JPS6048681B2 - 測定ヘツド - Google Patents
測定ヘツドInfo
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- JPS6048681B2 JPS6048681B2 JP53030500A JP3050078A JPS6048681B2 JP S6048681 B2 JPS6048681 B2 JP S6048681B2 JP 53030500 A JP53030500 A JP 53030500A JP 3050078 A JP3050078 A JP 3050078A JP S6048681 B2 JPS6048681 B2 JP S6048681B2
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- JP
- Japan
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- measuring head
- measuring
- parts
- bearing
- sensor
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/004—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
- G01B7/008—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
- G01B7/012—Contact-making feeler heads therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
- G01B11/005—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
- G01B11/007—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines feeler heads therefor
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S33/00—Geometrical instruments
- Y10S33/02—Air
-
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- Y10S33/00—Geometrical instruments
- Y10S33/03—Photoelectric
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S33/13—Wire and strain gauges
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ケーシングに固定された部分および丁該部
分に対して相対的にに運動し、1つまたは複数の接触形
センサを支持する部分とから構成された測定ヘッドであ
つて、該測定ヘッドの固定部分と可動部分とを、休止位
置乃至零位置を決める支承部を介してリンク連結した形
式の、測定ヘッドに対して相対的に移動する工作物の任
意の点の空間的な座標を測定するための測定ヘッドに関
する。
分に対して相対的にに運動し、1つまたは複数の接触形
センサを支持する部分とから構成された測定ヘッドであ
つて、該測定ヘッドの固定部分と可動部分とを、休止位
置乃至零位置を決める支承部を介してリンク連結した形
式の、測定ヘッドに対して相対的に移動する工作物の任
意の点の空間的な座標を測定するための測定ヘッドに関
する。
’“平行四辺形の2つの相対する辺の形式で配置されて
いる板ばね’’を有するばね平行四辺形リンクとして構
成されておりかつ空間的な座標機構を形成する、ねじれ
に強く並列に配置されている遊びおよび摩擦のない直線
案内機構に、センサが固定されている、多座標センサと
も称されているこ :の種の測定ヘッドは公知である。
いる板ばね’’を有するばね平行四辺形リンクとして構
成されておりかつ空間的な座標機構を形成する、ねじれ
に強く並列に配置されている遊びおよび摩擦のない直線
案内機構に、センサが固定されている、多座標センサと
も称されているこ :の種の測定ヘッドは公知である。
工作物の走査の際ばね平行四辺形リンクの1つが向きを
変え、所属する信号発生器を介して走査パルスを発生す
る。この種のセンサは非常に正確だが精密な構造を要と
し、従つて比較的高価である。更に走査パルスをトリガ
するために所属のばね平行四辺形リンクを偏向するため
に十分である所定の力を必要とする。座標測定機に固定
されている部分にV字形支承部が設けられている測定ヘ
ッドも公知である。
変え、所属する信号発生器を介して走査パルスを発生す
る。この種のセンサは非常に正確だが精密な構造を要と
し、従つて比較的高価である。更に走査パルスをトリガ
するために所属のばね平行四辺形リンクを偏向するため
に十分である所定の力を必要とする。座標測定機に固定
されている部分にV字形支承部が設けられている測定ヘ
ッドも公知である。
この支承部に、可動部分に結合されている延長部分の環
状断面が、ばねの作用により係止される。工作物の走査
の際測定ヘッド可動部分に固定されているセンサが決め
られているその休止位置から連動し、その際延長部の少
なくとも1つが所属のV−字形支承部から持上げられる
。これにより電流回路が遮断されるかまたは別個の回路
素子が作動され、この結果走査パルスが発生される。こ
の場合も走査パルスをトリガするために延長部分を所属
の支承部から引上げるに十分な所定の!力が必要である
。
状断面が、ばねの作用により係止される。工作物の走査
の際測定ヘッド可動部分に固定されているセンサが決め
られているその休止位置から連動し、その際延長部の少
なくとも1つが所属のV−字形支承部から持上げられる
。これにより電流回路が遮断されるかまたは別個の回路
素子が作動され、この結果走査パルスが発生される。こ
の場合も走査パルスをトリガするために延長部分を所属
の支承部から引上げるに十分な所定の!力が必要である
。
固有のセンサが基体に対して可動である測定センサおよ
び走査の際行なわれる相対運動が容量的、抵抗的、誘導
的または空気力的な変位信号発生器を用いて座標装置に
おいて測定される測定セニンサも公知である。
び走査の際行なわれる相対運動が容量的、抵抗的、誘導
的または空気力的な変位信号発生器を用いて座標装置に
おいて測定される測定セニンサも公知である。
測定センサが被検査品に所定力で押圧されると、スイッ
チを介して相対運動が遮断される。このセンサにおいて
も測定信号をトリガするために、センサと基体の間の相
対運動を開始させるために十分な、所定の力が必要であ
4る。本発明の課題は、走査パルスをトリガするのに必
要なりを実際に任意に小さく維持でき、工作物の走査が
早い場合でも測定ヘッドの破壊が測定対象物の弾性変形
と同様に回避される、安価な測定ヘッドを提供すること
である。
チを介して相対運動が遮断される。このセンサにおいて
も測定信号をトリガするために、センサと基体の間の相
対運動を開始させるために十分な、所定の力が必要であ
4る。本発明の課題は、走査パルスをトリガするのに必
要なりを実際に任意に小さく維持でき、工作物の走査が
早い場合でも測定ヘッドの破壊が測定対象物の弾性変形
と同様に回避される、安価な測定ヘッドを提供すること
である。
この課題は本発明により、測定ヘッドの可動部分を、相
互に固定連結されている2つの部分から構成し、これら
の部分の間に引張および圧縮に高域度に応答する測定素
子を設けることによつて解決される。
互に固定連結されている2つの部分から構成し、これら
の部分の間に引張および圧縮に高域度に応答する測定素
子を設けることによつて解決される。
測定素子として有利には機械的および/または電気的刺
戟に敏惑に応答するセンサ、例えばストフレンゲージ素
子または圧電素子が用いられる。
戟に敏惑に応答するセンサ、例えばストフレンゲージ素
子または圧電素子が用いられる。
測定ヘッドの可動部分自体は、センサを装着するために
用いられる第1の部分およびリンク連結部材に連結され
ている第2の部分とから構成されている。これら2つの
部分は面状に隣接しており.かつ相互に例えばねじ締め
、接着リベット締めまたは溶接等により固定連結されて
おり、その際上記平面間に測定素子が設けられている。
可動部分に固定されたセンサに加わる僅かな、殆んど測
定できない力でも、測定ヘッド可動部分の2つの部分が
固定連結されているにも拘わらず両部分の間に位置する
敏感に応答する測定素子が応動するように作用する。
用いられる第1の部分およびリンク連結部材に連結され
ている第2の部分とから構成されている。これら2つの
部分は面状に隣接しており.かつ相互に例えばねじ締め
、接着リベット締めまたは溶接等により固定連結されて
おり、その際上記平面間に測定素子が設けられている。
可動部分に固定されたセンサに加わる僅かな、殆んど測
定できない力でも、測定ヘッド可動部分の2つの部分が
固定連結されているにも拘わらず両部分の間に位置する
敏感に応答する測定素子が応動するように作用する。
これら測定素子によつて発生される信号は、レベルが調
節可能であるトリガ回路に供給される。信号がこのレベ
ルを上回るや否や走査パルスがトリガされ、このパルス
がこの瞬間に座標測定機の測定機構に加えられるデータ
を固定する。測定素子によつて発生される信号を評価す
るための電気的な回路素子は有利には測定ヘッド自体に
設けられている。センサの感度は信号レベルの調節に依
存する。
節可能であるトリガ回路に供給される。信号がこのレベ
ルを上回るや否や走査パルスがトリガされ、このパルス
がこの瞬間に座標測定機の測定機構に加えられるデータ
を固定する。測定素子によつて発生される信号を評価す
るための電気的な回路素子は有利には測定ヘッド自体に
設けられている。センサの感度は信号レベルの調節に依
存する。
このレベルが非常に低く設定されると、その際感度は高
くなるが測定機または測定ヘッドの考慮しない振動にお
いて信号がトリガされてしまうという結果を伴う。これ
による誤測定を回避するために本発明によれば、第1の
、即ち本来の走査パルスは、調節可能な時間内で第2の
パルス、所謂識別パルスが発生されたときに測定値検出
装置に転送される。工作物の走査の際走査パルスのトリ
ガ後工作物乃至測定機械の運動が制動される。
くなるが測定機または測定ヘッドの考慮しない振動にお
いて信号がトリガされてしまうという結果を伴う。これ
による誤測定を回避するために本発明によれば、第1の
、即ち本来の走査パルスは、調節可能な時間内で第2の
パルス、所謂識別パルスが発生されたときに測定値検出
装置に転送される。工作物の走査の際走査パルスのトリ
ガ後工作物乃至測定機械の運動が制動される。
この制動は物質の慣性の理由から突然に行なわれること
はありえないのでセンサは或る時間の間工作物に当接し
たままである。この時間の間センサの弾性変形が生じ、
最終的に測定ヘッド固定部分と測定ヘッド可動部分との
間にリンク連結部材が餌いて、この結果センサの偏位運
動が釈放される。走査過程のこの経過は、所定の時間後
同様に測定素子から識別パルスを導出することを可能に
するが、センサの偏位運動の際この第2のパルスを.発
生する回路素子をリンク連結部材に設けることもできる
。
はありえないのでセンサは或る時間の間工作物に当接し
たままである。この時間の間センサの弾性変形が生じ、
最終的に測定ヘッド固定部分と測定ヘッド可動部分との
間にリンク連結部材が餌いて、この結果センサの偏位運
動が釈放される。走査過程のこの経過は、所定の時間後
同様に測定素子から識別パルスを導出することを可能に
するが、センサの偏位運動の際この第2のパルスを.発
生する回路素子をリンク連結部材に設けることもできる
。
細長いセンサの使用も可能にし、にも拘わらず工作物の
第1の走査において既に走査パルスを得るために、測定
素子をセンサの検知球の直接近傍に設けると有利である
。
第1の走査において既に走査パルスを得るために、測定
素子をセンサの検知球の直接近傍に設けると有利である
。
測定ヘッド固定および可動部分の間の継手部材は種々に
構成できる。
構成できる。
センサが工作物から持上げる際にそれから自由になるセ
ンサの3方向の位置が再度非常に正確に復帰されること
が保証されなければならない。次に本発明を図面を用い
て詳細に説明する。
ンサの3方向の位置が再度非常に正確に復帰されること
が保証されなければならない。次に本発明を図面を用い
て詳細に説明する。
第1図には測定ヘッドのケーシングに固定された部分1
が示されている。測定ヘッドはフランジ2を介して図示
されていない座標測定機に固定連結されている。部分1
に対して相対的に可動である測定ヘッド部分は3で示さ
れており、センサ4を支持している。固定部分1には延
長部1a,1bおよび1cが設けられている。これらの
延長部の各々には軸受球5a,5b,5cが固定連結さ
れている。第2図に示されているように可動の測定ヘッ
ド部分3は2つの部分3aおよび3bから成つている。
これらの2つの部分は部分3aの端面と部分3bの端面
が隣接している。部分3aおよび3bは相互に例えばね
じ取付接着、溶接、リベット締めまで固定連結されてい
るが、その際2つの部分の間には周囲に均等に配置され
ている3つの圧電素子が設けらている。第2図ではこれ
らの素子のうち1つが見え、6で示されている。環状の
部分3bの底面には周囲に均等に配置されている3つの
軸受球7a,7b,7cが固定連結されている。
が示されている。測定ヘッドはフランジ2を介して図示
されていない座標測定機に固定連結されている。部分1
に対して相対的に可動である測定ヘッド部分は3で示さ
れており、センサ4を支持している。固定部分1には延
長部1a,1bおよび1cが設けられている。これらの
延長部の各々には軸受球5a,5b,5cが固定連結さ
れている。第2図に示されているように可動の測定ヘッ
ド部分3は2つの部分3aおよび3bから成つている。
これらの2つの部分は部分3aの端面と部分3bの端面
が隣接している。部分3aおよび3bは相互に例えばね
じ取付接着、溶接、リベット締めまで固定連結されてい
るが、その際2つの部分の間には周囲に均等に配置され
ている3つの圧電素子が設けらている。第2図ではこれ
らの素子のうち1つが見え、6で示されている。環状の
部分3bの底面には周囲に均等に配置されている3つの
軸受球7a,7b,7cが固定連結されている。
第2図にはこれらの軸受球にうち7aが示されている。
中間リング8は図示の実施例においては周囲に均等に配
置されている3つの つ支承部分8a−8cを有してい
る。固定部分1には引張ばね9が設けられている。この
ばねは鎖または線材を介して中間リング8に連結されて
おり、このリングを部分1に引張る。その際5a,5b
および5cは中間リング8の支承部分8a,8b,8c
に係合している。可動部分3はその球7a,7b,7c
により中間リング8の相応の支承部分8a,8b,8c
に係合しており、一対が10で示されている磁石を用い
て休止位置に保持される。電気回路素子11は部分3a
に設けられており、測定素子6から供給される信号を本
来の測定信号に変換するのに用いられる。
中間リング8は図示の実施例においては周囲に均等に配
置されている3つの つ支承部分8a−8cを有してい
る。固定部分1には引張ばね9が設けられている。この
ばねは鎖または線材を介して中間リング8に連結されて
おり、このリングを部分1に引張る。その際5a,5b
および5cは中間リング8の支承部分8a,8b,8c
に係合している。可動部分3はその球7a,7b,7c
により中間リング8の相応の支承部分8a,8b,8c
に係合しており、一対が10で示されている磁石を用い
て休止位置に保持される。電気回路素子11は部分3a
に設けられており、測定素子6から供給される信号を本
来の測定信号に変換するのに用いられる。
第1図および第2図に示されている測定ヘッドは次の様
に作動する。
に作動する。
測定ヘッドは測定機械に対して相対的に、測定すべき工
作物上を移動する。センサ4が工作物に最初に接触する
と測定素子6が応答し、信号を発生する。この信号の経
過は例えば第7図に示されている。回路素子11はレベ
ルが調節可能であるトリガ回路を含んでいる。測定信号
がトリガ回路のレベルを越えるや否や、パルスがトリガ
される。その際このパルスは測定機械の測定機構に瞬間
的に加えられるゼータを固定する。この時点は第7図で
はT,で示されている。走査過程か更に経過すると測定
機械の運動の制動が始まる。その際センサ4の最初の弾
性変形が生じる。このセンサ、従つて可動部分3に作用
する力は、この部分が最終的に中間リング8に対して移
動するまで大きくなる。このようにしてセンサ4の、可
動部分3と共働した偏位運動が可能になり、この結果測
定ヘッドの破壊は走査された工作物の可塑変形と同様に
防止される。可動部分3の偏位運動の際軸受球5a,5
b,5cまたは7a,7b,7cの少なくとも1つが中
間リング8のそれらに対応する支承部分から持上る。ト
リガ回路のレベルを低く調節した場合、即ち測定ヘッド
の感度が高い場合、調節可能な時間後回路素子11によ
り第7図てちて示されている時7点で再度、測定素子6
にまた電圧が加わつているのが読出される。
作物上を移動する。センサ4が工作物に最初に接触する
と測定素子6が応答し、信号を発生する。この信号の経
過は例えば第7図に示されている。回路素子11はレベ
ルが調節可能であるトリガ回路を含んでいる。測定信号
がトリガ回路のレベルを越えるや否や、パルスがトリガ
される。その際このパルスは測定機械の測定機構に瞬間
的に加えられるゼータを固定する。この時点は第7図で
はT,で示されている。走査過程か更に経過すると測定
機械の運動の制動が始まる。その際センサ4の最初の弾
性変形が生じる。このセンサ、従つて可動部分3に作用
する力は、この部分が最終的に中間リング8に対して移
動するまで大きくなる。このようにしてセンサ4の、可
動部分3と共働した偏位運動が可能になり、この結果測
定ヘッドの破壊は走査された工作物の可塑変形と同様に
防止される。可動部分3の偏位運動の際軸受球5a,5
b,5cまたは7a,7b,7cの少なくとも1つが中
間リング8のそれらに対応する支承部分から持上る。ト
リガ回路のレベルを低く調節した場合、即ち測定ヘッド
の感度が高い場合、調節可能な時間後回路素子11によ
り第7図てちて示されている時7点で再度、測定素子6
にまた電圧が加わつているのが読出される。
時i鼎2−T,は短く、この時間は100msのオーダ
であるのてその種の電圧は如何なる場合にも存在しかつ
所謂識別パルスを発生する第2のパルスになる。この第
2のパルスは、第1フの、即ち本来の走査パルスやここ
には図示されていない評価回路に転送されるように作用
する。制動過程が終了し、センサ4が走査された工作物
から再度離れると、それから再度接触のないセンサ4は
第1図および第2図に図示の支承部材を介して再度その
3方向の位置に正確に復帰し、次の走査に備える。測定
ヘッドを用いて工作物の例えば水平に存在する孔の内部
走査を行う場合センサ4の第1図に図示の垂直な延長部
が工作物内面にあたる。
であるのてその種の電圧は如何なる場合にも存在しかつ
所謂識別パルスを発生する第2のパルスになる。この第
2のパルスは、第1フの、即ち本来の走査パルスやここ
には図示されていない評価回路に転送されるように作用
する。制動過程が終了し、センサ4が走査された工作物
から再度離れると、それから再度接触のないセンサ4は
第1図および第2図に図示の支承部材を介して再度その
3方向の位置に正確に復帰し、次の走査に備える。測定
ヘッドを用いて工作物の例えば水平に存在する孔の内部
走査を行う場合センサ4の第1図に図示の垂直な延長部
が工作物内面にあたる。
測定ヘッドの測定に用いられる上向運動において中間リ
ング8は可動部分3と共働して固定部分1に対して移動
し、その際軸受球5a,5b,5cが中間リング8のそ
れらに相応する支承部分から移動する。従つてリンク連
結部材を図示および既述のJように構成することにより
測定ヘッドの上向運動の際の走査機構が破壊されるのが
回避される。第3図および第4図に図示の実施例におい
て測定ヘッド固定部分は12で示されている。測定ヘッ
ド可動部分はセンサ14を支持する2つの相互に固定連
結されている部分13aおよび13bから成つている。
部分13aおよび13bは平らな表面に沿つて相互に隣
接しており、両部分の間には例えは圧電素子として形成
されている測定素子16a,16b,16c,16dお
よび16fが設けられている。素子16aおよび16b
は例えばX一方向のセンシング走査の測定をし、素子1
6dおよび16cはY一方向のセンシング走査の測定を
し、素子16fはZ一方向のセンシング走査の測定をす
る。可動部分13bはその外周上に均等に配置されてい
る3つの軸受球17a,17bおよび17cと連結され
ている。
ング8は可動部分3と共働して固定部分1に対して移動
し、その際軸受球5a,5b,5cが中間リング8のそ
れらに相応する支承部分から移動する。従つてリンク連
結部材を図示および既述のJように構成することにより
測定ヘッドの上向運動の際の走査機構が破壊されるのが
回避される。第3図および第4図に図示の実施例におい
て測定ヘッド固定部分は12で示されている。測定ヘッ
ド可動部分はセンサ14を支持する2つの相互に固定連
結されている部分13aおよび13bから成つている。
部分13aおよび13bは平らな表面に沿つて相互に隣
接しており、両部分の間には例えは圧電素子として形成
されている測定素子16a,16b,16c,16dお
よび16fが設けられている。素子16aおよび16b
は例えばX一方向のセンシング走査の測定をし、素子1
6dおよび16cはY一方向のセンシング走査の測定を
し、素子16fはZ一方向のセンシング走査の測定をす
る。可動部分13bはその外周上に均等に配置されてい
る3つの軸受球17a,17bおよび17cと連結され
ている。
これらの軸受球のうち第3図ては球17aおよび17b
が見えている。測定ヘッド固定部分12は3つの軸受球
15a,15.b,15cと固定連結されている。中間
リング18は図示の実施例においてその周囲に均等に配
置されている3つのV字形支承部18a,18b,18
cを有している。V字形支承部18aに軸受球17aお
よび15aが係合される。はね19は.中間リング18
を固定部分12に押圧する。ばね20は可動部分13b
を中間リング18に引張る。第3図および第4図に図示
の測定ヘッドの作動は第1図および第2図の測定ヘッド
の作動と基本・的に一致する。
が見えている。測定ヘッド固定部分12は3つの軸受球
15a,15.b,15cと固定連結されている。中間
リング18は図示の実施例においてその周囲に均等に配
置されている3つのV字形支承部18a,18b,18
cを有している。V字形支承部18aに軸受球17aお
よび15aが係合される。はね19は.中間リング18
を固定部分12に押圧する。ばね20は可動部分13b
を中間リング18に引張る。第3図および第4図に図示
の測定ヘッドの作動は第1図および第2図の測定ヘッド
の作動と基本・的に一致する。
この場合もX方向およびY方向にふれると測定ヘッド可
動部分13aおよび13biはセンサ14と協働し中間
リング18に対し相対 ;運動し、その際球17a,1
7b,17cまたは15a,15b,15cの少なくと
も1つがリング18の対応するV字形支承部を離れる。
第3図の中間リング18には図示の実施例においてはV
字形支承部が設けられている。
動部分13aおよび13biはセンサ14と協働し中間
リング18に対し相対 ;運動し、その際球17a,1
7b,17cまたは15a,15b,15cの少なくと
も1つがリング18の対応するV字形支承部を離れる。
第3図の中間リング18には図示の実施例においてはV
字形支承部が設けられている。
しカルこの支承部の代りに第5図の実施例に示されてい
るような別のものを使用することもできる。その際中間
リング28は2つのV字形支承部21および22同様に
2つの平らな支承板分23および24を支持している。
更に別の支承部25は逆ピラミッド形に構成されている
。この支承部により達せられる効果、即ち軸受球の正確
な位置定めは支承部26を用いても達せられる。この支
承部は3つの球から成り、その真中に軸受球が係合され
る。第1図の実施例においては第5図の支承部21,2
3,25に相応する支承部が中間リング8に用いられて
いる。第6図には軸受球35に係合されている中間リン
グ38の部分断面図が示されている。
るような別のものを使用することもできる。その際中間
リング28は2つのV字形支承部21および22同様に
2つの平らな支承板分23および24を支持している。
更に別の支承部25は逆ピラミッド形に構成されている
。この支承部により達せられる効果、即ち軸受球の正確
な位置定めは支承部26を用いても達せられる。この支
承部は3つの球から成り、その真中に軸受球が係合され
る。第1図の実施例においては第5図の支承部21,2
3,25に相応する支承部が中間リング8に用いられて
いる。第6図には軸受球35に係合されている中間リン
グ38の部分断面図が示されている。
この際測定ヘッド可動部分33に中間リング38が対応
しており、このリングは中空球状に形成されている支承
個所を有する。これは例えば部分33の軸受球に相応し
て成形することにより形成され、それから嵌込部39の
形で中間リング38に固定される。孔34を介して有利
には空気が支承個所に送られ、この結果球35は薄い空
気クッション上に停止している。孔32を介して空気力
的なセンサ31が接続されている。このセンサは部分3
5および39のギャップ幅が変化しないように作用する
。この種の空気力的な測定センサは走査過程の際第2の
パルスをトリガするために使用できる。第8図には2つ
の部分44および45から成るセンサが図示されている
。この2つの部分は延長部45a,45b,45cを介
して相互に固定連結されている。それらの間には3分割
された圧電素子46が設けられている。この素子を用い
て3つ全部の座標方向が検出される。第8図および第9
図に図示のセンサは、測定素子46が検知球の直接近傍
に設けられているという利点を有する。
しており、このリングは中空球状に形成されている支承
個所を有する。これは例えば部分33の軸受球に相応し
て成形することにより形成され、それから嵌込部39の
形で中間リング38に固定される。孔34を介して有利
には空気が支承個所に送られ、この結果球35は薄い空
気クッション上に停止している。孔32を介して空気力
的なセンサ31が接続されている。このセンサは部分3
5および39のギャップ幅が変化しないように作用する
。この種の空気力的な測定センサは走査過程の際第2の
パルスをトリガするために使用できる。第8図には2つ
の部分44および45から成るセンサが図示されている
。この2つの部分は延長部45a,45b,45cを介
して相互に固定連結されている。それらの間には3分割
された圧電素子46が設けられている。この素子を用い
て3つ全部の座標方向が検出される。第8図および第9
図に図示のセンサは、測定素子46が検知球の直接近傍
に設けられているという利点を有する。
従つて工作物の走査の際即座に走査パルスが発生される
。即ちこのパルスは音波ガイドを介して上部に設けられ
ている測定素子に転送される必要がない。従つてセンサ
は有利には細長く構成てきるものにも拘わらす非常に正
確でかつ正確に再現可能な測定結果を来たす。第10図
には測定ヘッドの別の実施例が示されている。
。即ちこのパルスは音波ガイドを介して上部に設けられ
ている測定素子に転送される必要がない。従つてセンサ
は有利には細長く構成てきるものにも拘わらす非常に正
確でかつ正確に再現可能な測定結果を来たす。第10図
には測定ヘッドの別の実施例が示されている。
測定ヘッド固定部分は52で示されており、一方センサ
54に連結されている測定ヘッド可動部分は55が付さ
れている。部分52と55の間に弾性ベローズ56が設
けられており、この;ベローズには振動を回避するため
にオイルが充填されている。圧電測定素子は既述の実施
例におけるように測定ヘッド可動部分55に設けられて
いる。リンク連結部材、即ち弾性ベローズにはこの場合
例えばストレンゲージ素子が設けられてい−る。このス
トレンゲージ素子はセンサ54がふれ運動すると第2の
パルスに処理できる信号を供給する。ストレンゲージは
例えば57で示されているものである。弾性ベローズ5
6の代わりにコイルばねを設けることができる。
54に連結されている測定ヘッド可動部分は55が付さ
れている。部分52と55の間に弾性ベローズ56が設
けられており、この;ベローズには振動を回避するため
にオイルが充填されている。圧電測定素子は既述の実施
例におけるように測定ヘッド可動部分55に設けられて
いる。リンク連結部材、即ち弾性ベローズにはこの場合
例えばストレンゲージ素子が設けられてい−る。このス
トレンゲージ素子はセンサ54がふれ運動すると第2の
パルスに処理できる信号を供給する。ストレンゲージは
例えば57で示されているものである。弾性ベローズ5
6の代わりにコイルばねを設けることができる。
如何なる場合もリンク連結機構が接触のないセンサの3
方向の位置を正確に決めかつその位置に復帰せしめるこ
とが必要である。第11図に図示の測定ヘッドの構造は
基本的には第3図のものに相応する。測定機に固定連結
されている部分62は中間リング68を介して偏向可能
な部分63に偏向可能に連結されている。部分63はセ
ンサ64を支持している。中間リング68に凹面鏡65
が固定設置されている。この鏡はケーシングに固定され
ている光源66から放射する光をケーシング固定された
受光素子67に結像する。この受光素子は4−象限−ホ
トダイオードとして構成できる。休止状態において受光
素子の4つ全部の象限が一様に照射され、この結果後置
接続されている回路素子は信号を供給しない。部分63
がふれるや否や受光素子67は信号を供給する。この信
号は例えば識別−パルスを発生せしめるために使用する
ことができる。更に第11図に図示の装置によりセンサ
64が接触のない場合偏向可能な部分63の正確な零−
位置の停止が自動的に監視される。
方向の位置を正確に決めかつその位置に復帰せしめるこ
とが必要である。第11図に図示の測定ヘッドの構造は
基本的には第3図のものに相応する。測定機に固定連結
されている部分62は中間リング68を介して偏向可能
な部分63に偏向可能に連結されている。部分63はセ
ンサ64を支持している。中間リング68に凹面鏡65
が固定設置されている。この鏡はケーシングに固定され
ている光源66から放射する光をケーシング固定された
受光素子67に結像する。この受光素子は4−象限−ホ
トダイオードとして構成できる。休止状態において受光
素子の4つ全部の象限が一様に照射され、この結果後置
接続されている回路素子は信号を供給しない。部分63
がふれるや否や受光素子67は信号を供給する。この信
号は例えば識別−パルスを発生せしめるために使用する
ことができる。更に第11図に図示の装置によりセンサ
64が接触のない場合偏向可能な部分63の正確な零−
位置の停止が自動的に監視される。
既述のように測定ヘッドの実施例全部は簡単かつ安価に
構成されている。
構成されている。
非常に小さな部分しか動かす必要がないので動力は僅か
しか生ぜずかつ固有測定機の重みによる負荷は僅かしか
生じない。新しい測定ヘッドは迅速な走査過程を可能に
し、これにより測定時間は公知の装置より抵減できる。
しか生ぜずかつ固有測定機の重みによる負荷は僅かしか
生じない。新しい測定ヘッドは迅速な走査過程を可能に
し、これにより測定時間は公知の装置より抵減できる。
第1図は本発明の測定ヘッドの実施例の一部を切欠して
示す側面図、第2図は第1図の測定ヘッドの可動部分の
断面略図、第3図は測定ヘッドの別の実施例の部分断面
図、第4図は第3図の線■−■に沿つて切断した断面図
、第5図は第1図または第3図の測定ヘッドに用いられ
ている中間リングの実施例の平面図、第6図は中空球状
の軸受を有する中間リングの部分断面図、第7図は工作
物の走査の際測定素子の1つから送出される信号のダイ
ヤグラム、第8図は測定ヘッド可動部分の別の実施例の
部分断面図、第9図は第8図の線■一■に沿つて切断し
た断面図、第10図は測定ヘッドの別の実施例の部分断
面図、第11図は測定ヘッドの別の実施例の部分断面図
てある。 1,12,52,62・・・・・・測定ヘッド固定部分
、3,13,33,55,63・・・・・・測定ヘッド
可動部分、4,14,44,45,64・・・・・・セ
ンフサ、6,16,46・・・・・・測定素子、8,1
8,28,38,68・・・・・・中間リング、9 ・
・・・・・ばね部材、11,57・・・・・・回路素子
。
示す側面図、第2図は第1図の測定ヘッドの可動部分の
断面略図、第3図は測定ヘッドの別の実施例の部分断面
図、第4図は第3図の線■−■に沿つて切断した断面図
、第5図は第1図または第3図の測定ヘッドに用いられ
ている中間リングの実施例の平面図、第6図は中空球状
の軸受を有する中間リングの部分断面図、第7図は工作
物の走査の際測定素子の1つから送出される信号のダイ
ヤグラム、第8図は測定ヘッド可動部分の別の実施例の
部分断面図、第9図は第8図の線■一■に沿つて切断し
た断面図、第10図は測定ヘッドの別の実施例の部分断
面図、第11図は測定ヘッドの別の実施例の部分断面図
てある。 1,12,52,62・・・・・・測定ヘッド固定部分
、3,13,33,55,63・・・・・・測定ヘッド
可動部分、4,14,44,45,64・・・・・・セ
ンフサ、6,16,46・・・・・・測定素子、8,1
8,28,38,68・・・・・・中間リング、9 ・
・・・・・ばね部材、11,57・・・・・・回路素子
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ケーシングに固定された部分および該部分に対して
相対的に運動し、1つまたは複数の接触形センサを支持
する部分とから構成された測定ヘッドであつて、該測定
ヘッドの固定部分と可動部分とも、休止位置乃至零位置
を決める支承部を介してリンク連結した形式の、測定ヘ
ッドに対して相対的に移動する工作物の任意の点の空間
的な座標を測定するための測定ヘッドにおいて、測定ヘ
ッドの可動部分3を相互に固定連結された2つの部分3
a,3bから構成し、該部分間に引張および圧縮に高感
度に応答する測定素子6を設けたことを特徴とする測定
ヘッド。 2 ケーシングに固定された部分および該部分に対して
相対的に運動し、1つまたは複数の接触形センサを支持
する部分とから構成された測定ヘッドであつて、該測定
ヘッドの固定部分と可動部分とを、休止位置乃至零位置
を決める支承部を介してリンク連結した形式の測定ヘッ
ドに対して相対的に移動する工作物の任意の点の空間的
な座標を測定するための測定ヘッドにおいて、測定ヘッ
ドの可動部分3を相互に固定連結された2つの部分3a
,3bから構成し、該部分間に引張および圧縮に高感度
に応答する測定素子6を設け、かつ工作物の接触走査が
行なわれた後調節可能な時間t_2−t_1内に識別パ
ルスをトリガする装置11,57を設け、かつ前記識別
パルスのトリガ後はじめて測定値を検出するために第1
の接触走査パルスを転送するようにしたことを特徴とす
る測定ヘッド。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2712181A DE2712181C3 (de) | 1977-03-19 | 1977-03-19 | Tastsystem |
| DE2712181.9 | 1977-03-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53117464A JPS53117464A (en) | 1978-10-13 |
| JPS6048681B2 true JPS6048681B2 (ja) | 1985-10-29 |
Family
ID=6004133
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53030500A Expired JPS6048681B2 (ja) | 1977-03-19 | 1978-03-16 | 測定ヘツド |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4177568A (ja) |
| JP (1) | JPS6048681B2 (ja) |
| CH (1) | CH625045A5 (ja) |
| DE (1) | DE2712181C3 (ja) |
| FR (1) | FR2384230A1 (ja) |
| GB (1) | GB1586052A (ja) |
| IT (1) | IT1102107B (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS6363984U (ja) * | 1986-10-15 | 1988-04-27 | ||
| JPS63108178U (ja) * | 1986-12-29 | 1988-07-12 | ||
| JPH03110779U (ja) * | 1990-02-26 | 1991-11-13 |
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| IT1107310B (it) * | 1978-03-23 | 1985-11-25 | Dea Spa | Gruppo di attacco per un montaggio di precisione e di sicurezza di un utensile su una macchina particolarmente una macchina di misura |
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| DE3234471C1 (de) * | 1982-09-17 | 1983-08-25 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Mehrkoordinaten-Tastkopf |
| DE3234851C2 (de) * | 1982-09-21 | 1985-11-14 | Mauser-Werke Oberndorf Gmbh, 7238 Oberndorf | Dynamischer Tastkopf |
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| FR2384230A1 (fr) | 1978-10-13 |
| US4177568A (en) | 1979-12-11 |
| DE2712181B2 (ja) | 1980-04-30 |
| IT7848491A0 (it) | 1978-03-17 |
| JPS53117464A (en) | 1978-10-13 |
| FR2384230B1 (ja) | 1984-12-28 |
| DE2712181A1 (de) | 1978-09-21 |
| IT1102107B (it) | 1985-10-07 |
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