JPS6035852B2 - トランジスタ電力スイツチ - Google Patents
トランジスタ電力スイツチInfo
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- JPS6035852B2 JPS6035852B2 JP50006940A JP694075A JPS6035852B2 JP S6035852 B2 JPS6035852 B2 JP S6035852B2 JP 50006940 A JP50006940 A JP 50006940A JP 694075 A JP694075 A JP 694075A JP S6035852 B2 JPS6035852 B2 JP S6035852B2
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- resistor
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
- H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
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- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02J—ELECTRIC POWER NETWORKS; CIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
- H02J7/00—Circuit arrangements for charging or discharging batteries or for supplying loads from batteries
- H02J7/70—Circuit arrangements for charging or discharging batteries or for supplying loads from batteries characterised by the mechanical construction
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/60—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers characterised by the integration of at least one component covered by groups H10D10/00 or H10D18/00, e.g. integration of BJTs
- H10D84/641—Combinations of only vertical BJTs
- H10D84/642—Combinations of non-inverted vertical BJTs of the same conductivity type having different characteristics, e.g. Darlington transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D99/00—Subject matter not provided for in other groups of this subclass
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、負荷を流れる平均電流の制御のために使用す
る、制御トランジスタおよびパワトランジスタを有する
トランジスタ電力スイッチであって、制御トランジスタ
のコレクタは第1の抵抗を介して動作電圧の一方の端子
に接続され、制御トランジスタとパワトランジスタの各
ェミッ外ま共に動作電圧の他方の端子に接続され、パワ
トランジスタのベースは第2の抵抗を介して制御トラン
ジスタのコレク外こ接続されており、負荷を流れる平均
電流は、パワトランジスタの投入接続持続期間の、パヮ
トランジスタの投入接続持続期間と遮断期間との和に対
する比によって制御されるトランジスタ電力スイッチに
関する。
る、制御トランジスタおよびパワトランジスタを有する
トランジスタ電力スイッチであって、制御トランジスタ
のコレクタは第1の抵抗を介して動作電圧の一方の端子
に接続され、制御トランジスタとパワトランジスタの各
ェミッ外ま共に動作電圧の他方の端子に接続され、パワ
トランジスタのベースは第2の抵抗を介して制御トラン
ジスタのコレク外こ接続されており、負荷を流れる平均
電流は、パワトランジスタの投入接続持続期間の、パヮ
トランジスタの投入接続持続期間と遮断期間との和に対
する比によって制御されるトランジスタ電力スイッチに
関する。
この種のトランジスタ電力スイッチは公知であり、しか
もパワトランジスタのコレク外ま制御トランジスタのコ
レクタに接続され、パワトランジスタのベースは制御ト
ランジスタのェミツタに接続される。
もパワトランジスタのコレク外ま制御トランジスタのコ
レクタに接続され、パワトランジスタのベースは制御ト
ランジスタのェミツタに接続される。
ダーリントン接続として公知のこの回路は、発電機用電
圧調整器において低い制御電流で間に合うようにするた
めのトランジスタ電力スイッチとして使用する。この回
路で得られる最小飽和電圧はパワトランジスタのベース
ーヱミッタ電圧と制御トランジスタのコレクターヱミッ
夕霞圧とから形成される。両電圧は通常IV以上にある
が、パワトランジスタによって0.5V以下の飽和電圧
を得ることもできる。ダーリントン接続回路から成るト
ランジスタ電力スイッチは投入接続作動状態において大
きな損失電力を有し、遮断状態において損失電力は零で
ある。
圧調整器において低い制御電流で間に合うようにするた
めのトランジスタ電力スイッチとして使用する。この回
路で得られる最小飽和電圧はパワトランジスタのベース
ーヱミッタ電圧と制御トランジスタのコレクターヱミッ
夕霞圧とから形成される。両電圧は通常IV以上にある
が、パワトランジスタによって0.5V以下の飽和電圧
を得ることもできる。ダーリントン接続回路から成るト
ランジスタ電力スイッチは投入接続作動状態において大
きな損失電力を有し、遮断状態において損失電力は零で
ある。
このダーリントン接続回路は種々の衝撃係数(例えば発
電機の電圧調整器において作動期間と周期との比を衝撃
係数と称す)で作動する場合、零に近い最小値と期間中
に生ずる最大値との間の平均損失電力が変動し、上述の
電圧調整器の場合この平均損失電力は0.6Wと6Wと
の間で変動する。トランジスタ電力スイッチの所属する
回路が温度依存の機能を有する場合、トランジスタ電力
スイッチを他の回路から熱的に減結合するのでなければ
、上記の温度依存の機能は衝撃係数に依存する。熱減給
合は事情により回路を個別化素子で構成の際多大の構造
上の出費を招き、また混成集積回路でも困難で、しかも
全回路のモノリシツク集積回路の場合殆んど不可能であ
る。この種の欠点は冒頭に述べたトランジスタ電力スイ
ッチの場合回避することができる、すなわち本発明によ
れば、パワトランジスタのベースと制御トランジスタの
コレク夕との間の接続線に第2の抵抗を接続し、さらに
第1の抵抗と第2の抵抗の抵抗値の和を、制御トランジ
スタの遮断時にパワトランジス夕のベースに流れる電流
が当該パワトランジスタを全作動状態において飽和領域
に保持するように選定し、第1の抵抗は、制御トランジ
スタの投入接続の際、当該抵抗および制御トランジスタ
のコレクターェミッタ回路で変換された損失電力の和が
、制御トランジスタの遮断の際、両抵抗およびパワトラ
ンジスタに発生する損失電力の和と等しくなるように選
定されている。
電機の電圧調整器において作動期間と周期との比を衝撃
係数と称す)で作動する場合、零に近い最小値と期間中
に生ずる最大値との間の平均損失電力が変動し、上述の
電圧調整器の場合この平均損失電力は0.6Wと6Wと
の間で変動する。トランジスタ電力スイッチの所属する
回路が温度依存の機能を有する場合、トランジスタ電力
スイッチを他の回路から熱的に減結合するのでなければ
、上記の温度依存の機能は衝撃係数に依存する。熱減給
合は事情により回路を個別化素子で構成の際多大の構造
上の出費を招き、また混成集積回路でも困難で、しかも
全回路のモノリシツク集積回路の場合殆んど不可能であ
る。この種の欠点は冒頭に述べたトランジスタ電力スイ
ッチの場合回避することができる、すなわち本発明によ
れば、パワトランジスタのベースと制御トランジスタの
コレク夕との間の接続線に第2の抵抗を接続し、さらに
第1の抵抗と第2の抵抗の抵抗値の和を、制御トランジ
スタの遮断時にパワトランジス夕のベースに流れる電流
が当該パワトランジスタを全作動状態において飽和領域
に保持するように選定し、第1の抵抗は、制御トランジ
スタの投入接続の際、当該抵抗および制御トランジスタ
のコレクターェミッタ回路で変換された損失電力の和が
、制御トランジスタの遮断の際、両抵抗およびパワトラ
ンジスタに発生する損失電力の和と等しくなるように選
定されている。
制御トランジスタのコレク夕を第1抵抗を介して動作電
圧の一方の端子に接続し、また両トランジスタのェミッ
タを動作電圧の池端に接続する。さらにパワトランジス
タのベースを第2抵抗を介して制御トランジスタのコレ
ク外こ接続する。また制御トランジスタの遮断の際パワ
トランジスタのベースに流れる電流が全作動状態におい
てこのトランジスタを飽和範囲に保持するように両抵抗
の和を選定する。また制御トランジスタの作動の際第1
抵抗と制御トランジスタのコレクターヱミッタ間で変換
された損失電力の和が、制御トランジスタの遮断の際両
抵抗およびパワトランジスタにおいて発生する損失電力
の和とほぼ等しくなるように第1抵抗を選定する。トラ
ンジスタ電力スイッチによって切換られる負荷が抵抗か
ら成る場合、この種の装置によってトランジスタ電力ス
イッチで変換された損失電力は構成素子のパラメ−夕の
通常のばらつきを考慮に入れて衝撃係数に全く関係しな
いようにされる。
圧の一方の端子に接続し、また両トランジスタのェミッ
タを動作電圧の池端に接続する。さらにパワトランジス
タのベースを第2抵抗を介して制御トランジスタのコレ
ク外こ接続する。また制御トランジスタの遮断の際パワ
トランジスタのベースに流れる電流が全作動状態におい
てこのトランジスタを飽和範囲に保持するように両抵抗
の和を選定する。また制御トランジスタの作動の際第1
抵抗と制御トランジスタのコレクターヱミッタ間で変換
された損失電力の和が、制御トランジスタの遮断の際両
抵抗およびパワトランジスタにおいて発生する損失電力
の和とほぼ等しくなるように第1抵抗を選定する。トラ
ンジスタ電力スイッチによって切換られる負荷が抵抗か
ら成る場合、この種の装置によってトランジスタ電力ス
イッチで変換された損失電力は構成素子のパラメ−夕の
通常のばらつきを考慮に入れて衝撃係数に全く関係しな
いようにされる。
トランジスタ電力スイッチによって切換られる負荷をフ
ライホイールダイオードを用いて結合されたインダクタ
ンスから構成する場合、トランジスタ電力スイッチによ
り変換された損失電力は衝撃係数に依存せず零に近似す
るように上記装置によって達成される。なぜならこの場
合キィーング電流の振幅は衝撃係数に依存しないからで
ある。この零の近似から本発明の別の実施例において、
最初の近似が行われる。制御トランジスタの制御回路が
制御トランジスタの相補トランジスタを含む場合、制御
トランジスタの制御回路で変換された損失電力がエネル
ギー平衡に次のように関する。
ライホイールダイオードを用いて結合されたインダクタ
ンスから構成する場合、トランジスタ電力スイッチによ
り変換された損失電力は衝撃係数に依存せず零に近似す
るように上記装置によって達成される。なぜならこの場
合キィーング電流の振幅は衝撃係数に依存しないからで
ある。この零の近似から本発明の別の実施例において、
最初の近似が行われる。制御トランジスタの制御回路が
制御トランジスタの相補トランジスタを含む場合、制御
トランジスタの制御回路で変換された損失電力がエネル
ギー平衡に次のように関する。
すわち制御トランジスタの作動接続の際制御トランジス
タのコレクタ抵抗およびコレクターェミッタ回路で変換
された損失電力の和が制御トランジスタの制御回路で変
換された損失電力を含めて制御トランジスタの遮断の際
両抵抗およびパヮトランジスタに発生する損失電力の和
と等しくなるように制御トランジスタのコレク夕抵抗の
回路定数を定める。本発明の別の実施例においてパワト
ランジスタをダーリントン髪続回路として構成すること
もでき、このことは例えば高動作電圧のために設計され
た回路にとって有利である。
タのコレクタ抵抗およびコレクターェミッタ回路で変換
された損失電力の和が制御トランジスタの制御回路で変
換された損失電力を含めて制御トランジスタの遮断の際
両抵抗およびパヮトランジスタに発生する損失電力の和
と等しくなるように制御トランジスタのコレク夕抵抗の
回路定数を定める。本発明の別の実施例においてパワト
ランジスタをダーリントン髪続回路として構成すること
もでき、このことは例えば高動作電圧のために設計され
た回路にとって有利である。
次に本発明を実施例について図面により詳細に説明する
。
。
第1図は本発明のトランジスタ電力スイッチを示す。
制御トランジスタを1により示し、パワトランジスタを
2により示す。更に制御トランジスターのコレクタ抵抗
をR,により示す。制御トランジスタ1のコレクタとパ
ワトランジスタ2のベースとの間には抵抗R2が接続さ
れている。トランジスタ電力スイッチにより投入・遮断
される負荷をR,Lにより示す。但し負荷の抵抗分をR
により示し、負荷にィンダクタンスがある場合にはこれ
をLにより示す。またパワトランジスタ2のコレクタ体
抵抗をR4により示し、パワトランジスタ2のコレクタ
ーェミッタ間の内部電位差をU2により示す。更にフラ
イホイールダイオードDの内部電位差をU3により示し
、フライホィ−ルダィオードDの順方向抵抗をR3によ
り示す。制御トランジスタ1が不導通であれば、コレク
タ抵抗R,および抵抗R2を介して電流1,.が流れる
。他方制御トランジスターが導適すれば、コレクタ抵抗
R,を介して電流1,2が流れる。パワトランジスタ2
が持続して導適している場合、パワトランジスタ2には
コレクタ電流12が流れる。フライホイールダイオード
Dには電流13が流れる。動作電圧をU,により示す。
負荷が主として誘導性を呈する場合には、パワトランジ
スタ2が不導通になる否や電流12‘まフライホイール
ダイオードDの方向に切り換えられる。
2により示す。更に制御トランジスターのコレクタ抵抗
をR,により示す。制御トランジスタ1のコレクタとパ
ワトランジスタ2のベースとの間には抵抗R2が接続さ
れている。トランジスタ電力スイッチにより投入・遮断
される負荷をR,Lにより示す。但し負荷の抵抗分をR
により示し、負荷にィンダクタンスがある場合にはこれ
をLにより示す。またパワトランジスタ2のコレクタ体
抵抗をR4により示し、パワトランジスタ2のコレクタ
ーェミッタ間の内部電位差をU2により示す。更にフラ
イホイールダイオードDの内部電位差をU3により示し
、フライホィ−ルダィオードDの順方向抵抗をR3によ
り示す。制御トランジスタ1が不導通であれば、コレク
タ抵抗R,および抵抗R2を介して電流1,.が流れる
。他方制御トランジスターが導適すれば、コレクタ抵抗
R,を介して電流1,2が流れる。パワトランジスタ2
が持続して導適している場合、パワトランジスタ2には
コレクタ電流12が流れる。フライホイールダイオード
Dには電流13が流れる。動作電圧をU,により示す。
負荷が主として誘導性を呈する場合には、パワトランジ
スタ2が不導通になる否や電流12‘まフライホイール
ダイオードDの方向に切り換えられる。
衝撃係数(即ち通電時間と周期との比)をmで示せば、
【1)13;12.m 制御回路の平均損失電力Nsおよび負荷回路の平均損失
電力Nしを、式‘…こ基いて第1図から算出することが
できる。
【1)13;12.m 制御回路の平均損失電力Nsおよび負荷回路の平均損失
電力Nしを、式‘…こ基いて第1図から算出することが
できる。
式【小ま制御回路の平均損失電力Ns上を示し、式醐は
負荷回路の平均損失電力NLを示す。■ NS‘=U.
・1,2−U.・(1,2−1,.)・m‘3} NL
=(R4−R3)・122・m3十〔(U2一U3)十
R3・12〕・12・m2十U3・12・m パワトランジスタ2のコレクタ回路の負荷が純抵抗より
成る場合には、式{3}のNLの代わりに式{4’のN
Rが得られる。
負荷回路の平均損失電力NLを示す。■ NS‘=U.
・1,2−U.・(1,2−1,.)・m‘3} NL
=(R4−R3)・122・m3十〔(U2一U3)十
R3・12〕・12・m2十U3・12・m パワトランジスタ2のコレクタ回路の負荷が純抵抗より
成る場合には、式{3}のNLの代わりに式{4’のN
Rが得られる。
■ NR=(U2・12十R4・122)・mフライホ
イールダイオードDを無視すれば、式脚においてU3=
R3=0である。
イールダイオードDを無視すれば、式脚においてU3=
R3=0である。
その結果式【3}‘ま式($)に変形される。($)
NL=R4・122・m3十U2・12・m2次に制御
回路の平均損失電力と負荷回路の平均損失電力との和が
できる限り一定に維持されるように、パラメータを選定
する。
NL=R4・122・m3十U2・12・m2次に制御
回路の平均損失電力と負荷回路の平均損失電力との和が
できる限り一定に維持されるように、パラメータを選定
する。
このようにすれば、式{5ぬいし式(9)が成立する。
{5I NSt+NLをConSt,(母)
Nst十NRニConSt.近似的に考えれば、パ
ワトランジスタ2のコレクターェミッタ間の内部電位差
U2なし、しフライホイールダイオードDの内部電位差
U3を、容易に電流12‘こ無関係な値とみなすことが
できる。
{5I NSt+NLをConSt,(母)
Nst十NRニConSt.近似的に考えれば、パ
ワトランジスタ2のコレクターェミッタ間の内部電位差
U2なし、しフライホイールダイオードDの内部電位差
U3を、容易に電流12‘こ無関係な値とみなすことが
できる。
次に通常のダーリントン接続との比較により、本発明の
トランジスタ電力スイッチの利点を説明する。第1図の
トランジスタ電力スイッチのパラメータを下記の値に設
定する。UI=14V、12=5A、111=0.2A
U2:0.2V、R4=70mQダーリントン接続の場
合U2=1.2V=const.制御回路の平均損失電
力と負荷回路の平均損失電力との和N(即ち総平均損失
電力)を衝撃係数mの関数と見倣し、平均値からの総平
均損失電力Nの変動をできる限り小さくおさえても一般
に意味がない。
トランジスタ電力スイッチの利点を説明する。第1図の
トランジスタ電力スイッチのパラメータを下記の値に設
定する。UI=14V、12=5A、111=0.2A
U2:0.2V、R4=70mQダーリントン接続の場
合U2=1.2V=const.制御回路の平均損失電
力と負荷回路の平均損失電力との和N(即ち総平均損失
電力)を衝撃係数mの関数と見倣し、平均値からの総平
均損失電力Nの変動をできる限り小さくおさえても一般
に意味がない。
何故なら温度の変動に基〈総平均損失電力Nの最大値と
最小値との差の方が決定的だからである。それ故m=0
の時の制御回路の平均損失電力Nstとm=1の時の負
荷回路の平均損失電力NLとを等号で結び、その結果得
られる電流1.,を付加することによって、式■、‘3
}から電流1,2が簡単に求められる。損失電力の変動
を衝撃係数の関数と見倣し、しかもフライホイールダイ
オードパラメータの適当な選定によって損失電力の変動
を小さくすることができる。しかしそのための特別な出
費は必要でない。フライホイールダィオードのパラメー
タとの関係を示すために、3つの異なるダイオードD,
,D2,D3について示す。式■から■ NSt(m=
0)=NL(mil) 制御トランジスタ1が投入接続された場合の制御電流1
,2は0.4Aである。
最小値との差の方が決定的だからである。それ故m=0
の時の制御回路の平均損失電力Nstとm=1の時の負
荷回路の平均損失電力NLとを等号で結び、その結果得
られる電流1.,を付加することによって、式■、‘3
}から電流1,2が簡単に求められる。損失電力の変動
を衝撃係数の関数と見倣し、しかもフライホイールダイ
オードパラメータの適当な選定によって損失電力の変動
を小さくすることができる。しかしそのための特別な出
費は必要でない。フライホイールダィオードのパラメー
タとの関係を示すために、3つの異なるダイオードD,
,D2,D3について示す。式■から■ NSt(m=
0)=NL(mil) 制御トランジスタ1が投入接続された場合の制御電流1
,2は0.4Aである。
表1において平均損失電流は衝撃係数mに関連して通常
のダーリントン接続および本発明による4つの実施例(
そのうちの1実施例はフライホイールダイオードDを含
まず、他の実施例は種々のパラメータを有するフライホ
イールダイオードを含む)に対して示されている。
のダーリントン接続および本発明による4つの実施例(
そのうちの1実施例はフライホイールダイオードDを含
まず、他の実施例は種々のパラメータを有するフライホ
イールダイオードを含む)に対して示されている。
(表1)
表1は平均損失電力は衝撃係数に関連してダーリントン
接続回路および誘導性負荷を有する本発明による回路に
ついてワットの単位で示されている。
接続回路および誘導性負荷を有する本発明による回路に
ついてワットの単位で示されている。
この種の装置に誤差として作用する最大の損失電力差を
表2に示す。
表2に示す。
ダーリントン接続の際生ずる6Wの電力変動はフライホ
イールダイオードを含まない本発明による装置を用いる
ことによって0.9W、すなわち誤差を15%へ軽減で
きる。フライホイールダイオードを用いることによって
損失電力の変動は0.25W〜0.45Wとなる。(表
2)表2は誘導負荷の場合のダーリントン接続回路およ
び本発明による回路における衝撃係数m=0とm=1と
の間の平均損失電力の最大変動を示す。
イールダイオードを含まない本発明による装置を用いる
ことによって0.9W、すなわち誤差を15%へ軽減で
きる。フライホイールダイオードを用いることによって
損失電力の変動は0.25W〜0.45Wとなる。(表
2)表2は誘導負荷の場合のダーリントン接続回路およ
び本発明による回路における衝撃係数m=0とm=1と
の間の平均損失電力の最大変動を示す。
パラメータが製作のばらつきを有する場合、勿論誤差が
大きくなる。
大きくなる。
表3に3つの異なる電流対1,.、1.2の誤差を示す
。抵抗ないし電流が土15%だけ変動する場合、誤差が
倍増する。ダーリントン接続回路に較べて本発明による
回路の利点は明らかである。(表3) 表3は土15%の電流1,.、1,2の変動時ないし抵
抗R,,R2の相応の変動時の最大誤差を示す。
。抵抗ないし電流が土15%だけ変動する場合、誤差が
倍増する。ダーリントン接続回路に較べて本発明による
回路の利点は明らかである。(表3) 表3は土15%の電流1,.、1,2の変動時ないし抵
抗R,,R2の相応の変動時の最大誤差を示す。
このような回路を厚膜集積回路技術ないし薄膜集積回路
技術ないしプリント配線板で製作した場合、パラメータ
を少くとも一部補償ないし正確に制限することができる
。これらの場合制御トランジスタ1に対する制御回路の
損失電力もまた考慮ることができる。第2、第3図の構
造において左側に制御トランジスタ1、右側にパワトラ
ンジスタ2が配置され、但し帯状電極の軸は相互に垂直
に配置されている。
技術ないしプリント配線板で製作した場合、パラメータ
を少くとも一部補償ないし正確に制限することができる
。これらの場合制御トランジスタ1に対する制御回路の
損失電力もまた考慮ることができる。第2、第3図の構
造において左側に制御トランジスタ1、右側にパワトラ
ンジスタ2が配置され、但し帯状電極の軸は相互に垂直
に配置されている。
この種の配置はパワトランジスタ2のマルチセル構造体
の場合スペースの削減上特に有利である。9川ま基体、
91は基体上に析出されたェピタキシャル層、92は絶
縁拡散層、93は絶縁被覆層、94はいわゆるコレクタ
接続拡散(この場合導体層LIと、例えばアルミニウム
のような金属から成る制御トランジスタ1のコレクタ接
点96との間に低抵抗接続がなされる)を示す。
の場合スペースの削減上特に有利である。9川ま基体、
91は基体上に析出されたェピタキシャル層、92は絶
縁拡散層、93は絶縁被覆層、94はいわゆるコレクタ
接続拡散(この場合導体層LIと、例えばアルミニウム
のような金属から成る制御トランジスタ1のコレクタ接
点96との間に低抵抗接続がなされる)を示す。
95はベース拡散で形成された抵抗R2からパワトラン
ジスタ2のベースB2への導体路を示す。
ジスタ2のベースB2への導体路を示す。
97はパワトランジスタ2の部分コレクタC21,C2
2,C2nの導体路を示し、98,99は抵抗R2の両
接点接続用窓を示す。
2,C2nの導体路を示し、98,99は抵抗R2の両
接点接続用窓を示す。
第4図のマルチセル構造体においてパヮトランジスタ2
は部分トランジスタ21,22,23.・・・・・2n
に分割され、同様に抵抗R2は41,42,43…・・
・4nに分割され、但し各部分抵抗は抵抗R2のn−倍
値を有する。
は部分トランジスタ21,22,23.・・・・・2n
に分割され、同様に抵抗R2は41,42,43…・・
・4nに分割され、但し各部分抵抗は抵抗R2のn−倍
値を有する。
本発明による抵抗R2のある回路定数値において、部分
トランジスタ21・・・・・・2nを有する、パワトラ
ンジスタ2がェミッタ電流密度の範囲内で動作され、こ
の範囲内の電流増幅度がコレクタ電流の増大につれて低
減する限り、部分抵抗の電圧降下は個々の素子への電流
分配が安定状態のまま保持されるようにする。それ故対
称および安定化抵抗を部分トランジスタ21,22・・
・・・・2nの各ェミッタ側に接続する必要はない。第
5、第6図において抵抗R2ないし部分抵抗41…・・
・4nは導電層拡散により製作されている。
トランジスタ21・・・・・・2nを有する、パワトラ
ンジスタ2がェミッタ電流密度の範囲内で動作され、こ
の範囲内の電流増幅度がコレクタ電流の増大につれて低
減する限り、部分抵抗の電圧降下は個々の素子への電流
分配が安定状態のまま保持されるようにする。それ故対
称および安定化抵抗を部分トランジスタ21,22・・
・・・・2nの各ェミッタ側に接続する必要はない。第
5、第6図において抵抗R2ないし部分抵抗41…・・
・4nは導電層拡散により製作されている。
100はコレクタ接続拡散により製作される抵抗R2の
ベース側とパワトランジスタ2のベースB2の導体路9
5との間の接点を示す。
ベース側とパワトランジスタ2のベースB2の導体路9
5との間の接点を示す。
その他の構成素子は第2、第3図のそれに一致する。ス
ペースを節減するために、抵抗R,,R2を2つの面に
重ねて配置すると有利である。第7、第8図において抵
抗R,は導電層の拡散によって形成され、抵抗R2はベ
ース拡散によって形成されている。抵抗R,は最大電力
密度を有する。
ペースを節減するために、抵抗R,,R2を2つの面に
重ねて配置すると有利である。第7、第8図において抵
抗R,は導電層の拡散によって形成され、抵抗R2はベ
ース拡散によって形成されている。抵抗R,は最大電力
密度を有する。
クリスタル表面を良好に使用するために、この抵抗を少
くとも2つの部分抵抗に分割すると有利であり、但しこ
れら部分抵抗31,32,33・・・・・・3mを並列
または直列に接続することができる。しかも部分抵抗を
種々の拡散領域から形成すると有利である。次にパワト
ランジスタ2のマルチセル構造を示す。
くとも2つの部分抵抗に分割すると有利であり、但しこ
れら部分抵抗31,32,33・・・・・・3mを並列
または直列に接続することができる。しかも部分抵抗を
種々の拡散領域から形成すると有利である。次にパワト
ランジスタ2のマルチセル構造を示す。
抵抗R,の電圧側と動作電圧を供給する導線102との
間の接続は素子101(コレクタ接続拡散によって生ず
る)によって製作されている。大電流用装置の場合第9
図において制御トランジスタ1に鏡像的にパワトランジ
ス夕2の第2のマルチセル構造群を配置すると有利であ
る。結晶温度が高い場合でもパワトランジス夕2を確実
に遮断するために、制御トランジスタ1は十分に低い飽
和電圧をもたなければならない。この種の条件は制御ト
ランジスタ1を連鎖接続形に構成することによって簡単
に達成される。これに所属する第第10、第11、第1
2図の回路図において制御トランジスタ1を形成するト
ランジスタを示す。制御トランジスタ1のコレクタ抵抗
R,は2つの部分抵抗、すなわち高抵抗部分3aと低抵
抗部分3bに分割されている。制御トランジスタ11の
ベースBIIと制御トランジスター2の0ベースB12
、ならびにベース接続端子BIとの間に配置された抵抗
61,62は両ベース電流mllとIB12を確実に制
限するために使用する。制御トランジスターの連鎖接続
のもう1つの実施例を第11図に示す。
間の接続は素子101(コレクタ接続拡散によって生ず
る)によって製作されている。大電流用装置の場合第9
図において制御トランジスタ1に鏡像的にパワトランジ
ス夕2の第2のマルチセル構造群を配置すると有利であ
る。結晶温度が高い場合でもパワトランジス夕2を確実
に遮断するために、制御トランジスタ1は十分に低い飽
和電圧をもたなければならない。この種の条件は制御ト
ランジスタ1を連鎖接続形に構成することによって簡単
に達成される。これに所属する第第10、第11、第1
2図の回路図において制御トランジスタ1を形成するト
ランジスタを示す。制御トランジスタ1のコレクタ抵抗
R,は2つの部分抵抗、すなわち高抵抗部分3aと低抵
抗部分3bに分割されている。制御トランジスタ11の
ベースBIIと制御トランジスター2の0ベースB12
、ならびにベース接続端子BIとの間に配置された抵抗
61,62は両ベース電流mllとIB12を確実に制
限するために使用する。制御トランジスターの連鎖接続
のもう1つの実施例を第11図に示す。
そこにおいてトランジスタ11,12はェミツタホロワ
として接続され、例えばェミッタEIIはベースB12
に接続されている。抵抗63をベース・IJ−ク抵抗と
して使用する。大面積のチップを導電性接着材料を有す
るへッダ上に装着するようにすると有利である。
として接続され、例えばェミッタEIIはベースB12
に接続されている。抵抗63をベース・IJ−ク抵抗と
して使用する。大面積のチップを導電性接着材料を有す
るへッダ上に装着するようにすると有利である。
その際へツダと、接地電位に接続される全集蹟回路(E
1,E2、他の図示してない素子)との間の接続が形成
される。第12図において80はへッダ、82はチップ
、83は接着材料、84は接地電位に接続された金属化
部分を示す。第13図において発電機用電圧調整器の機
械的構造を示す。
1,E2、他の図示してない素子)との間の接続が形成
される。第12図において80はへッダ、82はチップ
、83は接着材料、84は接地電位に接続された金属化
部分を示す。第13図において発電機用電圧調整器の機
械的構造を示す。
へッダ80は全構造に対する担体を形成する。チップ8
2(本発明によるトランジスタ電力スイッチに接続され
た制御回路を有する)は導電性接着材料83と共にへッ
ダ上に装着されている。74はへッダ80中に気密に敵
着された集積回路の端子を示し、集積回路はボンド線7
5を介してチップ82の図示してない接点に接続されて
いる。
2(本発明によるトランジスタ電力スイッチに接続され
た制御回路を有する)は導電性接着材料83と共にへッ
ダ上に装着されている。74はへッダ80中に気密に敵
着された集積回路の端子を示し、集積回路はボンド線7
5を介してチップ82の図示してない接点に接続されて
いる。
76は両ブラシを示す。
両ブラシを介して回転子のスリップリングが接続され、
スリップリングはブラシ保持子77を用いて保持されて
いる。71は固定ピン、72は絶縁部材、73は動作電
圧の給電用ばね髭点を示す。
スリップリングはブラシ保持子77を用いて保持されて
いる。71は固定ピン、72は絶縁部材、73は動作電
圧の給電用ばね髭点を示す。
電気回路に他の電気構成素子で補足することもできる。
また50は励磁巻線に対して並列に接続されたフライホ
イールダイオードを示し、51はコンデンサを示す。第
14図は上述の装置と同種の実施例を示す。
また50は励磁巻線に対して並列に接続されたフライホ
イールダイオードを示し、51はコンデンサを示す。第
14図は上述の装置と同種の実施例を示す。
その際フライホイールダイオード50はモノリシックに
集積され、コンデンサ51は密閉されたケーシング内に
収納されている。全制御器は正の動作電圧の端子と磁界
とに対して2つの絶縁された方法を有する。ケーシング
は接地端子を再び形成する。・第15図はモノリシック
集積フライホイールダイオードの構造を示す。
集積され、コンデンサ51は密閉されたケーシング内に
収納されている。全制御器は正の動作電圧の端子と磁界
とに対して2つの絶縁された方法を有する。ケーシング
は接地端子を再び形成する。・第15図はモノリシック
集積フライホイールダイオードの構造を示す。
埋込み導電層106は基体105へ拡散され、それによ
ってェピタキシャル層107が分離されている。それに
よって絶縁拡散層108と共に一部深い接続拡散層10
9が設けられている。同様に拡散された領域110は通
常トランジスタのベースを形成する。第15図において
この拡散領域110はフライホィールダィオードDの一
方の電極を形成する。他方の電極はェピタキシャル層1
07、導電層106、接続拡散層109によって形成さ
れている。深い接続拡散層はダイオードをリング状に取
囲み、しかも埋込まれた導電層106上に載っているよ
うに定められている。この種のダイオードが順方向に作
動すれば、電極110は寄生トランジスタのヱミッタを
形成し、電極106,107,ID9はベースを形成し
、基体105はコレクタを形成する。このトランジスタ
に全動作電圧が印加されるようになっている。コレクタ
電流が僅かしか流れないとすれば大きな損失電力が生ず
るだろう。従って少数キャリアがェピタキシャル層10
6から基体105によって形成されたコレク夕側へ達す
ることを確実に回避しなければならない。このことは図
示のように電極110をリング形に囲綾する限り、高ド
ープされた接続拡散109によって得られる、なぜなら
少数キャリアが高ドープされた領域106,108で再
結合されるからである。ここでnpn形トランジスタと
して示したトランジスタ電力スイッチはpnp形トラン
ジスタとすることもできる。
ってェピタキシャル層107が分離されている。それに
よって絶縁拡散層108と共に一部深い接続拡散層10
9が設けられている。同様に拡散された領域110は通
常トランジスタのベースを形成する。第15図において
この拡散領域110はフライホィールダィオードDの一
方の電極を形成する。他方の電極はェピタキシャル層1
07、導電層106、接続拡散層109によって形成さ
れている。深い接続拡散層はダイオードをリング状に取
囲み、しかも埋込まれた導電層106上に載っているよ
うに定められている。この種のダイオードが順方向に作
動すれば、電極110は寄生トランジスタのヱミッタを
形成し、電極106,107,ID9はベースを形成し
、基体105はコレクタを形成する。このトランジスタ
に全動作電圧が印加されるようになっている。コレクタ
電流が僅かしか流れないとすれば大きな損失電力が生ず
るだろう。従って少数キャリアがェピタキシャル層10
6から基体105によって形成されたコレク夕側へ達す
ることを確実に回避しなければならない。このことは図
示のように電極110をリング形に囲綾する限り、高ド
ープされた接続拡散109によって得られる、なぜなら
少数キャリアが高ドープされた領域106,108で再
結合されるからである。ここでnpn形トランジスタと
して示したトランジスタ電力スイッチはpnp形トラン
ジスタとすることもできる。
モノリシック集積回路技術の場合これらの構造は相補関
係にある。電圧および電流は逆極性すなわち逆方向を有
する。
係にある。電圧および電流は逆極性すなわち逆方向を有
する。
第1図は負荷の切換のために使用する本発明によるトラ
ンジスタ電力スイッチの回路図、第2図は第1図の回路
モノリシツク集積構造の一部断面略図、第3図は第2図
の装置の平面略図、第4図はマルチセル構造のパワトラ
ンジスタの回路図、第5図は第1図の回路の第2抵抗を
導電層拡散によって形成するモノリシック集積構造の一
部断面略図、第6図は第5図の装置の平面略図、第7図
は第1図の回路の第1抵抗を導電層拡散によって形成し
、また第2抵抗をベース拡散によって形成するモノリシ
ック集積構造の一部断面略図、第8図は第7図の装置の
平面略図、第9図は第1図の回路の制御トランジスタを
マルチセル構造に構成されたパワトランジス夕に対して
垂直に配置されたモノリシック集積構造の平面図、第1
0図は2個のトランジスタから成る連鎖接続を有する制
御トランジスタの回路図、第11図は第10図の変形接
続され、かつ2個のトランジスタから成る制御トランジ
スタ用達鎖接続の回路図、第12図は本発明によるトラ
ンジスタ電力スイッチを有するへッダ上のモノリシック
チップの断面図、第13図は集積化されたフライホイー
ルダイオードのないトランジスタ電力スイッチを有する
発電機用電圧調整器の機械的構造の断面図、第14図は
第13図と同種の構成であるが、モノリシック集積フラ
イホイールダイオードを有する発電機用電圧調整器の機
械的構造の断面図、第15図はモノリシツク集積フライ
ホイールダイオードの構造の一部斜視図を示す。 1……制御トランジスタ、2……パワトランジスタ、9
1・・・・・・ェピタキシャル層、92・…・・絶縁拡
散層、93・・・・・・絶縁拡散層、94・・・・・・
コレクタ接続拡散層。 Fig.l Fig.2 Fig.3 Fig‐ム Fi9,5 Fi9.6 Fig.7 Fi9.8 Fig.9 Fi9.10 Fig.11 Fig,12 Fig,13 Fig・仏 Fi9.15
ンジスタ電力スイッチの回路図、第2図は第1図の回路
モノリシツク集積構造の一部断面略図、第3図は第2図
の装置の平面略図、第4図はマルチセル構造のパワトラ
ンジスタの回路図、第5図は第1図の回路の第2抵抗を
導電層拡散によって形成するモノリシック集積構造の一
部断面略図、第6図は第5図の装置の平面略図、第7図
は第1図の回路の第1抵抗を導電層拡散によって形成し
、また第2抵抗をベース拡散によって形成するモノリシ
ック集積構造の一部断面略図、第8図は第7図の装置の
平面略図、第9図は第1図の回路の制御トランジスタを
マルチセル構造に構成されたパワトランジス夕に対して
垂直に配置されたモノリシック集積構造の平面図、第1
0図は2個のトランジスタから成る連鎖接続を有する制
御トランジスタの回路図、第11図は第10図の変形接
続され、かつ2個のトランジスタから成る制御トランジ
スタ用達鎖接続の回路図、第12図は本発明によるトラ
ンジスタ電力スイッチを有するへッダ上のモノリシック
チップの断面図、第13図は集積化されたフライホイー
ルダイオードのないトランジスタ電力スイッチを有する
発電機用電圧調整器の機械的構造の断面図、第14図は
第13図と同種の構成であるが、モノリシック集積フラ
イホイールダイオードを有する発電機用電圧調整器の機
械的構造の断面図、第15図はモノリシツク集積フライ
ホイールダイオードの構造の一部斜視図を示す。 1……制御トランジスタ、2……パワトランジスタ、9
1・・・・・・ェピタキシャル層、92・…・・絶縁拡
散層、93・・・・・・絶縁拡散層、94・・・・・・
コレクタ接続拡散層。 Fig.l Fig.2 Fig.3 Fig‐ム Fi9,5 Fi9.6 Fig.7 Fi9.8 Fig.9 Fi9.10 Fig.11 Fig,12 Fig,13 Fig・仏 Fi9.15
Claims (1)
- 1 負荷を流れる平均電流の制御のために使用する、制
御トランジスタ1およびパワトランジスタ2を有するト
ランジスタ電力スイツチであつて、前記制御トランジス
タ1のコレクタは第1の抵抗R_1を介して動作電圧の
一方の端子に接続され、前記制御トランジスタ1と前記
パワトランジスタ2の各エミツタは共に前記動作電圧の
他方の端子に接続され、前記パワトランジスタ2のベー
スは第2の抵抗R_2を介して前記制御トランジスタ1
のコレクタに接続されており、負荷を流れる平均電流は
、前記パワトランジスタ2の投入接続持続期間の、前記
パワトランジスタ2の投入接続持続期間と遮断期間との
和に対する比によつて制御されるトランジスタ電力スイ
ツチにおいて、前記第1の抵抗R_1と前記第2の抵抗
R_2の抵抗値の和を、前記制御トランジスタ1の遮断
時に前記パワトランジスタ2のベースに流れる電流が当
該パワトランジスタ2を全作動状態において飽和領域に
保持するように選定し、前記第1の抵抗R_1は、前記
制御トランジスタ1の投入接続の際、当該抵抗R_1お
よび前記制御トランジスタ1のコレクタ−エミツタ回路
で変換された損失電力の和が、前記制御トランジスタ1
の遮断の際、前記両抵抗R_1,R_2および前記パワ
トランジスタ2に発生する損失電力の和と等しくなるよ
うに選定されていることを特徴とするトランジスタ電力
スイツチ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2401701A DE2401701C3 (de) | 1974-01-15 | 1974-01-15 | Transistorleistungsschalter |
| DE2401701.4 | 1974-01-15 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS50104562A JPS50104562A (ja) | 1975-08-18 |
| JPS6035852B2 true JPS6035852B2 (ja) | 1985-08-16 |
Family
ID=5904802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50006940A Expired JPS6035852B2 (ja) | 1974-01-15 | 1975-01-14 | トランジスタ電力スイツチ |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4054828A (ja) |
| JP (1) | JPS6035852B2 (ja) |
| BR (1) | BR7500289A (ja) |
| DE (1) | DE2401701C3 (ja) |
| FR (1) | FR2258058B1 (ja) |
| GB (1) | GB1498271A (ja) |
| IT (1) | IT1028351B (ja) |
| NL (1) | NL171765C (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2638177C2 (de) * | 1976-08-25 | 1985-10-24 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Schutzvorrichtung gegen Spannungsumpolung und Überspannungen für eine Halbleiterschaltung |
| US4242729A (en) * | 1978-02-27 | 1980-12-30 | The Bendix Corporation | Switching control of solenoid current in fuel injection systems |
| US4310792A (en) * | 1978-06-30 | 1982-01-12 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor voltage regulator |
| US4298939A (en) * | 1978-10-30 | 1981-11-03 | Phillips Petroleum Company | Method and apparatus for applying a regulated voltage |
| JPS5819541U (ja) * | 1981-07-31 | 1983-02-07 | 日本ビクター株式会社 | スイツチング回路 |
| FR2624320B1 (fr) * | 1987-12-02 | 1990-05-18 | Equip Electr Moteur | Regulateur monolithique de tension de charge de batterie par un alternateur protege contre les tensions parasites |
| US5268589A (en) * | 1990-09-28 | 1993-12-07 | Siemens Aktiengesellschaft | Semiconductor chip having at least one electrical resistor means |
| EP0477428A1 (de) * | 1990-09-28 | 1992-04-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Halbleiterchip mit mindestens einer elektrischen Widerstandseinrichtung |
| EP0901058A1 (en) * | 1991-10-30 | 1999-03-10 | Harris Corporation | Two stage current mirror |
| US5994755A (en) | 1991-10-30 | 1999-11-30 | Intersil Corporation | Analog-to-digital converter and method of fabrication |
| US5369309A (en) * | 1991-10-30 | 1994-11-29 | Harris Corporation | Analog-to-digital converter and method of fabrication |
| EP0757389B1 (en) * | 1995-07-31 | 2001-09-26 | STMicroelectronics S.r.l. | High voltage driver circuit for inductive loads |
| JPH10136696A (ja) * | 1996-10-29 | 1998-05-22 | Mitsubishi Electric Corp | 車両用交流発電機の制御装置 |
| US12122251B2 (en) | 2022-09-28 | 2024-10-22 | BorgWarner US Technologies LLC | Systems and methods for bidirectional message architecture for inverter for electric vehicle |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3098964A (en) * | 1958-08-22 | 1963-07-23 | Gen Motors Corp | Transistor regulator for generators |
| US3479534A (en) * | 1966-07-01 | 1969-11-18 | Bell Telephone Labor Inc | Pulse stretcher-discriminator whose component electronics exhibit constant power dissipation |
| DE1764234A1 (de) * | 1968-04-27 | 1971-07-01 | Bosch Gmbh Robert | Monolithische Halbleiteranordnung mit integrierten Leistungstransistoren,insbesondere als Spannungsregler fuer Fahrzeuglichtmaschinen |
| US3629623A (en) * | 1968-11-01 | 1971-12-21 | Nippon Denso Co | Composite semiconductor device and semiconductor voltage regulator device for vehicles |
| US3656028A (en) * | 1969-05-12 | 1972-04-11 | Ibm | Construction of monolithic chip and method of distributing power therein for individual electronic devices constructed thereon |
| US3654530A (en) * | 1970-06-22 | 1972-04-04 | Ibm | Integrated clamping circuit |
| US3854058A (en) * | 1973-09-05 | 1974-12-10 | Airpax Electronics | Temperature stable one-shot multi-vibrator |
-
1974
- 1974-01-15 DE DE2401701A patent/DE2401701C3/de not_active Expired
-
1975
- 1975-01-08 US US05/539,441 patent/US4054828A/en not_active Expired - Lifetime
- 1975-01-14 JP JP50006940A patent/JPS6035852B2/ja not_active Expired
- 1975-01-14 NL NLAANVRAGE7500413,A patent/NL171765C/xx not_active IP Right Cessation
- 1975-01-14 IT IT19248/75A patent/IT1028351B/it active
- 1975-01-14 GB GB1443/75A patent/GB1498271A/en not_active Expired
- 1975-01-15 BR BR289/75A patent/BR7500289A/pt unknown
- 1975-01-15 FR FR7501143A patent/FR2258058B1/fr not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NL171765C (nl) | 1983-05-02 |
| DE2401701A1 (de) | 1975-07-17 |
| DE2401701B2 (de) | 1976-01-22 |
| GB1498271A (en) | 1978-01-18 |
| US4054828A (en) | 1977-10-18 |
| JPS50104562A (ja) | 1975-08-18 |
| BR7500289A (pt) | 1975-11-04 |
| FR2258058A1 (ja) | 1975-08-08 |
| DE2401701C3 (de) | 1978-12-21 |
| IT1028351B (it) | 1979-01-30 |
| AU7701674A (en) | 1976-07-01 |
| NL7500413A (nl) | 1975-07-17 |
| FR2258058B1 (ja) | 1978-07-13 |
| NL171765B (nl) | 1982-12-01 |
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