JPS6057263A - ロジツク・アナライザ - Google Patents
ロジツク・アナライザInfo
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- JPS6057263A JPS6057263A JP4897884A JP4897884A JPS6057263A JP S6057263 A JPS6057263 A JP S6057263A JP 4897884 A JP4897884 A JP 4897884A JP 4897884 A JP4897884 A JP 4897884A JP S6057263 A JPS6057263 A JP S6057263A
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/25—Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はデジタル信号のチェック機能を有するロジック
・アナライザに関する。
・アナライザに関する。
従来のロジック・アナライザは、単にデジタル信号を捕
捉するのみで、サイクル的に生じるデジタル信号が毎回
正しく発生しているかの判別は困難で、デジタル信号の
チェックはできなかった。
捉するのみで、サイクル的に生じるデジタル信号が毎回
正しく発生しているかの判別は困難で、デジタル信号の
チェックはできなかった。
本発明は前記欠点に鑑みなされたもので、以前記憶した
デジタル信号と最新に記憶したデジタル信号の比較チェ
ックを行なうようにしたロジック・アナライザを提供す
ることを目的とする。
デジタル信号と最新に記憶したデジタル信号の比較チェ
ックを行なうようにしたロジック・アナライザを提供す
ることを目的とする。
(表示形式の指定)
例えば32チヤンネルのデジタル入力データを所定のパ
ラメータに分配し、データを形式化する。
ラメータに分配し、データを形式化する。
第1図は本発明のロジック・アナライザの表示形式の指
定を示す図で、CRT上に表示される。各隣接するチャ
ンネルのデータは、6個のラベル(LABEL ) A
−Fの中の1 (flitに割り当てられる。同じラ
ベルに割り当てられたチャンネルのデータは、グループ
を形成し、単一のパラメータとして振舞う。第1図中、
長方形で囲った部分は選択的に入力可能なフィールド°
を示ず。第1図において、ボンド(POD)3.4のチ
ャンネルであるア1ルスハスの16ビン(−はラベルへ
に、ボッl−2のチャンネルであるデータバスの8ピッ
l−はラベルDに割り当てられている。又、ボッド1の
1ビットはラベルFに割り当てられ、残りの7ビソI−
は割り当てられていない(記号Xで表す)。その他の指
定およびデータ操作は、前記ラベルに基づいて行なわれ
る。図では、ラベルA、D、Fの論理極性(LOGIC
POLARITY)が各々正(+)の場合が示されてお
り、論理極性が正の場合を論理1と判断する。基数(N
UMBRICAL BASE)は各々16進(HEX)
、16進、2進(B I N)で定義されている。前記
基数はその他に、8進(OCT)、10進(D E C
)で定義することも可能である。又、入力データがサン
プルされるときの正あるいは負のクロック遷移(CLO
CK 5LOPE )が示される。第1図では、クロッ
ク遷移が正の場合が示しである。
定を示す図で、CRT上に表示される。各隣接するチャ
ンネルのデータは、6個のラベル(LABEL ) A
−Fの中の1 (flitに割り当てられる。同じラ
ベルに割り当てられたチャンネルのデータは、グループ
を形成し、単一のパラメータとして振舞う。第1図中、
長方形で囲った部分は選択的に入力可能なフィールド°
を示ず。第1図において、ボンド(POD)3.4のチ
ャンネルであるア1ルスハスの16ビン(−はラベルへ
に、ボッl−2のチャンネルであるデータバスの8ピッ
l−はラベルDに割り当てられている。又、ボッド1の
1ビットはラベルFに割り当てられ、残りの7ビソI−
は割り当てられていない(記号Xで表す)。その他の指
定およびデータ操作は、前記ラベルに基づいて行なわれ
る。図では、ラベルA、D、Fの論理極性(LOGIC
POLARITY)が各々正(+)の場合が示されてお
り、論理極性が正の場合を論理1と判断する。基数(N
UMBRICAL BASE)は各々16進(HEX)
、16進、2進(B I N)で定義されている。前記
基数はその他に、8進(OCT)、10進(D E C
)で定義することも可能である。又、入力データがサン
プルされるときの正あるいは負のクロック遷移(CLO
CK 5LOPE )が示される。第1図では、クロッ
ク遷移が正の場合が示しである。
即ち(+)で示される。
第16図は、本発明のロジック・アナライザにおける表
示形成のための論理動作の流れを示す図で、第15図は
本発明のロジック・アナライザのラベル表示形式ファイ
ルを示す図である。第16図において、キーボード11
00を介してラベル割当て、基数等を表わす信号がマイ
クロプロセッサ800に入力されると、第15図に詳細
に示すようなラベル表示形式ファイルが構成される。こ
れは表示形式を指定するパラメータを含んでいる。
示形成のための論理動作の流れを示す図で、第15図は
本発明のロジック・アナライザのラベル表示形式ファイ
ルを示す図である。第16図において、キーボード11
00を介してラベル割当て、基数等を表わす信号がマイ
クロプロセッサ800に入力されると、第15図に詳細
に示すようなラベル表示形式ファイルが構成される。こ
れは表示形式を指定するパラメータを含んでいる。
又、連結定義により、A、B、C順に連なったASCI
I表示データファイルおよびグラフ表示データファイル
において、ストアされた即ち書き込まれたデータステー
ト(ストアトデータステート)を処理するのに利用され
る。一方、捕捉システム250で捕捉された入力データ
ステートは記憶装置410,420に記憶される。前記
記憶された入力データステートは、前記2つの表示ファ
イルに対応する形式で表示制御モジュール700を駆動
し、表示部(CRT)1000で対応する形式の表示が
成される。
I表示データファイルおよびグラフ表示データファイル
において、ストアされた即ち書き込まれたデータステー
ト(ストアトデータステート)を処理するのに利用され
る。一方、捕捉システム250で捕捉された入力データ
ステートは記憶装置410,420に記憶される。前記
記憶された入力データステートは、前記2つの表示ファ
イルに対応する形式で表示制御モジュール700を駆動
し、表示部(CRT)1000で対応する形式の表示が
成される。
(トレース条件)
第2図はトレース条件を示す図で、まずその概要を述べ
る。第1図で説明したように各チャンネネルの入力デー
タは、各々割り当てられたラベル毎に、指定されたクロ
ック遷移でサンプルされる。
る。第1図で説明したように各チャンネネルの入力デー
タは、各々割り当てられたラベル毎に、指定されたクロ
ック遷移でサンプルされる。
トレース条件によって、サンプルされたデータの中のい
ずれが表示用にストアされるべきかというクオリファイ
条件が決定され又、どのサンプルされたデータが計数測
定のために計数されるべきかが決定される。前記クオリ
ファイ条件として、所望の条件を満たす時(例えばデジ
タル入力信号若しくは他の外部信号が所定の状態になっ
た時)のクロックに同期するデータをメモリ内に書き込
むクロンククオリファイ条件および所望のデータパター
ンのみをメモリ内に書き込むブータフオリファイ条件等
がある。トレース条件として前記の他に選択的トレース
および計数測定を指定する条種等がある。割り当てられ
た入力データは基数が2進の場合、■、0およびX(無
関係)の任意の組み合せで定義される。又、基数が8進
、10進。
ずれが表示用にストアされるべきかというクオリファイ
条件が決定され又、どのサンプルされたデータが計数測
定のために計数されるべきかが決定される。前記クオリ
ファイ条件として、所望の条件を満たす時(例えばデジ
タル入力信号若しくは他の外部信号が所定の状態になっ
た時)のクロックに同期するデータをメモリ内に書き込
むクロンククオリファイ条件および所望のデータパター
ンのみをメモリ内に書き込むブータフオリファイ条件等
がある。トレース条件として前記の他に選択的トレース
および計数測定を指定する条種等がある。割り当てられ
た入力データは基数が2進の場合、■、0およびX(無
関係)の任意の組み合せで定義される。又、基数が8進
、10進。
16進の場合には英数字およびXで定義される。
予め定めたステートシーケンスを満足する入力データに
応答して、トレース位置を初め(5TART)、中央(
CENTEll)あるいは終り(END )に選択する
こともできるので、選択的トレースが可能である。7ス
テートまでのステートシーケンス条件が設定でき、シー
ケンス条件に含まれない中間ステートは無視される。
応答して、トレース位置を初め(5TART)、中央(
CENTEll)あるいは終り(END )に選択する
こともできるので、選択的トレースが可能である。7ス
テートまでのステートシーケンス条件が設定でき、シー
ケンス条件に含まれない中間ステートは無視される。
最も単純なステートシーケンスは単一のステート条件で
ある。
ある。
ブランチ、ループあるいはネステソド形のステー 1−
もステートシーケンスを適切に定義することによって直
接解析できる。更に、ステートシーケンスにおける各ス
テート条件は、該ステート条件が満足される前に1〜6
5536回生じるように指定できる。これによって、所
定のステート条件にて始まるループのn番目のパスを解
析することができる。クロック遅延は、いずれかのステ
ートのn番目の発生状態を定義することによって具わる
。
もステートシーケンスを適切に定義することによって直
接解析できる。更に、ステートシーケンスにおける各ス
テート条件は、該ステート条件が満足される前に1〜6
5536回生じるように指定できる。これによって、所
定のステート条件にて始まるループのn番目のパスを解
析することができる。クロック遅延は、いずれかのステ
ートのn番目の発生状態を定義することによって具わる
。
予め定めた再スタートステート条件が、ステートシーケ
ンスが満足される前に生じる場合、トレース論理回路は
ステートシーケンスが満足されるまで、シーケンス動作
を再度繰り返す。ステートシーケンスで定義されたステ
ート以外の全ステートが生じたとき再スタートする条件
が設定された場合、定義されたステートシーケンス間に
ステートが存在してはならない。もし、定義されたステ
ート間に他のスタートが生じると、再スタートされる。
ンスが満足される前に生じる場合、トレース論理回路は
ステートシーケンスが満足されるまで、シーケンス動作
を再度繰り返す。ステートシーケンスで定義されたステ
ート以外の全ステートが生じたとき再スタートする条件
が設定された場合、定義されたステートシーケンス間に
ステートが存在してはならない。もし、定義されたステ
ート間に他のスタートが生じると、再スタートされる。
次に第2図を用いトレース条件を詳細に説明する。図で
、ラベル、基数等は第1図に対応している。第2図にお
いて、ステートシーケンス条件は、ラベルAのステー1
−が、03CFが2回、 03E2が3回、 0011
:1が1同順に生じた後、03E3が1回発生したこと
に基づいてトリガされ、1−レースされる場合を示して
いる。なお、ラベルD、FはXなのでシーケンス条件に
関係しない。又、トレース位置は初め(START ’
)に設定されている。この設定は第6図のFIELD
5ELFICTキーにより成される。第2図のシーケン
ス条件が設定された場合において、ラヘ月補の03E3
を含んでそれ以後に発生したクオリファイ条件を満たす
64個のデータステ−1・が記憶装置内に書き込まれた
後、書き込みは停止する。
、ラベル、基数等は第1図に対応している。第2図にお
いて、ステートシーケンス条件は、ラベルAのステー1
−が、03CFが2回、 03E2が3回、 0011
:1が1同順に生じた後、03E3が1回発生したこと
に基づいてトリガされ、1−レースされる場合を示して
いる。なお、ラベルD、FはXなのでシーケンス条件に
関係しない。又、トレース位置は初め(START ’
)に設定されている。この設定は第6図のFIELD
5ELFICTキーにより成される。第2図のシーケン
ス条件が設定された場合において、ラヘ月補の03E3
を含んでそれ以後に発生したクオリファイ条件を満たす
64個のデータステ−1・が記憶装置内に書き込まれた
後、書き込みは停止する。
この場合、03E3およびそれに対応するラベルD。
Fのデータ等が最初の位置に表示され、そしてそれ以後
に書き込まれたストアトスチーl−が続いて表示される
。l・レース位置を中央(CENT[u+?)に設定し
た場合には、03E3を中心に前後のデータステー1−
がストアされた後、書込みは停止する。[・しの発生に
より店−込みは停止し、それ以前に店−込まれたデータ
ステーI−が表示される。ここで、前記クオリファイ条
件とは、ラベ)L、=Aに関していえば、03E1のみ
をスI−アするというブータフオリファイ条件であり、
ラベルD、Pに関していえば、チー・ルへのデータが0
31E1になった時のクロックに同期するデータをスI
−アするというクロソククオリファイ条件である。置火
マ個のステー1−をストアする様に指定できる。所望の
サンプルステートのみを選択的にストアすることにより
、不必要なステートを省くことができるので、メモリ容
量(本実jii4例の場合64行を記憶可能)を擬似的
に拡大できる。
に書き込まれたストアトスチーl−が続いて表示される
。l・レース位置を中央(CENT[u+?)に設定し
た場合には、03E3を中心に前後のデータステー1−
がストアされた後、書込みは停止する。[・しの発生に
より店−込みは停止し、それ以前に店−込まれたデータ
ステーI−が表示される。ここで、前記クオリファイ条
件とは、ラベ)L、=Aに関していえば、03E1のみ
をスI−アするというブータフオリファイ条件であり、
ラベルD、Pに関していえば、チー・ルへのデータが0
31E1になった時のクロックに同期するデータをスI
−アするというクロソククオリファイ条件である。置火
マ個のステー1−をストアする様に指定できる。所望の
サンプルステートのみを選択的にストアすることにより
、不必要なステートを省くことができるので、メモリ容
量(本実jii4例の場合64行を記憶可能)を擬似的
に拡大できる。
また、指定したステートがN回生しる毎に、1iii記
指定したステートをストアするように設定できる(OC
CtlR)。さらに、ストアされている64ステ一ト間
の時間、ステート発生数が測定され、次の2形式のいず
れかによって表示される。
指定したステートをストアするように設定できる(OC
CtlR)。さらに、ストアされている64ステ一ト間
の時間、ステート発生数が測定され、次の2形式のいず
れかによって表示される。
絶対形式、、、、、、 l−レース位置からの計数値相
対形式1.190.前のス(−アされたステー1・から
の計数値 時間計数は順次ストアされるステー1・の間の内部クロ
ックの発生′数を計数することに、よってなされそして
表示は秒単位で行なわれる。またステート計数は、順次
ストアされるステート間に発生するステート数を計数す
る。前記計数はクロックの数を基にして行なわれる。な
お、図示の場合の再スタート条件(1?EsTART
)は03E4であり、シーケンス中に03E4が生じた
場合には、トリガ条件が再スタートされ、03C[+の
検出から開始される。
対形式1.190.前のス(−アされたステー1・から
の計数値 時間計数は順次ストアされるステー1・の間の内部クロ
ックの発生′数を計数することに、よってなされそして
表示は秒単位で行なわれる。またステート計数は、順次
ストアされるステート間に発生するステート数を計数す
る。前記計数はクロックの数を基にして行なわれる。な
お、図示の場合の再スタート条件(1?EsTART
)は03E4であり、シーケンス中に03E4が生じた
場合には、トリガ条件が再スタートされ、03C[+の
検出から開始される。
(測定値の内部記+!り
64個のサンプルトステートの完全な測定値は内部的に
ストアされ、また該測定値は表示形式、l−レース条件
および表示の指定とステートシーケンスを定義するステ
ー1−条件を満足せしめるサンプルトステートが含まれ
る。最新の測定値はストアされて、後の解析のためにス
トアト測定値ななる。
ストアされ、また該測定値は表示形式、l−レース条件
および表示の指定とステートシーケンスを定義するステ
ー1−条件を満足せしめるサンプルトステートが含まれ
る。最新の測定値はストアされて、後の解析のためにス
トアト測定値ななる。
トレース比較モードにおいて、前にストアされたトレー
スの結果を前記最新の測定値と比較し、そして利用でき
る。なお前記トレース比較については、以下により詳細
に述べる。
スの結果を前記最新の測定値と比較し、そして利用でき
る。なお前記トレース比較については、以下により詳細
に述べる。
(表示の指定)
表示形式には、リスト表示、グラフ表示、比較モード表
示の3種類がある。
示の3種類がある。
第3図は、ストアトデータステートのリスト表示を示す
図である。図において、リストばストアトステートの発
生順で示すリスティングである。
図である。図において、リストばストアトステートの発
生順で示すリスティングである。
20ステート(1ライン当り1ステート)が同時にCR
7表示面上に現れる。後述する1701ルキーにより、
64ストアトステー1−の走査が可能となる。各ライン
には、ライン番号、割り当てられたラベルにアルファベ
ント順にてそれらの基数に従ってストアされたステー1
・J、9よびステート計数値が表示されており又、選択
により時間計数値が表示される。
7表示面上に現れる。後述する1701ルキーにより、
64ストアトステー1−の走査が可能となる。各ライン
には、ライン番号、割り当てられたラベルにアルファベ
ント順にてそれらの基数に従ってストアされたステー1
・J、9よびステート計数値が表示されており又、選択
により時間計数値が表示される。
なおこの場合は、1−レース条件の設定により、ラベル
八にて031ミ3.031E4. Q3EL等のステー
1・時のデータがストアされたことを示す。
八にて031ミ3.031E4. Q3EL等のステー
1・時のデータがストアされたことを示す。
第4図は、ストアトデータステートのグラフ表示を示す
図である。第4図において、グラフは、指定ラベルにお
けるデータの大きさと(縦軸)と64ストアトステート
すべてのストレージ位置く横軸)との関係を示す。各ス
テートにより、その2進の大きさに対応した垂直位置が
与えられ、また連続的なステートの発生順序に従って水
平位置が大きくなる。グラフ表示されるべきラベルは・
グラフトラベル(GR八へIED LABEL )を指
定することによって選択される。第4図には、ラベルF
を選択した場合を示す。縦軸のスケーリング設定ば、縦
軸上の上限(UPPERLIMIT )および下限(L
OWIERLIMIT )を指定することによって制御
される。
図である。第4図において、グラフは、指定ラベルにお
けるデータの大きさと(縦軸)と64ストアトステート
すべてのストレージ位置く横軸)との関係を示す。各ス
テートにより、その2進の大きさに対応した垂直位置が
与えられ、また連続的なステートの発生順序に従って水
平位置が大きくなる。グラフ表示されるべきラベルは・
グラフトラベル(GR八へIED LABEL )を指
定することによって選択される。第4図には、ラベルF
を選択した場合を示す。縦軸のスケーリング設定ば、縦
軸上の上限(UPPERLIMIT )および下限(L
OWIERLIMIT )を指定することによって制御
される。
これらの上下限は対数的な自動レンジ制御に従って比較
的あるいは起動的に変化されて指定される。
的あるいは起動的に変化されて指定される。
このため、容易にグラフの一部がフルスケール表示に拡
大される。リスト表示にて鎖側されるラインに対応する
20点が強く光る。この輝度強化された部分はまたRO
LLキーによる制御に応答し、そしてそれらの対応する
絶対値はリスト表示にて読み取られる。
大される。リスト表示にて鎖側されるラインに対応する
20点が強く光る。この輝度強化された部分はまたRO
LLキーによる制御に応答し、そしてそれらの対応する
絶対値はリスト表示にて読み取られる。
第5図は比較モードの表示リストを示す図である。図に
おいて、トレース比較は、“最新測定値”におりるデー
タと”ストアト測定値”によるデータとの間の相違を表
にしてリスティングする。
おいて、トレース比較は、“最新測定値”におりるデー
タと”ストアト測定値”によるデータとの間の相違を表
にしてリスティングする。
このリスティングは、リスト表示におけると同様の形式
にて行なわれる。2つの測定結果は排他的論理和で出力
表示される。すなわち、ビットが同一の場合は0と、そ
して等しくない場合は1として表示される68進数の0
3”は2進数の“000011″に相当し、そして右の
2つのビットは2つの測定において異なることを示す。
にて行なわれる。2つの測定結果は排他的論理和で出力
表示される。すなわち、ビットが同一の場合は0と、そ
して等しくない場合は1として表示される68進数の0
3”は2進数の“000011″に相当し、そして右の
2つのビットは2つの測定において異なることを示す。
トレース比較はまた“比較されたトレース”モードを現
わし、該モードでは最新測定値とストアされた測定値と
が等しいかあるいは等しくなくなるまで測定を再実行す
る。これらは、5TOP=あるいは5TOP≠キーに従
って行なわれる。
わし、該モードでは最新測定値とストアされた測定値と
が等しいかあるいは等しくなくなるまで測定を再実行す
る。これらは、5TOP=あるいは5TOP≠キーに従
って行なわれる。
(1−レースモード)
トレースモーl°には3種類ある。61−レース”は単
一の最新測定を実行せしめる。“連続[・レース”は、
最新測定の実行を連続的に繰り返す。“比較されたトレ
ース”は、ストアト測定値に所望比較値が得られるまで
最新測定の実行が繰り返される。
一の最新測定を実行せしめる。“連続[・レース”は、
最新測定の実行を連続的に繰り返す。“比較されたトレ
ース”は、ストアト測定値に所望比較値が得られるまで
最新測定の実行が繰り返される。
(クロック・イネーブル出力およびトリガ出力)トリガ
出力はオシロスコープ等の外部測定器駆動用のトリガパ
ルスとしても働く。l・レース位置が見つかるごとに5
0nsec、のトリガパルスが゛発生する。クロック・
イネーブル出力はクロックをゲートするか若しくは被測
定装置に割り込み動作を行なうのに有益である。高レベ
ル信号によって、測定器がトレース位置のサーチ動作を
行なっていることが示される。トレース位置が見つかっ
たか、あるいは停止キーが押されるまで、トリガ出力は
高レベル信号に維持される。“表示形式の指定”が表示
されている時、クロック・イネーブル出力およびトリガ
出力は出力されない。
出力はオシロスコープ等の外部測定器駆動用のトリガパ
ルスとしても働く。l・レース位置が見つかるごとに5
0nsec、のトリガパルスが゛発生する。クロック・
イネーブル出力はクロックをゲートするか若しくは被測
定装置に割り込み動作を行なうのに有益である。高レベ
ル信号によって、測定器がトレース位置のサーチ動作を
行なっていることが示される。トレース位置が見つかっ
たか、あるいは停止キーが押されるまで、トリガ出力は
高レベル信号に維持される。“表示形式の指定”が表示
されている時、クロック・イネーブル出力およびトリガ
出力は出力されない。
(キーボードおよび条件の指定)
第6図は入力キーボードを示す。図において、キーは機
能別に4つのブロックに分かれている。
能別に4つのブロックに分かれている。
測定表示部(CURRENT MEAS[IREMEN
T DISPL八Y)。
T DISPL八Y)。
へントリ部(ENTRY )、編集部(EDIT)およ
び実行部(EXECIIYE 5TORE )の4ブロ
ツクである。
び実行部(EXECIIYE 5TORE )の4ブロ
ツクである。
電源投入により任意の表示が成され、次いで自動的に1
6進形式のリスト表示が成される。
6進形式のリスト表示が成される。
ROLL DISI”LAYキーを操作することにより
、ストアされた64ステートのいずれかの部分が表示可
能となる。例えば一画面の表示ステー1・数は20であ
る。
、ストアされた64ステートのいずれかの部分が表示可
能となる。例えば一画面の表示ステー1・数は20であ
る。
FORMAT 5PECIFICATIONキーを押す
ことにより、第1図に示す表示形式設定用の画面がCR
T上に表示される。編集部のCUR3ORキーの操作に
よってCRT上のカーソルが動かされ、カーソル位置に
対応する表示面上の反転ビデオフィールド(第1図〜第
4図の四角で囲った部分)が点滅して、選択可能なエン
トレフィールドが示される。初めに、カーソルはクロッ
ク遷移(CLOCK 5LOPIE )に対応するエン
トリフィールドに位置し、前記エントリフィールドには
(−ト)が表示され又、前記エントリフィールドが点滅
する。FIELD 5IELECTキーを繰り返し押す
ことにより、前記エントリフィールド内には、(+)、
(−)が交互に表示される。所望のクロック遷移を表示
させることにより、クロック遷移が設定される。第1図
はクロック遷移が(+)に設定された場合を示す。次に
、下向き矢印のCUR5ORキーを一度押すと、第1図
のボッド4に対応する四角の左端にカーソルは移動する
。エントリ部のアルファヘン1−キーA−Fの操作によ
り、所望のラベル伺けがなされる。次に下向き矢印のC
[I RS ORキーを押すことにより、カーソルはラ
ベルへの論理極性に対応する四角内に移動する。TIL
EDSELECTキーの操作により、論理極性が(+)
あるいはく=)に設定される。次に下向き矢印キーの操
作によりカーソルは、ラベルAの基数に対応する四角内
に移動する。FIELD 5ELECTキーを繰り返し
押すことにより、IIEX、BIN、 OCT、 DE
Cの順に繰り返し表示される。所望の基数が表示される
ことにより、基数の設定がなされる。第1図は、ラヘ/
l/ A 、 Dの基数が16進、ラベルFの基数が2
進に設定された場合である。
ことにより、第1図に示す表示形式設定用の画面がCR
T上に表示される。編集部のCUR3ORキーの操作に
よってCRT上のカーソルが動かされ、カーソル位置に
対応する表示面上の反転ビデオフィールド(第1図〜第
4図の四角で囲った部分)が点滅して、選択可能なエン
トレフィールドが示される。初めに、カーソルはクロッ
ク遷移(CLOCK 5LOPIE )に対応するエン
トリフィールドに位置し、前記エントリフィールドには
(−ト)が表示され又、前記エントリフィールドが点滅
する。FIELD 5IELECTキーを繰り返し押す
ことにより、前記エントリフィールド内には、(+)、
(−)が交互に表示される。所望のクロック遷移を表示
させることにより、クロック遷移が設定される。第1図
はクロック遷移が(+)に設定された場合を示す。次に
、下向き矢印のCUR5ORキーを一度押すと、第1図
のボッド4に対応する四角の左端にカーソルは移動する
。エントリ部のアルファヘン1−キーA−Fの操作によ
り、所望のラベル伺けがなされる。次に下向き矢印のC
[I RS ORキーを押すことにより、カーソルはラ
ベルへの論理極性に対応する四角内に移動する。TIL
EDSELECTキーの操作により、論理極性が(+)
あるいはく=)に設定される。次に下向き矢印キーの操
作によりカーソルは、ラベルAの基数に対応する四角内
に移動する。FIELD 5ELECTキーを繰り返し
押すことにより、IIEX、BIN、 OCT、 DE
Cの順に繰り返し表示される。所望の基数が表示される
ことにより、基数の設定がなされる。第1図は、ラヘ/
l/ A 、 Dの基数が16進、ラベルFの基数が2
進に設定された場合である。
TI?ACE 5PECIFIC:ATIONキーを操
作し、第2図に示す1−レース条件の表示を選択するこ
とにより、1〜レ一ス条件は編集され得る。この編集は
、前述した表示形式の指定が編集されるのと同様な方法
で達成される。例えば、ラベル八において単一またはシ
ーケンストリガ条件、I−レース位置の指示、再スター
ト条件、ストアすべきデータの指定等が行なわれる。
作し、第2図に示す1−レース条件の表示を選択するこ
とにより、1〜レ一ス条件は編集され得る。この編集は
、前述した表示形式の指定が編集されるのと同様な方法
で達成される。例えば、ラベル八において単一またはシ
ーケンストリガ条件、I−レース位置の指示、再スター
ト条件、ストアすべきデータの指定等が行なわれる。
(詳細な説明)
第7図は本発明のロジック・アナライザのブロック図で
ある。゛ンイク1コブロセ、サモジュール800にはプ
リンタ1300.セルフナス1.プローブ駆動モジュー
ル1200.キーポーFI100が接続されている。又
、マイク1.lプロセソセモジューる800には通信ハ
ス600を介して表示駆動モジュール9001表示制御
モジュール700および捕捉システム部250が接続さ
れている。捕捉システム部250は測定制御モジュール
40帆インデツクスモジユール30帆ステー1−認識モ
シブ、−ル200で構成されており、ステー+−認識モ
ジュール200にはデータブローフ100が接続されて
いる。キーボーFI100を操作することにより表示形
式、クオリファイ条(4込 l・リガ条件等が設定され
る。データプローブ100ば4(l?11の8ビツトデ
ータボンドとクロック用ボンドとに分けられる。各ボッ
ドの閾値ば、TTL論理閾値あるいは+10ν〜−10
vの範囲内の闇値に設定される。データプローブ100
は、入カスチーl−を前記闇値に関連する論理レベル信
号に変換出力する。
ある。゛ンイク1コブロセ、サモジュール800にはプ
リンタ1300.セルフナス1.プローブ駆動モジュー
ル1200.キーポーFI100が接続されている。又
、マイク1.lプロセソセモジューる800には通信ハ
ス600を介して表示駆動モジュール9001表示制御
モジュール700および捕捉システム部250が接続さ
れている。捕捉システム部250は測定制御モジュール
40帆インデツクスモジユール30帆ステー1−認識モ
シブ、−ル200で構成されており、ステー+−認識モ
ジュール200にはデータブローフ100が接続されて
いる。キーボーFI100を操作することにより表示形
式、クオリファイ条(4込 l・リガ条件等が設定され
る。データプローブ100ば4(l?11の8ビツトデ
ータボンドとクロック用ボンドとに分けられる。各ボッ
ドの閾値ば、TTL論理閾値あるいは+10ν〜−10
vの範囲内の闇値に設定される。データプローブ100
は、入カスチーl−を前記闇値に関連する論理レベル信
号に変換出力する。
データプローブ100からのクロック信号および論理レ
ベルの入力データステ−1−は、ステー1・認識モジュ
ール200に入力される。ステー1・認識モジュール2
00は、選択されたクロック遷移に応答して論理レベル
の入力データステ−1−をサンプルし、ランチし、高速
捕捉システムバス500にサンプルしたデータステート
(サンプルトデータステート)を送出する。インデック
スモジュール300は捕捉システムバス500を介して
サンプルドデータステ−■・をアクセスし、設定された
条件(トリガ条件、クオリファイ条件、シーケンス条件
等)とサンプルドデータステートとを比較し、トレース
位置5選択的ストアイベント、ステー1−計数イベント
等を決定する信号を出力する。測定制御モジュール40
0も又、高速捕捉システムバス500を介してサンプル
ドデータステートをアクセスし、インデックスモジュー
ル300からの信号に応答してステー1−計数値9時間
計数値、データステーl−等をストアする。前記ストア
されたデータステート(ストアト゛データステー1・)
はコミュニケーションハス600を介して表示制御モジ
ュール700.マイクロプロセッサモジュール800お
よび表示駆動モジュール900に送出され、設定された
形式でCRT 10.00上に表示される。所望により
プリンタ1300にプリントされる。
ベルの入力データステ−1−は、ステー1・認識モジュ
ール200に入力される。ステー1・認識モジュール2
00は、選択されたクロック遷移に応答して論理レベル
の入力データステ−1−をサンプルし、ランチし、高速
捕捉システムバス500にサンプルしたデータステート
(サンプルトデータステート)を送出する。インデック
スモジュール300は捕捉システムバス500を介して
サンプルドデータステ−■・をアクセスし、設定された
条件(トリガ条件、クオリファイ条件、シーケンス条件
等)とサンプルドデータステートとを比較し、トレース
位置5選択的ストアイベント、ステー1−計数イベント
等を決定する信号を出力する。測定制御モジュール40
0も又、高速捕捉システムバス500を介してサンプル
ドデータステートをアクセスし、インデックスモジュー
ル300からの信号に応答してステー1−計数値9時間
計数値、データステーl−等をストアする。前記ストア
されたデータステート(ストアト゛データステー1・)
はコミュニケーションハス600を介して表示制御モジ
ュール700.マイクロプロセッサモジュール800お
よび表示駆動モジュール900に送出され、設定された
形式でCRT 10.00上に表示される。所望により
プリンタ1300にプリントされる。
第8図は本発明装置におけるメモリの番地内容を示す図
である。
である。
0番地〜F07番地は表示駆動モジュール900のRA
衿メそり、 1000番地から1110番地はプリンタ
1300、キーポーFI100.セルフテスI・プロー
ブ駆動モジュール1200のメモリ、1800番地〜I
FFF番地は測定制御モジュール400のメモリ、40
00番地〜47FF番地はマイクロプロセッサモジュー
ル800におけるROMメモリ、6000番地〜7FF
F番地もマイクロプロセ・ノザモジュール800におり
るROMメモリである。
衿メそり、 1000番地から1110番地はプリンタ
1300、キーポーFI100.セルフテスI・プロー
ブ駆動モジュール1200のメモリ、1800番地〜I
FFF番地は測定制御モジュール400のメモリ、40
00番地〜47FF番地はマイクロプロセッサモジュー
ル800におけるROMメモリ、6000番地〜7FF
F番地もマイクロプロセ・ノザモジュール800におり
るROMメモリである。
第7図および第8図において、通信バス600にて18
00とI FFFとの間のアドレスによりステート計数
測定および測定制御モジュール400のメモリにストア
されたサンプルドデータステート等がアクセスされる。
00とI FFFとの間のアドレスによりステート計数
測定および測定制御モジュール400のメモリにストア
されたサンプルドデータステート等がアクセスされる。
第9図は、第8図のメモリにおける物理的アドレスと論
理的アドレスとの間の関係を示す図である。
理的アドレスとの間の関係を示す図である。
第10図は第7図における捕捉システム部250の゛詳
細ブロック図である。第10図において、データ7”
” −フ100で論理レベルに変換されたデータステー
トは、ステー]・認識モジュール200内のプローブイ
ンタフェース210を介してラッチ回路230へ入力さ
れる。サンプルクロック発生器220は、選択されたク
ロンク遷移に応答してサンプルクロックを発生ずる。ラ
ッチ回路230はサンプルクロックに応答してデータス
テートをサンプルし、ランチする。サンプルドデータス
ヂートは、捕捉システムバス500ヲ介シてインデック
スモジュール300および測定制御モジュール400に
入力される。
細ブロック図である。第10図において、データ7”
” −フ100で論理レベルに変換されたデータステー
トは、ステー]・認識モジュール200内のプローブイ
ンタフェース210を介してラッチ回路230へ入力さ
れる。サンプルクロック発生器220は、選択されたク
ロンク遷移に応答してサンプルクロックを発生ずる。ラ
ッチ回路230はサンプルクロックに応答してデータス
テートをサンプルし、ランチする。サンプルドデータス
ヂートは、捕捉システムバス500ヲ介シてインデック
スモジュール300および測定制御モジュール400に
入力される。
インデックスモジュール300によって、捕捉システム
バス500のサンプルトステートが、多重パターン認識
ユニッl−315にストアされているクオリファイステ
ート条件と先ず比較され、それによりトレース位置が検
出される。前記多重パターン認識ユニット315に具わ
るデジタルパターントリガ回路としては、例えば特公昭
57−19464号[トリガ信号発生回路」に述べられ
ているものがある。
バス500のサンプルトステートが、多重パターン認識
ユニッl−315にストアされているクオリファイステ
ート条件と先ず比較され、それによりトレース位置が検
出される。前記多重パターン認識ユニット315に具わ
るデジタルパターントリガ回路としては、例えば特公昭
57−19464号[トリガ信号発生回路」に述べられ
ているものがある。
第11図は第10図の多重パターン認識ユニソl−31
5のより詳細なブロック図である。図において多重パタ
ーン認識ユニット315は4ビア )メモリを複数個具
えて8個までのクオリファイアステ−1・条件を検出す
るようにしており、ここで各クオリファイアステート条
件は、1. O,X入力の2、進形式で判別される。
5のより詳細なブロック図である。図において多重パタ
ーン認識ユニット315は4ビア )メモリを複数個具
えて8個までのクオリファイアステ−1・条件を検出す
るようにしており、ここで各クオリファイアステート条
件は、1. O,X入力の2、進形式で判別される。
再度第10図を参照する。パターンセレクタ325は、
多重パターン認識ユニッ) 315からの8AMEライ
ン出力のうちの1つを選択し、そして選択された出力を
状態計数器345に供給する。計数器345は選択され
たクオリファイアステート条件の発生回数を計算し、そ
して該選択されたクオリファイステート条件の発生回数
がある特定数になるのに応答してシーケンス論理−路3
50および高速制御ユニット460に出力信号を発生す
る。前記出力信号に応答してシーケンス論理回路350
は、パターンセレクタ325に次のステートを選択する
ように指示信号を出力する。パターンセレクタ325は
指示信号に応答して次のステートを選択し、針数器34
5はクオリファイアステート条件を特定回数だけ計算し
、高速制御ユニット460およびシーケンス論理回路3
50に信号を出力する。したがっ″C1前記クオリファ
イアステート条件として設定されたステートは、特定回
数生じるごとにデータメモリ41O5計数メモリ420
内にス)・アされ、多重パターン認識ユニットのクオリ
ファイ条件を満たすステート若しくは全ステートが記憶
装置の残りの位置にストアされる。前記動作はシーケン
ス論理回路350に設定されたシーケンス条件を満足す
るまで行なわれる。シーケンス条件がH個のステートに
より設定された場合、11番目のステートが発生するま
で繰り返す。シーケンス中に再スタート条件のステート
が発生ずると、再スターユニット310によって再スタ
ート動作するように制御される。
多重パターン認識ユニッ) 315からの8AMEライ
ン出力のうちの1つを選択し、そして選択された出力を
状態計数器345に供給する。計数器345は選択され
たクオリファイアステート条件の発生回数を計算し、そ
して該選択されたクオリファイステート条件の発生回数
がある特定数になるのに応答してシーケンス論理−路3
50および高速制御ユニット460に出力信号を発生す
る。前記出力信号に応答してシーケンス論理回路350
は、パターンセレクタ325に次のステートを選択する
ように指示信号を出力する。パターンセレクタ325は
指示信号に応答して次のステートを選択し、針数器34
5はクオリファイアステート条件を特定回数だけ計算し
、高速制御ユニット460およびシーケンス論理回路3
50に信号を出力する。したがっ″C1前記クオリファ
イアステート条件として設定されたステートは、特定回
数生じるごとにデータメモリ41O5計数メモリ420
内にス)・アされ、多重パターン認識ユニットのクオリ
ファイ条件を満たすステート若しくは全ステートが記憶
装置の残りの位置にストアされる。前記動作はシーケン
ス論理回路350に設定されたシーケンス条件を満足す
るまで行なわれる。シーケンス条件がH個のステートに
より設定された場合、11番目のステートが発生するま
で繰り返す。シーケンス中に再スタート条件のステート
が発生ずると、再スターユニット310によって再スタ
ート動作するように制御される。
図12図は、簡単化されたシーケンストリガ回路を示す
ブロック図である。図において、多重パターン認識ユニ
ット316は、多重パターン認識ユニット315および
パターンセレクタ325の機能を具えている。シーケン
ス論理回路351は、シーケンス論理回路350の機能
を具えているが、ただステー(・シーケンスの完了に応
じて最終トリガが出力されることが異なる。又、354
はプログラム手段である。多重パターン認識ユニット3
16を実現する他の方法はアドレスにおいて最大有効ビ
ットである3セレクタビツトを具備せしめておけばよく
、それにより比較器がステートシーケンスの順序的ステ
ート条件を比較するときメモリの各セグメントに従って
その比較が行なわれる。
ブロック図である。図において、多重パターン認識ユニ
ット316は、多重パターン認識ユニット315および
パターンセレクタ325の機能を具えている。シーケン
ス論理回路351は、シーケンス論理回路350の機能
を具えているが、ただステー(・シーケンスの完了に応
じて最終トリガが出力されることが異なる。又、354
はプログラム手段である。多重パターン認識ユニット3
16を実現する他の方法はアドレスにおいて最大有効ビ
ットである3セレクタビツトを具備せしめておけばよく
、それにより比較器がステートシーケンスの順序的ステ
ート条件を比較するときメモリの各セグメントに従って
その比較が行なわれる。
再度節101fflを参照する。トレースセレクタ32
0が選択的トレースを制御する。トレースカウンタ34
0は、第n番目のステー1−が発生したことを計数検知
して、トリガ信号に相当する]・レースイベントフラグ
を出力する。
0が選択的トレースを制御する。トレースカウンタ34
0は、第n番目のステー1−が発生したことを計数検知
して、トリガ信号に相当する]・レースイベントフラグ
を出力する。
再スタートステート1310により、シーケンス論理回
路350が選択された再スタートステート条件の検出に
続いてステートシーケンスの満足せしめる動作を再スタ
ートさせる。再スタートユニット310は、シーケンス
論理回路350によりブレークイベントに対応するデー
タステートのために無能化される。前記論理回路350
により全てのステーで再スタートステートが生じるよう
に条件を設定すると、何らの不特定中間ステーI−がな
い場合にステートシアケンスが満足される。ステートカ
ランl−ユニット305により、計数されるべき選択さ
れたステート条件のそれぞれの検出時に測定制御モジュ
ール400におけるカウンタがストローブされる。
路350が選択された再スタートステート条件の検出に
続いてステートシーケンスの満足せしめる動作を再スタ
ートさせる。再スタートユニット310は、シーケンス
論理回路350によりブレークイベントに対応するデー
タステートのために無能化される。前記論理回路350
により全てのステーで再スタートステートが生じるよう
に条件を設定すると、何らの不特定中間ステーI−がな
い場合にステートシアケンスが満足される。ステートカ
ランl−ユニット305により、計数されるべき選択さ
れたステート条件のそれぞれの検出時に測定制御モジュ
ール400におけるカウンタがストローブされる。
第13図は、第10図に示した測定制御モジュール40
0のより詳細なブロック図である。第10図および第1
3図において、インデンクスモジュール300からのイ
ベントフラグが高速制御ユニット460に入力され、そ
して捕捉システムハス5oo内のどのザンプルドステー
i・がストアされるべきかが決定される。高速制御ユニ
ット460ばイー、ントフラグに応答して、設定された
l・レース位置に対応するデータメモリ410および計
数メモリ420のアドレス位置に、サンプルトステート
、ステート計数値、時間計数値をスト了した状態で書込
みを停止する。データメモリ410.計数メモリ420
のア1ルスはアドレスマルチプレクセ462によって指
定される。又、データメモリ410.計数メモリ420
内のデータはパスハソフプ470を介して通信ハス60
0へ出力される。データメモリ410は予備のメモリを
具備しており、比較モードにおいて、高速制御ユニット
460によって、データメモリ410内に以前ストアさ
れたデータは最新のストアされたデータと比較される。
0のより詳細なブロック図である。第10図および第1
3図において、インデンクスモジュール300からのイ
ベントフラグが高速制御ユニット460に入力され、そ
して捕捉システムハス5oo内のどのザンプルドステー
i・がストアされるべきかが決定される。高速制御ユニ
ット460ばイー、ントフラグに応答して、設定された
l・レース位置に対応するデータメモリ410および計
数メモリ420のアドレス位置に、サンプルトステート
、ステート計数値、時間計数値をスト了した状態で書込
みを停止する。データメモリ410.計数メモリ420
のア1ルスはアドレスマルチプレクセ462によって指
定される。又、データメモリ410.計数メモリ420
内のデータはパスハソフプ470を介して通信ハス60
0へ出力される。データメモリ410は予備のメモリを
具備しており、比較モードにおいて、高速制御ユニット
460によって、データメモリ410内に以前ストアさ
れたデータは最新のストアされたデータと比較される。
比較は両データの排他的論理ORをとることによってな
される。比較結果は通信バス600を介して表示器10
00に入力される。第5図に示された比較結果は、両デ
ータが同一であることを示す。停止条件が設定されてい
る場合において、前記以前にストアされたデータと最新
のストアされたデータが相異すれば、データメモリ41
0への書込みは停止する。
される。比較結果は通信バス600を介して表示器10
00に入力される。第5図に示された比較結果は、両デ
ータが同一であることを示す。停止条件が設定されてい
る場合において、前記以前にストアされたデータと最新
のストアされたデータが相異すれば、データメモリ41
0への書込みは停止する。
第14図は、第10図に示したデータメモリ410のデ
ータ形式を示す。図において、ブレークイベントを生ぜ
しめるサンプルトステート条件は位置1〜(N〜1)に
順次ストアされる。“N−1″イベントフラグの検出に
より、サンプルトステート条件は残りのメモリ位置に順
次書き込まれ、そのため該メモリがいっばいのとき最も
古いデータ上に書き込まれる。最終トリガを生ぜしめる
ステートを含んで、メモリのトレース位置アドレスがレ
ジスタにストアされ、そしてサンプルトステートが残り
のストレージ位置のうち適当な番号の位置に書き込まれ
る。たとえば、トレース位置の検出で1−レースが“終
り”に定義されるならば、トレース位置以後にサンプル
トステートは書谷込まれない。ストアトデータの発生順
は、第9図にて示される通信バス600上に現われるト
レース位置ア1ごレスの回復によって容易に再構成され
る。カウント選択機能を有するシンクロナイザ450が
測定値計数器430を制御し、その内容はメモリア1−
レスの更新によってカウントメモリ420にストアされ
る。低速制御ユニ・71・480によって具わる低速イ
ンターフェース能力により、高速制御ユニット460が
プログラムでき、また通信バス600のインターフェー
スのためのデータを選択およびラッチできる。
ータ形式を示す。図において、ブレークイベントを生ぜ
しめるサンプルトステート条件は位置1〜(N〜1)に
順次ストアされる。“N−1″イベントフラグの検出に
より、サンプルトステート条件は残りのメモリ位置に順
次書き込まれ、そのため該メモリがいっばいのとき最も
古いデータ上に書き込まれる。最終トリガを生ぜしめる
ステートを含んで、メモリのトレース位置アドレスがレ
ジスタにストアされ、そしてサンプルトステートが残り
のストレージ位置のうち適当な番号の位置に書き込まれ
る。たとえば、トレース位置の検出で1−レースが“終
り”に定義されるならば、トレース位置以後にサンプル
トステートは書谷込まれない。ストアトデータの発生順
は、第9図にて示される通信バス600上に現われるト
レース位置ア1ごレスの回復によって容易に再構成され
る。カウント選択機能を有するシンクロナイザ450が
測定値計数器430を制御し、その内容はメモリア1−
レスの更新によってカウントメモリ420にストアされ
る。低速制御ユニ・71・480によって具わる低速イ
ンターフェース能力により、高速制御ユニット460が
プログラムでき、また通信バス600のインターフェー
スのためのデータを選択およびラッチできる。
第10図および第13図に示すストローブ発生器440
はストローブのシーケンスを発生ずる。そのストローブ
が一連のデータラッチ(図示せず)およびタイミング論
理回路(図示せず)に導入されたとき、その機能を順序
正しく発揮せしめる。実際上、多数のサンプルトステー
トが、ある一時同時に処理される各種ステージにある。
はストローブのシーケンスを発生ずる。そのストローブ
が一連のデータラッチ(図示せず)およびタイミング論
理回路(図示せず)に導入されたとき、その機能を順序
正しく発揮せしめる。実際上、多数のサンプルトステー
トが、ある一時同時に処理される各種ステージにある。
アクティブチャンネルの定義
再度第1図を参照する。記号“!”は、表示形式の指定
においである割り当てられた入力データチャネルの下に
現われる。1msにほぼ1回9・ンプルドステートは゛
最終サンプル”バ・7プアに比較される。ステートは排
他的論理和によっていずれのビット変化をも検出する。
においである割り当てられた入力データチャネルの下に
現われる。1msにほぼ1回9・ンプルドステートは゛
最終サンプル”バ・7プアに比較される。ステートは排
他的論理和によっていずれのビット変化をも検出する。
そしてその結果は、アクティブバッファおよび“最終サ
ンプル”バッファへのザンフルトステート入力と論理積
がとられる。100サンプル後アクテイプハンフアは表
示目的のためにサンプルされる。ここで”!”がないこ
とは、ボッドクリップが離脱したことを示すと共にチャ
ンネルが何か他の点で不都合であることを示す。従って
使用の際極めて好都合である。
ンプル”バッファへのザンフルトステート入力と論理積
がとられる。100サンプル後アクテイプハンフアは表
示目的のためにサンプルされる。ここで”!”がないこ
とは、ボッドクリップが離脱したことを示すと共にチャ
ンネルが何か他の点で不都合であることを示す。従って
使用の際極めて好都合である。
第1図は本発明のロジック・アナライザの表示形式の指
定を示す図。第2図は本発明のロジック・アナライザの
トレース条件表示を示す図。第3図は本発明のロジック
・アナライザのストアトデータステーl−のリスト表示
を示す図。第4図は本発明のロジ・7り・アナライザの
ストアトデータステートのグラフ表示を示す図。第5図
は本発明のロジック・アナライザの比較モードでの表示
リストを示す図。第6図は本発明のロジック・アナライ
ザの入力キーボードを示す図。第7図は本発明のロジッ
ク・アナライザのプロ、り図。第8図は本発明のロジッ
ク・アナライザのメモリの内容を示す図。第9図は本発
明のロジック・アナライザのアドレスの関係を示す図。 第10図は第7図の捕捉システム部250の詳細ブロッ
ク図。 第11図は第10図の多重パターン認識ユニット315
のより詳細なブロック図。第12図は本発明のロジック
・アナライザのシーケンストリガ回路のブロック図。第
13図は第10図の測定制御モジュール400のより詳
細なブロック図。第14図は第1O図に示したデータメ
モリ41 ’0のデータ形式を示す図。第15図は本発
明のロジック・アナライザのラベル形式ファイルを示す
図。 第16図は本発明のロジック・アナライザの表示形式化
論理動作の流れを示す図。 100:データプローブ、200ニステート認識モジユ
ール、300:インデソクスモジュール、、aOO:測
定制御モジュール、250:捕捉システム部。 700:表示制御モジュール、800:マイクロプロセ
、7サモジユール、900:表示駆動モジュール。 1000: CI?T 、1100:キーボー!X’
、 1200 :セルフケストプローブ駆動モジュール
、 13oo:プリンタ出願人 横河・ヒユーレット・
パソカ一ド株式会社代理人 弁理士 長 谷 川 次
男 コ0壬お墓4奪目四2畿」冨り冨口 〈 0 0で ト ■ 「 エ ト−・ ・ $ り4リフ了イ了ステート FIG、15 ラベル表示形式ファイ)し 第1頁の続き 0発 明 者 ゴートン・ニーグリ−アンレイ し“ @発明 者 ステイープ・ニー・シ アエ/Xニード
7 0発 明 者 エフ・ダンカン・テリ アープ メリ力合衆国コロラド州コロラド・スプリングス、キュ
グラ・プレース1615 メリカ合衆国コロラド州コロラド拳スプリングス、バ・
テイリンダン3605 アパート20メリカ合衆国アイ
ダホ州メリディアン、アメペンφコー・ドライブ276
0
定を示す図。第2図は本発明のロジック・アナライザの
トレース条件表示を示す図。第3図は本発明のロジック
・アナライザのストアトデータステーl−のリスト表示
を示す図。第4図は本発明のロジ・7り・アナライザの
ストアトデータステートのグラフ表示を示す図。第5図
は本発明のロジック・アナライザの比較モードでの表示
リストを示す図。第6図は本発明のロジック・アナライ
ザの入力キーボードを示す図。第7図は本発明のロジッ
ク・アナライザのプロ、り図。第8図は本発明のロジッ
ク・アナライザのメモリの内容を示す図。第9図は本発
明のロジック・アナライザのアドレスの関係を示す図。 第10図は第7図の捕捉システム部250の詳細ブロッ
ク図。 第11図は第10図の多重パターン認識ユニット315
のより詳細なブロック図。第12図は本発明のロジック
・アナライザのシーケンストリガ回路のブロック図。第
13図は第10図の測定制御モジュール400のより詳
細なブロック図。第14図は第1O図に示したデータメ
モリ41 ’0のデータ形式を示す図。第15図は本発
明のロジック・アナライザのラベル形式ファイルを示す
図。 第16図は本発明のロジック・アナライザの表示形式化
論理動作の流れを示す図。 100:データプローブ、200ニステート認識モジユ
ール、300:インデソクスモジュール、、aOO:測
定制御モジュール、250:捕捉システム部。 700:表示制御モジュール、800:マイクロプロセ
、7サモジユール、900:表示駆動モジュール。 1000: CI?T 、1100:キーボー!X’
、 1200 :セルフケストプローブ駆動モジュール
、 13oo:プリンタ出願人 横河・ヒユーレット・
パソカ一ド株式会社代理人 弁理士 長 谷 川 次
男 コ0壬お墓4奪目四2畿」冨り冨口 〈 0 0で ト ■ 「 エ ト−・ ・ $ り4リフ了イ了ステート FIG、15 ラベル表示形式ファイ)し 第1頁の続き 0発 明 者 ゴートン・ニーグリ−アンレイ し“ @発明 者 ステイープ・ニー・シ アエ/Xニード
7 0発 明 者 エフ・ダンカン・テリ アープ メリ力合衆国コロラド州コロラド・スプリングス、キュ
グラ・プレース1615 メリカ合衆国コロラド州コロラド拳スプリングス、バ・
テイリンダン3605 アパート20メリカ合衆国アイ
ダホ州メリディアン、アメペンφコー・ドライブ276
0
Claims (1)
- 複数のデジタル信号を入力する入力手段と、所定時の前
記デジタル信号を記憶する第1記憶手段と、前記デジタ
ル信号を書き込む第2記憶手段と、前記第1記憶手段の
記憶内容と前記第2記憶手段の記憶内容とを比較し、比
較結果に応し゛C前記第2記憶手段の書込みを停止する
制御手段とを具備して成るロジック・アナライザ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US82813877A | 1977-08-29 | 1977-08-29 | |
| US828138 | 1977-08-29 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10615978A Division JPS5445179A (en) | 1977-08-29 | 1978-08-29 | Digital signal indicator |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6057263A true JPS6057263A (ja) | 1985-04-03 |
Family
ID=25251004
Family Applications (11)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10615978A Pending JPS5445179A (en) | 1977-08-29 | 1978-08-29 | Digital signal indicator |
| JP4898084A Pending JPS6057265A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP4897984A Pending JPS6057264A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP4897684A Pending JPS6057261A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP59048975A Granted JPS6057260A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP4897784A Granted JPS6057262A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP4898184A Pending JPS6057266A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP4897884A Pending JPS6057263A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP3736885U Granted JPS60165869U (ja) | 1977-08-29 | 1985-03-15 | ロジツク・アナライザ |
| JP9350988U Pending JPS6425768U (ja) | 1977-08-29 | 1988-07-14 | |
| JP9351088U Pending JPS6425769U (ja) | 1977-08-29 | 1988-07-14 |
Family Applications Before (7)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10615978A Pending JPS5445179A (en) | 1977-08-29 | 1978-08-29 | Digital signal indicator |
| JP4898084A Pending JPS6057265A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP4897984A Pending JPS6057264A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP4897684A Pending JPS6057261A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP59048975A Granted JPS6057260A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP4897784A Granted JPS6057262A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
| JP4898184A Pending JPS6057266A (ja) | 1977-08-29 | 1984-03-14 | ロジツク・アナライザ |
Family Applications After (3)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3736885U Granted JPS60165869U (ja) | 1977-08-29 | 1985-03-15 | ロジツク・アナライザ |
| JP9350988U Pending JPS6425768U (ja) | 1977-08-29 | 1988-07-14 | |
| JP9351088U Pending JPS6425769U (ja) | 1977-08-29 | 1988-07-14 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (11) | JPS5445179A (ja) |
| CA (1) | CA1120597A (ja) |
| DE (1) | DE2834693A1 (ja) |
| GB (1) | GB1593128A (ja) |
| HK (1) | HK19886A (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US4483002A (en) * | 1982-04-19 | 1984-11-13 | International Business Machines Corporation | Digital device testing apparatus and method |
| JP2662533B2 (ja) * | 1983-03-31 | 1997-10-15 | ヒューレット・パッカード・カンパニー | ロジック・アナライザ |
| US4585975A (en) * | 1983-04-21 | 1986-04-29 | Tektronix, Inc. | High speed Boolean logic trigger oscilloscope vertical amplifier with edge sensitivity and nested trigger |
| JPS6070819A (ja) * | 1983-08-30 | 1985-04-22 | テクトロニクス・インコ−ポレイテツド | 論理信号測定装置 |
| US4835736A (en) * | 1986-08-25 | 1989-05-30 | Tektronix, Inc. | Data acquisition system for capturing and storing clustered test data occurring before and after an event of interest |
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-
1978
- 1978-05-12 GB GB1909778A patent/GB1593128A/en not_active Expired
- 1978-06-12 CA CA000305244A patent/CA1120597A/en not_active Expired
- 1978-08-08 DE DE19782834693 patent/DE2834693A1/de not_active Withdrawn
- 1978-08-29 JP JP10615978A patent/JPS5445179A/ja active Pending
-
1984
- 1984-03-14 JP JP4898084A patent/JPS6057265A/ja active Pending
- 1984-03-14 JP JP4897984A patent/JPS6057264A/ja active Pending
- 1984-03-14 JP JP4897684A patent/JPS6057261A/ja active Pending
- 1984-03-14 JP JP59048975A patent/JPS6057260A/ja active Granted
- 1984-03-14 JP JP4897784A patent/JPS6057262A/ja active Granted
- 1984-03-14 JP JP4898184A patent/JPS6057266A/ja active Pending
- 1984-03-14 JP JP4897884A patent/JPS6057263A/ja active Pending
-
1985
- 1985-03-15 JP JP3736885U patent/JPS60165869U/ja active Granted
-
1986
- 1986-03-20 HK HK19886A patent/HK19886A/en not_active IP Right Cessation
-
1988
- 1988-07-14 JP JP9350988U patent/JPS6425768U/ja active Pending
- 1988-07-14 JP JP9351088U patent/JPS6425769U/ja active Pending
Also Published As
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|---|---|
| JPS6057264A (ja) | 1985-04-03 |
| JPH0123744B2 (ja) | 1989-05-08 |
| JPS6057260A (ja) | 1985-04-03 |
| HK19886A (en) | 1986-03-27 |
| JPS6425768U (ja) | 1989-02-13 |
| DE2834693A1 (de) | 1979-03-08 |
| JPS6057262A (ja) | 1985-04-03 |
| JPS6057265A (ja) | 1985-04-03 |
| JPH0148983B2 (ja) | 1989-10-23 |
| JPS6057261A (ja) | 1985-04-03 |
| JPS6425769U (ja) | 1989-02-13 |
| JPS60165869U (ja) | 1985-11-02 |
| JPS6057266A (ja) | 1985-04-03 |
| CA1120597A (en) | 1982-03-23 |
| JPS5445179A (en) | 1979-04-10 |
| JPS6335416Y2 (ja) | 1988-09-20 |
| GB1593128A (en) | 1981-07-15 |
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