JPS6035877Y2 - ガス分析装置 - Google Patents

ガス分析装置

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JPS6035877Y2
JPS6035877Y2 JP1979077203U JP7720379U JPS6035877Y2 JP S6035877 Y2 JPS6035877 Y2 JP S6035877Y2 JP 1979077203 U JP1979077203 U JP 1979077203U JP 7720379 U JP7720379 U JP 7720379U JP S6035877 Y2 JPS6035877 Y2 JP S6035877Y2
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JP
Japan
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gas
dehumidifier
sample
analyzer
semipermeable membrane
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JP1979077203U
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JPS55177635U (ja
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伸也 上田
輝男 金子
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Fuji Electric Co Ltd
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Fuji Electric Co Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、ガス分析装置におけるガスの除湿システム
の改良に関するものである。
ガス分析装置によっては、ガス中の水分含有量が分析濃
度指示値に誤差となって現われるものがある。
例えば赤外線ガス分析計は、双極子モーメントを有する
分子が各分子特有の波長の赤外線を吸収して、その振動
エネルギーレベル間の遷移を生ずることを利用したもの
で、一定の長さの試料セル内に試料ガスを導き、試料セ
ルを透過する赤外線につき、試料ガス中の濃度測定せん
としている分子に吸収される波長における該赤外線の減
衰率を測定することにより濃度測定を可能とするもので
ある。
ところが試料ガス中に水分が含有されていると、水分は
比較的広範囲の波長にわたって赤外線を吸収する特性を
もつから、試料ガス中の濃度測定せんとする分子に吸収
される赤外線波長と水分により吸収される赤外線波長と
が重なり易く、その場合には、当該波長の赤外線の減衰
率を測定しても、水分により吸収された分だけ誤差を含
んだ濃度測定値が得られる。
従って試料ガスから出来るだけ水分を除去することが望
まれる。
しかし一般的な赤外線ガス分析計では、動作の安定度を
増すために、試料セルとは別に赤外線を吸収しないガス
(窒素など)を基準ガスとして封入した基準セルを設け
、試料・基準の両セルの透過光の差を測定する方式が採
られている。
従ってこの方式では、試料ガスと基準ガスの両方のガス
中の水分量を等しくすれば、水分含有による誤差は互い
に打ち消し合うので濃度測定値に誤差は生じない。
具体例を説明すると、赤外線式アンモニアガス(NH3
)分析装置の場合は、試料ガス中のNH3を熱式コンバ
ータにより一酸化窒素(NO)に変換し、本来的に試料
ガス中に存在するNOと変換されたNOとの合計を第1
の赤外線吸収セルに通し、他方、NH3を含んだままの
試料ガスを第2の同セルに通し、両セルによる赤外線吸
収量の差によって試料ガス中のNH3濃度を求めること
ができる。
この場合、第1のセルと第2のセルに通される各ガスの
水分含有量を等しくしておけば、測定されたNH3濃度
に水分による誤差が含まれることはない。
このような次第でガス分析装置と関連してガスの除湿器
が使用されるが、かかる除湿器としては、冷却除湿タイ
プの電子式ガス冷却器によるものと、そうでない半透膜
気相除湿器とがある。
前者では、除湿器の出口におけるガスの露点温度を1〜
3℃にコントロールするもので、これ以上、露点温度を
下げることは凍るため出来ない。
他方、後者の半透膜気相除湿器では、露点温度が一20
°C相当まで比較的容易に除湿することができる。
除湿の度合が低く、試料ガス中に水分が多く含まれてい
ると、赤外線ガス分析計などの光学系を有する分析装置
の場合、光学系の汚れが増し、指示計におけるゼロドリ
フトを生じ、また化学発光式分析計の場合には同様にし
てスパンドリフトを起こし、正確な分析値指示の妨げと
なる。
従って除湿能力の高い半透膜気相除湿器の方が、除湿能
力の劣る電子式ガス冷却器より優れていると云える。
第1図は、かかる半透膜気相除湿器の断面図であり、第
1A図は第1図において線X−X’に沿って切断した断
面図である。
これらの図を参照する。
半透膜気相除湿器は、外管1と、この外管1の内部に仕
切板2,2を介して支持された多数の内管3. 3.3
によって構成され、各内管3は、イー・アイ・デュポン
社の商品名ナフィオン(NAFION)と称する化合物
によって構成されており、その内側から外側へ管壁を通
して水蒸気を選択透過させる機能を有している。
今、水蒸気を含んだウェットサンプルガスを入口4より
それぞれの内管3内に導入し出口5より排出させながら
、他方の入口6より出ロアに向かってパージ用の乾燥ガ
スを内管3の外側に通すと、ウェットサンプルガス中の
水蒸気が内管3の管壁を通過して外ヘパージされる。
半透膜気相除湿器は、上述のような構成、機能を有する
ものであり、かかる除湿器を用いた従来の赤外線ガス分
析装置の構成例を第2図に示す。
同図を参照する。
基準ガスをサンプリングするためのプローブ8により採
取された基準ガスは、ガス流路16を通りフィルタ9に
て除塵される。
またガス温度低下によりドレーンが発生する場合に備え
てドレーンポット15が設けられる。
フィルタ9にて除塵された基準ガスは、ポンプ10によ
り加圧されて半透膜気相除湿器11の内管を通された後
、ニードル弁材流量計12により一定流量に制御され、
更にフィルタ13にて除塵されてから、赤外線ガス分析
計14における基準セル14Aに入り、そこを出たガス
は乾燥パージガスとして半透膜気相除湿器11の内管の
外側を通ってガス出口から大気へ放散される。
除湿器11の内管へ導入される基準ガスは、ポンプ10
により加圧され圧縮されているので水蒸気の分圧が高い
が、該除湿器11の内管の外側を通ってガス出口から大
気へ放散されるガスは、大気へつながっているためすで
に大気圧近くまで減圧されていて水蒸気分圧が低いので
パージ用乾燥ガスの役割を果たすことができる。
プローブ8aにより採取された試料ガスも全く同様にし
て、フィルタ9aを通り、ポンプ10aにより加圧され
た後、除湿器11aの内管を通り、流量計12a1フイ
ルタ13aを通って赤外線ガス分析計14内の試料セル
14Bに入り、そこを出たガスは除湿器11aの内管の
外側を通ってガス出口から大気へ放散される。
赤外線ガス分析計14においては、基準セル14Aと試
料セル14Bが空間的に並列に配置されており、それら
の前方に、図示せざるモータにより駆動されるチョッパ
14Eが配置され、それによって、光源14C,14D
からの赤外波長光を両セル14A、14Bに交互に照射
する構成となっている。
そして両セル14A、14Bの後方には、両セルにおけ
る赤外線吸収量の差を検出するための検出器14Fが配
置され、これにより試料ガスの濃度測定が行なわれるよ
うになっている(なお赤外線ガス分析計の構成は周知で
あるからこれ以上詳説しない)。
従来は、以上第2図を参照して説明した如くに半透膜気
相除湿器を用いて除湿されたガスを分析計内へ導いてい
たが、この半透膜気相除湿器は、その周囲温度、ガス流
量、サンプルガスとパージ用乾燥ガスの圧力差などによ
り出口におけるガスの露点温度が変化するという欠点を
有するので、これを解決するため、除湿器そのものを恒
温槽に入れガス圧力を一定に保持してやるなどの配慮が
必要であり、そのためコスト高を招くという難点があっ
た。
この考案は、上述の如き従来技術の難点を除去するため
になされたものであり、従ってこの考案の目的は、高価
な恒温槽を用いたりすることなく、両除湿器出口におけ
る各ガスの露点温度を同一ならしめ、それにより各ガス
中の水分含有量を等しくし、水分含有量に起因する測定
誤差の発生することのないようにしたガス分析装置を提
供することにある。
この考案の構成の要点は、上述の如き従来のガス分析装
置において、2個の半透膜気相除湿器について一方の除
湿器の出口から排出されたサンプルガスを他方の除湿器
のパージ用乾燥ガスとして相互に用い、両除湿器の出口
における各ガスの露点温度を均等ならしめる点にある。
次に図を参照してこの考案の実施例を説明する。
第3図は、この考案の一実施例を示す構成概要図である
同図を第2図に示した従来の赤外線ガス分析装置の構成
と対比すると、除湿器11を出た基準ガスは基準セル1
4Aを通過した後、他方の除湿器11aのパージ用乾燥
ガスとして用いられ、また除湿器11aを出た試料ガス
は試料セル14Bを通過した後、他方の除湿器11ヘパ
ージ用乾燥ガスとして供給されていることが理解できる
であろう。
その他はほとんど変わるところがない。
なお17は圧力計であり、除湿器11の出口における基
準ガスの圧力を監視するためのものである。
ニードル弁材流量計12において、二ドル弁の開度を調
整することによりガス流量を所定流量に調節すると、ガ
ス圧が変わり、除湿器11の出口におけるガスの露点が
変わることがあるので、圧力計17を設けてガス圧を監
視することが必要なわけである。
除湿器11aの出口側に設けた圧力計17aが同様の働
きをするものであることは説明するまでもないであろう
さて、半透膜気相除湿器では、その出口におけるガスの
露点温度は、パージ用乾燥ガスの露点温度によって変わ
る。
また製品によるバラツキも若干ある。
この考案の実施例の如くすれば、基準側の除湿器の除湿
能力が高い(出口ガスの露点が低い)場合には、その基
準ガスを試料側の除湿器のパージ用乾燥ガスとして用い
るため試料ガスの除湿器が高まる(露点が下がる)。
試料側の露点の高いガスは、除湿能力の高い基準側除湿
器のパージ用乾燥ガスとして用いるため基準ガスの露点
温度は上がり、両ガスの露点温度が同じ値に近ずくわけ
である。
第3A図は、第3図に示す実施例の変形要部を示す構成
国である。
同図は、第3図において細管式固定絞り機構18を用い
れは圧力計17を省略できることを示している。
細管式固定絞り機構というのは、テフロンまたはポリエ
チレンなどの有機化合物製の細管にて構成されるもので
、そこを流れる流量が例えばo、51/分ならばそこで
の圧力降下は0.5ko /cftというように、流量
と圧力降下との関係が固定的であるように細管の内径と
長さが適当に選定されたものであり、それ自体は既知の
ものである。
第3A図に示されるように、かかる細管式固定絞り機構
18を除湿機11の出側に設け、所定流量のガスが該機
構18を流れるようにバイパスのニードル弁19の開度
を調整する。
固定絞り機構18に所定流量のガスが流れれば、該機構
における圧力降下は固定されるので、除湿器11の出側
圧力も一定値に固定される筈であるから、出側圧力を監
視するための圧力計17は省略してよい。
固定絞り機構18aとニードル弁19aについても全く
同様のことが云える。
以上説明した通りであるから、この考案によれば、従来
のガス分析装置において、高価な恒温槽などを要するこ
となく、単にガス流路の配管を接続替えするだけで、基
準ガスと試料ガスの水分含有量の均等化が図れ、誤差の
少ない濃度測定が可能になるという利点がある。
なお実施例の説明では、分析計は差動形1台の場合を例
示したが、差動形でない分析計2台を使用する場合にも
この考案を実施できることは勿論である。
なおまた、第3図の実施例においては、プローブ8,8
aを用い、基準ガスと試料ガスとを独立的に採取する例
について述べたが、たとえば1個のプローブ8のみを用
い、このプローブ8の採取ガスをガス流路16.16a
に分岐させ、基準ガス流路16に濃度測定すべき分析成
分ガスを除去するコンバータを設け、このコンバータの
出口ガスを基準ガスとして基準セル14Aに導くように
してもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は、半透膜気相除湿器の断面図、第1A図は第1
図において線X−X’に沿った断面図、第2図は半透膜
気相除湿器を用いた従来の赤外線ガス分析計の構成例を
示す概要図、第3図はこの考案の一実施例を示す構成概
要図、第3A図は第3図に示す実施例の変形要部を示す
構成国である。 図において、1は外管、2は仕切板、3は内管、4は入
口、5は出口、6は入口、7は出口、8はガスサンプリ
ングプローブ、9はフィルタ、10はポンプ、11は半
透膜気相除湿器、12はニードル弁材流量計、13はフ
ィルタ、14は赤外線分析計、15はドレーンポット、
16はガス流路、17は圧力計、18は固定絞り機構、
19はニードル弁、を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半透膜の内側にウェットガスを流し、外側にパージ用乾
    燥ガスを流すことにより、ウェットガス中の水蒸気を該
    膜を透過して外側ヘパージすることのできる第1および
    第2の半透膜気相除湿器と、前記第1の除湿器により除
    湿された試料ガスが流通し光照射を受ける試料セルと、
    前記第2の除湿器により除湿された基準ガスが流通し光
    照射を受ける基準セルを、前記両セルの透過光の差を測
    定する手段とを有して戒り、前記透過光の差から試料ガ
    ス中のガス成分濃度を求めるガス分析装置において、前
    記第1の除湿器により除湿された試料ガスを前記第2の
    除湿器へパージ用乾燥ガスとして、また前記第2の除湿
    器により除湿された基準ガスを前記第1の除湿器へパー
    ジ用乾燥ガスとして流すことを特徴とするガス分析装置
JP1979077203U 1979-06-08 1979-06-08 ガス分析装置 Expired JPS6035877Y2 (ja)

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JP1979077203U JPS6035877Y2 (ja) 1979-06-08 1979-06-08 ガス分析装置

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JP1979077203U JPS6035877Y2 (ja) 1979-06-08 1979-06-08 ガス分析装置

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Publication Number Publication Date
JPS55177635U JPS55177635U (ja) 1980-12-19
JPS6035877Y2 true JPS6035877Y2 (ja) 1985-10-24

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ID=29310690

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JP1979077203U Expired JPS6035877Y2 (ja) 1979-06-08 1979-06-08 ガス分析装置

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JPH0539481Y2 (ja) * 1985-05-17 1993-10-06

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JPS55177635U (ja) 1980-12-19

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