JPS6042762A - レジスト塗布装置 - Google Patents

レジスト塗布装置

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Publication number
JPS6042762A
JPS6042762A JP58150490A JP15049083A JPS6042762A JP S6042762 A JPS6042762 A JP S6042762A JP 58150490 A JP58150490 A JP 58150490A JP 15049083 A JP15049083 A JP 15049083A JP S6042762 A JPS6042762 A JP S6042762A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resist
rotating body
substrate
centrifugal force
rotary table
Prior art date
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Pending
Application number
JP58150490A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Sasaki
勲 佐々木
Shuichi Tamamushi
秀一 玉虫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58150490A priority Critical patent/JPS6042762A/ja
Publication of JPS6042762A publication Critical patent/JPS6042762A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/16—Coating processes; Apparatus therefor
    • G03F7/162—Coating on a rotating support, e.g. using a whirler or a spinner

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、半導体集積回路製造プロセスで用いられるレ
ジスト塗布装置の改良に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
従来、半導体基板表面にレジストを塗布するには、基板
を固定保持して回転する回転テーブルを用いたレジスト
塗布装置が広く使用されている。この装置では、基板表
面の中央部にレジストを滴下し、その後回転テーブルに
ょシ基板を高速回転することによって、基板表面の全体
にレジストが回転塗布される。そして、基板表面に凹凸
がなく平坦な場合、塗布されたレジストにも凹凸は見ら
れず何ら問題はなかった。
しかし、最近の集積回路製造プロセスの進行に伴い、回
路・母ターンに応じてシリコン酸化膜、シリコン窒化膜
及び多結晶シリコン膜等の被膜2による凹凸が基板表面
に生じている。このような基板表面に従来装置を用いて
レジストを塗布した場合、基板表面に平行な方向に作用
する力(i力加速度)が基板表面に垂直な方向に作用す
る力(重力加速度)よシも、太きいため、第1図に示す
如く基板1表面の凹凸(例えば酸化膜による凸部)に対
応した凹凸がレジスト3にも生じる。さらに、レジスト
3の凹凸の程度は中心部と周辺部とで異っておシ、中心
部よシも周辺部の方が大きい。これは、基板1の回転に
よシ中心部と周辺部とで基板表面に平行な方向に作用す
る加速度に差があるためと推定される。
例えば、基板1の回転数を3000(rpm)、基板1
の直径を1OccIn〕とすると、中心部での重力加速
度は1〔G〕であるのに対し、周辺部では500 (G
)にも達する。
このような凹凸のあるレジストに光、電子或いはイオン
等の粒子を照射してノ平ターンを描画した場合、上記凹
凸による粒子の散乱1反射。
レンズ作用及び光路長の差異等によシバターンボケが生
じ、所望のパターンを得ることは困難又 で4る。特に、超LSIに不可決なサブミクロンオーダ
のパターンを形成する際には、上記パターンがケの発生
は致命的な欠点となる。したがって、凹凸のある基板表
面にもレジストを平坦に塗布できる装置の実現が強く要
望されている。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、凹凸のある基板表面にもレジストを平
坦に塗布するととができ、サブミクロン・ぐターンの形
成にも十分対処し得るレジスト塗布装置を提供すること
にある。
〔発明の概要〕
本発明の骨子は、回転体の回転による遠心力を利用し、
基板表面に該表面と直交する方向に大きな遠心力成分を
与えることにある。
凹凸を有する基板表面に流動性物質、例えばレジストを
塗布した場合、その付着状態はレジストの粘性や基板と
のぬれの接触角等によシ影響されるが、レジストの場合
には感度や分子量等の観点からこれらを任意の値に設定
することは難しい。付着状態を左右する因子としては、
これら以外に重力場の強さく加速度)の影響が考えられ
る。
いま、前記第1図において凹凸を有する表面上にレゾス
トを塗布する場合を考える。通常、地球上の重力場の場
合には、表面の凹凸に対応してレジストにも凹凸を生じ
る。基板表面、方向に作用する力が垂直方向のそれよシ
大きいと、その凹凸の程度も大きくなる。これは、基板
表面に平行な方向に作用する力が大きいと、レジストが
基板表面の凹部から凸部へ盛シ上がってくるためである
。
えればよい。そこで本発明者等は回転体の回転による遠
心力で上記基板表面と垂直な方向に強い作用力成分を与
える構造を考案した。さらに、本発明者等の鋭意研究に
よれば、基板表面に垂直な方卯の作用力成1分を基板表
面に平行な方向のそれの10倍以上程旋にすれば、レジ
ストが確実に平坦化されることが判明した。
すなわち本発明は、半導体基板表面にレジストを平坦に
塗布する装置において、回転体と、上記基板を固定保持
し回転体の周部に取着され、回転体の回転軸と直交しか
つ該回転軸を通る軸心を中心として回転する回転テーブ
ルと、この回転テーブルに固定保持された半導体基板上
にレジストを供給する機構とを設け、上記回転体うにし
たものである。
〔発明の効果〕
本発明によれば、回転体の回転による遠心力で半導体基
板表面に垂直な方向に大きな遠心力成分(重力加速度)
を与えることができるので、基板表面に凹凸があっても
、第2図に示す如くレジストを平坦に塗布形成すること
ができる。
このため、サブミクロンパターンの描画に極めて有効で
ある。
〔発明の実施例〕
第3図は本発明の一実施例に係わるレジスト塗布装置を
模式的に示す平面図、第4図は上記装置の具体的構成を
示す断面図である。図中11は回転体であシ、この回転
体11は有底円筒体12及び該筒体12の開口部を閉塞
する蓋体13から形成されている。有底円筒体12の底
部中心には、軸体14を介してモータ15が接続されて
いる。そして、回転体11はモータ15の駆動によシ、
軸体14を回転軸として回転するものとなっている。
また、有底円筒体12の側部には、該側部に11i1I
C付けられた軸体16を軸心として回転する回転テーブ
ル1−2が複数個設けられている。そして、回転テーブ
ル17上には半導体基板18が固定保持される。なお、
回転テーブル17を・回転駆動する手段としては、例え
ば軸体14゜I6に歯車18.19をそれぞれ取着し、
これらの歯車18.19を適当な歯車を介して接続すれ
ばよい。また、回転テーブル17のそれぞれに対応して
小型モータを設けるようにしてもよい。
一方、前記蓋体I3の中央部には、レジスト供給管20
が貫通して設けられている。そして、この供給管20に
よシ回転テーブル17上の半導体基板18表面にレジス
トが吹き付けられるものとなっている。なお、第4図中
21 、22はそれぞれベアリングを示している。
このような構成であれば、回転体11を回転させること
によ)、回転テーブル17上の半導体基板18にその表
面と直交する方向に遠心力成分を与えることができる。
さらに、回転テーブル17を回転させるととによυ、基
板18上にレジストを回転塗布することができる。そし
てこの場合、回転体11と回転テーブル17との回転比
を適切に設定することによシ、基板180表面に水平方
向に作用する力よりも垂直方向に作用する力を十分大き
くすることができ、凹凸を有する表面上にもレジストを
平坦に塗布することが可能である。本発明者等の実験に
よれば、上記垂直方向の作用力を水平方向のそれより1
0倍程度大きくすれば、レジストの平坦化が完全に達成
されるのが確認された。ここで、上記条件を満たすには
、半導体基板18の半径をr、自転の回転数をf、1回
転体11中心から基板18表面までの距離をR2公転の
回転数をFとすると 10r−f2(R−F2 なる関係式が成立するようにすればよい。
なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い。例えば、前記回転体と回転テーブルとの回転比は、
必ずしも前記式を満たす条件に設定する必要はなく、使
用するレノストの粘性等に応じて適宜定めればよい。ま
た、回転体及び回転テーブルを回転する手段は、何ら実
施例に限定されるものではなく、適宜変更可能でおる。
さらに、回転テーブルの個数やレジスト供給機構等も適
宜変更できるのは、勿論のことである。その他、本発明
の要旨を逸脱しない範囲で、種々変形して実施すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来装置によΣレジスト付着状態を示す断面図
、第2図は本発明装置によるレジスト付着状態を示す断
面図、第3図は本発明の一実施例に係わるレジスト塗布
装置を模式的に示す平面図、第4図は上記実施例装置の
具体的構成を示す断面図である。 1.18・・・半導体基板、2・・・被膜、3・・・レ
ジスト、1)・・・回転体、14.16・・・軸体、1
5・・・モータ、17・・・回転テーブル、20・・・
レジスト供給V。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦箔 1 図 第
 2 口 笛3図 第4図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)回転体と、半導体基板を固定保持し上記回転体の
    局部に取着され、上記回転体の回転軸と直交しかつ該回
    転軸を通る軸心を中心として・回転する回転テーブルと
    、この回転テーブルに固定保持された半導体基板上にレ
    ジストを供給する機構とを具備し、前記回転体の回転に
    よる遠心力で前記半導体基板に該基板の表面と直交する
    方向に遠心力成分を付与することを特徴とするレジスト
    塗布装置。
  2. (2)前記回転体によシ前記基板の表面と直交する方向
    に加わる重力を、前記回転テーブルの回転による遠心力
    で上記基板表面と平行な方向に加わる遠心力成分よ91
    0倍以上大きくなるよう、上記回転板及び回転テーブル
    の各回転数を設定してなることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載のレジスト塗布装置。
  3. (3) 前記レジストを供給する機構は、前記半導体基
    板上にレジストを吹き付けるものであることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載のレジスト塗布装置。
JP58150490A 1983-08-18 1983-08-18 レジスト塗布装置 Pending JPS6042762A (ja)

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JP58150490A JPS6042762A (ja) 1983-08-18 1983-08-18 レジスト塗布装置

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JP58150490A JPS6042762A (ja) 1983-08-18 1983-08-18 レジスト塗布装置

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JPS6042762A true JPS6042762A (ja) 1985-03-07

Family

ID=15498005

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JP58150490A Pending JPS6042762A (ja) 1983-08-18 1983-08-18 レジスト塗布装置

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4772356A (en) * 1986-07-03 1988-09-20 Emcore, Inc. Gas treatment apparatus and method
US4838983A (en) * 1986-07-03 1989-06-13 Emcore, Inc. Gas treatment apparatus and method
US5095848A (en) * 1989-05-02 1992-03-17 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Spin coating apparatus using a tilting chuck
US5264246A (en) * 1989-05-02 1993-11-23 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Spin coating method
EP0583784A3 (en) * 1992-08-19 1995-09-27 Texas Instruments Inc Apparatus and method for interlevel dielectric planarization

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