JPS6055596A - 不揮発性ramメモリを備えたマイクロコンピユ−タ - Google Patents
不揮発性ramメモリを備えたマイクロコンピユ−タInfo
- Publication number
- JPS6055596A JPS6055596A JP59163754A JP16375484A JPS6055596A JP S6055596 A JPS6055596 A JP S6055596A JP 59163754 A JP59163754 A JP 59163754A JP 16375484 A JP16375484 A JP 16375484A JP S6055596 A JPS6055596 A JP S6055596A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- circuit
- volatile
- state
- transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/30—Means for acting in the event of power-supply failure or interruption, e.g. power-supply fluctuations
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Microcomputers (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は不揮発性メモリをi+ifiえた構造のマイク
ロコンピュータ夕に関−4−ル。
ロコンピュータ夕に関−4−ル。
マイクロコンピュータ番51″j1n常セントラル・プ
ロセッシング・コ、ニット(OI) IJ) 、クー1
オンリー・メモリ (ROM) 、ランダム・アクセス
・メモリ (RAM)やその他いくつかの補助機能、例
えば入出力装置等から構成されている。
ロセッシング・コ、ニット(OI) IJ) 、クー1
オンリー・メモリ (ROM) 、ランダム・アクセス
・メモリ (RAM)やその他いくつかの補助機能、例
えば入出力装置等から構成されている。
マイクロコンピゴ、−夕が、処叩そして/または制御の
用途に用いられる時し1、種々のWなった理由や必要性
のために、記憶された情報が電源が切断された場合に保
持されるiiJ能P1を備え(5) ていることが要求される。
用途に用いられる時し1、種々のWなった理由や必要性
のために、記憶された情報が電源が切断された場合に保
持されるiiJ能P1を備え(5) ていることが要求される。
そのような目的のため、近年マイクロコンピュータ内に
記憶された情報を保持するための、EEPROM (エ
レクトリカリ−・イレーザブル・プログラマブル・リー
ドオンリーメモリ)と呼ばれる不揮発止メモリエレメン
トがマイクロコンピュータに組み込まれてきている。
記憶された情報を保持するための、EEPROM (エ
レクトリカリ−・イレーザブル・プログラマブル・リー
ドオンリーメモリ)と呼ばれる不揮発止メモリエレメン
トがマイクロコンピュータに組み込まれてきている。
しかしながら、EEPROMのような不揮発止メモリを
使用すると、重大な制限を強いられることになる。
使用すると、重大な制限を強いられることになる。
a)新しいデータを記憶させたい時はいつでも、マイク
ロコンピュータは記憶するための特別な順序の動作を行
うことが必要である。そのような動作には所定の実行時
間(約10m5程度)が必要であるので、これがマイク
ロコンピュータのスピードを限っている。それゆえ、マ
イクロコンピュータは余儀なくその指令プログラムの実
行を遅くさせられ、そしてまた限定された時間内では限
られた量の情報しか記憶することができない。
ロコンピュータは記憶するための特別な順序の動作を行
うことが必要である。そのような動作には所定の実行時
間(約10m5程度)が必要であるので、これがマイク
ロコンピュータのスピードを限っている。それゆえ、マ
イクロコンピュータは余儀なくその指令プログラムの実
行を遅くさせられ、そしてまた限定された時間内では限
られた量の情報しか記憶することができない。
(6)
b)不(11!発性メT;リセルの電気的状態の変換サ
イクルは限られている。(例えば100001トイクル
)ブリダラムの)m常の実行の時に、叩1g、給電停止
に代表されるような必要が起ごイ1111に、+’+i
i記メモリセメモリセル報の記憶がl(されると、これ
によりメモリは無用なエージングを受け取ることになる
。
イクルは限られている。(例えば100001トイクル
)ブリダラムの)m常の実行の時に、叩1g、給電停止
に代表されるような必要が起ごイ1111に、+’+i
i記メモリセメモリセル報の記憶がl(されると、これ
によりメモリは無用なエージングを受け取ることになる
。
C)一方、もしマイクロごlンピュータにより処理され
る情報が、マイクl:1 ::Iンピ1.−夕のi!l
]常の動作中におけるスピードの減少を防くために、そ
して同)、1Gこメモリセルのエージングを制限するた
めに、セルの電気的状態を、情+14を救うために必要
な時だし1″F:デイツプ・イ1することによって、電
源の切断の時だけ不)11)発性メモリに記憶されると
すると、その時ば電YJGfの切1折の検出が必要とな
り、また一方、同し電源を蓄電エレメントによって維持
することも必要となる。
る情報が、マイクl:1 ::Iンピ1.−夕のi!l
]常の動作中におけるスピードの減少を防くために、そ
して同)、1Gこメモリセルのエージングを制限するた
めに、セルの電気的状態を、情+14を救うために必要
な時だし1″F:デイツプ・イ1することによって、電
源の切断の時だけ不)11)発性メモリに記憶されると
すると、その時ば電YJGfの切1折の検出が必要とな
り、また一方、同し電源を蓄電エレメントによって維持
することも必要となる。
ストレージのために必要な時間のために、即ち、時間の
ためによりしく、より大きくすることは記憶される情報
の量に等しく、大きなコス(7) 1・とかなりの電源回路の複雑さを伴う。その上、プロ
グラムを絹む上で特別な動作手順が必要となる。
ためによりしく、より大きくすることは記憶される情報
の量に等しく、大きなコス(7) 1・とかなりの電源回路の複雑さを伴う。その上、プロ
グラムを絹む上で特別な動作手順が必要となる。
本発明0月1的はl’+ii記Ufl来技術の欠点を伴
わ°4′、電源ラインの切断(または異なった出所から
の電源の切断に相当する信号)があった場合に、情報の
記憶を可能とすることができる適正な不揮発性メモリエ
レメントを備えたマイクロコンピュータを実現すること
である。
わ°4′、電源ラインの切断(または異なった出所から
の電源の切断に相当する信号)があった場合に、情報の
記憶を可能とすることができる適正な不揮発性メモリエ
レメントを備えたマイクロコンピュータを実現すること
である。
前記目的を達成する本発明は、通常のRA Mの部分的
あるいは全体的な置換によって得られた一体構造のマイ
クロコンピュータであって、前記一体構造は制御および
電圧逓倍回路を備えた不揮発性RAMメモリを含んでお
り、前記不揮発性RAMは電源の切断(またはそれに相
当する信号の送信)の起こる時に、自動的に記1.a状
態をとることができる不揮発性RAMセルのマトリクス
によって構成されていることを特徴(8) としている。
あるいは全体的な置換によって得られた一体構造のマイ
クロコンピュータであって、前記一体構造は制御および
電圧逓倍回路を備えた不揮発性RAMメモリを含んでお
り、前記不揮発性RAMは電源の切断(またはそれに相
当する信号の送信)の起こる時に、自動的に記1.a状
態をとることができる不揮発性RAMセルのマトリクス
によって構成されていることを特徴(8) としている。
電源の切断に自動的に対応゛4−る不1i1!発性RA
Mメモリを((1’ JJI目゛ることは、マイクロコ
ンピュータを通常の形態に、そしてプログラムをim常
の進行を保ち、またり°イクルスU−や不揮発性メモリ
セルの早期エージング現象を防くということを理解する
の&J容易である。
Mメモリを((1’ JJI目゛ることは、マイクロコ
ンピュータを通常の形態に、そしてプログラムをim常
の進行を保ち、またり°イクルスU−や不揮発性メモリ
セルの早期エージング現象を防くということを理解する
の&J容易である。
同時に、それは必要な時に情報がす早く、自動的に記憶
されるということを実証する。実際的には電源が切断さ
れた(また(11他の同じような影響のある出来事が起
こった)場合に、情報が維持されるごとにより全゛C不
変のまま残るのである。
されるということを実証する。実際的には電源が切断さ
れた(また(11他の同じような影響のある出来事が起
こった)場合に、情報が維持されるごとにより全゛C不
変のまま残るのである。
以下添付図面に詳細に図示された具体例によって、本発
明の特徴はいっそう明らかになる。
明の特徴はいっそう明らかになる。
第1図によれば、モノリシック構造物5oの中は、従来
技術と本発明とをそれぞれ区別するために記号的に2つ
の部分50aと5 OL+とに分けられており、本発明
に係るマイクロ7ンピ(9) ュータの重要部分がそこには示されている。
技術と本発明とをそれぞれ区別するために記号的に2つ
の部分50aと5 OL+とに分けられており、本発明
に係るマイクロ7ンピ(9) ュータの重要部分がそこには示されている。
従来技術にあるように、マイクロコンピュータは、セン
トラル・プロセッシング・ユニット(CPU)51、リ
ードオンリー・メモリ (ROM)52と、ランダム・
アクセス・メモリ(RAM)53、そしてここでは詳し
く説明されないが、その他種々の回路および機能から構
成されている。
トラル・プロセッシング・ユニット(CPU)51、リ
ードオンリー・メモリ (ROM)52と、ランダム・
アクセス・メモリ(RAM)53、そしてここでは詳し
く説明されないが、その他種々の回路および機能から構
成されている。
一方、本発明によれば、制御用の付加回路と電圧逓倍器
55とを備えた不揮発性RAMメモU 54が従来技術
に付加されており、前記電圧逓倍器から高い電圧Hが得
られ、その電圧は電源が切断された場合にこれを暫定的
に保持する蓄電エレメントを充電するのに使用されるの
である。外部信号Rに制御されるリセントロジソク56
は、電源が切断された瞬間、そしてオンされた瞬間に信
号Rに従ってその動作を行わせるために、回路55とC
PU51とに組合せられている。
55とを備えた不揮発性RAMメモU 54が従来技術
に付加されており、前記電圧逓倍器から高い電圧Hが得
られ、その電圧は電源が切断された場合にこれを暫定的
に保持する蓄電エレメントを充電するのに使用されるの
である。外部信号Rに制御されるリセントロジソク56
は、電源が切断された瞬間、そしてオンされた瞬間に信
号Rに従ってその動作を行わせるために、回路55とC
PU51とに組合せられている。
不揮発性RAM54と、逓倍および制御回路(10)
55そして、リーレソトロジソク5〔jに引−りゎ1成
されるイー1加構成のi′を細は、第2図に示されてお
り、ここに番f RA M 54が一般記−Jを用いζ
fA’iかれているが、それは不揮発性RA M 1’
ニル57のマトリクスによって構成されているとちえら
れている。CP 1.151はバス点呼ばれるそれぞれ
のライン5 Itと59とを浦じ′(ア1−ルス信υを
送り、データ信すを送る(または治う)。1゜述の具体
例G、1第3図に関連しt”f&にA’f’ iホされ
る。
されるイー1加構成のi′を細は、第2図に示されてお
り、ここに番f RA M 54が一般記−Jを用いζ
fA’iかれているが、それは不揮発性RA M 1’
ニル57のマトリクスによって構成されているとちえら
れている。CP 1.151はバス点呼ばれるそれぞれ
のライン5 Itと59とを浦じ′(ア1−ルス信υを
送り、データ信すを送る(または治う)。1゜述の具体
例G、1第3図に関連しt”f&にA’f’ iホされ
る。
逓イ(η及び制御量1/355は2つのスイッチG。
(!: 61 ヲ(Nii ニー(:l; ”)、ソ;
t’1. ;r l:l’、 inn常ノQij+ f
lU、’、 態ではメモリ540)1ピル57にそ+l
’L fれ5Vと20 V (7) 電圧V cc、と
Vppとを給電し、それは同セルが双安定間II8のI
? A Mメモリ、’r−1/メントとして1=常の動
作をするノコめであ、ろ。しがしながら、ロジック5G
の制御の1)とで番、1、+’+ii記2つのスイッチ
4:t +1ii記電11:を修I[″することができ
、前記セルにそれぞれ20VとOvの電圧をもたらす。
t’1. ;r l:l’、 inn常ノQij+ f
lU、’、 態ではメモリ540)1ピル57にそ+l
’L fれ5Vと20 V (7) 電圧V cc、と
Vppとを給電し、それは同セルが双安定間II8のI
? A Mメモリ、’r−1/メントとして1=常の動
作をするノコめであ、ろ。しがしながら、ロジック5G
の制御の1)とで番、1、+’+ii記2つのスイッチ
4:t +1ii記電11:を修I[″することができ
、前記セルにそれぞれ20VとOvの電圧をもたらす。
これは電源がIJ月折されたllq間に1ンへM5/l
の中にデータを記憶するためである。ヌイy−f〜6゜
は必要なVccの(iljを形成するために、ロジック
56に制御される電圧逓倍器62及び電圧レギプーレー
クと[A/l同して、電圧逓倍器64 (この電圧逓倍
器からは信号Hも得られる)によって給電され、そして
11シツク56に制御されるリミッタ63のレートを増
大させる。スィッチ61番11″今度はロジック56に
制御される電圧逓倍器66によって給電される電圧制限
器65と協同する。後者は電圧vppに制御され、CP
TJ51に信号Sを送るごとがihJ能である。
の中にデータを記憶するためである。ヌイy−f〜6゜
は必要なVccの(iljを形成するために、ロジック
56に制御される電圧逓倍器62及び電圧レギプーレー
クと[A/l同して、電圧逓倍器64 (この電圧逓倍
器からは信号Hも得られる)によって給電され、そして
11シツク56に制御されるリミッタ63のレートを増
大させる。スィッチ61番11″今度はロジック56に
制御される電圧逓倍器66によって給電される電圧制限
器65と協同する。後者は電圧vppに制御され、CP
TJ51に信号Sを送るごとがihJ能である。
前述したよ・うに、メモリlマAM54は不揮発111
セル57のマトリクスから構成されている。
セル57のマトリクスから構成されている。
これらのセルは好ましくは第3図に示されるようなもの
である。すなわち、本願出願人が1983年7月270
に出願したイタリア特許願陽22256A/83に記載
されてむ)るようなものである。
である。すなわち、本願出願人が1983年7月270
に出願したイタリア特許願陽22256A/83に記載
されてむ)るようなものである。
上述の出願の詳細な説明を参照してここでは簡単な説明
がなされる。
がなされる。
第3図にはメタル−オキザイドーセミコンダクタ(MO
S)技術により実現される不揮発性ランタ゛ム・アクセ
ス・メ丁〜1 (+’?AM)がゴ、されている。
S)技術により実現される不揮発性ランタ゛ム・アクセ
ス・メ丁〜1 (+’?AM)がゴ、されている。
上j4’>の回1/3では、レルば実T1的には八と1
3との2つの部分から構成されて」9句、A部分番、1
不揮発性メモリエレメントを備えた双安定回路を示し、
B部分は通常の双安定動作状態(即ぢ、スタティックR
AMとしての状態)から双安定回路の状態に関連した情
報の記憶状態への変更を行い、そして、記憶された情報
のiSL帰を行う部分である。
3との2つの部分から構成されて」9句、A部分番、1
不揮発性メモリエレメントを備えた双安定回路を示し、
B部分は通常の双安定動作状態(即ぢ、スタティックR
AMとしての状態)から双安定回路の状態に関連した情
報の記憶状態への変更を行い、そして、記憶された情報
のiSL帰を行う部分である。
双安定回路、即ちA部分は通常2つの連絡された分岐回
路から構成されており、これらは電源ラインV(第2図
のスイッチ6oに制御される)とアースとの間に展開さ
れている。分岐回路の一方は直列に接続されたトランジ
スタ3゜8.9を含んでお幻、トランジスタ8は“デプ
レッション”型であり、双安定回路の負荷トランジスタ
のうちの一つを構成している。一方、トランジスタ9は
同回路の駆動I・ランジスタを構成している。ところが
、トランジスタ3は後(13) 述されるプログラミングステソプにおける制御トランジ
スタとして動作する。
路から構成されており、これらは電源ラインV(第2図
のスイッチ6oに制御される)とアースとの間に展開さ
れている。分岐回路の一方は直列に接続されたトランジ
スタ3゜8.9を含んでお幻、トランジスタ8は“デプ
レッション”型であり、双安定回路の負荷トランジスタ
のうちの一つを構成している。一方、トランジスタ9は
同回路の駆動I・ランジスタを構成している。ところが
、トランジスタ3は後(13) 述されるプログラミングステソプにおける制御トランジ
スタとして動作する。
双安定回路の他方の分岐回路はトランジスタ4.5,7
.11を含んでおり、トランジスタ4゜7.11はそれ
ぞれもう一方の分岐回路のトランジスタ3,9.8に連
絡されている。双安定回路の相互連絡は、トランジスタ
9のゲートと、他方の分岐回路のトランジスタ7とトラ
ンジスタ11との間にある回路結合点16との間の交差
接続と、トランジスタ11のゲートと、他方の分岐回路
のトランジスタ8とトランジスタ9との間にある回路結
合点15との間の交差接続によって実現される。
.11を含んでおり、トランジスタ4゜7.11はそれ
ぞれもう一方の分岐回路のトランジスタ3,9.8に連
絡されている。双安定回路の相互連絡は、トランジスタ
9のゲートと、他方の分岐回路のトランジスタ7とトラ
ンジスタ11との間にある回路結合点16との間の交差
接続と、トランジスタ11のゲートと、他方の分岐回路
のトランジスタ8とトランジスタ9との間にある回路結
合点15との間の交差接続によって実現される。
しかしながら、トランジスタ7の容量はトランジスタ8
の容量の約半分であり、それゆえ−上述のトランジスタ
7は他の分岐回路の電流に対して自分の分岐回路の電流
を2倍の値にセットする傾向にあるということは注意し
なければならない。その−1=、トランジスタ11はト
ランジスタ9より容量が大きく、従って、同じゲート(
14) 電圧とドレイン電流ではトランジスタ11のドレイン電
圧がトランジスタ9の1ツイン電圧よりも高くなるごと
になる。
の容量の約半分であり、それゆえ−上述のトランジスタ
7は他の分岐回路の電流に対して自分の分岐回路の電流
を2倍の値にセットする傾向にあるということは注意し
なければならない。その−1=、トランジスタ11はト
ランジスタ9より容量が大きく、従って、同じゲート(
14) 電圧とドレイン電流ではトランジスタ11のドレイン電
圧がトランジスタ9の1ツイン電圧よりも高くなるごと
になる。
この左右の非対称性は装置定量118の作用を乱すこと
がないが、(多体するようにそれる。1双安定回路がオ
ンされる時に双安定回路の状態に影響を与える。
がないが、(多体するようにそれる。1双安定回路がオ
ンされる時に双安定回路の状態に影響を与える。
エンハンスメント型のトランジスタ5は、そのトレイン
結合点20とソース結合点1つとが、電気的にプロゲラ
J・可能な不揮発性メモリ工lノメント6に並列に接続
されており、このメモリエレメント6番、1そのフロー
ティングゲ−1・18とプログラミングゲ−1・21と
がトランジスタ3と他の分岐回路のトランジスタ8との
間の中間結合点17に接続され)、−例とし°(描かれ
ている。
結合点20とソース結合点1つとが、電気的にプロゲラ
J・可能な不揮発性メモリ工lノメント6に並列に接続
されており、このメモリエレメント6番、1そのフロー
ティングゲ−1・18とプログラミングゲ−1・21と
がトランジスタ3と他の分岐回路のトランジスタ8との
間の中間結合点17に接続され)、−例とし°(描かれ
ている。
さらに詳しく述べると、不揮発性メモリエレメント6は
実施例としてIJS特許問、4,203,158号公報
に示される1ランジスタがら構成されると考えることが
できる。即ち、ごのトランジスタはトレイン20とフロ
ーティングゲ−1−18との間に挿入されたシリコンオ
キサイドの非常に薄い層(100人)の存在に基づくも
のであり、これは導電性になる能力と適度な強さの電界
によって降伏さ−1・られると(ファウラー、ノードハ
イム効果)、フローティングゲート18を充電(正にも
負にも)する能力とを備えている。
実施例としてIJS特許問、4,203,158号公報
に示される1ランジスタがら構成されると考えることが
できる。即ち、ごのトランジスタはトレイン20とフロ
ーティングゲ−1−18との間に挿入されたシリコンオ
キサイドの非常に薄い層(100人)の存在に基づくも
のであり、これは導電性になる能力と適度な強さの電界
によって降伏さ−1・られると(ファウラー、ノードハ
イム効果)、フローティングゲート18を充電(正にも
負にも)する能力とを備えている。
フローティングゲート18の充電においては、一方では
後述する現象により不揮発止エレメント6がほとんどト
ランジスタ5を短絡することができるか否かに依存して
いる。
後述する現象により不揮発止エレメント6がほとんどト
ランジスタ5を短絡することができるか否かに依存して
いる。
ところが、トランジスタ5が短絡されないとトランジス
タ5ばその電圧降下により双安定回路の動作に影響を与
えないが、トランジスタ5は結合点16における高電位
(ロジソクレヘル“1”)を低下させることだけは行う
。
タ5ばその電圧降下により双安定回路の動作に影響を与
えないが、トランジスタ5は結合点16における高電位
(ロジソクレヘル“1”)を低下させることだけは行う
。
交換制御はワードライン24に制御されるゲートを備え
たトランジスタ10と12を通じてビットライン22と
23(第2図のバス59に接続されている)とから双安
定11旧/3にそれぞれ与えられる。
たトランジスタ10と12を通じてビットライン22と
23(第2図のバス59に接続されている)とから双安
定11旧/3にそれぞれ与えられる。
RAMセルの13部分、即ち、ブl’lグラミングまた
はプリチャージ部分はトランジスタ3と4のゲートと、
第2図のスイッチ61に制御されるプログラミングまた
はプリチャージラインWとの間に挿入された並列に接続
された2組のトランジスタ1,2と13.14を備えζ
いる。
はプリチャージ部分はトランジスタ3と4のゲートと、
第2図のスイッチ61に制御されるプログラミングまた
はプリチャージラインWとの間に挿入された並列に接続
された2組のトランジスタ1,2と13.14を備えζ
いる。
トランジスタ1と13のゲートは装置定量1/Nの駆動
トランジスタ9と11のゲートにそれぞれ接続されてい
る。トランジスタ2と14はエンハンスメント型であり
、それぞれのドレイン電極に接続されたケートを持って
いる。
トランジスタ9と11のゲートにそれぞれ接続されてい
る。トランジスタ2と14はエンハンスメント型であり
、それぞれのドレイン電極に接続されたケートを持って
いる。
第3図の不揮発性RA Mセルの結合点の動作、そして
その結果、第2図の不揮発(!L RA Mメモリ54
と、それから構成される第1図のマイクロコンピュータ
概略ば以下の通りである。
その結果、第2図の不揮発(!L RA Mメモリ54
と、それから構成される第1図のマイクロコンピュータ
概略ば以下の通りである。
マイクロコンピュータの通電の動作状態において、ロジ
ック56はスイッチ61により全てのセル57の電源ラ
インWに電圧Vpp= 20 V(17) を印加しており、この20VのラインWの電圧は、約2
■のトランジスタ2と4 (エンハンスメント型)によ
る電圧降下を伴ってI・ランジスタ3と4のゲートに与
えられている。
ック56はスイッチ61により全てのセル57の電源ラ
インWに電圧Vpp= 20 V(17) を印加しており、この20VのラインWの電圧は、約2
■のトランジスタ2と4 (エンハンスメント型)によ
る電圧降下を伴ってI・ランジスタ3と4のゲートに与
えられている。
その結果、l 8 Vの電圧はトランジスタ3と4とを
極めて導電性のある状態にし、この場合、ラインV(セ
ル57への5vの供給を容易にする電圧逓倍器62の助
けを借りて第2図のスイッチ60により5vに保持され
る)に不揮発性トランジスタ6の電極2Iと20とを接
続する実質的な短絡回路として動作する。この状態では
回路は普通の双安定回路として動作し、前述したように
トランジスタ5の存在によっては影響を受けない。
極めて導電性のある状態にし、この場合、ラインV(セ
ル57への5vの供給を容易にする電圧逓倍器62の助
けを借りて第2図のスイッチ60により5vに保持され
る)に不揮発性トランジスタ6の電極2Iと20とを接
続する実質的な短絡回路として動作する。この状態では
回路は普通の双安定回路として動作し、前述したように
トランジスタ5の存在によっては影響を受けない。
信号Rの動作、電源の切断および同様の制御が行われた
後の場合は、これに反して以下のような動作方式となり
、双安定回路の状態に関した情報が保持される、即ち、
不揮発性メモリエレメント6のプログラミングと呼ばれ
る動作が行われる。
後の場合は、これに反して以下のような動作方式となり
、双安定回路の状態に関した情報が保持される、即ち、
不揮発性メモリエレメント6のプログラミングと呼ばれ
る動作が行われる。
(18)
信さRとして伝達されるライン市川の市川降下は、第2
図の1゛1シツク5 fi、スイッチ60と61を通じ
てラインWに電IF V 1111からOVへの降下に
相当する電圧の11(下をルしさせ、その後直ちに電源
ラインVの電圧VccをOvから20■に立ち」二がら
・1!る。
図の1゛1シツク5 fi、スイッチ60と61を通じ
てラインWに電IF V 1111からOVへの降下に
相当する電圧の11(下をルしさせ、その後直ちに電源
ラインVの電圧VccをOvから20■に立ち」二がら
・1!る。
更に詳しく述べれば、スイッチ61はOVに切り換わり
、一方ブ1ニドツク66 L:lその機能を失う。ロジ
ック5 Fi l:lΦ!、換が)1−じ人:1llj
にごれを牟金知し、それからブr:Iツクに4、(i;
3の影響が受け入れられるよ・)にスイッチ〔;()を
制御する。
、一方ブ1ニドツク66 L:lその機能を失う。ロジ
ック5 Fi l:lΦ!、換が)1−じ人:1llj
にごれを牟金知し、それからブr:Iツクに4、(i;
3の影響が受け入れられるよ・)にスイッチ〔;()を
制御する。
これにより、ブ11ツク64で作C】れ、ブ「1ツク6
3 テglIlIQ’lされた20vの電11g力くセ
ル57にノ用えられる。この、!、うな動作段階におい
て、セル57の不揮発1工1ノメント6が111イυ、
を受けないように、ブロック63番才電圧Vr、cの5
vから20■への増加が徐々に行われるように調整する
。
3 テglIlIQ’lされた20vの電11g力くセ
ル57にノ用えられる。この、!、うな動作段階におい
て、セル57の不揮発1工1ノメント6が111イυ、
を受けないように、ブロック63番才電圧Vr、cの5
vから20■への増加が徐々に行われるように調整する
。
双安定回路の置かれた電気的状態(即ら、分岐回路の1
〜ラン2゛2スタフ、11を非環IIIでその結果、結
合点16は高電位であり、分岐回路のトランジスタ8,
9は導通しており、その結果結合点15ば低電位である
状態、逆もまた同様)によれば、トランジスタ1,13
の内の1つはしかしながらそのゲートが高電位で、も・
51つはゲートが低電位である。即ち、1つは導通して
おり、もう1つは非導通である。トランジスタ3,4の
うちの1つはそのゲートが2 (17,Iの1−ランジ
スタ1,13のうちの1つの導通状態にあるものを1f
flじてアース(ラインWの0電位)されており、それ
放卵導通である。
〜ラン2゛2スタフ、11を非環IIIでその結果、結
合点16は高電位であり、分岐回路のトランジスタ8,
9は導通しており、その結果結合点15ば低電位である
状態、逆もまた同様)によれば、トランジスタ1,13
の内の1つはしかしながらそのゲートが高電位で、も・
51つはゲートが低電位である。即ち、1つは導通して
おり、もう1つは非導通である。トランジスタ3,4の
うちの1つはそのゲートが2 (17,Iの1−ランジ
スタ1,13のうちの1つの導通状態にあるものを1f
flじてアース(ラインWの0電位)されており、それ
放卵導通である。
一方、他の1つは実質的には(同じトランジスタのゲー
ト容量と、関係する回路の結合点に組合された拡散容尉
によって)そのゲートの電荷を保持するので導通ずる。
ト容量と、関係する回路の結合点に組合された拡散容尉
によって)そのゲートの電荷を保持するので導通ずる。
トランジスタ2と14はこの動作に影響を与えない、と
いうのはそれらは0■に等しいゲート−ソース間電圧を
備え、反ダイオードとして動作するからである。両方の
分岐回路のトランジスタ3,8.9とトランジスタ4,
7.11はそれ放卵導通であり、そしてその結果、現時
点では約20VのラインVからの電流の吸収ム、1全く
化しない。
いうのはそれらは0■に等しいゲート−ソース間電圧を
備え、反ダイオードとして動作するからである。両方の
分岐回路のトランジスタ3,8.9とトランジスタ4,
7.11はそれ放卵導通であり、そしてその結果、現時
点では約20VのラインVからの電流の吸収ム、1全く
化しない。
この状態で不揮発性メモリエ1.・メン1(iのプログ
ラミング1lil+作は以下のように起こる。
ラミング1lil+作は以下のように起こる。
供給電圧が切断された時点では、双安定回路は分岐回路
のトランジスタ/1,7.I+が非導通状態にあり、分
岐回1/fi (2) トランジスタ3.8゜9が導通
状態にあって、結合点17に接続する不揮発性エレメン
トのプログラミングゲ−1・はアース電位にあ幻、これ
に反して同し不揮発性エレメントの]゛レイン電極20
は、トランジスタ4に前記トランジスタ4のデー1電位
を高電位に保つことによって保a+rされノ、:導通に
よりラインVの電位まで−上昇する。
のトランジスタ/1,7.I+が非導通状態にあり、分
岐回1/fi (2) トランジスタ3.8゜9が導通
状態にあって、結合点17に接続する不揮発性エレメン
トのプログラミングゲ−1・はアース電位にあ幻、これ
に反して同し不揮発性エレメントの]゛レイン電極20
は、トランジスタ4に前記トランジスタ4のデー1電位
を高電位に保つことによって保a+rされノ、:導通に
よりラインVの電位まで−上昇する。
この結果、もし不揮発性工1ノメント(iのフローティ
ングゲ−1−111が予め負に充電されていると、ドレ
イン20からフローティングゲート18への電流の流れ
が生じ、それがフローティングゲート18を正に充電し
、これに反してフローティングゲート18が既に正に充
電されて(21) いるとすると、全てのものは前と同様の状態のままであ
る。それは通過電流が起こらないからである。
ングゲ−1−111が予め負に充電されていると、ドレ
イン20からフローティングゲート18への電流の流れ
が生じ、それがフローティングゲート18を正に充電し
、これに反してフローティングゲート18が既に正に充
電されて(21) いるとすると、全てのものは前と同様の状態のままであ
る。それは通過電流が起こらないからである。
これは導電性に変化があり、その結果薄い酸化層を通っ
て電荷が流れる時は常に起こる不揮発圧エレメントのエ
ージング現象を制限する非常に重要なことである。
て電荷が流れる時は常に起こる不揮発圧エレメントのエ
ージング現象を制限する非常に重要なことである。
これに反して、もし、電源が切断された瞬間は、双安定
回路は枝分枝回路のトランジスタ4゜7.11が導通状
態にあり、分岐回路のトランジスタ3,8.9が非導通
である状態にあり、不揮発圧エレメント6のプログラミ
ングゲート21はトランジスタ3を通じてラインVの電
位まで上昇する(この場合導通状態)という状態にある
。
回路は枝分枝回路のトランジスタ4゜7.11が導通状
態にあり、分岐回路のトランジスタ3,8.9が非導通
である状態にあり、不揮発圧エレメント6のプログラミ
ングゲート21はトランジスタ3を通じてラインVの電
位まで上昇する(この場合導通状態)という状態にある
。
一方、同じ不揮発圧エレメントのドレイン20は、1−
ランジスタフと11を通じてアース電位まで電圧降下す
る。
ランジスタフと11を通じてアース電位まで電圧降下す
る。
その結果、もし既に充電されていなければ、同じフロー
ティングゲート18とドレイン20(22) 間を流れる電流によって、フI:J−ティングゲート1
8は負に充電される。
ティングゲート18とドレイン20(22) 間を流れる電流によって、フI:J−ティングゲート1
8は負に充電される。
結論として、双安定回路の状態にLi’、; uて、不
揮発止ニレメンl−6は、既にj4りべたように電流の
吸収なしにそして強制的41′充′1hと導電性の変化
なしに、それ1″口1のフ1ト号イングリー−1・18
を正に充電したり、負に充電したりする。
揮発止ニレメンl−6は、既にj4りべたように電流の
吸収なしにそして強制的41′充′1hと導電性の変化
なしに、それ1″口1のフ1ト号イングリー−1・18
を正に充電したり、負に充電したりする。
(これら電流の吸収および強制的な充電と導電性の変化
し1、先の充電状態を仮にIIVり消すことが必要な場
合に起こるもので+、る。)この時点において、不揮発
性ニレメンl 6、ごれに関連する一1!ル57そして
最終的にはRAM54とマイクロ−1ンビJ、−夕50
と(11以前にとられた状態に関連して情(・11が記
11.!される。
し1、先の充電状態を仮にIIVり消すことが必要な場
合に起こるもので+、る。)この時点において、不揮発
性ニレメンl 6、ごれに関連する一1!ル57そして
最終的にはRAM54とマイクロ−1ンビJ、−夕50
と(11以前にとられた状態に関連して情(・11が記
11.!される。
不揮発止ニレメンl [iによって(rift実にされ
る充電状態は、装置定量1洛がプ11ゲラミング1幾能
を持つ状態であり、ターンオンの11、一点におLlる
同じ状態の回復に依存する。もし、〕〕1′1−ティン
グゲー1−18が正に充電されると、実際には不揮発性
ニレメン16はトランジスタ5を短絡し、大きな容量の
(そして当然大きな抵抗でもある)トランジスタ11を
結合して負荷1−ランジスタフの電流をHIP実に高く
し、それが結合点16の電位を結合点15よりも上昇さ
せる。その結果、双安定回路は分岐回路のトランジスタ
)(,9が導1fflで、分岐回路のトランジスタ7゜
11が非導通である最初の状態に復帰する。
る充電状態は、装置定量1洛がプ11ゲラミング1幾能
を持つ状態であり、ターンオンの11、一点におLlる
同じ状態の回復に依存する。もし、〕〕1′1−ティン
グゲー1−18が正に充電されると、実際には不揮発性
ニレメン16はトランジスタ5を短絡し、大きな容量の
(そして当然大きな抵抗でもある)トランジスタ11を
結合して負荷1−ランジスタフの電流をHIP実に高く
し、それが結合点16の電位を結合点15よりも上昇さ
せる。その結果、双安定回路は分岐回路のトランジスタ
)(,9が導1fflで、分岐回路のトランジスタ7゜
11が非導通である最初の状態に復帰する。
これとは逆に、もし、プログラミングゲートプにおいて
、)1−1−ティングケート18が負に充電されると、
トランジスタ5は不揮発性1〜ランシスタロによって短
絡されず、わずかな遅延をもってターンオンする。(F
レイン20からソース19への電圧の流れが必要である
。)結合点15の電圧を結合点16の電圧よりも早<−
1=界させ、このようにして双安定回路は分岐回路のト
ランジスタ7.11が導通、分岐回路のトランジスタ8
.9が非導通である初期状態に戻るのである。
、)1−1−ティングケート18が負に充電されると、
トランジスタ5は不揮発性1〜ランシスタロによって短
絡されず、わずかな遅延をもってターンオンする。(F
レイン20からソース19への電圧の流れが必要である
。)結合点15の電圧を結合点16の電圧よりも早<−
1=界させ、このようにして双安定回路は分岐回路のト
ランジスタ7.11が導通、分岐回路のトランジスタ8
.9が非導通である初期状態に戻るのである。
前述したように、本発明のマイクロコンピュータは、情
報処理の通常動作中は、既に定められたプ1コグラムに
従って液晶のスピー1で全く通常の動作を行うが、電源
がIJ+断された場合(あるいは他のtr+似する事象
が起ごった場合)のデータの記す、aは、特別のプロゲ
ラJ、の変り4なしに、自動的にかつず甲く実行可能で
あるとい・うことは容易に11!Iφ1できる。また、
電源が電圧降下した後に記憶を行うことも可能であり、
そのような目的のために電圧Hによって適当にプリチャ
ージされたコンデンサの電荷を使用するごとによって、
不揮発性RへM→?ル5の消費ばほぼゼロであるとII
なすことができる。)1;た、セル57の不揮B f’
l 、メモリエレメント6の電(!il O)変化は、
情報を記憶する時と、セルの前の状態が要求と異なる場
合だLl起こり、エーシング現象は最小に限定されると
いうことも注意すべきである。
報処理の通常動作中は、既に定められたプ1コグラムに
従って液晶のスピー1で全く通常の動作を行うが、電源
がIJ+断された場合(あるいは他のtr+似する事象
が起ごった場合)のデータの記す、aは、特別のプロゲ
ラJ、の変り4なしに、自動的にかつず甲く実行可能で
あるとい・うことは容易に11!Iφ1できる。また、
電源が電圧降下した後に記憶を行うことも可能であり、
そのような目的のために電圧Hによって適当にプリチャ
ージされたコンデンサの電荷を使用するごとによって、
不揮発性RへM→?ル5の消費ばほぼゼロであるとII
なすことができる。)1;た、セル57の不揮B f’
l 、メモリエレメント6の電(!il O)変化は、
情報を記憶する時と、セルの前の状態が要求と異なる場
合だLl起こり、エーシング現象は最小に限定されると
いうことも注意すべきである。
しかしながら、ターンオン時には全て前の状態に復帰す
る、即ち全てのセル5711元の記憶状態に復帰するの
である。
る、即ち全てのセル5711元の記憶状態に復帰するの
である。
(25)
第1図は本発明に係るマイクロコンピュータの概略構成
図、第2図は前記マイクロコンピュータに含まれる不揮
発性RAMメモリの詳細および関連制御と電圧逓倍回路
を詳細に示すブロック図、第3図は前述の不揮発性RA
Mメモリにより構成された不揮発性メモリセルの実施例
の詳細を示す回路図である。 1〜5・・・トランジスタ、6・・・メモリエレメント
、7〜14・・・トランジスタ、15・・・回路結合点
、16・・・結合点、17・・・中間結合点、18・・
・フローティングゲート、19・・・ソース接続点、2
0・・・ドレイン接続点、21・・・プログラミングゲ
ート、22.23・・・ビットライン、24・・・ワー
ドライン、51・・・CPU、52・・・ROM。 53・・・RAM、54・・・不揮発性RAMメモリ、
55・・・電圧逓倍器、56・・・リセットロジック、
57・・・RAMセル、60.61・・・スイッチ、■
・・・電源ライン、W・・・プログラミングまたはプリ
チャージライン、■、・・・主給電ライン。 (26) 第1頁の続き 0発 明 者 ロベルト・フィナウリ イタリア共和国
。 二 −ノ、12 0発 明 者 マウリツィオ・ガイボ イタリア共和国
。 ツチ ノ、2 60125 アンコナ ヴイア・ティツィア20030
バルラッシーナ ヴイア会ミラ575−
図、第2図は前記マイクロコンピュータに含まれる不揮
発性RAMメモリの詳細および関連制御と電圧逓倍回路
を詳細に示すブロック図、第3図は前述の不揮発性RA
Mメモリにより構成された不揮発性メモリセルの実施例
の詳細を示す回路図である。 1〜5・・・トランジスタ、6・・・メモリエレメント
、7〜14・・・トランジスタ、15・・・回路結合点
、16・・・結合点、17・・・中間結合点、18・・
・フローティングゲート、19・・・ソース接続点、2
0・・・ドレイン接続点、21・・・プログラミングゲ
ート、22.23・・・ビットライン、24・・・ワー
ドライン、51・・・CPU、52・・・ROM。 53・・・RAM、54・・・不揮発性RAMメモリ、
55・・・電圧逓倍器、56・・・リセットロジック、
57・・・RAMセル、60.61・・・スイッチ、■
・・・電源ライン、W・・・プログラミングまたはプリ
チャージライン、■、・・・主給電ライン。 (26) 第1頁の続き 0発 明 者 ロベルト・フィナウリ イタリア共和国
。 二 −ノ、12 0発 明 者 マウリツィオ・ガイボ イタリア共和国
。 ツチ ノ、2 60125 アンコナ ヴイア・ティツィア20030
バルラッシーナ ヴイア会ミラ575−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、一体構造のマイクロ:1ンピユータであって、前記
一体構造は制御および電圧逓倍回路を備えた不揮発性R
AMメモリを含んでおり、前記不揮発性RAMは電源の
切断(または他の類似した事象)の起こる時に、自動的
に記憶状態をとることができる不揮発性RAMセルのマ
トリクスによって構成されていることを特徴とする一体
構造のマイク11:1ンピュータ。 2、前述のどの不揮発性1? A Mセルも交7ノに導
通となったり非導通となったりする2つの相fI−に連
絡する分岐回路を(di+えており、前記分岐回路の1
つは不揮発性メモリエレメントを含んでおり、そのメモ
リエレメントは2つの異なっ六:電気的状態の一方もし
くし才他方の状態のt)とでプロゲラJ・可能であり、
その状態G、1前記双安定(1) 。 回路が電源ラインが切断した時の状態であるか、または
他の類似した事象が起こった時の状態であり、またメモ
リエレメントは前記電源ラインがターンオンした時の双
安定回路の前記状態への復帰を引き起こすことも可能で
あって、前記双安定回路のどちらの分岐回路も制御スイ
ッチニレメン1〜を含んでおり、それらは電源の状態と
双安定回路の他方の分岐回路の状態によって制御され、
その結果前記電源の切断により、双安定回路の非導通状
態の分岐回路が、電流吸収なしに前記不揮発性エレメン
トのプログラミングのために同じ双安定回路の導通状態
の分岐回路の非導通を引き起こすことを特徴する特許請
求の範囲第1項記載の不揮発性RAMメモリを備えたマ
イクロコンピュータ。 3、前記制御スイッチエレメントが前記双安定回路のそ
れぞれの分岐回路の間に挿入されたトランジスタと、電
源ラインの切断に反応して一時的に高い電圧に切り換わ
る低電圧ラインとから構成され、前記制御トランジスタ
は、電源う(2) インが切断した時に切り換わって)2−スミ位となルコ
とができる1111電11の?Ii i’Jr+I ’
y f、’/ l::、 ll; Ljするゲートとを
備えており、前記接続はそのゲート電圧が双安定回路の
前記他方の/、)岐回1/3の状態に依存する状態検出
1ランジスタを含んでいることを特徴とする’f’ri
i’+請求の範囲f(S 2 +l’i記載の不揮発性
1?AMメモリを備えたマイク瞥=1コンピュータ。 4、前記不揮発性メ′Eリエレメン1は、そのフローテ
ィングゲートが、装置)iコ回1/8の分岐回路と直列
に位置する回路結合点に接続さ++、 f、=プ11グ
ラミングゲ−1と、装置定回1−8の他力の分岐回路に
挿入されノこ短絡可能な1ランジスタの、1つになった
ド1ツインとソース塩4Ilfi t、’:、並列に接
続された2つのF L−インとソース電極との間に挿入
されCいる、ことを特n−+ 、=する特許請求の範囲
第3項記載の不揮発性RAMメモリを備えたマイクロコ
ンピュータ。 5、前記電源ラインの低−凸の変換のために、前記電圧
制御おJ、び電圧jjI1倍回1/i% l;l、外部
から(3) の制御に対して敏感で、電源の切断状態またはその他の
類偵の事象状態を指示するリセ7 l−L:1シツクに
制御されるスイッチを含んでいることを特徴とする特許
請求の範囲第3項記載の不揮発性RAMメモリを備えた
マイクロコンピュータ。 6、どの変換器も電圧制限器を備えた電圧逓倍器に組合
されており、前記電圧逓倍器は前記いずれのラインにも
他方より大きい電圧を発生させることを特徴とする特許
請求の範囲第5項記載の不揮発性RA Mメモリを備え
たマイクロコンピュータ。 7、低電圧う、インに接続する電圧レギュレータには、
また電圧増加リミッタが組合わされており、これは電源
の切断に対応して前記低電圧を前記高電圧に増大する時
の時間を調整できることを特徴とする特許請求の範囲第
6項記載の不Jiff 発性RA Mメモリを備えたマ
イクロコンピュータ。 8、前記制御および逓倍回路は高い電圧の信号(4) を作ることができ、これは蓄電上1ノメントの充電に使
用され、そしてこの蓄電上【/メントは電源の切断後に
予め設>ifされた11.’、間だし1電源電j1:。 を保持することができることを特徴とする特、i1請求
の範囲第1項記載の不揮発(IfRAMメモリを備えた
マイクロコンピュータ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT8322415A IT1215224B (it) | 1983-08-04 | 1983-08-04 | Microcalcolatore a struttura integrata munito di memoria ram non volatile. |
| IT22415A/83 | 1983-08-04 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6055596A true JPS6055596A (ja) | 1985-03-30 |
| JPH0715797B2 JPH0715797B2 (ja) | 1995-02-22 |
Family
ID=11195996
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59163754A Expired - Lifetime JPH0715797B2 (ja) | 1983-08-04 | 1984-08-03 | 不揮発性ramメモリを備えたマイクロコンピユ−タ |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4638465A (ja) |
| JP (1) | JPH0715797B2 (ja) |
| DE (1) | DE3424765C2 (ja) |
| FR (1) | FR2550361B1 (ja) |
| GB (1) | GB2144891B (ja) |
| IT (1) | IT1215224B (ja) |
Families Citing this family (29)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2516906B2 (ja) * | 1985-09-20 | 1996-07-24 | カシオ計算機株式会社 | デ−タ伝送装置 |
| JPS62256296A (ja) * | 1986-04-30 | 1987-11-07 | Fujitsu Ltd | 半導体不揮発性記憶装置 |
| US5001670A (en) * | 1987-02-06 | 1991-03-19 | Tektronix, Inc. | Nonvolatile memory protection |
| US5157270A (en) * | 1987-10-31 | 1992-10-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Reset signal generating circuit |
| JPH06100947B2 (ja) * | 1988-01-29 | 1994-12-12 | 日本電気株式会社 | 電源制御回路 |
| DE3817852C1 (ja) * | 1988-05-26 | 1989-07-27 | Total Walther Feuerschutz Gmbh, 5000 Koeln, De | |
| US5375247A (en) * | 1988-07-28 | 1994-12-20 | Robert Bosch Gmbh | Apparatus for controlled switching of a microcomputer to standby mode |
| US4965828A (en) * | 1989-04-05 | 1990-10-23 | Quadri Corporation | Non-volatile semiconductor memory with SCRAM hold cycle prior to SCRAM-to-E2 PROM backup transfer |
| EP0617363B1 (en) | 1989-04-13 | 2000-01-26 | SanDisk Corporation | Defective cell substitution in EEprom array |
| GB2266790B (en) * | 1989-11-28 | 1994-06-22 | Toshiba Kk | A microwave oven |
| JPH03269385A (ja) * | 1990-03-20 | 1991-11-29 | Pioneer Electron Corp | Gps受信機 |
| US5414671A (en) * | 1990-05-01 | 1995-05-09 | Sharp Kabushimi Kaisha | Semiconductor memory device having operation control means with data judging function |
| DE4404131C2 (de) * | 1994-02-09 | 1998-07-23 | Siemens Ag | Batteriefreie Datenpufferung |
| JPH0869693A (ja) * | 1994-08-30 | 1996-03-12 | Mitsubishi Electric Corp | スタティック型半導体記憶装置 |
| US5923582A (en) * | 1997-06-03 | 1999-07-13 | Cypress Semiconductor Corp. | SRAM with ROM functionality |
| US5986932A (en) * | 1997-06-30 | 1999-11-16 | Cypress Semiconductor Corp. | Non-volatile static random access memory and methods for using same |
| US5914895A (en) * | 1997-09-10 | 1999-06-22 | Cypress Semiconductor Corp. | Non-volatile random access memory and methods for making and configuring same |
| US6070229A (en) * | 1997-12-02 | 2000-05-30 | Sandcraft, Inc. | Cache memory cell with a pre-programmed state |
| DE19753840C1 (de) * | 1997-12-04 | 1999-04-08 | Siemens Ag | Mikroprozessor-gestütztes Steuergerät für Benzin- und Dieselmotoren |
| DE19818853B4 (de) * | 1998-04-28 | 2004-08-05 | Zentrum Mikroelektronik Dresden Ag | Integrierte Logikschaltungsanordnung |
| US6122216A (en) * | 1998-12-09 | 2000-09-19 | Compaq Computer Corporation | Single package dual memory device |
| DE10127466C1 (de) * | 2001-06-07 | 2002-11-28 | Ahrens & Birner Company Gmbh | Verfahren und Anordnung mit D-RAM und S-RAM zur Sicherstellung der Datenremanenz |
| US8072834B2 (en) * | 2005-08-25 | 2011-12-06 | Cypress Semiconductor Corporation | Line driver circuit and method with standby mode of operation |
| US7859925B1 (en) | 2006-03-31 | 2010-12-28 | Cypress Semiconductor Corporation | Anti-fuse latch self-test circuit and method |
| US7760540B2 (en) * | 2006-12-22 | 2010-07-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Combination SRAM and NVSRAM semiconductor memory array |
| US7710776B2 (en) * | 2006-12-27 | 2010-05-04 | Cypress Semiconductor Corporation | Method for on chip sensing of SONOS VT window in non-volatile static random access memory |
| US7859906B1 (en) | 2007-03-30 | 2010-12-28 | Cypress Semiconductor Corporation | Circuit and method to increase read margin in non-volatile memories using a differential sensing circuit |
| US8964456B2 (en) | 2012-04-26 | 2015-02-24 | Gn Resound A/S | Semiconductor memory with similar RAM and ROM cells |
| EP2657939B1 (en) | 2012-04-26 | 2015-05-27 | GN Resound A/S | A semiconductor memory with similar RAM and ROM cells |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5764390A (en) * | 1980-09-30 | 1982-04-19 | Ibm | Memory device |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3980935A (en) * | 1974-12-16 | 1976-09-14 | Worst Bernard I | Volatile memory support system |
| US4207615A (en) * | 1978-11-17 | 1980-06-10 | Intel Corporation | Non-volatile ram cell |
| JPS56500108A (ja) * | 1979-03-13 | 1981-02-05 | ||
| NL8004852A (nl) * | 1979-08-31 | 1981-03-03 | Xicor Inc | Geintegreerde, in stijgtijd geregelde, spanning- generatorstelsels. |
| JPS56122132U (ja) * | 1980-02-18 | 1981-09-17 |
-
1983
- 1983-08-04 IT IT8322415A patent/IT1215224B/it active
-
1984
- 1984-01-31 US US06/575,686 patent/US4638465A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-07-05 DE DE3424765A patent/DE3424765C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1984-07-11 GB GB08417635A patent/GB2144891B/en not_active Expired
- 1984-08-03 JP JP59163754A patent/JPH0715797B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1984-08-03 FR FR848412343A patent/FR2550361B1/fr not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5764390A (en) * | 1980-09-30 | 1982-04-19 | Ibm | Memory device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2144891A (en) | 1985-03-13 |
| IT8322415A0 (it) | 1983-08-04 |
| FR2550361A1 (fr) | 1985-02-08 |
| DE3424765C2 (de) | 1996-01-04 |
| IT1215224B (it) | 1990-01-31 |
| US4638465A (en) | 1987-01-20 |
| FR2550361B1 (fr) | 1990-02-02 |
| JPH0715797B2 (ja) | 1995-02-22 |
| DE3424765A1 (de) | 1985-02-14 |
| GB2144891B (en) | 1986-12-03 |
| GB8417635D0 (en) | 1984-08-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6055596A (ja) | 不揮発性ramメモリを備えたマイクロコンピユ−タ | |
| JP4047375B2 (ja) | フラッシュeepromメモリの逐次プログラミング | |
| JP2003077283A (ja) | 半導体集積回路、半導体不揮発性メモリ、メモリカード及びマイクロコンピュータ | |
| JP2000251483A (ja) | 1チップマイクロコンピュータとそのデータリフレッシュ方法 | |
| JP2004319034A (ja) | データプロセッサ | |
| JP2004103153A (ja) | 不揮発性半導体記憶装置の電圧発生回路 | |
| TW454193B (en) | Wordline driver for flash electrically erasable programmable read only memory (EEPROM) | |
| KR960035650A (ko) | 반도체 기억장치 | |
| US5274778A (en) | EPROM register providing a full time static output signal | |
| JPS621193A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JP3121862B2 (ja) | 強誘電体メモリを利用したプログラマブルロジックデバイス | |
| JP3998908B2 (ja) | 不揮発性メモリ装置 | |
| JP3193810B2 (ja) | 不揮発性半導体記憶装置及びその試験方法 | |
| US6166968A (en) | Semiconductor memory having a negative voltage generator for an erasing operation | |
| JP2003007100A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| US20040165445A1 (en) | Semiconductor nonvolatile storage device | |
| JPS6055595A (ja) | 不揮発性ramメモリセル | |
| EP0668593B1 (en) | Regulation circuit and method for the erasing phase of non-volatile memory cells | |
| US20030227294A1 (en) | Programming circuit and method having extended duration programming capabilities | |
| WO2006001058A1 (ja) | 半導体装置及びソース電圧制御方法 | |
| CN111402943B (zh) | 减少非型闪存读操作泵面积方法、系统、储存介质和终端 | |
| JPS63108595A (ja) | 電気的にプログラム可能な不揮発性メモリ | |
| JPH03123118A (ja) | プログラマブルスイッチ回路 | |
| JP3530402B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JPH04366495A (ja) | 不揮発性メモリ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |