JPS6043774A - 自動切替接続試験機 - Google Patents
自動切替接続試験機Info
- Publication number
- JPS6043774A JPS6043774A JP58151777A JP15177783A JPS6043774A JP S6043774 A JPS6043774 A JP S6043774A JP 58151777 A JP58151777 A JP 58151777A JP 15177783 A JP15177783 A JP 15177783A JP S6043774 A JPS6043774 A JP S6043774A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- unit
- program
- units
- section
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Financial Or Insurance-Related Operations Such As Payment And Settlement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a)発明の技術分野
本発明は、バンキング端末機のターミナルコントローラ
及びインテリジェントターミナル等の複数のユニットで
構成される装置の製造工程におLJる試験システムに係
り、特にユニット毎のテストを順次自動的に切り替えて
遂行することができる自動切替接続試験機に関す。
及びインテリジェントターミナル等の複数のユニットで
構成される装置の製造工程におLJる試験システムに係
り、特にユニット毎のテストを順次自動的に切り替えて
遂行することができる自動切替接続試験機に関す。
(bン技術の背景
近来、コンピュータ応用のバンキング端末機やオフィス
コンピュータが広く普及してきた。
コンピュータが広く普及してきた。
特に複数のバンキング端末機を制御するターミナルコン
トローラや汎用インテリジエン1−ターミナルは磁気デ
ィスク、フロッピーディスク、ストリマー等のユニット
及び中央処理装置(以下CPUという)で構成されてお
り、これらの装置の製造工程における品質確認テストは
、ユニット等の単体としての機能テストは勿論であるが
、装置に実装されてから総合的な機能テストが行われる
。
トローラや汎用インテリジエン1−ターミナルは磁気デ
ィスク、フロッピーディスク、ストリマー等のユニット
及び中央処理装置(以下CPUという)で構成されてお
り、これらの装置の製造工程における品質確認テストは
、ユニット等の単体としての機能テストは勿論であるが
、装置に実装されてから総合的な機能テストが行われる
。
この装置テストはユニ・ノ]−毎めテストプログラムに
よって自動的に行われるが、ユニット間の切り替えはオ
ペレータに依存しているので、より’JJ率化する方法
が望まれている。
よって自動的に行われるが、ユニット間の切り替えはオ
ペレータに依存しているので、より’JJ率化する方法
が望まれている。
(C)従来技術と問題点
以下、従来方法について第1図のブロック図を参照して
説明する。
説明する。
第1図において、1は被試験体、2はCPU、3a〜3
eはユニット、4ば試験機、5はプログラム部、6は判
定部、7は表示部、8はデータ印字部を示す。
eはユニット、4ば試験機、5はプログラム部、6は判
定部、7は表示部、8はデータ印字部を示す。
被試験体1はCPU2及び複数のユニッ)3a乃至3e
で構成され、試験機4に接続されている。
で構成され、試験機4に接続されている。
CPU2はユニット3a乃至3eの動作を制御部するも
ので、テストの時には試験機4より送られてくるテスト
プログラムの指令によって各ユニット3a乃至3e;?
c個別に駆動せしめる機能を有している。
ので、テストの時には試験機4より送られてくるテスト
プログラムの指令によって各ユニット3a乃至3e;?
c個別に駆動せしめる機能を有している。
ユニット3a乃至3cば例えは磁気ディスク装置、スト
リマー等のようにCPU2の制御によって単独で動作す
るユニットである。
リマー等のようにCPU2の制御によって単独で動作す
るユニットである。
試験機4はユニット毎のテストプログラムを装着するプ
ログラム部5.テストの判定を行う判定部6.テスト結
果を表示する表示部7.テスト結果を印字出力するデー
タ印字部8を備えている。
ログラム部5.テストの判定を行う判定部6.テスト結
果を表示する表示部7.テスト結果を印字出力するデー
タ印字部8を備えている。
プログラム部5は図示省略した磁気読取部を備えており
、デストプログラムを記録した磁気テープをカセットに
納めて装着されている。
、デストプログラムを記録した磁気テープをカセットに
納めて装着されている。
このような構成及び機能を有するので、被試験体1の試
験を行う時は、被試験体1及び試験機4の電源を入れて
から、試験機4のプログラム部5にユニット3aのテス
トプログラムを装着して起動させると、直ちにテストプ
ロクラムの指令によってテストが行われる。
験を行う時は、被試験体1及び試験機4の電源を入れて
から、試験機4のプログラム部5にユニット3aのテス
トプログラムを装着して起動させると、直ちにテストプ
ロクラムの指令によってテストが行われる。
テストの結果は判定部6に送られてテスト結果またはデ
ータを所定の判定規準と照合して良否判定をする。
ータを所定の判定規準と照合して良否判定をする。
判定結果またはデータは表示部7に逐一表示されると共
に、データ印字部8によって印字出力される。
に、データ印字部8によって印字出力される。
テストプログラムによる所定のテスト、が終了すると、
終了信号により図示省略した終了表示ランプ及びブザー
によって報知される。
終了信号により図示省略した終了表示ランプ及びブザー
によって報知される。
そこでオペレータはユニット3aのナストプロダラムを
抜き取って、つぎにユニット3bのテストプログラムを
装着して起動させることにより引続いてテストが行われ
る。
抜き取って、つぎにユニット3bのテストプログラムを
装着して起動させることにより引続いてテストが行われ
る。
C(’)ヨウ41:L7jllJ*”=7) 3 a)
’1f=3 eO)9 ’ 1ストを行うことができる
。
’1f=3 eO)9 ’ 1ストを行うことができる
。
もしテスト中に不良の判定が出た時は、試験機4がテス
トを停止すると共に、図示省略した不良表示ランプ及び
ブザーによる報知が行われ、オペレータは被試験体1か
ら該当するユニ・71〜を取り外し、次のユニットのテ
ストが開始される。
トを停止すると共に、図示省略した不良表示ランプ及び
ブザーによる報知が行われ、オペレータは被試験体1か
ら該当するユニ・71〜を取り外し、次のユニットのテ
ストが開始される。
取外されたユニットは障害機として必要な処置を受ける
。そして処置が終った後、再びテストに掛りられる。
。そして処置が終った後、再びテストに掛りられる。
しかしながらこの方法によると、ユニット毎にオペレー
タによる起動操作が必要であり、常にオペレータが待機
している必要があるという欠点があり、品質が安定して
、不良判定が極めて少ない状態の時には、特にこの欠点
を解決することが要請される。
タによる起動操作が必要であり、常にオペレータが待機
している必要があるという欠点があり、品質が安定して
、不良判定が極めて少ない状態の時には、特にこの欠点
を解決することが要請される。
また各ユニットのテスト終了毎に試験機4が停止するの
で、試験機4の稼動効率が悪くなるという欠点がある。
で、試験機4の稼動効率が悪くなるという欠点がある。
fd1発明の目的
本発明の目的は、上記の欠点を解決する為のもので、複
数のユニノ1−毎のテストを順次自動的に切り替えて行
うことができる自動切替接続試験機を従供するにある。
数のユニノ1−毎のテストを順次自動的に切り替えて行
うことができる自動切替接続試験機を従供するにある。
te1発明の構成
本発明は、ユニット対応のテス!・プログラム格納領域
と、一つのユニットのテストプリンタが終了した時に、
他のユニットに対応するテストプログラムに切替え接続
する切替手しさを備える自動切替接続試験機であり、か
くすることにより目的を達成することができる。
と、一つのユニットのテストプリンタが終了した時に、
他のユニットに対応するテストプログラムに切替え接続
する切替手しさを備える自動切替接続試験機であり、か
くすることにより目的を達成することができる。
(f1発明の実施例
以下本発明の一実施例について、第2図及び第3図を参
照して説明する。第2図は本発明による実施例を示すフ
ロック図、第3図は第2図のフローチャートである。企
図を通じて同−符男は同一対象物を示す。
照して説明する。第2図は本発明による実施例を示すフ
ロック図、第3図は第2図のフローチャートである。企
図を通じて同−符男は同一対象物を示す。
第2図において、14は試験機、15はプロクラム部、
1Gは切替え部、I7はプログラムファイルを示す。
1Gは切替え部、I7はプログラムファイルを示す。
プログラム部15は図示省略した磁気読取部を備えてお
り、ユニット3a乃至3eに対応するテストプログラム
がプログラムファイル17より読み出されて、図示して
いないフロンピーディスクに記録されて装着されている
。
り、ユニット3a乃至3eに対応するテストプログラム
がプログラムファイル17より読み出されて、図示して
いないフロンピーディスクに記録されて装着されている
。
そして他のユニットで構成された被試験体をテストする
時には、構成するユニットに対応するテストプログラム
をプログラムファイル17より読み出してフロッピーデ
ィスクに記録される。
時には、構成するユニットに対応するテストプログラム
をプログラムファイル17より読み出してフロッピーデ
ィスクに記録される。
切替え部16ばユニソ1−3a乃至3eのテストの順序
を指示する図示していない指示釦を有しており、プログ
ラム部15より被試験体1の或ユニットに送られるテス
トプログラムが終了した時に終了信号によって、指示釦
で指示されたつぎにテストを行うユニットのテストプロ
グラムに切り替える機能を有している。
を指示する図示していない指示釦を有しており、プログ
ラム部15より被試験体1の或ユニットに送られるテス
トプログラムが終了した時に終了信号によって、指示釦
で指示されたつぎにテストを行うユニットのテストプロ
グラムに切り替える機能を有している。
プログラムファイル17は例えは磁気ディスクで構成さ
れた電子ファイルで、各種の被試験体に実装されている
ユニット毎のテストプログラムを記録しているものであ
る。
れた電子ファイルで、各種の被試験体に実装されている
ユニット毎のテストプログラムを記録しているものであ
る。
このような構成及び機能を有するので、被試験体1の試
験を行う時は、第3図に示すように、被試験体1及び試
験tJlt14に電源を入れてから、ユニット3a乃至
3eのナスト順序を指示釦に指示し、試験機14のプロ
グラム部15を起動させると、直ちにテストプログラム
の指令によってユニット3aのテストが行われる。
験を行う時は、第3図に示すように、被試験体1及び試
験tJlt14に電源を入れてから、ユニット3a乃至
3eのナスト順序を指示釦に指示し、試験機14のプロ
グラム部15を起動させると、直ちにテストプログラム
の指令によってユニット3aのテストが行われる。
テストの結果は判定部6に送られてテスト結果またはデ
ータの良否判定が行われる。
ータの良否判定が行われる。
判定結果及びデータは表示部7に逐一表示されると共に
、データ印字部8によって印字出力される。
、データ印字部8によって印字出力される。
ユニット3aの所定のテストが終了すると、終了信号に
より切替え部16によってユニット3aのテストプログ
ラムから次のユニット3bのテストプログラムに切り替
えられ、CI)U2の接続がユニット3bに切り替えら
れてテストが行われる。
より切替え部16によってユニット3aのテストプログ
ラムから次のユニット3bのテストプログラムに切り替
えられ、CI)U2の接続がユニット3bに切り替えら
れてテストが行われる。
一方終了信号により図示省略した終了表示ランプが点燈
する。終了表示ランプは少なくともテストされるユニッ
トの数が設けられていて、ユニ・7トのテストが終了す
る都度順次点燈数が増えて行 !11このようにして順
次ユニット3a乃至3eのテストを行うことができる。
する。終了表示ランプは少なくともテストされるユニッ
トの数が設けられていて、ユニ・7トのテストが終了す
る都度順次点燈数が増えて行 !11このようにして順
次ユニット3a乃至3eのテストを行うことができる。
もしテスト中に不良の判定が出た時は、他のテスト項目
が継続してテストできる場合にはそのま\ナストを続け
、不良項目に関連して継続テストができない場合には、
テストプログラム終了として次のユニット3bのテスト
に移行する。
が継続してテストできる場合にはそのま\ナストを続け
、不良項目に関連して継続テストができない場合には、
テストプログラム終了として次のユニット3bのテスト
に移行する。
そして何れの場合にも図示省略した不良表示ランプを点
燈させる。
燈させる。
不良判定をうりだユニットはすべてのユニット′ 3a
乃至3eのテストが終了した後に、取外して障害機とし
て必要な処置を受ける。そして処置が終った後、再びテ
ストに掛けられる。
乃至3eのテストが終了した後に、取外して障害機とし
て必要な処置を受ける。そして処置が終った後、再びテ
ストに掛けられる。
このようにしてプログラム部15にユニット3a乃至3
eのテストプログラムを記録することによって、前のユ
ニットのテストが終了した時に、次のユニット※に切り
替えてテストができるので、テスト中にオペレータが傍
にいる必要がなく、プログラムテスト中は他の作業を行
うことができるので作業効率が向上し、またユニット毎
のテスト終了による停止や不良判定による停止もないの
で試験Ia4の稼動効率が向上するというす」果がある
。
eのテストプログラムを記録することによって、前のユ
ニットのテストが終了した時に、次のユニット※に切り
替えてテストができるので、テスト中にオペレータが傍
にいる必要がなく、プログラムテスト中は他の作業を行
うことができるので作業効率が向上し、またユニット毎
のテスト終了による停止や不良判定による停止もないの
で試験Ia4の稼動効率が向上するというす」果がある
。
上記例ではプログラム部15に装着する磁気記録媒体に
フロッピーディスクを使用する例を説明したが、他の磁
気記録媒体1例えば磁気テープを ゛使用しても良いこ
とは勿論である。或いは着脱しない記録部材としてRA
M等を装備する方法でも同様の効果が得られる。
フロッピーディスクを使用する例を説明したが、他の磁
気記録媒体1例えば磁気テープを ゛使用しても良いこ
とは勿論である。或いは着脱しない記録部材としてRA
M等を装備する方法でも同様の効果が得られる。
またプログラムファイル17よりテストの対象となるユ
ニットのテストプログラムを読み出してフロッピーディ
スク或いは磁気テープに記録する 代りに、フロッピー
ディスク或いは磁気テープに特定装置の複数ユニットの
テストプログラムを記録しておいて、フロッピーディス
ク或いは磁気テープをその装置のテスト専用に使用する
ことにより同様の効果が得られる。この場合にはテスト
プログラムの管理がし易いという効果がある。
ニットのテストプログラムを読み出してフロッピーディ
スク或いは磁気テープに記録する 代りに、フロッピー
ディスク或いは磁気テープに特定装置の複数ユニットの
テストプログラムを記録しておいて、フロッピーディス
ク或いは磁気テープをその装置のテスト専用に使用する
ことにより同様の効果が得られる。この場合にはテスト
プログラムの管理がし易いという効果がある。
(g1発明の詳細
な説明したように本発明によれば、
■複数のユニットのテストが自動的に切り替えられて遂
行される。
行される。
■オペレータは最初の操作をするだけで良く、作業工数
が削減され作業効率が向上する。
が削減され作業効率が向上する。
■試験時間が短縮されて試験機の稼動すJ率を高めるこ
とができる。
とができる。
という効果がある。
第1図は従来方法を説明するブロック図、第2図は本発
明による実施例を示すブロック図、第3図は第2図のフ
ローチャートである。 図において、1は被試験体、2はCPU、3a〜3eは
ユニット、4,14は試験機、5.15はプログラム部
、6は判定部、7は表示部、8はデータ印字部、16は
20aは読取り部、20bは判定部、17はプログラム
ファイルを示す。 +1 図 早3昶
明による実施例を示すブロック図、第3図は第2図のフ
ローチャートである。 図において、1は被試験体、2はCPU、3a〜3eは
ユニット、4,14は試験機、5.15はプログラム部
、6は判定部、7は表示部、8はデータ印字部、16は
20aは読取り部、20bは判定部、17はプログラム
ファイルを示す。 +1 図 早3昶
Claims (1)
- 複数のユニットを制御部に接続した構成に成る装置を被
試験体とし、該被試験体に接続した試験機から供給され
るテストプログラムによって該被試験体のユニット毎に
順次テストを行う試験システムであって、ユニット対応
のテストプログラムオ各納領域と、一つのユニットのテ
ストプリンタが終了した時に、他のユニソ1−に対応す
るテストプログラムに切替え接続する切替手段とを備え
ることを特徴とする自動切替接続試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58151777A JPS6043774A (ja) | 1983-08-20 | 1983-08-20 | 自動切替接続試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58151777A JPS6043774A (ja) | 1983-08-20 | 1983-08-20 | 自動切替接続試験機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6043774A true JPS6043774A (ja) | 1985-03-08 |
Family
ID=15526067
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58151777A Pending JPS6043774A (ja) | 1983-08-20 | 1983-08-20 | 自動切替接続試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6043774A (ja) |
-
1983
- 1983-08-20 JP JP58151777A patent/JPS6043774A/ja active Pending
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