JPS604870A - レ−ザダイオ−ドの熱抵抗測定装置 - Google Patents
レ−ザダイオ−ドの熱抵抗測定装置Info
- Publication number
- JPS604870A JPS604870A JP11203183A JP11203183A JPS604870A JP S604870 A JPS604870 A JP S604870A JP 11203183 A JP11203183 A JP 11203183A JP 11203183 A JP11203183 A JP 11203183A JP S604870 A JPS604870 A JP S604870A
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- JP
- Japan
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- signal
- laser diode
- current
- thermal resistance
- diode
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- Pending
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 10
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
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- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はレーザダイオードの熱抵抗測定装置に関するも
のである。
のである。
レーザダイオードの熱抵抗を知ることは電気的特性の安
定性や高い信頼度r得る上で重要なことである。このた
め従来性なわれている熱抵抗測定の方法に次の方法があ
る。
定性や高い信頼度r得る上で重要なことである。このた
め従来性なわれている熱抵抗測定の方法に次の方法があ
る。
1)発振波長の温度特性を利用して、直流バイアス時と
パルス印加時の発掘波長の差から熱抵抗を測定する方法
。
パルス印加時の発掘波長の差から熱抵抗を測定する方法
。
2)発振閾電流の温度特性を利用して直流バイアス時と
パルス印加時の発振閾電流の差から熱抵抗を測定する方
法。
パルス印加時の発振閾電流の差から熱抵抗を測定する方
法。
3)ダイオードの順方向電圧の温度特性を利用する方法
。
。
しかし各方法では測定精度や、測定操作・時間に難があ
った〇 本発明の目的は以上の点を鑑み、測定操作が容易で測定
時間が短縮可能な測定装置全提供することである。
った〇 本発明の目的は以上の点を鑑み、測定操作が容易で測定
時間が短縮可能な測定装置全提供することである。
この目的を達成するために、本装置では、レーザダイオ
ードのバイアス電源として、交流信号を重畳した直流電
源を用い、一方、この交流信号により変調されたレーザ
光出力信号を検出する回路と、その信号を測定する回路
より測定装置とを構成した・ 本発明による測定原理を以下[説明する。
ードのバイアス電源として、交流信号を重畳した直流電
源を用い、一方、この交流信号により変調されたレーザ
光出力信号を検出する回路と、その信号を測定する回路
より測定装置とを構成した・ 本発明による測定原理を以下[説明する。
レーザダイオードの動作電流に対する光出力特性は、発
振閾電流Iiまでレーザ発振せず、それ以上の電流にな
ると光出力がほぼ直線的に増加する◎この傾きを微分効
率と称する。この様子を示したのが第1図である。図は
横軸に電流、縦軸に光出力をとっである。なお本文では
この電流−光出力特性’li−I−L特性と以下略称す
る。
振閾電流Iiまでレーザ発振せず、それ以上の電流にな
ると光出力がほぼ直線的に増加する◎この傾きを微分効
率と称する。この様子を示したのが第1図である。図は
横軸に電流、縦軸に光出力をとっである。なお本文では
この電流−光出力特性’li−I−L特性と以下略称す
る。
本発明はこの発振閾電流の温度特性を利用したものであ
る。等温的なI−L特性は第】図の点線aのように発振
閾電流Itb、の特性を示す。一方、直流動作の場合は
その自己発熱のために発振1閾電流は増加し、微分効率
は見かけ上低下して第1図の実線のような特性を示す。
る。等温的なI−L特性は第】図の点線aのように発振
閾電流Itb、の特性を示す。一方、直流動作の場合は
その自己発熱のために発振1閾電流は増加し、微分効率
は見かけ上低下して第1図の実線のような特性を示す。
発振閾電流Ithは@度とともに増加し、素子温度Tで
は実験的に(1)式のように表わせる。
は実験的に(1)式のように表わせる。
Ith=(x+ΔT−K)Itho(1)ここで、Kは
定数・Ithoは素子温度T。での発振閾電流4はTと
T。の差を示す。なお、発振閾電流Ithの温度係数に
は素子の周囲温度を変えて別途測定する。
定数・Ithoは素子温度T。での発振閾電流4はTと
T。の差を示す。なお、発振閾電流Ithの温度係数に
は素子の周囲温度を変えて別途測定する。
おける微分効率をη1、この動作点(Ir、Po)と等
温的なI−L特性での(第1図中点線b)微分効率を1
2とする。このとき、両特性での発振閾電流Ith1及
びIth、は(2)及び(3)式で算出される。
温的なI−L特性での(第1図中点線b)微分効率を1
2とする。このとき、両特性での発振閾電流Ith1及
びIth、は(2)及び(3)式で算出される。
Ithl” IF=ム ・・・・・・(2)η!
O
工よ、 = I、−一 ・・・・・・ (3)η2
したがって直流動作で発振閾電流Ith、での素子温度
T、と動作電流Irでの素子温度T、の差△Tは(4)
式よ請求められる。
T、と動作電流Irでの素子温度T、の差△Tは(4)
式よ請求められる。
△T=T、−’l’、= ]:th・−Ith、・・・
・・・(4)これより熱抵抗Rthは(5)式よシ得ら
れる◎△T Rth=□ ・・・・・・(5) VFIF −VF、 I th 。
・・・(4)これより熱抵抗Rthは(5)式よシ得ら
れる◎△T Rth=□ ・・・・・・(5) VFIF −VF、 I th 。
I PoP。
ただしΔT=−(−一→ ・・・・・・(6)K 、、
’7t である。なお、ここでvr及びV2はそれぞれ電流Iy
及びIP、のときの素子電圧である。そこで動作点(I
、 Po) Icバイアスしたレーザダイオードに素子
の熱的応答の時定数に比べて充分長い周期をもつ交流信
号(周波数=故I■2〜数十I(z)t−加えて微分効
率η、を測定し、次に熱的時定数に比べて充分短い周期
をもつ交流信号(周波数:数MH2以上)を加えて熱的
応答が無視できる状態での微分効率η!を測定すること
により(5)式よ、りR1hを得る@ 次に本発明によるレーザダイオードの熱抵抗測定装置の
一実施例′fr:第2図に示し、以下に説明する。
’7t である。なお、ここでvr及びV2はそれぞれ電流Iy
及びIP、のときの素子電圧である。そこで動作点(I
、 Po) Icバイアスしたレーザダイオードに素子
の熱的応答の時定数に比べて充分長い周期をもつ交流信
号(周波数=故I■2〜数十I(z)t−加えて微分効
率η、を測定し、次に熱的時定数に比べて充分短い周期
をもつ交流信号(周波数:数MH2以上)を加えて熱的
応答が無視できる状態での微分効率η!を測定すること
により(5)式よ、りR1hを得る@ 次に本発明によるレーザダイオードの熱抵抗測定装置の
一実施例′fr:第2図に示し、以下に説明する。
同図[bいて1は被測定用レーザダイオードであり、直
流電源2と低周波及び高周波の正弦波信号発生器3によ
り、交流信号全重畳したバイアス電源を実現している。
流電源2と低周波及び高周波の正弦波信号発生器3によ
り、交流信号全重畳したバイアス電源を実現している。
インダクタ4は交流阻止用であり、コンデンサ5は直流
阻止用である。抵抗6は交流電流検出用である。このと
き、レーザダイオードの光出力は直流に交流信号が重畳
されているため、その信号により変調されている。この
光信号は受光ダイオード9により検出される。受光ダイ
オード9け、直流電源10によりバイアスされ、抵抗1
2は交流信号を検出するための負荷抵抗である。なお、
コンデンサ1lfl直流1且止用である。ここで低周波
とは、先程述べたように素子の熱的時定数よ勺充分長い
周期をもった正弦波信号であり、高周波とは、熱的時定
数より充分短い周期をもつ正弦波信号を意味する。
阻止用である。抵抗6は交流電流検出用である。このと
き、レーザダイオードの光出力は直流に交流信号が重畳
されているため、その信号により変調されている。この
光信号は受光ダイオード9により検出される。受光ダイ
オード9け、直流電源10によりバイアスされ、抵抗1
2は交流信号を検出するための負荷抵抗である。なお、
コンデンサ1lfl直流1且止用である。ここで低周波
とは、先程述べたように素子の熱的時定数よ勺充分長い
周期をもった正弦波信号であり、高周波とは、熱的時定
数より充分短い周期をもつ正弦波信号を意味する。
いま、レーザダイオードが第1図に示すように電流エバ
光出力P(3で動作しているものとする。
光出力P(3で動作しているものとする。
次に低周波信号を信号発生器3によシ重畳させる。
この交流電流11は抵抗6の端子間13の電圧を交流電
圧計又はオシロスコープで測定すればよい。
圧計又はオシロスコープで測定すればよい。
このとき光出力の交流信号は実線の特性による発光効率
11によシ決定される。この発光効率η。
11によシ決定される。この発光効率η。
けあらかじめ光入力に対する光出力電圧が校正されてい
る受光ダイオード7により抵抗12の端子間14の電圧
から測定できる。すなわち換算した交流成分の光入力全
P□とすると、η、はη* =P * /I s (7
) 次に高周波信号全信号発生器3により重畳させる。この
ときの光出力の交流信号は破線すの特性による発光効率
’72 VCより決定される。したがってt記と同様に
して交流電流工、及び光入力P。
る受光ダイオード7により抵抗12の端子間14の電圧
から測定できる。すなわち換算した交流成分の光入力全
P□とすると、η、はη* =P * /I s (7
) 次に高周波信号全信号発生器3により重畳させる。この
ときの光出力の交流信号は破線すの特性による発光効率
’72 VCより決定される。したがってt記と同様に
して交流電流工、及び光入力P。
を測定することによりη2は
ηt =Pt / I 1 (8)
でめられる。故に熱抵抗は前述したようic (9)式
からめられる。
からめられる。
また■とVFIはそれぞれ電流”tIthlのときの素
子電圧である。なお、電流IPは電流計7で電圧V。
子電圧である。なお、電流IPは電流計7で電圧V。
Vr、Vi、’RL圧計8で測定できるり以上、本発明
によれば、レーザダイオードの熱抵抗の測定F[圧ある
いは電流の正弦波を用いることにより可能となるため、
信号の取扱いがパルス信号や、波長測定に比べ容易とな
ることから装置の操作性が向上することがわかる。また
、同様に装置の自動化も容易になることからさらに操作
性の向上や測定時間の短縮が図れる。
によれば、レーザダイオードの熱抵抗の測定F[圧ある
いは電流の正弦波を用いることにより可能となるため、
信号の取扱いがパルス信号や、波長測定に比べ容易とな
ることから装置の操作性が向上することがわかる。また
、同様に装置の自動化も容易になることからさらに操作
性の向上や測定時間の短縮が図れる。
第1図はレーザダイオードの電流対光出力特性図であり
、横軸に電流、縦軸に光出力全とっである。図中で破線
aはパルス動作における光出力特性を示し、実線は直流
動作における光出力特性を示す。破線すは直流動作時の
電流IFにおける素子温度状態でのパルス動作時の光出
力特性を示す。 第2図は本発明の一実施例の測定回路図である。 図中で1・・・・・・レーザダイオード、2・・・・−
・直流電源、3−・・・・・正弦波発生器、4・・・・
・・インダクタ、5・・・・・・コンデンサ、6・・・
・・・抵抗、7・・・・−・電流計、8・・・・・・電
圧計、9・・・・・・受光ダイオード、10・・・・・
・直流電源、11・・・・・・コンデンサ、12・・・
・・・抵抗、13・・・・・・交流電流検出端子、14
・・・・・・交流光入力検出端子である。 乃l閃 カ2閃
、横軸に電流、縦軸に光出力全とっである。図中で破線
aはパルス動作における光出力特性を示し、実線は直流
動作における光出力特性を示す。破線すは直流動作時の
電流IFにおける素子温度状態でのパルス動作時の光出
力特性を示す。 第2図は本発明の一実施例の測定回路図である。 図中で1・・・・・・レーザダイオード、2・・・・−
・直流電源、3−・・・・・正弦波発生器、4・・・・
・・インダクタ、5・・・・・・コンデンサ、6・・・
・・・抵抗、7・・・・−・電流計、8・・・・・・電
圧計、9・・・・・・受光ダイオード、10・・・・・
・直流電源、11・・・・・・コンデンサ、12・・・
・・・抵抗、13・・・・・・交流電流検出端子、14
・・・・・・交流光入力検出端子である。 乃l閃 カ2閃
Claims (1)
- 被測定物であるレーザダイオードのバイアス回路として
直流に交流信号を重畳した′電源が設けられ、その光出
力信号を検出するための検出回路とその光出力交流信号
を測定するための測定回路とを備えてレーザダイオード
の熱抵抗測定全可能とすること全特徴とする熱抵抗測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11203183A JPS604870A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | レ−ザダイオ−ドの熱抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11203183A JPS604870A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | レ−ザダイオ−ドの熱抵抗測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS604870A true JPS604870A (ja) | 1985-01-11 |
Family
ID=14576268
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11203183A Pending JPS604870A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | レ−ザダイオ−ドの熱抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS604870A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4852678A (en) * | 1986-12-05 | 1989-08-01 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Vehicle body frame for motorcycle |
| JP2007187366A (ja) * | 2006-01-12 | 2007-07-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ヒートポンプ給湯機 |
| CN100383541C (zh) * | 2005-06-08 | 2008-04-23 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 半导体激光器热弛豫时间的测试装置及其测量方法 |
| KR20220044235A (ko) * | 2019-08-16 | 2022-04-07 | 일루미나, 인코포레이티드 | 기기의 열 컴포넌트와 소모품 사이의 열 저항을 측정하기 위한 방법 |
-
1983
- 1983-06-22 JP JP11203183A patent/JPS604870A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4852678A (en) * | 1986-12-05 | 1989-08-01 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Vehicle body frame for motorcycle |
| CN100383541C (zh) * | 2005-06-08 | 2008-04-23 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 半导体激光器热弛豫时间的测试装置及其测量方法 |
| JP2007187366A (ja) * | 2006-01-12 | 2007-07-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ヒートポンプ給湯機 |
| KR20220044235A (ko) * | 2019-08-16 | 2022-04-07 | 일루미나, 인코포레이티드 | 기기의 열 컴포넌트와 소모품 사이의 열 저항을 측정하기 위한 방법 |
| JP2022543938A (ja) * | 2019-08-16 | 2022-10-17 | イルミナ インコーポレイテッド | 器具の熱構成要素と、消耗品との間の熱抵抗を測定するための方法 |
| US12013358B2 (en) | 2019-08-16 | 2024-06-18 | Illumina, Inc. | Method for measuring thermal resistance between a thermal component of an instrument and a consumable |
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