JPS6059533U - 半導体の電気特性測定用素子 - Google Patents
半導体の電気特性測定用素子Info
- Publication number
- JPS6059533U JPS6059533U JP14956183U JP14956183U JPS6059533U JP S6059533 U JPS6059533 U JP S6059533U JP 14956183 U JP14956183 U JP 14956183U JP 14956183 U JP14956183 U JP 14956183U JP S6059533 U JPS6059533 U JP S6059533U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- protrusions
- metal electrode
- semiconductor layer
- measuring electrical
- semiconductors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は本発明に係る半導体の電気特性測定用素子の概
略平面図である。 1・・・・・・HgCdTe層、2・・・・・・電流通
過板、3A、3B、4A、4B、5A、5B、6A、6
8m・・6Am突起部、13. 14. 16. 17
”曲Au電極、11. 12. 15. 17. 19
.20・・・In電極。
略平面図である。 1・・・・・・HgCdTe層、2・・・・・・電流通
過板、3A、3B、4A、4B、5A、5B、6A、6
8m・・6Am突起部、13. 14. 16. 17
”曲Au電極、11. 12. 15. 17. 19
.20・・・In電極。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 電流通過板およびこれに対して直交するような4組
の突出部からなる半導体層を有し、前記4組中の1組の
突出部上に第1導電型の半導体層とオーミックコンタク
トとなる第1金属の電極が形成され、別の1組の突出部
上に第2導電型の半導体層とオーミックコンタクトとな
る第2金属の電極が形成され、かつ残り2組の同じ側の
2個の突出部上に前記第1金属の電極が形成され、反対
側の2個の突出部上に前記第2金属の電極が形成されて
いる半導体の電気特性測定用素子。 2 前記半導体がHgCdTeである実用新案登録請求
の範囲第1項記載の素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14956183U JPS6059533U (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | 半導体の電気特性測定用素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14956183U JPS6059533U (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | 半導体の電気特性測定用素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6059533U true JPS6059533U (ja) | 1985-04-25 |
Family
ID=30331961
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14956183U Pending JPS6059533U (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | 半導体の電気特性測定用素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6059533U (ja) |
-
1983
- 1983-09-29 JP JP14956183U patent/JPS6059533U/ja active Pending
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