JPS6058423B2 - 配線チエツク方式 - Google Patents
配線チエツク方式Info
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- JPS6058423B2 JPS6058423B2 JP54090648A JP9064879A JPS6058423B2 JP S6058423 B2 JPS6058423 B2 JP S6058423B2 JP 54090648 A JP54090648 A JP 54090648A JP 9064879 A JP9064879 A JP 9064879A JP S6058423 B2 JPS6058423 B2 JP S6058423B2
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- Japan
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- wiring
- check
- shift register
- signal
- pulse
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Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はコネクタ付多芯ケーブルのコネクタ相互配線、
プラグインタイプのプリント回路板などのユニットから
構成されている電子装置の端子板およびプリント板コネ
クタ相互配線の配線チェックに関するものである。
プラグインタイプのプリント回路板などのユニットから
構成されている電子装置の端子板およびプリント板コネ
クタ相互配線の配線チェックに関するものである。
従来、複数の配線をチェックするには各配線毎にブザー
またはテスターによつて導通状態を調べる手作業に頼り
、チェックに要す時間は大きく、しかも正確さを期しが
たいものであつた。
またはテスターによつて導通状態を調べる手作業に頼り
、チェックに要す時間は大きく、しかも正確さを期しが
たいものであつた。
このため幾多の合理的な試験器や試験装置が開発研究さ
れているが、簡単なものは余剰配線などによる誤配線の
不良検出が難カルく、コンピュータ機能を有する高級な
ものはプログラムがかなり複雑となつて、いずれも完全
なものが困難なほか、被試験機の各コネクタおよび端子
板から端子数または配線数だけリード線を試験機に導か
なければならず、試験に手間がかかりこのため促進をさ
またげている。
れているが、簡単なものは余剰配線などによる誤配線の
不良検出が難カルく、コンピュータ機能を有する高級な
ものはプログラムがかなり複雑となつて、いずれも完全
なものが困難なほか、被試験機の各コネクタおよび端子
板から端子数または配線数だけリード線を試験機に導か
なければならず、試験に手間がかかりこのため促進をさ
またげている。
試験機の内容が簡単で試験機と被試験機との接続が少な
い方法として、各々の配線を治具により数珠継ぎにして
、その始めと終りをブザーまたはテスターにより導通を
検べる方法がある。
い方法として、各々の配線を治具により数珠継ぎにして
、その始めと終りをブザーまたはテスターにより導通を
検べる方法がある。
この方法は極めて簡単ではあるが、途中の配線が誤配線
により閉回路になつていると、不良検出’ができない欠
点があるためほとんど実用化されていない。
により閉回路になつていると、不良検出’ができない欠
点があるためほとんど実用化されていない。
本発明は数珠継ぎによる長所を失なうことはなく、前記
の短所を改善したもので、従来の試験方法と思想的に大
きく相違している点は、従来の2−値(電圧または電流
の有無)の所謂、振幅領域での状態監視による配線の良
否判定に対して、本発明の場合は、時間領域ての状態監
視をも含めた良否判定を取り入れたことにある。
の短所を改善したもので、従来の試験方法と思想的に大
きく相違している点は、従来の2−値(電圧または電流
の有無)の所謂、振幅領域での状態監視による配線の良
否判定に対して、本発明の場合は、時間領域ての状態監
視をも含めた良否判定を取り入れたことにある。
これは数珠継ぎ方式の数珠継ぎの接続点の総てに、パル
ス数、幅、または遅延などの定量的な時間の重み付けを
行なうもので、数珠継ぎの始めから終りまでの入力チェ
ック信号に対して出力信号のパルス数、幅または遅延な
どについて、検定するものである。
ス数、幅、または遅延などの定量的な時間の重み付けを
行なうもので、数珠継ぎの始めから終りまでの入力チェ
ック信号に対して出力信号のパルス数、幅または遅延な
どについて、検定するものである。
したがつて本発明は、各配線に流れるチェック信号は時
間的にみて各配線とも異なるため、余剰配線があると時
間的に異なるチェック信号が重畳されるので、あらかじ
め設定した基準信号と比較して誤配線が容易に検出でき
るものであり、以下、図面により詳細に説明する。
間的にみて各配線とも異なるため、余剰配線があると時
間的に異なるチェック信号が重畳されるので、あらかじ
め設定した基準信号と比較して誤配線が容易に検出でき
るものであり、以下、図面により詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す、図において1はチェ
ック信号として用いる1ビットの正極パルスを発生する
パルス発生器、2および4は被試験器Sのコネクタ、3
はコネクタ2および4に接続されている配線、5および
6は配線3を数珠継ぎにするためコネクタ2および4に
接続する数珠継ぎ治具、51〜55,61〜64は一定
時間の重み付けを行なう1ビット遅延のシフトレジスタ
、7はプリセット可能なりウンタによる基準信号発生器
、8はシフトレジスタ55からのチェック信号と基準信
号発生器からの基準信号を比較するための比較器である
。
ック信号として用いる1ビットの正極パルスを発生する
パルス発生器、2および4は被試験器Sのコネクタ、3
はコネクタ2および4に接続されている配線、5および
6は配線3を数珠継ぎにするためコネクタ2および4に
接続する数珠継ぎ治具、51〜55,61〜64は一定
時間の重み付けを行なう1ビット遅延のシフトレジスタ
、7はプリセット可能なりウンタによる基準信号発生器
、8はシフトレジスタ55からのチェック信号と基準信
号発生器からの基準信号を比較するための比較器である
。
次に第2図の各部パルス波形にしたがつて第1図の動作
を説明する。
を説明する。
第1図はコネクタ2および4間に配線されている被試験
器Sを本発明によつて配線チェックするもので、まずパ
ルス発生器1からの1ビット正極パルス信号aがチェッ
ク信号として二分され、一方は被試験器S入力としてコ
ネクタ2へ、他方は.基準信号発生器7に印加される、
被試験器Sは数珠継ぎ治具5と6の1ビット遅延のシフ
トレジスタ51〜55と61〜64により、あらかじめ
数珠継ぎとなつているので、チェック信号はbおよびc
のようにシフトレジスタの数だけ遅延されて!行き、最
后のシフトレジスタ55の出力は9ビット遅れたチェッ
ク信号dとなつて、コネクタ牡配線3、コネクタ2を通
り比較器8に到達する。
器Sを本発明によつて配線チェックするもので、まずパ
ルス発生器1からの1ビット正極パルス信号aがチェッ
ク信号として二分され、一方は被試験器S入力としてコ
ネクタ2へ、他方は.基準信号発生器7に印加される、
被試験器Sは数珠継ぎ治具5と6の1ビット遅延のシフ
トレジスタ51〜55と61〜64により、あらかじめ
数珠継ぎとなつているので、チェック信号はbおよびc
のようにシフトレジスタの数だけ遅延されて!行き、最
后のシフトレジスタ55の出力は9ビット遅れたチェッ
ク信号dとなつて、コネクタ牡配線3、コネクタ2を通
り比較器8に到達する。
一方、パルス発生器1からのチェック信号を受けた基準
信号発生器7は、被試験器Sの数珠継ぎ・に要したシフ
トレジスタの数である9にプリセットしたカウンタによ
り、チェック信号を9ビット遅延したものと同じ基準信
号eを発生し比較器8に印加する。ここで比較器8は被
試験器出力からのチェック信号dと基準信号発生器7か
らの基準信号eと比較して、一致か不一致かにより配線
が正しいかどうかを判定することができる。
信号発生器7は、被試験器Sの数珠継ぎ・に要したシフ
トレジスタの数である9にプリセットしたカウンタによ
り、チェック信号を9ビット遅延したものと同じ基準信
号eを発生し比較器8に印加する。ここで比較器8は被
試験器出力からのチェック信号dと基準信号発生器7か
らの基準信号eと比較して、一致か不一致かにより配線
が正しいかどうかを判定することができる。
もしチェック信号B,c間が余剰配線により閉回路にな
つているときは、チェック信号がシフトレジスタ61を
通らないので信号の遅れが少なくなり、フリップフロッ
プ55からの出力はdの如くになり、基準信号と一致し
ないので容易に誤配線を判定できる。
つているときは、チェック信号がシフトレジスタ61を
通らないので信号の遅れが少なくなり、フリップフロッ
プ55からの出力はdの如くになり、基準信号と一致し
ないので容易に誤配線を判定できる。
第1図、第2図は本発明による配線チェックの原理的動
作を説明するため、極めて簡単な被試験器を例にしたも
のであるが、このほか分岐されている配線や、配線され
ていない空き端子が正しいかどうかについても、シフト
レジスタおよび部分的に比較器を用いることによつて簡
単にチェックすることもできる。
作を説明するため、極めて簡単な被試験器を例にしたも
のであるが、このほか分岐されている配線や、配線され
ていない空き端子が正しいかどうかについても、シフト
レジスタおよび部分的に比較器を用いることによつて簡
単にチェックすることもできる。
以下これを説明する。
第3図A,Bは空端子のチェックの実施例である。
A図の場合は、空端子91〜94を数珠継ぎとし、両端
にシフトレジスタ56,57を接続している。
にシフトレジスタ56,57を接続している。
この様に数珠継ぎした部分を第1図に示す数珠継のルー
プの一部に加えて、空端子への誤配線を含めたチェック
を行なう。
プの一部に加えて、空端子への誤配線を含めたチェック
を行なう。
具体的には、第1図におけるシフトレジスタ55を端子
91に接続し(この場合シフトレジスタ56は不要があ
る)第3図Aにおけるシフトレジスタ57を第1図の端
子95に接続する。
91に接続し(この場合シフトレジスタ56は不要があ
る)第3図Aにおけるシフトレジスタ57を第1図の端
子95に接続する。
第3図Aの場合空端子91〜94相互間に配線されてい
る場合チェックが不可能である。
る場合チェックが不可能である。
これを解決するためにはB図の如く、空端子間にシフト
レジスタ58,59,60を挿入するとよい。
レジスタ58,59,60を挿入するとよい。
以上の構成により空端子を含めた誤配線のチェックが可
能である。
能である。
次に第4図A,Bにより分岐配線のチェックについて説
明する。
明する。
第4図Aは、コネクタYの端子Y1からコネクタXの端
子Xl,X2へ分岐した場合て、端子Xl,X2の出力
端に排他的論理和回路EORを接続している。
子Xl,X2へ分岐した場合て、端子Xl,X2の出力
端に排他的論理和回路EORを接続している。
この場合正しく配線されておれは排他的論理和回路EO
Rからは出力が出ないが、誤配線があると出力が得られ
る。
Rからは出力が出ないが、誤配線があると出力が得られ
る。
第4図Bの場合は、コネクタZの端子Z、からコネクタ
Yの端子Y1、コネクタXの端子X1へ分岐した場合で
、この場合には端子Yl,Y2間にシフトレジスタ65
を、端子X1にシフトレジスタ66を接続し、更に端子
X2とシフトレジスタ66を排他的論理和回路EORに
接続した。
Yの端子Y1、コネクタXの端子X1へ分岐した場合で
、この場合には端子Yl,Y2間にシフトレジスタ65
を、端子X1にシフトレジスタ66を接続し、更に端子
X2とシフトレジスタ66を排他的論理和回路EORに
接続した。
この様に接続して端子Z1の方からチェック信号を入力
すると、誤配線がこのとき排他的論理和回路から出力が
得られる。
すると、誤配線がこのとき排他的論理和回路から出力が
得られる。
以上はシフトレジスタによる遅延時間を利用したもので
あるが、以下にパルス幅およびパルス存在期間によるチ
ェック法について述べる。
あるが、以下にパルス幅およびパルス存在期間によるチ
ェック法について述べる。
第5図によりパルス幅を用いたチェックを行なうための
構成を説明する。
構成を説明する。
図において第1図におけるシフトレジスタ51の部分を
代表して示した。
代表して示した。
図の回路では、シフトレジスタを通過するごとにパルス
幅が広くなる様にするため、シフトレジスタ51への入
力を2分岐し、一方をシフトレジスタ51へ入力し、他
方をシフトレジスタ51の出力とともにオア回路0R1
へ入力する様にした。
幅が広くなる様にするため、シフトレジスタ51への入
力を2分岐し、一方をシフトレジスタ51へ入力し、他
方をシフトレジスタ51の出力とともにオア回路0R1
へ入力する様にした。
シフトレジスタ51からの出力は1ビット遅延するため
、シフトレジスタ51への入力と合成するとオア回路か
ら2倍のパルス幅の出力が得られる。
、シフトレジスタ51への入力と合成するとオア回路か
ら2倍のパルス幅の出力が得られる。
同様の構成をシフトレジスタ52〜55,61〜64の
部分に適用する。
部分に適用する。
これによりシフトレジスタの分だけパルス幅が広くなる
ので基準信号も同様の幅を持つ必要がある。
ので基準信号も同様の幅を持つ必要がある。
次にパルス存在期間によるチェック法を第6図に示す。
図においてはシフトレジスタ51の前段にアンド回路A
DIを挿入し、チェック信号を2分岐し、一方をシフト
レジスタ51へ入力し他方をアンド回路ADlへ入力す
る。アンド回路ADlからの出力はオア回路0R2に直
接入力するが、シフトレジスタ51の出力はアンド回路
AD2に入力し、アンド回路AD2の出力をオア回路0
R2に入力する。
DIを挿入し、チェック信号を2分岐し、一方をシフト
レジスタ51へ入力し他方をアンド回路ADlへ入力す
る。アンド回路ADlからの出力はオア回路0R2に直
接入力するが、シフトレジスタ51の出力はアンド回路
AD2に入力し、アンド回路AD2の出力をオア回路0
R2に入力する。
アンド回路ADl,AD2にはクロック信号CLを入力
し、夫々テスト信号との論理積を取る。
し、夫々テスト信号との論理積を取る。
オア回路0R2では、アンド回路ADl,AD2からの
出力の論理和を取るのでパルス存在期間が延長され、オ
ア回路0R2からは、一つのチェック信号に対して、2
つのパルスが得られる。以上の回路をシフトレジスタ5
2〜55,61〜64においても付加する。
出力の論理和を取るのでパルス存在期間が延長され、オ
ア回路0R2からは、一つのチェック信号に対して、2
つのパルスが得られる。以上の回路をシフトレジスタ5
2〜55,61〜64においても付加する。
この場合は最終段のシフトレジスタから出力されるパル
ス数と基準のパルス数を比較することによりパルス存在
期間を判断する。
ス数と基準のパルス数を比較することによりパルス存在
期間を判断する。
以上述べた様に、本発明によれば、テスト信号に時間的
な重みづけを行なつているので、誤配線を正確に検出す
ることが可能である。
な重みづけを行なつているので、誤配線を正確に検出す
ることが可能である。
第1図は本発明の一実施例を示す図、第2図は第1図の
動作波形図、第3図A,Bl第4図A,B、第5図、第
6図は本発明の他の実施例を示す図である。 図において1はパルス発生器、2,4はコネクタ、5,
6は数珠継ぎ治具、51〜65はシフトレジスタ、EO
Rは排他的論理和回路、0R1,0R2はオア回路、A
Dl,AD2はアンド回路である。
動作波形図、第3図A,Bl第4図A,B、第5図、第
6図は本発明の他の実施例を示す図である。 図において1はパルス発生器、2,4はコネクタ、5,
6は数珠継ぎ治具、51〜65はシフトレジスタ、EO
Rは排他的論理和回路、0R1,0R2はオア回路、A
Dl,AD2はアンド回路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 チェックすべき配線を数珠継ぎにしてチェック信号
を加えることにより配線のチェックを行なう配線チェッ
ク方式において、数珠継ぎの部分に時間的な重みづけ手
段を挿入し、該重みづけ手段により該チェック信号に重
みづけを行ない、該チェック信号の伝達時間特性を検定
することにより配線のチェックを行なう様にした配線チ
ェック方式。 2 該重みづけ手段としてシフトレジスタを用い、該チ
ェック信号を該シフトレジスタにより遅延させ、基準信
号と時間的な比較を行なう様にしたことを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の配線チェック方式。 3 該重みづけ手段としてパルス幅変換回路を用い、該
チェック信号のパルス幅を変換し、基準信号とパルス幅
の比較を行なう様にした特許請求の範囲第1項記載の配
線チェック方式。 4 該重みづけ手段としてパルス存在期間変換回路を用
い、該パルス存在期間変換回路によつて変換された期間
内に存在するパルス数と基準パルス数とを比較する様に
した特許請求の範囲第1項記載の配線チェック方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54090648A JPS6058423B2 (ja) | 1979-07-17 | 1979-07-17 | 配線チエツク方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54090648A JPS6058423B2 (ja) | 1979-07-17 | 1979-07-17 | 配線チエツク方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5614963A JPS5614963A (en) | 1981-02-13 |
| JPS6058423B2 true JPS6058423B2 (ja) | 1985-12-19 |
Family
ID=14004323
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP54090648A Expired JPS6058423B2 (ja) | 1979-07-17 | 1979-07-17 | 配線チエツク方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6058423B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6167816A (ja) * | 1984-09-12 | 1986-04-08 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 複数ビ−ム走査光学系 |
| US5012259A (en) * | 1988-01-28 | 1991-04-30 | Konica Corporation | Color recorder with gas laser beam scanning |
-
1979
- 1979-07-17 JP JP54090648A patent/JPS6058423B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5614963A (en) | 1981-02-13 |
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