JPS6050416A - 工業計器自動試験装置 - Google Patents

工業計器自動試験装置

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JPS6050416A
JPS6050416A JP15875083A JP15875083A JPS6050416A JP S6050416 A JPS6050416 A JP S6050416A JP 15875083 A JP15875083 A JP 15875083A JP 15875083 A JP15875083 A JP 15875083A JP S6050416 A JPS6050416 A JP S6050416A
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JP
Japan
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test
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output
switching
signal
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Pending
Application number
JP15875083A
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English (en)
Inventor
Takashi Yoshioka
隆 吉岡
Takahiro Fudeyasu
筆保 隆弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
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Publication of JPS6050416A publication Critical patent/JPS6050416A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D21/00Measuring or testing not otherwise provided for

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 との発明は31測分野等で使用される工業計器自動試験
装置、特に複数の被試験計器を連続的に試験し得る工業
計器自動試験装置に関する。
(ロ)従来技術 工業31器には、電気信号あるいは空気圧信号のいずれ
かを入力・出力信号とするものや電気信号を入力信号と
し空気圧信号を出力信号とするもの。
さらにその逆のもの等がある。従来これらの−I業「1
器の試験・検査・調整を行うのに、精度の高い空気圧信
号や電気信号を発生する標準信号発生kを被試験旧t&
の入力につなぎ、被試1険計器の出力に圧力計やデジタ
ルボルトメークをつないで入出力特性を測定していた。
しかしながら、このような方法では、試験を1台ずつ行
なわねばならず。
測定者はたえず試験につきつきシで居ることになり、試
験中は他の仕事に手が回らず、また多電の計器を少ない
労力1時間で検査することができないという欠点があっ
た。
(ハ)目的 この発明の目的は、上記に鑑み、多くの工業計器の試験
を、短時間でなせ、しかも測定者の手を煩わすことの少
ない工業計器自動試験装置を提供することである。
に)構成 上記目的を達成するために、仁の発明の工業計器自動試
験装置は試験用の信号を出力する出力信号発生部と、m
試験計器からの(浮号を受ける入力測定部と、前記出力
信号発生部f:複数の出力端に切換接続する出力切換手
段と、前記入力illll全部数の入力端にW換接続す
る入力切換手段と、前記出力切換手段と前記入力切換手
段の切換を同期して順次行なわせる切換制御手段と、こ
の切換制御手段にょろり換器に、前記入力測定部に入力
される′m試験計器よシの信号に基づいて所定の試験演
算をなす演算手段とから構成されている。
0り)実施例 以下、実施例により、この光切をさらに詳細に説明する
第1図は仁の発明の一実施例を示す工業!l’j4ii
自動試験装置のブロック図である。同図において。
1はn閘の入力端II、I2.・・・、Inを持つ入力
切換2g、2は、m試験計器より人力9J換器1全通し
て人力される測定f信号を受ける入力回:l′8.5は
入力回路2よりのアナログの71(IJ定入力信号をデ
ジタ/I/信号姉変換するA/D変換)歴である。この
A / I) ′!’5 換器3よシのデジタル信号ば
 梅インタフェース4を経てCPU5に取込捷れるよう
になっている。6はCPU5用のプログラムや試験検査
の’1217算の/こめに必要なデータが記憶されるメ
モリである。
7は、cpusより んインタフニー7.4を経て出力
されるデジタルの試験信号をアナログ値に変換するD/
A変換器、8はD/Aザ換1番H7よりのアナログ信号
を受け、試襞f爵号として出力する出力I」路、9は1
1個の出力端01 、02.−Onを持つ出力切換器で
ある。出力回路8よシの訳、硬信号は出力切換器9を経
て、m試験計器に入力されるよう罠なっている。10は
測定信号あるいは試験信号等を表示する表示部、11は
同じく測定信号や・試験信号等をプリントアウトする印
字部。
12は測定条件等を設定入力する設定部である。
131 、 13−2、−・−・・・13−Dけ、D個
のm試験計器であり、これらのm試験計器13−1 、
13−2.・・・13−Dの試験を行うときに1図のよ
うに出力17I換器9の出力端o1.o2.・・・、O
nがm試験計器15−1 、 13−2 、・・・、1
ろ−nの入力端に対応して接続され、m試験計器15−
1 、.13−2 、・13−nの出力端が入力切換器
1の入力端o1.o2.・・・。
On[A応して接続される。
入力切換器1及び出力切換器9の切換はCPU5の制御
によシ、連動同期して行なわれる。
上記、切換制御も含め、n個のm試験計器に対する検査
手順はプログラムとしてメモリ6に記憶されており、C
PU5はこのプログラムにしたがい、一連の試験のだめ
の処理を実行する。プログラムの概略は、入力切換器1
と出力切換器9の共通端子1c、Ocを順次入力端11
と出力端]。
入力端I2と出力端02.・・ ・、入力端I nと出
力端011に切換接続するとともに、各切換段階でm試
験計器の仕様に基づいた0%、25%、50%、75%
、100%の試験信号を出力して、11応する彼試験i
t器に入力し、その出方を測定し。
破試験唱agの合否を判定するものである。
次に」−記実施例工業計器自動1拭験装置による一連の
試験動作を第2図に示すフローチへ・−1−を参照して
説明する。
動作がスタートすると、先ずステップST(以下STと
略記する)1でカウンタNを1とする。
このカウンタNは、入カ切換滞1.出カリ換器9の切換
段数を示すもので、スタートは先ず1とされる。これに
ょ9.入力切換器1の共通端r’lcは入力端子■1に
、出力切換器9の」(面端To、・は出力端子01にそ
れぞれ接続され、被試験jjl’に13−1が先ず試験
装置に接続される。
続いて、CPU5より→Voインタフェース4→D/A
変換器7→出カ回路8−出力切換Zg9ののルートで被
試験π1器13−1 に0%入力を与える(S’l’2
)。そして、この入力に応答する被試験計器13−1の
出力を−〉入力切換器1→入力回路2−÷A / D 
9換器6→Voインタフエース4の/Li−1・でCP
U5に取込み、その出力に基づき、入出力特性を測定す
る。そしてこの時の出力と所定の誤差値とを比較演算し
、誤差値内か否か判定する(Sr3)。なお出力測定は
、入力を与えてから一定時間を経過した時点で行うなど
出力が安定しだ状、熊で行なわれる。
」−記ST3での判定の結果、出力が所定の誤差内であ
れば、0%入力の場合と同様に9次の試験項目として2
5%入力を被試験計器13−1に与え(Sr1)、その
応答出力を測定し、誤差内であるか判定する(Sr5)
。この判定でもなお出力が所定の誤差内であれば、さら
に以降で50%入力を与え、その出力が誤差内かの判定
(Sr1,5T7)。
75%入力を与え、その出力が誤差内かの判定(Sr8
,5T9)、100%入力を与え、その出力が誤差内か
の判定(5TIO,STI 1 )の各処理を続イテす
る。
そして100%入力を与えた場合にも、なお出力が誤差
内である場合には、この被試嗅31器1ウ−1は合格と
いうことで、入出力持1生を印字部11で印字しく5T
i2)、カウンタNの内容を+1(=2)とする(ST
14)。これで、入力切換)?に1と出力しυ換器9が
切換えられ1次の被試験旧器13−2かぁ(、嗅装置に
接続される。
動作は続いて、5T15で仝計器の測定が終rしたか判
定されるが、1合口の被試験π1器10−1の測定が終
了したばかりなので、 ’I’ll定はNoとなりSr
1にリターンする。そして今度は被試験31器13−2
について、上記被試験i+’l’ k 13−1と同様
にSr1から5T12までの試験測定処理が11なわれ
る。この被試験計器13−2も、各0%、25%。
・−1100%入力が与えられたにネjしその出力がい
ずれも誤差内であれば、入出力特性が印字される(ST
12)。そしてカウンタNの内容が6となり。
5T15を経てまたSr1にリターンし9次の被試験計
器15−3の試験測定に移行する。IOJ、 ’I” 
、入力切換器1.出力切換器9が切換えられる度に]と
続される被試験計器が13−4−13−5−・・・−1
3−nとなり、各被試験計器の試験測定が自動的に連続
して行なわれる。
もし、ある被試験計器のある%入力段階で、出力が誤差
範囲を越えたとすると、たとえば肢試詐計器15−6の
25%入力でその出力が所定の誤差範囲外であるとする
と、Sr5の判定はNoとなシ、続いてチャネ/l/3
の計器、すなわち被試験計器13−3が誤差大である旨
の表示及び印字を表示部10.印字部11で行なう。こ
のように出力が予じめ設定した誤差の範囲から外れる場
合、その計器は不合格であるから、さらに重ねて50%
75%、100%の入力を与えて試験する寸でもないの
で、これらの処理をなすことなく、5T14に移すNo
・N+1の処理を行ない1次の被試験計器の試験測定に
移るようにしている。これによシ。
vl、試験計器が不合格であるにもかかわらず、さらに
そのvJl試験計器の測定のために、いたずらに時間が
空費されるのを防止できる。
n台の被試験計器の試験測定が終了すると、5T15の
判定がYESとなり一連の試験測定動作が終了する。
なお上記実施例において試、l検入力信号として口%、
25%、50%、75%、100%の信号を(吏用し、
これらの入力信号に対する出力を測定し。
入出力特性を得る場合を例にあげだが、もちろん他の入
力波形、試験内容の測定噴口を実行する場合にも、この
発明を適用できるこという丑でもない。
丑だ、上記実施例においては肢試1@計器への試験入力
信号、被試験計器からの出力信号は電気(言置を想定し
ているが、入力回路、出力回路で適宜変換して、いずれ
か一方を空気圧信号、あるいは両方を空気圧信号とする
ことはもちろん可能であり、θU試験計器に合わせた信
号を入出力すればよい。
(へ)効果 この発明の工業計器自動試験装置によれば、入力切換器
、出力切換器に測定しだいだけのlJI+試・倹計器を
接続するだけで、後は自動的に試−flllj定かなさ
れるので1111J定者が測定作業に煩わされる1侍間
手間が少なく、労力が大幅に削減できる。まだ一度に多
くの泊゛器の試験測定が自動的に行なえるから多量の工
条計器の検査を比較的短116間で行なうことができる
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す工業計器自動試験装
置ideのブロック図、第2図は同工業言1器自動u 
験装置のフローチャートでアル。 1:入カリ換器、 2:入力回路。 5:cpu、 6:メモリ。 8:出力回路、 9:出力切換器。 15−1.13−2.・・・、 13−n’ :彼試!
険計器。 特許量に19人 株式会社島津製作所

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) 試験用の信号を出力する出力信号発生部と。 被試験計器からの信号を受ける入力測定部と。 前記出力信号発生部を複数の出力端に切換接続する出力
    切換手段と、前記入力測定部を複数の入力端に切換接続
    する入力切換手段と、前記出力切換手段と前記入力切換
    手段の切換を同期して順次行なわせる切換制御手段と、
    この切換制御手段による切換毎傾、前記入力測定部に入
    力される被試験計器よりの信号に基づいて所定の試験演
    算をなす演算手段とからなる工業計器自動試験装置。
  2. (2) 前記演算手段は複数の試験項目を順次実行する
    手段と、各試験項目毎に正否を判定する手段と、この判
    定手段による否の判定で9次以降の試験項目を実行させ
    ず、前記切換制御手段を付勢する手段とからなるもので
    あることを特徴とする特許請求のWfl囲第1項記戦の
    工業利器自動試験装置。
JP15875083A 1983-08-30 1983-08-30 工業計器自動試験装置 Pending JPS6050416A (ja)

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JPS6050416A true JPS6050416A (ja) 1985-03-20

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02291919A (ja) * 1989-03-08 1990-12-03 Westinghouse Electric Corp <We> 自動トランスデューサ励起源検査装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5876998A (ja) * 1981-10-30 1983-05-10 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 診断表示装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5876998A (ja) * 1981-10-30 1983-05-10 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 診断表示装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02291919A (ja) * 1989-03-08 1990-12-03 Westinghouse Electric Corp <We> 自動トランスデューサ励起源検査装置

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