/16—Coating processes; Apparatus therefor
- G03F7/162—Coating on a rotating support, e.g. using a whirler or a spinner
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明はIC等の製造過程において実施されるホトレジ
スト塗布方法に係り、特に複数回の塗布の間にウェハ表
面を紫外線露光するようにしたボトレジスI−塗布方法
に関する。
スト塗布方法に係り、特に複数回の塗布の間にウェハ表
面を紫外線露光するようにしたボトレジスI−塗布方法
に関する。
(ロ)従来技術
従来の塗布方法の手順を説明すると次のようである。
■ スピンクリーン。
まっ、小径の噴射孔を有するノズルを矢印方向に移動し
つつ、前記ノズルから、純水を高圧噴射してウェハの表
面を洗浄する。
つつ、前記ノズルから、純水を高圧噴射してウェハの表
面を洗浄する。
■ デバイトレージョン。
前記した純水をウェハ表面から除去するため、ウェハを
約250度Cの温度にまで上昇する。
約250度Cの温度にまで上昇する。
■ ホトレジスト塗布。
前記ウェハを回転しつつ、−例とし“ζ約400cpの
高粘度のレジスト剤をウェハ表面に塗布する。
高粘度のレジスト剤をウェハ表面に塗布する。
■ ヘーキング。
前記ボトレジスト塗布したウェハをヘーキングすること
によって、ウェハ表面に塗布したホトレジスト映を成る
程度重合して安定さ−lる。このときの温度は約140
〜150度Cで、ヘーキンク時間は約1分程度である。
によって、ウェハ表面に塗布したホトレジスト映を成る
程度重合して安定さ−lる。このときの温度は約140
〜150度Cで、ヘーキンク時間は約1分程度である。
■ ホトレジスト膜の膜厚を所定の値にする目的で、前
記■〜■の手順、つまり、スピンクリーン、デバイトレ
ージョン、ホトレジスト塗布及びベーキングの工程を繰
り返す。
記■〜■の手順、つまり、スピンクリーン、デバイトレ
ージョン、ホトレジスト塗布及びベーキングの工程を繰
り返す。
すなワチ、従来のポトレジスト塗布方法はスピンクリー
ンからベーキング迄の工程を繰り返すことが必要であっ
たため、工程全体としての所要時間が長くなるという欠
点があった。
ンからベーキング迄の工程を繰り返すことが必要であっ
たため、工程全体としての所要時間が長くなるという欠
点があった。
また、ウェハを複数回、塗布、ハーフを繰り返す方法で
あったため、ウェハハンドリング中に粉塵がウェハ表面
に降りかかり、そのためウェハのホトレジスト膜のピン
ホール発生率を低減することが困難であった。
あったため、ウェハハンドリング中に粉塵がウェハ表面
に降りかかり、そのためウェハのホトレジスト膜のピン
ホール発生率を低減することが困難であった。
(ハ)目的
本発明は塗布に要する時間を短縮しうるホトレジスト塗
布方法を提供することを目的としている。
布方法を提供することを目的としている。
もうひとつの目的はピンボール発生率を低減しうるホト
レジスト塗布方法を提供することである。
レジスト塗布方法を提供することである。
(ニ)構成
本発明はウェハに最初のホトレジスF?布を行った後、
前記ウェハの全面を紫外線露光することにより前記ボト
レシストの股を安定させた後、前記ウェハにホトレジス
ト塗布を施し、その後最終工程としてベーキングを施す
ようにしたボトレジスト塗布方法である。
前記ウェハの全面を紫外線露光することにより前記ボト
レシストの股を安定させた後、前記ウェハにホトレジス
ト塗布を施し、その後最終工程としてベーキングを施す
ようにしたボトレジスト塗布方法である。
(ボ)実施例
第1図は本発明に係るボトレシスト塗布方法の手順を示
す説明図である。同図によ−りこの塗布方法を説明する
と、以下の手順となる。
す説明図である。同図によ−りこの塗布方法を説明する
と、以下の手順となる。
■ スピンクリーン。
まづ、小径の噴射孔を有するノスル10から、純水を高
圧噴射してウェハ20の表面を洗浄する。
圧噴射してウェハ20の表面を洗浄する。
この場合、必要に応じて前記ウェハ20を適宜な回転機
で回転してもよい。
で回転してもよい。
この工程は従来技術と変わらない。
■ デバイ1ル−ジョン。
ウェハ表面に残った純水を除去するため、ウェハを適宜
な雰囲気炉30 (またはボットプレート上)に導入し
てその表面を約250度Cの温度にまで上昇する。この
工程も従来と変わらない。
な雰囲気炉30 (またはボットプレート上)に導入し
てその表面を約250度Cの温度にまで上昇する。この
工程も従来と変わらない。
■ ホトレジスト塗布。
前記ウェハを回転機40により回転しつつ、レジスト剤
50をノズル60から適量適下してこれをウェハ表面に
均一に塗布する。
50をノズル60から適量適下してこれをウェハ表面に
均一に塗布する。
■ 紫外線露光。
■の工程でホトレジスト塗布を施したウェハの表面に紫
外線露光を行う。その手段として、例えば電源100に
より、超高圧水銀灯90を動作せしめ、超高圧水銀灯9
0で発生した紫外線をガラスファイバ゛−70で導出し
、ガラスファイハーフ0の他端から紫外線をウェハ表面
に照射する。
外線露光を行う。その手段として、例えば電源100に
より、超高圧水銀灯90を動作せしめ、超高圧水銀灯9
0で発生した紫外線をガラスファイバ゛−70で導出し
、ガラスファイハーフ0の他端から紫外線をウェハ表面
に照射する。
この照射はウェハ表面全面に施すことが必要であり、そ
のため、前記ウェハは回転させるが、この回転にあたっ
ては、■で使用した回転機40が使用できる。そして、
紫外線露光により、ホトレジスト膜はある程度架橋反応
が進行し、膜が安定した状態となる。
のため、前記ウェハは回転させるが、この回転にあたっ
ては、■で使用した回転機40が使用できる。そして、
紫外線露光により、ホトレジスト膜はある程度架橋反応
が進行し、膜が安定した状態となる。
好ましい実施例として、3mW/cm程度の強度の紫外
線を約10秒間照射することが挙げられる。
線を約10秒間照射することが挙げられる。
■ ホトレジスト塗布。
前記■と同様にして、レジスト剤をウェハ表面に塗布す
る。
る。
なお、このホトレジスト塗布では、所要のレジスト1挨
の膜厚が得られない場合には、前記■〜■の工程を繰り
返すことによって、所要の例えば数十ミクロンの膜厚を
得ることができる。
の膜厚が得られない場合には、前記■〜■の工程を繰り
返すことによって、所要の例えば数十ミクロンの膜厚を
得ることができる。
■ ベーキング。
最終の工程として、前記ホトレジスト塗布したウェハを
ヘーキング炉80またはホットプレートでもって、ベー
キングするごとによって、ウェハ表面に塗布したボトレ
シス日史を重合して安定させる。このときの温度は約1
40〜150度Cで、ベーキング時間は約1分程度か好
ましい例である。
ヘーキング炉80またはホットプレートでもって、ベー
キングするごとによって、ウェハ表面に塗布したボトレ
シス日史を重合して安定させる。このときの温度は約1
40〜150度Cで、ベーキング時間は約1分程度か好
ましい例である。
なお、必要に応じてベーキングと同時に露光の]−程を
付加することも可能である。
付加することも可能である。
(へ)効果
本発明に係るポトレジスト塗布によれば、従来必要とし
ていた1回目のベーキングを省くごとができる故、ホト
レジスト塗AJの工程に要した時間を短縮することが可
能であり、装置の生産性を向上することができる。
ていた1回目のベーキングを省くごとができる故、ホト
レジスト塗AJの工程に要した時間を短縮することが可
能であり、装置の生産性を向上することができる。
さらに、上述のように■〜■の工程を繰り返すこととす
れば、前記ホトレジスト剤を低粘度のものを使用するこ
とが可能であるため、ピンホール発生率を低く保つこと
ができるという効果もある。
れば、前記ホトレジスト剤を低粘度のものを使用するこ
とが可能であるため、ピンホール発生率を低く保つこと
ができるという効果もある。
第1図は本発明に係るホトレジスト塗布方法の手順を示
す説明図である。 10・・・ノズル、20・・・ウェハ、30・・・雰囲
気炉、40・・・回転機、50・・・レジスト剤、60
・・・ノズル、70・・・ガラスファイバー、80・・
・ヘーキング炉、90・・・超高圧水銀灯、100・・
・電源。 特許出願人 ローム株式会社 代理人 弁理士 大 西 孝 治 第1図 手続補正書(方式) 昭和58年12月26日 住 所 京都市右京区西院溝崎町21番地第1図
す説明図である。 10・・・ノズル、20・・・ウェハ、30・・・雰囲
気炉、40・・・回転機、50・・・レジスト剤、60
・・・ノズル、70・・・ガラスファイバー、80・・
・ヘーキング炉、90・・・超高圧水銀灯、100・・
・電源。 特許出願人 ローム株式会社 代理人 弁理士 大 西 孝 治 第1図 手続補正書(方式) 昭和58年12月26日 住 所 京都市右京区西院溝崎町21番地第1図
Claims (2)
- (1)ウェハに最初のホトレジスト塗布を行った後、前
記ウェハの全面を紫外線露光することにより前記ホトレ
ジストの)模を安定させた後、前記ウェハにホトレジス
ト塗布を施し、ホトレジスト膜を所定の膜厚にした後、
前記ウェハをヘーキングするようにしたことを特徴とす
るホトレジスト塗布方法。 - (2)前記紫外線の露光はウェハを回転しつつ行うもの
であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のホ
トレジスト塗布方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58136218A JPS6027131A (ja) | 1983-07-25 | 1983-07-25 | ホトレジスト塗布方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58136218A JPS6027131A (ja) | 1983-07-25 | 1983-07-25 | ホトレジスト塗布方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6027131A true JPS6027131A (ja) | 1985-02-12 |
Family
ID=15170058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58136218A Pending JPS6027131A (ja) | 1983-07-25 | 1983-07-25 | ホトレジスト塗布方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6027131A (ja) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5255869A (en) * | 1975-11-01 | 1977-05-07 | Fujitsu Ltd | Production of semiconductor device |
| JPS52116174A (en) * | 1976-03-26 | 1977-09-29 | Nec Corp | Manufacture of semiconductor device |
| JPS55148423A (en) * | 1979-05-07 | 1980-11-19 | Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai | Method of pattern formation |
| JPS5726433A (en) * | 1980-07-23 | 1982-02-12 | Hitachi Ltd | Bake of photoresist or the like and apparatus therefor |
| JPS57100428A (en) * | 1980-12-16 | 1982-06-22 | Matsushita Electronics Corp | Method for photomechanical process |
| JPS57204033A (en) * | 1981-06-10 | 1982-12-14 | Toshiba Corp | Formation of fine pattern |
-
1983
- 1983-07-25 JP JP58136218A patent/JPS6027131A/ja active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5255869A (en) * | 1975-11-01 | 1977-05-07 | Fujitsu Ltd | Production of semiconductor device |
| JPS52116174A (en) * | 1976-03-26 | 1977-09-29 | Nec Corp | Manufacture of semiconductor device |
| JPS55148423A (en) * | 1979-05-07 | 1980-11-19 | Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai | Method of pattern formation |
| JPS5726433A (en) * | 1980-07-23 | 1982-02-12 | Hitachi Ltd | Bake of photoresist or the like and apparatus therefor |
| JPS57100428A (en) * | 1980-12-16 | 1982-06-22 | Matsushita Electronics Corp | Method for photomechanical process |
| JPS57204033A (en) * | 1981-06-10 | 1982-12-14 | Toshiba Corp | Formation of fine pattern |
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