JPS6231433A - マイクロプログラムの不走行ステツプ検出装置 - Google Patents
マイクロプログラムの不走行ステツプ検出装置Info
- Publication number
- JPS6231433A JPS6231433A JP60171967A JP17196785A JPS6231433A JP S6231433 A JPS6231433 A JP S6231433A JP 60171967 A JP60171967 A JP 60171967A JP 17196785 A JP17196785 A JP 17196785A JP S6231433 A JPS6231433 A JP S6231433A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microprogram
- address
- memory
- written
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の目的
産業上の利用分野
本発明は、マイクロプログラムのデバッグなどに使用さ
れるマイクロプログラムの不走行ステップ検出装置に関
するものである。
れるマイクロプログラムの不走行ステップ検出装置に関
するものである。
従来の技術
最近、電子計算機システム内の中央処理装置をはじめと
する各種のデータ処理装置に、マイクロプログラム制御
方式が採用されている。
する各種のデータ処理装置に、マイクロプログラム制御
方式が採用されている。
従来、この種のマイクロプログラムの作成に欠くことの
できないデバッグは、机上の検討を経たのち、最終的に
は実際に走行させてみることにより行われていた。
できないデバッグは、机上の検討を経たのち、最終的に
は実際に走行させてみることにより行われていた。
発明が解決しようとする問題点
上記プログラムのデバッグにおいては、通常、デバッグ
に関する想定の不足や、装置異常等の設定の困難性など
から、マイクロプログラムに不走行ステップが生じる。
に関する想定の不足や、装置異常等の設定の困難性など
から、マイクロプログラムに不走行ステップが生じる。
従来、そのような不走行ステップを正確に把握して特別
な対策を講じる平文てをしていなかったため、出荷後に
デバッグ時の不走行ステップ部分にプログラムの欠陥が
発見される場合がある。
な対策を講じる平文てをしていなかったため、出荷後に
デバッグ時の不走行ステップ部分にプログラムの欠陥が
発見される場合がある。
このような事態は極めて希にしか生じないが、出荷後の
多量の装置を回収して修理するための費用は真人なもの
であり、また、発見が遅れた場合には顧客に多大な迷惑
を及ぼしてしまうおそれもある。
多量の装置を回収して修理するための費用は真人なもの
であり、また、発見が遅れた場合には顧客に多大な迷惑
を及ぼしてしまうおそれもある。
発明の構成
問題点を解決するための手段
上記従来技術の問題点を解決する本発明のマイクロプロ
グラムの不走行ステップ検出装置は、マイクロプログラ
ム制御装置内のマイクロプログラムメモリのアドレスに
対応するアドレスを有するメモリと、マイクロプログラ
ム制御装置の走行中にそのマイクロプログラム・メモリ
に供給されるアドレスに対応するアドレスを上記メモリ
に供給しつつ所定のデータを書込ませる制御手段とを備
えている。
グラムの不走行ステップ検出装置は、マイクロプログラ
ム制御装置内のマイクロプログラムメモリのアドレスに
対応するアドレスを有するメモリと、マイクロプログラ
ム制御装置の走行中にそのマイクロプログラム・メモリ
に供給されるアドレスに対応するアドレスを上記メモリ
に供給しつつ所定のデータを書込ませる制御手段とを備
えている。
本発明の好適な°一実施例においては、上記所定のデー
タは1ビツトのデータからなり、走行ステップと不走行
ステ・7プとが単純明快なビットマットとして表示され
る。
タは1ビツトのデータからなり、走行ステップと不走行
ステ・7プとが単純明快なビットマットとして表示され
る。
以下、本発明の作用を実施例と共に詳細に説明する。
実施例
第1図は、本発明の一実施例に係わるマイクロプログラ
ムの不走行ステップ検出装置の構成を、検出対象のマイ
クロプログラムが走行するマイクロプログラム制御装置
の一部と共に示すブロック図である。
ムの不走行ステップ検出装置の構成を、検出対象のマイ
クロプログラムが走行するマイクロプログラム制御装置
の一部と共に示すブロック図である。
検出対象のマイクロプログラム制御装置10は、マイク
ロプログラム・メモリ11.アドレスレジスタ12.マ
イクロ命令レジスタ13及びアドレスセレクタ14等を
備えた周知のものである。従って、その動作の説明は省
略する。
ロプログラム・メモリ11.アドレスレジスタ12.マ
イクロ命令レジスタ13及びアドレスセレクタ14等を
備えた周知のものである。従って、その動作の説明は省
略する。
本実施例に係わるマイクロプログラムの不走行ステップ
検出装置20は、メモリ21.アドレスセレクタ22.
書込みデータを保持するデータレジスタ23.メモリ2
1の書込み読出しを制御する制御回路24.アドレスカ
ウンタ25及びプリンタ26を備えている。
検出装置20は、メモリ21.アドレスセレクタ22.
書込みデータを保持するデータレジスタ23.メモリ2
1の書込み読出しを制御する制御回路24.アドレスカ
ウンタ25及びプリンタ26を備えている。
メモリ21は、マイクロプログラム制御装置10内に備
えられるマイクロプログラム・メモリ11と同一のアド
レスを有している。アドレスセレクタ22は、制御回路
24の選択指令に従って、マイクロプログラム制御装置
10内のアドレスレジスタ12の出力とアドレスカウン
タ25の出力の一方をメモリ21に供給する。データレ
ジスタ23は、論理“1”の書込みデータを保持してい
る。
えられるマイクロプログラム・メモリ11と同一のアド
レスを有している。アドレスセレクタ22は、制御回路
24の選択指令に従って、マイクロプログラム制御装置
10内のアドレスレジスタ12の出力とアドレスカウン
タ25の出力の一方をメモリ21に供給する。データレ
ジスタ23は、論理“1”の書込みデータを保持してい
る。
マイクロプログラム制御回路10では、マイクロプログ
ラム・メモリ11内に格納されているマイクロプログラ
ムのデバッグを目的として、図示しない主記憶装置に格
納されている試験用プログラムが実行される。この試験
用プログラムは、マイクロプログラム・メモリ11内の
マイクロプログラムのうちできるだけ多くのステップが
実行されるように考慮して作成される。
ラム・メモリ11内に格納されているマイクロプログラ
ムのデバッグを目的として、図示しない主記憶装置に格
納されている試験用プログラムが実行される。この試験
用プログラムは、マイクロプログラム・メモリ11内の
マイクロプログラムのうちできるだけ多くのステップが
実行されるように考慮して作成される。
制御回路24は、マイクロプログラム制御装置10の動
作開始に先立って、外部から書込み指令を受けると、メ
モリ21の全てのアドレスの内容を論理“0”に初期設
定し、データレジスタ23に論理“1”の書込みデータ
を設定する。また、制御回路24は、アドレスレジスタ
12から出力されるアドレスを選択してメモリ21に供
給することをアドレスセレクタ22に指令する。
作開始に先立って、外部から書込み指令を受けると、メ
モリ21の全てのアドレスの内容を論理“0”に初期設
定し、データレジスタ23に論理“1”の書込みデータ
を設定する。また、制御回路24は、アドレスレジスタ
12から出力されるアドレスを選択してメモリ21に供
給することをアドレスセレクタ22に指令する。
この後、マイクロプログラム制御装置10の動作が開始
されて、アドレスレジスタ12から最初のマイクロ命令
を読出すためのアドレスが出力されると、これを検出し
た制御回路24はメモリ21に連なるリード/ライト信
号線R/W上にライト指令を出力する。この結果、メモ
リ11内のマイクロプログラム・メモリ11と同一のア
ドレスに、レジスタ23に保持されている論理の“1”
が書込まれる。
されて、アドレスレジスタ12から最初のマイクロ命令
を読出すためのアドレスが出力されると、これを検出し
た制御回路24はメモリ21に連なるリード/ライト信
号線R/W上にライト指令を出力する。この結果、メモ
リ11内のマイクロプログラム・メモリ11と同一のア
ドレスに、レジスタ23に保持されている論理の“1”
が書込まれる。
次のアドレスがアドレスレジスタ12から読出されると
、これを検出した制御回路24はメモリ21に連なるリ
ード/ライト信号線R/W上にライト指令を出力する。
、これを検出した制御回路24はメモリ21に連なるリ
ード/ライト信号線R/W上にライト指令を出力する。
この結果、メモリ11内のマイクロプログラム・メモリ
11と同一のアドレスに、データレジスタ23に保持さ
れている論理の“1”が書込まれる。
11と同一のアドレスに、データレジスタ23に保持さ
れている論理の“1”が書込まれる。
以下、同様にして、マイクロプログラム制御装置10の
アドレスレジスタから出力されたアドレスと同一のアド
レスを有するメモリ21内に論理の“1”が書込まれ行
く。同一のマイクロ命令が複数回実行された場合には、
そのつど論理“1”のデータが上書きされてゆく。
アドレスレジスタから出力されたアドレスと同一のアド
レスを有するメモリ21内に論理の“1”が書込まれ行
く。同一のマイクロ命令が複数回実行された場合には、
そのつど論理“1”のデータが上書きされてゆく。
従って、マイクロプログラム制御装置10の動作が終了
した時点においては、マイクロプログラムの走行ステッ
プのアドレスに対応するメモリ11のアドレスには、論
理“1”が書込まれ、不走行ステップのアドレスに対応
するアドレスには論理“0″が残されている。
した時点においては、マイクロプログラムの走行ステッ
プのアドレスに対応するメモリ11のアドレスには、論
理“1”が書込まれ、不走行ステップのアドレスに対応
するアドレスには論理“0″が残されている。
制御回路24は、この書込みの終了後、外部からの出し
指令を受けると、アドレスカウンタ25の出力を選択し
てメモリ21に供給することをセレクタ22に指令し、
アドレスカウンタ25を最初のアドレスに設定する。次
に、制御回路24は、メモリ21に連なるリード/ライ
ト信号線R/W上にライト指令を発する。引続き、制御
回路24は、アドレス歩進指令をアドレスカウンタ25
に、ライト指令をメモリ11に発しつつ走行、不走行デ
ータをプリンタ26に出力させる。
指令を受けると、アドレスカウンタ25の出力を選択し
てメモリ21に供給することをセレクタ22に指令し、
アドレスカウンタ25を最初のアドレスに設定する。次
に、制御回路24は、メモリ21に連なるリード/ライ
ト信号線R/W上にライト指令を発する。引続き、制御
回路24は、アドレス歩進指令をアドレスカウンタ25
に、ライト指令をメモリ11に発しつつ走行、不走行デ
ータをプリンタ26に出力させる。
この結果、メモリ21の内容がアドレス順にプリンタ2
6に出力される。メモリ21に供給されるアドレスも同
時にプリンタ26に出力される。
6に出力される。メモリ21に供給されるアドレスも同
時にプリンタ26に出力される。
このように、プリンタ26には、第2図に示すような、
メモリ11の読出しアドレスとその内容である“1”
、“0″のビットマツプが印字される。このビットマツ
プ上で、0”の部分は、マイクロプログラムの不走行ス
テップであることを直裁に表示している。
メモリ11の読出しアドレスとその内容である“1”
、“0″のビットマツプが印字される。このビットマツ
プ上で、0”の部分は、マイクロプログラムの不走行ス
テップであることを直裁に表示している。
以上、メモリ11内に1ビツトのデータを書込みむ構成
を例示したが、所定のデータである限りこれに限定され
ない。
を例示したが、所定のデータである限りこれに限定され
ない。
また、プリンタへの出力の便宜上、メモリ11内にメモ
リ11自身のアドレスを所定のデータと対にして書込む
構成としてもよい。
リ11自身のアドレスを所定のデータと対にして書込む
構成としてもよい。
また、メモリ21の出力側に比較回路を設け、不走行ス
テップに関する情報のみを選択的に出力するように構成
してもよい。
テップに関する情報のみを選択的に出力するように構成
してもよい。
発明の効果
以上詳細に説明したように本発明の装置は、簡易なハー
ドウェアにより、デバッグ対象のマイクロプログラムの
不走行ステップを迅速・確実に把握できるという効果が
奏される。
ドウェアにより、デバッグ対象のマイクロプログラムの
不走行ステップを迅速・確実に把握できるという効果が
奏される。
そのような不走行ステップには、重点的な机上検討を施
したり、その部分が走行するように疑似的な異常動作等
を追加して再デバッグを実施したりすることにより、デ
バッグ漏れによる不良品の発生を回避できる。この結果
、不良品の回収や修理等に必要になるかもしれない真人
な出費を未然に防げるだけでなく、顧客に対する信用も
維持できる。
したり、その部分が走行するように疑似的な異常動作等
を追加して再デバッグを実施したりすることにより、デ
バッグ漏れによる不良品の発生を回避できる。この結果
、不良品の回収や修理等に必要になるかもしれない真人
な出費を未然に防げるだけでなく、顧客に対する信用も
維持できる。
第1図は本発明の一実施例に係わるマイクロプログラム
の不走行ステップ検出装置の構成をマイクロプログラム
制御装置の構成と共に示すブロック図、第2図は第1図
の検出装置による検出結果の一例を示す概念図である。 10・・マイクロプログラム制御装置、11・・アドレ
スレジスタ、20・・本発明の一実施例に係わるマイク
ロプログラムの不走行ステップ検出装置、21・・メモ
リ、22・・アドレスセレクタ、23・・書込みデータ
を保持するデータレジスタ、24・・制御回路、25・
・アドレスカウンタ、26・・プリンタ。
の不走行ステップ検出装置の構成をマイクロプログラム
制御装置の構成と共に示すブロック図、第2図は第1図
の検出装置による検出結果の一例を示す概念図である。 10・・マイクロプログラム制御装置、11・・アドレ
スレジスタ、20・・本発明の一実施例に係わるマイク
ロプログラムの不走行ステップ検出装置、21・・メモ
リ、22・・アドレスセレクタ、23・・書込みデータ
を保持するデータレジスタ、24・・制御回路、25・
・アドレスカウンタ、26・・プリンタ。
Claims (2)
- (1)マイクロプログラム制御装置内で実行されるマイ
クロプログラムの不走行ステップを検出する装置であっ
て、 前記マイクロプログラム制御装置内のマイクロプログラ
ムメモリのアドレスに対応するアドレスを有するメモリ
と、 前記マイクロプログラム制御装置の走行中にそのマイク
ロプログラム・メモリに供給されるアドレスに対応する
アドレスを前記メモリに供給しつつ所定のデータを書込
ませる制御手段とを備えたことを特徴とするマイクロプ
ログラムの不走行ステップ検出装置。 - (2)前記所定のデータは、1ビットのデータであるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のマイクロプ
ログラムの不走行ステップ検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60171967A JPS6231433A (ja) | 1985-08-03 | 1985-08-03 | マイクロプログラムの不走行ステツプ検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60171967A JPS6231433A (ja) | 1985-08-03 | 1985-08-03 | マイクロプログラムの不走行ステツプ検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6231433A true JPS6231433A (ja) | 1987-02-10 |
Family
ID=15933075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60171967A Pending JPS6231433A (ja) | 1985-08-03 | 1985-08-03 | マイクロプログラムの不走行ステツプ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6231433A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56159747A (en) * | 1980-05-15 | 1981-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | Program testing device |
| JPS59158450A (ja) * | 1983-02-28 | 1984-09-07 | Omron Tateisi Electronics Co | プログラムテスト装置 |
| JPS6011943A (ja) * | 1983-06-30 | 1985-01-22 | Fujitsu Ltd | テストプログラム検証方式 |
-
1985
- 1985-08-03 JP JP60171967A patent/JPS6231433A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56159747A (en) * | 1980-05-15 | 1981-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | Program testing device |
| JPS59158450A (ja) * | 1983-02-28 | 1984-09-07 | Omron Tateisi Electronics Co | プログラムテスト装置 |
| JPS6011943A (ja) * | 1983-06-30 | 1985-01-22 | Fujitsu Ltd | テストプログラム検証方式 |
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