JPS6052013A - 光cvd装置 - Google Patents
光cvd装置Info
- Publication number
- JPS6052013A JPS6052013A JP16136483A JP16136483A JPS6052013A JP S6052013 A JPS6052013 A JP S6052013A JP 16136483 A JP16136483 A JP 16136483A JP 16136483 A JP16136483 A JP 16136483A JP S6052013 A JPS6052013 A JP S6052013A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- film
- window
- reaction vessel
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/48—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating by irradiation, e.g. photolysis, radiolysis, particle radiation
- C23C16/488—Protection of windows for introduction of radiation into the coating chamber
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、半導体装置の製造工程等への応用が試みられ
つつある光CVD (Chemical Vapour
Deposition )装置に関するものである。
つつある光CVD (Chemical Vapour
Deposition )装置に関するものである。
従来この種の装置として第1図に示すものがあった。図
において、1は膜形成反応容器、2は膜形成を行なうた
めの反応ガスの導入口、3は膜形成ガスの排気口、4は
発光源、5は反射板、6は光を反応容器1内へ導入する
窓、7は試料である。
において、1は膜形成反応容器、2は膜形成を行なうた
めの反応ガスの導入口、3は膜形成ガスの排気口、4は
発光源、5は反射板、6は光を反応容器1内へ導入する
窓、7は試料である。
次に動作について説明する。膜形成ガス導入口2より反
応容器1に導入されたガスは、発光源4及び反射板5か
らの光の作用により分解反応を起こし、その結果、試料
7の上に薄膜が形成される。
応容器1に導入されたガスは、発光源4及び反射板5か
らの光の作用により分解反応を起こし、その結果、試料
7の上に薄膜が形成される。
一方残ガスは、排気口3より排気される。
従来の光CVD装置は以上のように構成されており、試
料7上だけでなく、反応容器1の器壁及び光の導入窓6
上にも膜が形成され、このうち、光の導入窓6上の膜の
形成は、光の透過率を低減せしめ、これにより、試料7
上の膜の形成を著しく阻害するという欠点があった。
料7上だけでなく、反応容器1の器壁及び光の導入窓6
上にも膜が形成され、このうち、光の導入窓6上の膜の
形成は、光の透過率を低減せしめ、これにより、試料7
上の膜の形成を著しく阻害するという欠点があった。
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、光導入窓に、これに形成される膜
を除去できるガスを吹き付けることにより、光導入窓上
への膜の形成を防止し、安定した膜形成が行なえる光C
VD装置を提供することを目的としている。
めになされたもので、光導入窓に、これに形成される膜
を除去できるガスを吹き付けることにより、光導入窓上
への膜の形成を防止し、安定した膜形成が行なえる光C
VD装置を提供することを目的としている。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第2
図は本発明の一実施例による光CVD装置を示し、図に
おいて、第1図と同一符号は同一のものを示す。20は
本実施例において付加された曇り防止機構であり、該機
構20において、光導入窓6上に形成される膜を除去す
るためのCF4等のガスは、膜除去ガス導入口8より膜
除去ガス反応容器9へ導入される。高周波電極10はこ
の容器9内のガスに高周波電源11からの電力を供給す
るためのものである。また12はこの反応容器9内で生
成されたガスを光導入窓6に吹きつけるための吹きつけ
ノズルであり、13は吹きつけられたガスの排気口であ
る。
図は本発明の一実施例による光CVD装置を示し、図に
おいて、第1図と同一符号は同一のものを示す。20は
本実施例において付加された曇り防止機構であり、該機
構20において、光導入窓6上に形成される膜を除去す
るためのCF4等のガスは、膜除去ガス導入口8より膜
除去ガス反応容器9へ導入される。高周波電極10はこ
の容器9内のガスに高周波電源11からの電力を供給す
るためのものである。また12はこの反応容器9内で生
成されたガスを光導入窓6に吹きつけるための吹きつけ
ノズルであり、13は吹きつけられたガスの排気口であ
る。
次に動作について説明する。
膜除去ガス導入口8より膜除去ガス反応容器9内へ導入
されたCF4ガスは、高周波電極10を介して高周波電
源11より供給される高周波電力により分解されてFの
ラジカルを発生する。即ち、窓6に形成される膜と反応
してこの膜を除去できるようなガス成分が生成されるこ
ととなる。そして膜除去ガス排気口13の作用で、窓6
付近のガス圧力を、膜除去ガス反応容器9内のガス圧力
より低く保つようにすれば、容器9内で生成されたFの
ラジカルは膜除去ガス吹きイ1けノズル12へと輸送さ
れ、窓6に吹きつけられることになる。
されたCF4ガスは、高周波電極10を介して高周波電
源11より供給される高周波電力により分解されてFの
ラジカルを発生する。即ち、窓6に形成される膜と反応
してこの膜を除去できるようなガス成分が生成されるこ
ととなる。そして膜除去ガス排気口13の作用で、窓6
付近のガス圧力を、膜除去ガス反応容器9内のガス圧力
より低く保つようにすれば、容器9内で生成されたFの
ラジカルは膜除去ガス吹きイ1けノズル12へと輸送さ
れ、窓6に吹きつけられることになる。
その結果窓6上に形成される膜はこのFのラジカルによ
るエツチング反応により除去される。これにより窓6は
富に膜の形成されていない状態に維持される。一方エソ
チング反応の生成物は、膜除去ガス排気口13より、膜
形成反応容器1外へ排出される。
るエツチング反応により除去される。これにより窓6は
富に膜の形成されていない状態に維持される。一方エソ
チング反応の生成物は、膜除去ガス排気口13より、膜
形成反応容器1外へ排出される。
なお、上記実施例では高周波電力の印加により、ガスを
分解して窓上に形成される膜を除去できるガス成分を作
り出すようにしたが、膜除去ガスとしては高周波電力に
より分解したものでなくとも膜の除去が可能なガスであ
ればよく、この場合高周波電極10及び反応容器9は不
要となる。
分解して窓上に形成される膜を除去できるガス成分を作
り出すようにしたが、膜除去ガスとしては高周波電力に
より分解したものでなくとも膜の除去が可能なガスであ
ればよく、この場合高周波電極10及び反応容器9は不
要となる。
以上のように、この発明によれば、光導入窓に、これに
形成される股を除去できるガスを吹き付けるようにした
ので、光導入窓上への膜の形成を防止でき、これにより
反応容器内への光の照射量を常に一定に保つことができ
、安定した膜の形成が可能となる効果がある。
形成される股を除去できるガスを吹き付けるようにした
ので、光導入窓上への膜の形成を防止でき、これにより
反応容器内への光の照射量を常に一定に保つことができ
、安定した膜の形成が可能となる効果がある。
第1図は従来の光CVD装置を示す図、第2図はこの発
明の一実施例による光CVD装置を示す図である。 1・・・反応容器、2・・・膜形成ガス導入口、3・・
・膜形成ガス排気口、4・・・発光源、5・・・反射板
、6・・・光導入窓、7・・・試料、20・・・曇り防
止機構、8・・・膜除去ガス導入口、9・・・膜除去ガ
ス反応容器、10・・・高周波電極、11・・・高周波
電源、12・・・膜除去ガス吹き付はノズル、13・・
・膜除去ガス排気口。 なお図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 第1図 ′l 第2図
明の一実施例による光CVD装置を示す図である。 1・・・反応容器、2・・・膜形成ガス導入口、3・・
・膜形成ガス排気口、4・・・発光源、5・・・反射板
、6・・・光導入窓、7・・・試料、20・・・曇り防
止機構、8・・・膜除去ガス導入口、9・・・膜除去ガ
ス反応容器、10・・・高周波電極、11・・・高周波
電源、12・・・膜除去ガス吹き付はノズル、13・・
・膜除去ガス排気口。 なお図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 第1図 ′l 第2図
Claims (2)
- (1)光を利用した化学気相反応により試料に成膜を行
なう光CVT)装置であって、内部に試料をするための
光導入窓と、該光導入窓への膜の形成を防ぐ曇り防+l
[構とを備えたことを特徴とする光CVr)装置。 - (2)上記曇り防止機構が、上記光導入窓に形成される
膜を除去できるガスを該窓に吹き付けるノズルを備えた
ものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の光CVD装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16136483A JPS6052013A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 光cvd装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16136483A JPS6052013A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 光cvd装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6052013A true JPS6052013A (ja) | 1985-03-23 |
Family
ID=15733679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16136483A Pending JPS6052013A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 光cvd装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6052013A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5049794A (en) * | 1986-04-07 | 1991-09-17 | Nissan Motor Company, Limited | Automotive wiper control system with fail-safe feature for preventing burn-in of wiper motor |
| US5164034A (en) * | 1989-09-08 | 1992-11-17 | Tokyo Electron Limited | Apparatus and method for processing substrate |
| US5616181A (en) * | 1994-11-24 | 1997-04-01 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | MBE apparatus and gas branch piping apparatus |
-
1983
- 1983-08-31 JP JP16136483A patent/JPS6052013A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5049794A (en) * | 1986-04-07 | 1991-09-17 | Nissan Motor Company, Limited | Automotive wiper control system with fail-safe feature for preventing burn-in of wiper motor |
| US5164034A (en) * | 1989-09-08 | 1992-11-17 | Tokyo Electron Limited | Apparatus and method for processing substrate |
| US5616181A (en) * | 1994-11-24 | 1997-04-01 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | MBE apparatus and gas branch piping apparatus |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS61127121A (ja) | 薄膜形成方法 | |
| JPH04302145A (ja) | 洗浄方法 | |
| JPS6052013A (ja) | 光cvd装置 | |
| JP3014111B2 (ja) | 大気圧グロープラズマエッチング方法 | |
| JPS61225819A (ja) | レ−ザcvd装置 | |
| JPH0697075A (ja) | 薄膜堆積室のプラズマクリーニング方法 | |
| JP3515176B2 (ja) | ドライエッチング方法および装置 | |
| JPS60202928A (ja) | 光励起反応装置 | |
| JP3258121B2 (ja) | Cvd装置 | |
| JPH09289179A (ja) | CVD−Ti成膜チャンバーのクリーニング方法 | |
| JPS6167920A (ja) | 光化学反応装置 | |
| JPH01279761A (ja) | 薄膜形成装置 | |
| JP3010066B2 (ja) | 光励起プロセス装置 | |
| JPS59194427A (ja) | 光cvd装置 | |
| JP2003151971A (ja) | チャンバークリーニング方法、成膜装置、及び半導体装置の製造方法 | |
| JPS6161665B2 (ja) | ||
| JPS62284080A (ja) | 光堆積方法 | |
| JP2622188B2 (ja) | 薄膜デバイスの微細加工方法 | |
| JPH03271372A (ja) | エキシマレーザを用いた酸化物薄膜成膜法 | |
| JP2900546B2 (ja) | 液晶配向処理装置 | |
| JPH01223723A (ja) | 半導体製造装置 | |
| JPS6156279A (ja) | 成膜方法 | |
| JPS60254730A (ja) | レジスト剥離装置 | |
| JPS60238474A (ja) | モリブデンシリサイドスパツタリング装置 | |
| JPS6128443A (ja) | 光化学気相成長装置 |