JPS604131Y2 - パルス検出装置 - Google Patents
パルス検出装置Info
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- JPS604131Y2 JPS604131Y2 JP1976122193U JP12219376U JPS604131Y2 JP S604131 Y2 JPS604131 Y2 JP S604131Y2 JP 1976122193 U JP1976122193 U JP 1976122193U JP 12219376 U JP12219376 U JP 12219376U JP S604131 Y2 JPS604131 Y2 JP S604131Y2
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
- G01R19/16585—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 for individual pulses, ripple or noise and other applications where timing or duration is of importance
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/01—Shaping pulses
- H03K5/04—Shaping pulses by increasing duration; by decreasing duration
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/01—Shaping pulses
- H03K5/08—Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding
- H03K5/082—Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding with an adaptive threshold
- H03K5/086—Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding with an adaptive threshold generated by feedback
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、正および負の両極性パルスを検出するパルス
検出装置に関する。
検出装置に関する。
高速パルス検出回路および論理状態指示回路は、通常高
速増幅器、高速比較器および多数の論理ゲートを含む単
安定マルチバイブレータ等のような複数の素子から成る
。
速増幅器、高速比較器および多数の論理ゲートを含む単
安定マルチバイブレータ等のような複数の素子から成る
。
前記高速増幅器は、通常入力信号に対する回路の応答速
度を早めるために付加される。
度を早めるために付加される。
しかしながらかかる回路素子の追加は、当該回路の複雑
さを増し、そのため製造コストの上昇を招くと共に回路
の信頼性を低下せしめる。
さを増し、そのため製造コストの上昇を招くと共に回路
の信頼性を低下せしめる。
またマルチバイブレータを採用している回路は、多数の
論理ゲートを必要とするので当該回路の信号遅延の一因
となっていた。
論理ゲートを必要とするので当該回路の信号遅延の一因
となっていた。
一般に、回路における論理素子の数が多くなればなる程
、入力信号に対する回路の応答は遅くなる。
、入力信号に対する回路の応答は遅くなる。
高速パルス検出回路および論理状態検出回路は、複雑お
よび高価な二重回路を有している。
よび高価な二重回路を有している。
その１つの回路は、正極性の入力パルスを検出して伸張
するためのものであり、他の回路は、負極性の入力パル
スを検出して伸張するためのものである。
するためのものであり、他の回路は、負極性の入力パル
スを検出して伸張するためのものである。
このパルス伸張は、パルスの視覚的観測を容易ならしめ
るために行うものである。
るために行うものである。
また、上記のような検出回路を選択し、そして。
検出されるべき入力パルスに関連した閾値を更に変化さ
せるために、これら多くの回路はシュミットトリガの如
き比較器あるいは同様な追加の回路素子を含んでいる。
せるために、これら多くの回路はシュミットトリガの如
き比較器あるいは同様な追加の回路素子を含んでいる。
このようにして追加された回路素子は、当該回路の複雑
さおよびコストの増大を招くばかりか信頼性を低下させ
てしまう。
さおよびコストの増大を招くばかりか信頼性を低下させ
てしまう。
本考案は、上述欠点を解消せんとしてなされたもので、
正あるいは負の極性にある入力パルスを高速度にて検出
する。
正あるいは負の極性にある入力パルスを高速度にて検出
する。
装置を提供せんとするものである。
本考案の一実施例によれば、上記目的を遠戚するために
、比較器と共に選択的に閾値が変えられる可変閾値選択
回路を使用している。
、比較器と共に選択的に閾値が変えられる可変閾値選択
回路を使用している。
この選択回路は、パルス伸張および発光ダイオード（以
下ＬＥＤと称する）による表示回路を具備味そして検出
された入力パルスの伸張および表示を行っている。
下ＬＥＤと称する）による表示回路を具備味そして検出
された入力パルスの伸張および表示を行っている。
前記の選択回路における比較器は、多数の論理ゲートヲ
モつマルチバイブレータが不必要であり、また別な回路
素子としてシュミットトリガ回路等も不必要である。
モつマルチバイブレータが不必要であり、また別な回路
素子としてシュミットトリガ回路等も不必要である。
そのため回路の素子が少なくなり簡単になるので、可変
閾値に応じて入力パルスを信頼性高く高速度で検出する
パルス検出装置が安価で実現できる。
閾値に応じて入力パルスを信頼性高く高速度で検出する
パルス検出装置が安価で実現できる。
以下図面を用いて本考案を詳述する。
第１図は、本考案の一実施例によるパルス検出装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
図において、高速パルス検出および論理状態解析を行う
パルス検出装置１０は、基準電圧レベルに応じて入力パ
ルスの電圧レベルのレベル状態の可視指示を与える。
パルス検出装置１０は、基準電圧レベルに応じて入力パ
ルスの電圧レベルのレベル状態の可視指示を与える。
電圧値ＶＩＮが不確定の入力パルス１１は、線路１２を
介して高速比較器１３の負側端子に供給される。
介して高速比較器１３の負側端子に供給される。
ここで、比較器１３は例えばモトローラ社製のモデル＃
ＭＣ１０１２５ＥＣＬ−ＴＴＬ比較器である。
ＭＣ１０１２５ＥＣＬ−ＴＴＬ比較器である。
基準電圧■ＲＥＦを有する基準信号１５が比較器１３の
正側端子に供給される。
正側端子に供給される。
比較器１３への入力パルス１１がないとき、パルス検出
装置１０は基準電圧源１９によって発生される閾値信号
１７の閾値電圧ｖｒに等しく且つ基準電圧ＶＲＥｐに等
しい出力電圧■。
装置１０は基準電圧源１９によって発生される閾値信号
１７の閾値電圧ｖｒに等しく且つ基準電圧ＶＲＥｐに等
しい出力電圧■。
ＵＴの出力信号２３を発生する。この閾値電圧■１は、
ポテンショメータ２１の接触子２０の位置を変えること
により手動にて得られる可変電圧である。
ポテンショメータ２１の接触子２０の位置を変えること
により手動にて得られる可変電圧である。
例えば、いま人力パルス１１が比較器１３に供給されて
パルス検出装置１０が動作鉢部にあるとき、該比較器１
３が出力信号２３を発生しない（この場合比較器１３の
出力電圧■。
パルス検出装置１０が動作鉢部にあるとき、該比較器１
３が出力信号２３を発生しない（この場合比較器１３の
出力電圧■。
ＵＴは゛低゛）か、あるいは°°高゛例えば２．５Ｖの
電圧Ｖ。
電圧Ｖ。
Ｕ、を有する出力信号を発生する。この出力電圧値Ｖ。
ＵＴは次の（１）式によって定まる。
ＶｏｕＴ＝Ｖｓｚ （１ｄＸＲ２）
（１）ここで、Ｖ Ｂ ２は電圧源（Ｓ２）２５
の電圧（Ｖ）、Ｉｄはｉ ０ （ｍＣｄ）発光強度を有
する典型的なＬＥＤ２７を駆動するのに必要な電流〔畝
〕、Ｒ２は前記ＬＥＤ ２７に直列接続された例えば２
４０〔Ω〕の抵抗器の抵抗値である。
（１）ここで、Ｖ Ｂ ２は電圧源（Ｓ２）２５
の電圧（Ｖ）、Ｉｄはｉ ０ （ｍＣｄ）発光強度を有
する典型的なＬＥＤ２７を駆動するのに必要な電流〔畝
〕、Ｒ２は前記ＬＥＤ ２７に直列接続された例えば２
４０〔Ω〕の抵抗器の抵抗値である。
第２図は、第１図に示すパルス検出装置における入力パ
ルス１１と基準信号１５の関係および該パルス１１、基
準信号１５によるＬＥＤ２７のオンおよびオフの時間関
係を示すタイミング図である。
ルス１１と基準信号１５の関係および該パルス１１、基
準信号１５によるＬＥＤ２７のオンおよびオフの時間関
係を示すタイミング図である。
第２図Ｂは第２図Ａに示す入力および基準電圧レベルに
対するＬＥＤ２７のオン、オフ状態、第２図りは第２図
Ｃに示す入力および基準電圧に対するＬＥＤ２７のオン
、オフ状態のそれぞれを示す。
対するＬＥＤ２７のオン、オフ状態、第２図りは第２図
Ｃに示す入力および基準電圧に対するＬＥＤ２７のオン
、オフ状態のそれぞれを示す。
第１図および第２図を参照する。
入力パルス１１における正パルスは基準電圧ＶＲＥＰよ
りも更に正の電圧レベルに達するパルスであり、そして
負パルスは基準電圧ＶＲＥＰよりも更に電圧レベルに達
するパルスである。
りも更に正の電圧レベルに達するパルスであり、そして
負パルスは基準電圧ＶＲＥＰよりも更に電圧レベルに達
するパルスである。
かかる正入力パルスにより、比較器１３は“低′”の電
圧ＶＯＵＴを有する出力信号２３を発生する。
圧ＶＯＵＴを有する出力信号２３を発生する。
これにより電圧源２５からＬＥＤ２７を介して電流が流
れ、それによりＬＥＤ２７をターンオンせしめて発光す
る。
れ、それによりＬＥＤ２７をターンオンせしめて発光す
る。
一方負入カパルスにより、比較器１３は電圧源２５によ
って発生される電圧＋Ｖ、２と等しくなるかそれ以上の
電圧■０υ丁の出力信号２３を発生する。
って発生される電圧＋Ｖ、２と等しくなるかそれ以上の
電圧■０υ丁の出力信号２３を発生する。
このため電圧源２５からＬＥＤ２７を介して電流が流れ
なくなり、それによりＬＥＤ２７がオフとなって発光し
なくなる。
なくなり、それによりＬＥＤ２７がオフとなって発光し
なくなる。
すなわち、正および負入力パルスで威る反復的信号およ
び基準電圧１５よりも更に正および負と繰り返しなる電
圧レベルを有する直流信号あるいは正弦波信号に対して
、ＬＥＤ２７は反復的のオンおよびオフになり点滅する
。
び基準電圧１５よりも更に正および負と繰り返しなる電
圧レベルを有する直流信号あるいは正弦波信号に対して
、ＬＥＤ２７は反復的のオンおよびオフになり点滅する
。
本検出装置には、例えば約５ （ｎｓ）の狭い幅のパル
スをｌＱｍｓより大きい幅のパルスの伸張スるためにコ
ンデンサ２９が含まれている。
スをｌＱｍｓより大きい幅のパルスの伸張スるためにコ
ンデンサ２９が含まれている。
かようなパルス伸張動作により、狭い幅のパルスの存在
および繰り返しの特性が可視的に観測され得る。
および繰り返しの特性が可視的に観測され得る。
出力電圧ＶＯＵＴが°“高゛°となると、乎ワデンサ２
９により入力パルス１１の電圧Ｖ４よりも基準電圧■Ｒ
オが相対的に正になる。
９により入力パルス１１の電圧Ｖ４よりも基準電圧■Ｒ
オが相対的に正になる。
しかる後、比較器１３の出力電圧■０υ丁はコンデンサ
２９および抵抗器３１による消失期間Ｔ□の間“°高゛
に保持される。
２９および抵抗器３１による消失期間Ｔ□の間“°高゛
に保持される。
ところで、前記消失期間は次の（２）式で定まる。
ここで、
Ｒ１は抵抗器３１の抵抗値〔Ω〕、
Ｃは
コンデンサ２９の容量値〔μＦ〕、■ＩＮは入力パルス
１１の電圧（Ｖ）、■、は閾値の電圧値（Ｖ）、■。
１１の電圧（Ｖ）、■、は閾値の電圧値（Ｖ）、■。
ＵＴｌは比較器１３における出力電圧Ｖ。Ｕｌの最大値
（Ｖ）、■。
（Ｖ）、■。
ＵＴ２は比較器１３における出力電圧ＶＯＵＴが低”と
なるとき、コンデンサ２９により入力パルス１１の電圧
ＶＩＮよりも基準電圧Ｖ ＲＥＦは相対的に負となる。
なるとき、コンデンサ２９により入力パルス１１の電圧
ＶＩＮよりも基準電圧Ｖ ＲＥＦは相対的に負となる。
これにより、コンデンサ２９による消失期間Ｔ２の間比
較器１３の出力電圧■。
較器１３の出力電圧■。
ｔＪＴは゛低゛′となる。前記消失期限「２は次の（３
）式で定まる。
）式で定まる。
第３図は、ＬＥＤ２７の他の接続法を示す結線図である
。
。
第３図Ａにおいて、入力電圧Ｖ１Ｎが基準電圧Ｖ ＲＥ
Ｆよりも相対的に正であるとき、ＬＥＤ２７はオンであ
り、そして入力電圧■！Ｎが基準電圧Ｖ ＲＥＦよりも
相対的に負であるときＬＥＤ２７はオフである。
Ｆよりも相対的に正であるとき、ＬＥＤ２７はオンであ
り、そして入力電圧■！Ｎが基準電圧Ｖ ＲＥＦよりも
相対的に負であるときＬＥＤ２７はオフである。
反対に、第３図ＢおよびＣにおいて、入力電圧ＶＩＮが
基準電圧ＶＲヤよりも相対的に正であればＬＥＤ２７は
オフであり、入力電圧ＶＩＮが基準電圧ＶＲＥＰよりも
相対的に負であればＬＥＤ２７はオンである。
基準電圧ＶＲヤよりも相対的に正であればＬＥＤ２７は
オフであり、入力電圧ＶＩＮが基準電圧ＶＲＥＰよりも
相対的に負であればＬＥＤ２７はオンである。
第１図は本考案の一実施例によるパルス検出装置のブロ
ック図で、１３：比較器、１９：基準電圧源、２１：ポ
テンショメータ、２５：電圧源、２７：ＬＥＤ、２９：
コンデンサである。 第２図は、第１図に示す装置における入力電圧、基準電
圧およびＬＥＤ２７のオン、オフの関係を示すタイミン
グ図である。 第３図は、ＬＥＤ２７の他の接続法を示す結線図である
。
ック図で、１３：比較器、１９：基準電圧源、２１：ポ
テンショメータ、２５：電圧源、２７：ＬＥＤ、２９：
コンデンサである。 第２図は、第１図に示す装置における入力電圧、基準電
圧およびＬＥＤ２７のオン、オフの関係を示すタイミン
グ図である。 第３図は、ＬＥＤ２７の他の接続法を示す結線図である
。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 １ 入力端子、出力端子、可変閾値信号を受信するよう
に閾値信号源に接続された基準端子を具えた比較器と、
前記比較器の出力端子と基準端子との間に接続された容
量性のパルス伸張器と、前記比較器の出力端子に接続さ
れた表示器とで戒り、前記比較器の入力端子に導入され
るパルスを検出するパルス検出装置。 ２ 閾値信号源は、電圧源と、該電圧源の両端に接続さ
れて可変電圧を発生するポテンショメータと、該ポテン
ショメータと比較器の基準電子との間に接続された抵抗
器とで威ることを特徴とする実用新案登録請求の範囲第
１項記載のパルス検出装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US05/613,008 US4016552A (en) | 1975-09-12 | 1975-09-12 | Dual polarity pulse detection circuit with variable voltage threshold |
| US613008 | 1975-09-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5240157U JPS5240157U (ja) | 1977-03-22 |
| JPS604131Y2 true JPS604131Y2 (ja) | 1985-02-05 |
Family
ID=24455497
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1976122193U Expired JPS604131Y2 (ja) | 1975-09-12 | 1976-09-10 | パルス検出装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4016552A (ja) |
| JP (1) | JPS604131Y2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2414203A1 (fr) * | 1978-01-10 | 1979-08-03 | Aerolang Sarl Ste Nle Expl | Appareil de lecture par tout ou rien en temps reel, d'informations traitees logiquement ou analogiquement |
| US4303985A (en) * | 1979-12-06 | 1981-12-01 | Litton Systems, Inc. | Analog voltage to pulse rate or analog to frequency converter |
| US4558275A (en) * | 1981-04-21 | 1985-12-10 | The Superior Electric Company | Line voltage monitor system |
| US4858169A (en) * | 1985-12-18 | 1989-08-15 | Barber-Colman Company | Electronic integrator using an operational amplifier and with alleviation of wind-up |
| JPS63174674U (ja) * | 1986-11-25 | 1988-11-14 | ||
| JPH068692Y2 (ja) * | 1987-05-15 | 1994-03-09 | ダイワ精工株式会社 | 魚釣用リ−ルの釣糸繰出量測定装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3184729A (en) * | 1962-01-26 | 1965-05-18 | David D Freedman | Signal deviation detector |
| US3448296A (en) * | 1966-12-08 | 1969-06-03 | American Mach & Foundry | Apparatus for stretching pulses exceeding predetermined amplitude |
| US3718864A (en) * | 1971-02-26 | 1973-02-27 | Cogar Corp | Crossover detector |
| US3845401A (en) * | 1973-02-05 | 1974-10-29 | Honeywell Inf Systems | Sense amplifier threshold tester |
-
1975
- 1975-09-12 US US05/613,008 patent/US4016552A/en not_active Expired - Lifetime
-
1976
- 1976-09-10 JP JP1976122193U patent/JPS604131Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4016552A (en) | 1977-04-05 |
| JPS5240157U (ja) | 1977-03-22 |
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