JPS6040955B2 - スポツト溶接監視装置 - Google Patents
スポツト溶接監視装置Info
- Publication number
- JPS6040955B2 JPS6040955B2 JP12417677A JP12417677A JPS6040955B2 JP S6040955 B2 JPS6040955 B2 JP S6040955B2 JP 12417677 A JP12417677 A JP 12417677A JP 12417677 A JP12417677 A JP 12417677A JP S6040955 B2 JPS6040955 B2 JP S6040955B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- spot welding
- electrode tip
- displacement
- support rod
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
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- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 title claims description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 11
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
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Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Resistance Welding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、スポット溶接における電極チップ及び電極支
持棒の変位を検出することにより、溶接品質を監視する
装置に関する。
持棒の変位を検出することにより、溶接品質を監視する
装置に関する。
スポット溶接における品質監理装置には色々の形式のも
のがあるが、代表的なものとしては電極間の電圧変動や
電流変動で溶接品質を判定するもの、及び溶接部の温度
上昇や変態に伴なう体積膨張を利用して品質判定を行な
う形式のものなどがある。
のがあるが、代表的なものとしては電極間の電圧変動や
電流変動で溶接品質を判定するもの、及び溶接部の温度
上昇や変態に伴なう体積膨張を利用して品質判定を行な
う形式のものなどがある。
前者は装置が比較的簡単であるが、被溶接物の表面状態
、誘導電圧、無効分流等の外部状態による誤差要因のた
め判定が正確でなく、又後者は、判定の信頼性が高い点
において優れているが、装置が複雑で現在市販の溶接機
に簡単に取り付けにくい不便さがある。本発明はかかる
点を改善し、既設のスポット溶接機に簡単に取付けられ
て、しかも正確な品質判定の可能な監視装置を提供する
ことを目的とするものである。本発明は、スポット溶接
機の電極チップ支持棒に加速度センサを取り付け、この
加速度センサからの加速度信号を２重積分して電極チッ
プ及び電極支持棒の変位に相当する信号に変換し、この
変位に相当する信号の最大振幅が所定の下限設定値より
小なる場合には、溶接不良信号を発信し、所定の上限設
定値より大なる場合には、散り発生信号を発信するよう
にしたものである。
、誘導電圧、無効分流等の外部状態による誤差要因のた
め判定が正確でなく、又後者は、判定の信頼性が高い点
において優れているが、装置が複雑で現在市販の溶接機
に簡単に取り付けにくい不便さがある。本発明はかかる
点を改善し、既設のスポット溶接機に簡単に取付けられ
て、しかも正確な品質判定の可能な監視装置を提供する
ことを目的とするものである。本発明は、スポット溶接
機の電極チップ支持棒に加速度センサを取り付け、この
加速度センサからの加速度信号を２重積分して電極チッ
プ及び電極支持棒の変位に相当する信号に変換し、この
変位に相当する信号の最大振幅が所定の下限設定値より
小なる場合には、溶接不良信号を発信し、所定の上限設
定値より大なる場合には、散り発生信号を発信するよう
にしたものである。
次に図面を参照して本発明の実施例を説明する。
スポット溶接において、第１図ａに示すように上部電極
チップ１と下部電極チップ２に挟まれている２枚の被溶
接板３は、熔接電流が上部電極チップ１から被溶接板３
を通って下部電極チップ２に流れて正常に熔接されると
、同図ｂに示すように通電による発生熱で被溶接板３が
熱膨張したのち、２枚の被溶接板の接合部付近が軟化し
て溶融状態となってナーゲット４を生成し、このとき上
部電極チップ１及び下部電極チップ２は、両者間に付加
されている加圧力により、被溶接板３の中に食い込み、
この状態で冷却されてスポット溶接が完了する。このと
き、もし何かの原因で発生熱が不充分でナーゲツト４が
生成されない場合には溶接不良となり、この場合には上
部電極チップ１及び下部電極チップ２が被溶接板３に食
い込む量は、正常に溶接された場合より小さくなる。
チップ１と下部電極チップ２に挟まれている２枚の被溶
接板３は、熔接電流が上部電極チップ１から被溶接板３
を通って下部電極チップ２に流れて正常に熔接されると
、同図ｂに示すように通電による発生熱で被溶接板３が
熱膨張したのち、２枚の被溶接板の接合部付近が軟化し
て溶融状態となってナーゲット４を生成し、このとき上
部電極チップ１及び下部電極チップ２は、両者間に付加
されている加圧力により、被溶接板３の中に食い込み、
この状態で冷却されてスポット溶接が完了する。このと
き、もし何かの原因で発生熱が不充分でナーゲツト４が
生成されない場合には溶接不良となり、この場合には上
部電極チップ１及び下部電極チップ２が被溶接板３に食
い込む量は、正常に溶接された場合より小さくなる。
又発生熱が過剰になって溶接部分が爆発的に外部に飛び
散るようないわゆる「散り」現象が発生した場合には、
上部電極チップ１及び下部電極チップ２が被溶接板３に
食い込む量は、正常に溶接された場合よりも大きくなる
。本発明は、かかる現象を利用して溶接部の監視を行な
うもので、第２図の実施例に示すように上部可動電極支
持棒５に加速度センサ６を接着により取り付け、第４図
に示す回路で信号処理を行なつている。
散るようないわゆる「散り」現象が発生した場合には、
上部電極チップ１及び下部電極チップ２が被溶接板３に
食い込む量は、正常に溶接された場合よりも大きくなる
。本発明は、かかる現象を利用して溶接部の監視を行な
うもので、第２図の実施例に示すように上部可動電極支
持棒５に加速度センサ６を接着により取り付け、第４図
に示す回路で信号処理を行なつている。
第４図において加速度センサ６からの信号は、増幅器８
で増幅されたのち、ゲイン調整用可変抵抗９を通って２
重積分回路１０及びトリガ回路１１に入る。
で増幅されたのち、ゲイン調整用可変抵抗９を通って２
重積分回路１０及びトリガ回路１１に入る。
トリガ回路１１は、第３図に示すようなタイミングで変
位信号の立上りによりゲ−トタィマＡＩ２を起動し、ゲ
ートタイマＡＩ２はＴ，秒経過後にゲートタイマＢ１３
を起動する。ゲートタイマＢ１３はゲート回路１４に対
して作用し、、ゲート回路１４は、ゲ−トタィマＢ１３
が起動しているＬ秒の間だけ２重積分回路１０から出て
きた変位信号を最大振幅演算回路１５に送り込む。即ち
第３図に示すように溶接が行なわれる前に上部可動電極
支持棒５が降下してきて、上部電極チップ１が被溶接板
３に当ったときの衝突による変位波形が最大振幅演算回
路１５に入らないようにするためにゲートタイマＡＩ２
、ゲートタイマＢ１３及びトリガ回路１１が構成されて
いる。最大振幅演算回路１５から出た最大振幅値信号（
第３図参照）は、判定回路１６において判定される。即
ち、判定回路１６では、最大振幅値が上限値設定器１７
によって設定された値より大きい場合には、「散り発生
」信号が外部機器に発信され、下限値設定器１８によっ
て設定された値よりも４・羊い場合には、「溶接不良」
信号が外部機器に発信され、その他の場合には「溶接良
品」信号が外部機器に発信される。なお、１９はリセッ
トタィマで、トリガ回路１１によって起動され、一定時
間経過後に２重積分回路１０、最大振幅演算回路１５及
び判定回路１６をリセットして初期状態に戻す作用をす
る。なお第３図の変位波形において、電極衝突時の変位
信号の振動波形が減少した後、変位波形がまず最初に上
昇していくのは、発生熱により被溶接板３が熱風鯵張し
て上部電極チップ１が上方へ押し上げられる過程を示し
、それ以後変位波形が下降するのは、上部電極チップ１
が被溶接板３へ食い込んでいく過程を示すもので、最大
振幅とは、被溶接板３の膨張量に上部電極チップ１が被
溶接板３に食い込んだ量を加算した量と等価的なもので
ある。
位信号の立上りによりゲ−トタィマＡＩ２を起動し、ゲ
ートタイマＡＩ２はＴ，秒経過後にゲートタイマＢ１３
を起動する。ゲートタイマＢ１３はゲート回路１４に対
して作用し、、ゲート回路１４は、ゲ−トタィマＢ１３
が起動しているＬ秒の間だけ２重積分回路１０から出て
きた変位信号を最大振幅演算回路１５に送り込む。即ち
第３図に示すように溶接が行なわれる前に上部可動電極
支持棒５が降下してきて、上部電極チップ１が被溶接板
３に当ったときの衝突による変位波形が最大振幅演算回
路１５に入らないようにするためにゲートタイマＡＩ２
、ゲートタイマＢ１３及びトリガ回路１１が構成されて
いる。最大振幅演算回路１５から出た最大振幅値信号（
第３図参照）は、判定回路１６において判定される。即
ち、判定回路１６では、最大振幅値が上限値設定器１７
によって設定された値より大きい場合には、「散り発生
」信号が外部機器に発信され、下限値設定器１８によっ
て設定された値よりも４・羊い場合には、「溶接不良」
信号が外部機器に発信され、その他の場合には「溶接良
品」信号が外部機器に発信される。なお、１９はリセッ
トタィマで、トリガ回路１１によって起動され、一定時
間経過後に２重積分回路１０、最大振幅演算回路１５及
び判定回路１６をリセットして初期状態に戻す作用をす
る。なお第３図の変位波形において、電極衝突時の変位
信号の振動波形が減少した後、変位波形がまず最初に上
昇していくのは、発生熱により被溶接板３が熱風鯵張し
て上部電極チップ１が上方へ押し上げられる過程を示し
、それ以後変位波形が下降するのは、上部電極チップ１
が被溶接板３へ食い込んでいく過程を示すもので、最大
振幅とは、被溶接板３の膨張量に上部電極チップ１が被
溶接板３に食い込んだ量を加算した量と等価的なもので
ある。
以上説明したように本発明の装置を用いれば、単に上部
可動電極支持榛に加速度センサを接着剤で接着するだけ
の簡単な加工により溶接品質の監視を正確に行なうこと
ができるので、現在市販されている一般的なスポット溶
接機に簡単に取付けることができる利点を有するもので
ある。
可動電極支持榛に加速度センサを接着剤で接着するだけ
の簡単な加工により溶接品質の監視を正確に行なうこと
ができるので、現在市販されている一般的なスポット溶
接機に簡単に取付けることができる利点を有するもので
ある。
第１図は一般的にスポット溶接の動作の説明図、第２図
は本発明の一実施例の溶接ヘッド部分の側面図、第３図
は本発明の動作説明図、第４図は本発明の回路構成を示
すブロック図である。 １…・・・上部電極チップ、５…・・・上部可動電極支
持棒、６・・・・・・加速度センサ、１０・・・・・・
２重積分回路、１５・…・・最大振幅演算回路、１６・
・・・・・判定回路。 第４図 第１図 第２図 第３図
は本発明の一実施例の溶接ヘッド部分の側面図、第３図
は本発明の動作説明図、第４図は本発明の回路構成を示
すブロック図である。 １…・・・上部電極チップ、５…・・・上部可動電極支
持棒、６・・・・・・加速度センサ、１０・・・・・・
２重積分回路、１５・…・・最大振幅演算回路、１６・
・・・・・判定回路。 第４図 第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- １ スポツト溶接機の電極チツプ支持棒に取り付けられ
た加速度センセと、該加速度センサに得られた加速度信
号を２重積分して電極チツプ及び電極支持棒の変位に相
当する信号に変換する装置と、前記変位に相当する信号
の最大振幅が所定の下限設定値より小なる場合には溶接
不良信号を発信し、所定の上限設定値より大なる場合に
は散り発生信号を発信する判定回路を備えたことを特徴
とするスポツト溶接監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12417677A JPS6040955B2 (ja) | 1977-10-17 | 1977-10-17 | スポツト溶接監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12417677A JPS6040955B2 (ja) | 1977-10-17 | 1977-10-17 | スポツト溶接監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5457440A JPS5457440A (en) | 1979-05-09 |
| JPS6040955B2 true JPS6040955B2 (ja) | 1985-09-13 |
Family
ID=14878842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12417677A Expired JPS6040955B2 (ja) | 1977-10-17 | 1977-10-17 | スポツト溶接監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6040955B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111014924A (zh) * | 2019-11-19 | 2020-04-17 | 西安石油大学 | 一种用于检测电阻点焊参数的实时监控方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4376883A (en) * | 1980-07-30 | 1983-03-15 | American Can Company | Monitoring weld quality via forging assembly dynamics |
| JP2001276980A (ja) | 2000-03-30 | 2001-10-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 接合装置 |
-
1977
- 1977-10-17 JP JP12417677A patent/JPS6040955B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111014924A (zh) * | 2019-11-19 | 2020-04-17 | 西安石油大学 | 一种用于检测电阻点焊参数的实时监控方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5457440A (en) | 1979-05-09 |
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