JPS6064894A - レ−ザ−記録材料 - Google Patents
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- recording layer
- layer
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- G11B7/2531—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers of substrates comprising glass
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高エネルギー密度のレーザービームを用いて、
熱的に情報を記録するだめの熱的記録材料に関するもの
であシ、さらに詳しくは、記録層と支持体であるガラス
基板の間に親水性基を含有するポリマー、例えばカルボ
キシル基、又はスルホン酸基、オキシスルフォン酸基、
水酸基、アミド基、ノア7基、からなる化合物を含有す
る下塗層を有し、高感度かつ記録層と支持体との間の密
着性のよく、また経時による感度低下がなくさらに記録
保存性のよい熱的記録材料に関するものである。
熱的に情報を記録するだめの熱的記録材料に関するもの
であシ、さらに詳しくは、記録層と支持体であるガラス
基板の間に親水性基を含有するポリマー、例えばカルボ
キシル基、又はスルホン酸基、オキシスルフォン酸基、
水酸基、アミド基、ノア7基、からなる化合物を含有す
る下塗層を有し、高感度かつ記録層と支持体との間の密
着性のよく、また経時による感度低下がなくさらに記録
保存性のよい熱的記録材料に関するものである。
最近、レーザ光等の高エネルギー密度のビームを用いる
、いわゆるオプチカルディスクと称する情報記録媒体が
開発され、実用化されている。
、いわゆるオプチカルディスクと称する情報記録媒体が
開発され、実用化されている。
このタイプの記録媒体は、基本的にはガラスやプラスチ
ックよりなる円盤状透明基板に、Bi。
ックよりなる円盤状透明基板に、Bi。
8 n % I n % T e等の金属、半金属又は
半導体などを蒸着等によシ薄膜状に記録層又は光反射層
(以下、記録層と称する)として設けた構成をとってい
る。
半導体などを蒸着等によシ薄膜状に記録層又は光反射層
(以下、記録層と称する)として設けた構成をとってい
る。
この種の記録媒体は暗室操作が不要であること、高密度
、高コントラストの記録が得られること、情報のアドオ
/(追加記録)が可能であること、記録された情報をレ
ーザ光で走査することによって読み取ることができる等
の利点を有している。
、高コントラストの記録が得られること、情報のアドオ
/(追加記録)が可能であること、記録された情報をレ
ーザ光で走査することによって読み取ることができる等
の利点を有している。
基板としては、寸度安定性、透明性及び平面性の点でガ
ラス基板の方がプラスチック基板よりもすぐれている。
ラス基板の方がプラスチック基板よりもすぐれている。
しかしながらガラス基板を用いた場合、経時により記録
層が変質し、記録時の感度が低下したり、読み取り時の
光学濃度が低下すること、経時によシ記録層とガラス基
板の密着が低下したり、基板と記録層との間に析出物が
発生し、記録の欠陥を生じること等の問題を生じる。本
発明者等はこの原因を検討した結果、ガラス基板中のN
a 、K 、Ca XBa”、Mg 2 +2 + 等のイオンが、温湿度の影響により基板表面に拡散して
記録層に作用し、前述のごとき問題を生じることを見出
した。更に親水性基を有するポリマーによりガラス基板
を下塗すると、この問題が解決されることを見出し、本
発明に到達したのである。
層が変質し、記録時の感度が低下したり、読み取り時の
光学濃度が低下すること、経時によシ記録層とガラス基
板の密着が低下したり、基板と記録層との間に析出物が
発生し、記録の欠陥を生じること等の問題を生じる。本
発明者等はこの原因を検討した結果、ガラス基板中のN
a 、K 、Ca XBa”、Mg 2 +2 + 等のイオンが、温湿度の影響により基板表面に拡散して
記録層に作用し、前述のごとき問題を生じることを見出
した。更に親水性基を有するポリマーによりガラス基板
を下塗すると、この問題が解決されることを見出し、本
発明に到達したのである。
ガラスや金属等の基板表面に一般的なポリマーを塗布し
、ポリマー層の断熱効果により、基板への熱の伝達を防
ぎ、感度を上げることは特開昭j7−1310tl、等
において知られている。本発明は、特にポリマーの中よ
り親水性基を有するポリマーを選択し、基板中からの金
属イオンの記録層への拡散を防止し、記録層の変質によ
る感度低下や、光学濃度の変化、析出物の発生による欠
陥を防止するものであり、前述の特開昭j7−/3ざo
ttとはその目的も作用原理も効果も全く異にするもの
である。
、ポリマー層の断熱効果により、基板への熱の伝達を防
ぎ、感度を上げることは特開昭j7−1310tl、等
において知られている。本発明は、特にポリマーの中よ
り親水性基を有するポリマーを選択し、基板中からの金
属イオンの記録層への拡散を防止し、記録層の変質によ
る感度低下や、光学濃度の変化、析出物の発生による欠
陥を防止するものであり、前述の特開昭j7−/3ざo
ttとはその目的も作用原理も効果も全く異にするもの
である。
本発明は、記録層に、金属や半金属を単体や合金として
用いた場合よりも、これら金属や半金属の化合物、例え
ば硫化物、フッ化物、酸化物、ノ・ロゲン化物、ホウ化
物、ケイ素化物、炭化物、窒化物等を含む記録層に適用
した場合特に効果が大きい。これは、これらの化合物は
金属や半金属単体よりもレーザー光での書き込み時の感
度は高い反面、ガラス基板中の金属イオンの影響をより
受けやすいためと思われる。本発明の記録層に用いる化
合物の具体例としては、 Cr 8 、 Cr 28.s Cr 2 S 3、M
o S 2、MnS、Fed、、Fed2、Co5−
1CO2S 3、NiSx Ni 2S、PdS、Cu
2B、、Ag2S、Z n S % I n z S
3、I n 282、Ce5x(xは正の実数)、S
n S % 8 n S 2、Pbs。
用いた場合よりも、これら金属や半金属の化合物、例え
ば硫化物、フッ化物、酸化物、ノ・ロゲン化物、ホウ化
物、ケイ素化物、炭化物、窒化物等を含む記録層に適用
した場合特に効果が大きい。これは、これらの化合物は
金属や半金属単体よりもレーザー光での書き込み時の感
度は高い反面、ガラス基板中の金属イオンの影響をより
受けやすいためと思われる。本発明の記録層に用いる化
合物の具体例としては、 Cr 8 、 Cr 28.s Cr 2 S 3、M
o S 2、MnS、Fed、、Fed2、Co5−
1CO2S 3、NiSx Ni 2S、PdS、Cu
2B、、Ag2S、Z n S % I n z S
3、I n 282、Ce5x(xは正の実数)、S
n S % 8 n S 2、Pbs。
A s 2S 3、Sb2S3、B i2 S 3、M
gF□、Ca F z、几hF3、Mob、xno、I
n2O。
gF□、Ca F z、几hF3、Mob、xno、I
n2O。
I n 203、Gem、PbO,Sm2O3、E u
203、Al2O3、G a 2 (J 3、Y2O
3、Y2O3、■02、T r O% N b 205
、HfO2、Mo O2、WO2、WO3、L a 2
03、Yb2O3、SiO,Nd2O3、Ce(Jz、
M n (J % N t O% U e’ 02、Z
n O、Z r 02、Z n I 2.8bI3、
sbx CdLz、K I 。
203、Al2O3、G a 2 (J 3、Y2O
3、Y2O3、■02、T r O% N b 205
、HfO2、Mo O2、WO2、WO3、L a 2
03、Yb2O3、SiO,Nd2O3、Ce(Jz、
M n (J % N t O% U e’ 02、Z
n O、Z r 02、Z n I 2.8bI3、
sbx CdLz、K I 。
5 \
AgI、Z r I 4、S n I z、S n I
a、S r I 25CsI、Tri、WN2、T
t I 4、CuI、T 11 I P b I B
i I 3等の金属沃化物、41 2ゝ S b B r s、AgBr、SnBr2、CsBr
。
a、S r I 25CsI、Tri、WN2、T
t I 4、CuI、T 11 I P b I B
i I 3等の金属沃化物、41 2ゝ S b B r s、AgBr、SnBr2、CsBr
。
TβBr、CuBr、NaBr、PbBr2、NhRr
、RaBr、、iの金属臭化物、Cd(17,、K C
1、A gC/!、S nα2、Tlcz、Taα6、
CuC1、NaCZ、pbct2、NdC/!3、Ba
α2等の金属塩化物、Z n F 2、AlF3、Cr
F 2、ZrF 8nF TJl?F、FeF2.4
\ 2− FeF CuFXNaF、PbF2、NbF2.3\ NiF BaF2、B iF 2、M n F 2.2
\ LiF、MgF2、Ca F z等の金属弗化物、T
s B Z r B Ca B s、S r B 6.
21 2 \ N b B M o B 2、T a B 2等の金属
ホウ化物、2 \ V S 1 % P e S iz、B6Si等の金属
ケイ素化物、S 1CXYC% ZrC,B4C,Hf
C等のどとき金属の炭化物、TiN、TaN。
、RaBr、、iの金属臭化物、Cd(17,、K C
1、A gC/!、S nα2、Tlcz、Taα6、
CuC1、NaCZ、pbct2、NdC/!3、Ba
α2等の金属塩化物、Z n F 2、AlF3、Cr
F 2、ZrF 8nF TJl?F、FeF2.4
\ 2− FeF CuFXNaF、PbF2、NbF2.3\ NiF BaF2、B iF 2、M n F 2.2
\ LiF、MgF2、Ca F z等の金属弗化物、T
s B Z r B Ca B s、S r B 6.
21 2 \ N b B M o B 2、T a B 2等の金属
ホウ化物、2 \ V S 1 % P e S iz、B6Si等の金属
ケイ素化物、S 1CXYC% ZrC,B4C,Hf
C等のどとき金属の炭化物、TiN、TaN。
S i 3N 、等のごとき金属炭化物があげられる。
これらの化合物は金属や半金属例えばIn、Sn。
Qe、Te等と共蒸着し、混合物の形で用いると感度や
光学濃度、経時安定性等の点で更に有利である。
光学濃度、経時安定性等の点で更に有利である。
本発明に用いる親水性基を有するポ“リマーによる下塗
は、前述のごとく、ガラス基板中の金属イオンが記録層
に悪作用するのを防止する以外に、記録層を熱により熔
解してビットを形成させて記録するタイプの記録材料の
場合、ピットの輪郭を明確にしてS/N比をあげる効果
もある。
は、前述のごとく、ガラス基板中の金属イオンが記録層
に悪作用するのを防止する以外に、記録層を熱により熔
解してビットを形成させて記録するタイプの記録材料の
場合、ピットの輪郭を明確にしてS/N比をあげる効果
もある。
本発明に使用する下塗用ポリマーとしては、親水性を有
しないポリマーは効果がなく、親水性基を有するポリマ
ーのみが有効である。特にカルボキシル基、スルフォン
酸基、水酸基、アミド基及びシアノ基を有するものが効
果が大きい。最も効果が大きいのはカルボキシル基及び
スルホン酸基等の酸性基を有するポリマーである。これ
はガラス基板から拡散してくるアルカリ金属イオン等を
塩として捕捉するためと考えられる。
しないポリマーは効果がなく、親水性基を有するポリマ
ーのみが有効である。特にカルボキシル基、スルフォン
酸基、水酸基、アミド基及びシアノ基を有するものが効
果が大きい。最も効果が大きいのはカルボキシル基及び
スルホン酸基等の酸性基を有するポリマーである。これ
はガラス基板から拡散してくるアルカリ金属イオン等を
塩として捕捉するためと考えられる。
またポリエステルの末端は水酸基またはカルボキシル基
になっているが全分子の末端にだけ親水基を含んでも本
発明の効果は少い。それはガラス基板中からのフリーの
Na 、K 、Ca”、を捕捉し得る官能基の数が多い
ほど効果が大きいと考えられるからである。または直接
、捕捉しなくても水分子を水和しており、この水利層に
上記イオンを捕捉する事ができる基が好ましい官能基と
なると考えられる。これらの官能基はポリマーを構成す
る単位分子中にlコ以上含まれているものが好ましい。
になっているが全分子の末端にだけ親水基を含んでも本
発明の効果は少い。それはガラス基板中からのフリーの
Na 、K 、Ca”、を捕捉し得る官能基の数が多い
ほど効果が大きいと考えられるからである。または直接
、捕捉しなくても水分子を水和しており、この水利層に
上記イオンを捕捉する事ができる基が好ましい官能基と
なると考えられる。これらの官能基はポリマーを構成す
る単位分子中にlコ以上含まれているものが好ましい。
本発明に用いるカルボ゛キシル基含有ポリマーとしては
、アクリル酸、メチルアクリル酸、エチルアクリル酸、
λ−メトキシアクリル酸、2−ブトキシアクリル酸、!
−7エノキシアクリル酸、クロルアクリル酸、ヒドロキ
シアクリル酸、シア/アクリル酸、ジメチルアミノアク
リル酸、λ1.2−ジメチルヒドロキシアクリル酸、ジ
エチレングリコール七/アクリル酸、トリメチロールプ
ロパン七/アクリル酸、イタコン酸、クロトン酸、ソル
ビン酸、桂皮酸、フマル酸、マレイン酸、シトラコン酸
、メサコン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ピ
メリン酸、スペリン酸、アゼライン酸、セバシン酸、等
のホモポリマーまたはコポリマーが好ましい。この中で
ポリアクリル酸、メチルアクリル酸、イタコン酸、マレ
イン酸のポモポリマーまたはコポリマーが最も好ましい
。
、アクリル酸、メチルアクリル酸、エチルアクリル酸、
λ−メトキシアクリル酸、2−ブトキシアクリル酸、!
−7エノキシアクリル酸、クロルアクリル酸、ヒドロキ
シアクリル酸、シア/アクリル酸、ジメチルアミノアク
リル酸、λ1.2−ジメチルヒドロキシアクリル酸、ジ
エチレングリコール七/アクリル酸、トリメチロールプ
ロパン七/アクリル酸、イタコン酸、クロトン酸、ソル
ビン酸、桂皮酸、フマル酸、マレイン酸、シトラコン酸
、メサコン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ピ
メリン酸、スペリン酸、アゼライン酸、セバシン酸、等
のホモポリマーまたはコポリマーが好ましい。この中で
ポリアクリル酸、メチルアクリル酸、イタコン酸、マレ
イン酸のポモポリマーまたはコポリマーが最も好ましい
。
スルフォン酸基含有ポリマーとしては、ポリヘキサメチ
レンスルフォン酸、ポリオキシヘキサメチレンスルフォ
ン酸、ポリスチレンスルフォン酸、ポリヒニルベンゼン
スルフオン酸、ポリビニルスルフォン酸、ナフタレンス
ルフォン酸のフォルマリン縮合物等がある。この中で特
にポリへキサメチルスルフォン酸、ポリオキシへキサメ
チレンスルフォン酸、ポリスチレンスルフォン酸が好ま
しい。
レンスルフォン酸、ポリオキシヘキサメチレンスルフォ
ン酸、ポリスチレンスルフォン酸、ポリヒニルベンゼン
スルフオン酸、ポリビニルスルフォン酸、ナフタレンス
ルフォン酸のフォルマリン縮合物等がある。この中で特
にポリへキサメチルスルフォン酸、ポリオキシへキサメ
チレンスルフォン酸、ポリスチレンスルフォン酸が好ま
しい。
水酸基を含有するポリマーを構成する水酸基含有単量体
の具体例は次の通シである。ビニルアルコール、λ−ヒ
ドロキシエチルアクリレート、λ−ヒドロキシエチルメ
タアクリレート、コーヒドロキシメチルアクリL/−ト
、2−ヒドロキシメチルメタアクリレート、λニヒドロ
キゾー3−クロロプロピルアクリレート、コーヒドロキ
シー3−クロロプロピルメタクリレート、グリセロール
メタクリレート、≠−ヒドロキシブチルアクリV−)、
コーヒドロキシプ口ビルアクリV−)、コーヒドロキシ
プ口ピルメタアクリレート、!−ヒドロキシペンチルビ
ニルエーテル、2.2−ジメチルヒドロキシプロピルア
クリレート、j−ヒドロキシペンチルアクリレート、j
−ヒドロキシペンチルメタアクリレート、コ、2−ジメ
チルー3−ヒドロキシプロピルメタアクリレートっ この中で特にビニルアルコール、λ−ヒドロキシエチル
アクリレート、コーヒドロキシエチルメタアクリレート
、λ−ヒドロキシメチルアクリレート、コーヒドロキシ
メチルメタアクリレートのホモポリマーまたはコポリマ
ーが好ましい。
の具体例は次の通シである。ビニルアルコール、λ−ヒ
ドロキシエチルアクリレート、λ−ヒドロキシエチルメ
タアクリレート、コーヒドロキシメチルアクリL/−ト
、2−ヒドロキシメチルメタアクリレート、λニヒドロ
キゾー3−クロロプロピルアクリレート、コーヒドロキ
シー3−クロロプロピルメタクリレート、グリセロール
メタクリレート、≠−ヒドロキシブチルアクリV−)、
コーヒドロキシプ口ビルアクリV−)、コーヒドロキシ
プ口ピルメタアクリレート、!−ヒドロキシペンチルビ
ニルエーテル、2.2−ジメチルヒドロキシプロピルア
クリレート、j−ヒドロキシペンチルアクリレート、j
−ヒドロキシペンチルメタアクリレート、コ、2−ジメ
チルー3−ヒドロキシプロピルメタアクリレートっ この中で特にビニルアルコール、λ−ヒドロキシエチル
アクリレート、コーヒドロキシエチルメタアクリレート
、λ−ヒドロキシメチルアクリレート、コーヒドロキシ
メチルメタアクリレートのホモポリマーまたはコポリマ
ーが好ましい。
アミド基含有ポリマーとしては、ナイロン6、ナイロン
44.ナイロン410.ナイロン//。
44.ナイロン410.ナイロン//。
ナイロンlコ、塩化ポリアミド、ポリペブタイド、ゼラ
チン等が好ましい。
チン等が好ましい。
この中で特にナイロン6、ナイロン&&、ポリペブタイ
ド、ゼラチンが′持に好ましい。
ド、ゼラチンが′持に好ましい。
この他、アクリルアミド系ポリマーもアミド基含有ポリ
マーとしてあげられる。その具体例は次のごとくである
。
マーとしてあげられる。その具体例は次のごとくである
。
アクリルアミド系ポリマーを構成するアクリルアミド類
単量体とは、アクリルアミド類には例えば、アクリルア
ミド、N−IN換アクリルアミド(例えばメチルアクリ
ルアミド、エチルアクリルアミド、プロピルアクリルア
ミド、イソゾロビルアクリルアミド、ブチルアクリルア
ミド、t−ブチルアクリルアミド、ヘプチルアクリルア
ミド、t−オクチルアクリルアミド、シフ日ヘキシルア
クリルアミド、ベンジルアクリルアミド、ジメチルアミ
ンエチルアクリル・アミド、フェニルアクリルアミド、
トリルアクリルアミド、ナフチルアクリルアミド、ジメ
チルアクリルアミド、ジエチルアクリルアミド、ジブチ
ルアクリルアミド、ジイソジチルアクリルアミド、ダイ
ア七トンアクリルアミド、メチルベンジルアクリルアミ
ド、β−シアノエチルアクリルアミド、アクリロイルモ
ルホリン、N−y’fルーN−アクリロイルピペラジン
、N−アクリロイルピペリジン、アクリロイルグリシン
、N−β−モルホリノエチルアクリルアミド、N−アク
リロイルへキサメチレンイミン、N−α−アセトアミド
、エチル−N−アセチルアクリルアミドなど)、メタク
リルアミド、N−置換メタクリルアミド(例えば、メチ
ルメタクリルアミド、t−ブチルメタクリルアミド、t
−オクチルメタクリルアミド、ベンジルメタクリルアミ
ド、シクロヘキシルメタクリルアミド、フェニルメタク
リルアミド、ジメチルメタクリルアミド、ジエチルメタ
クリルアミド、ジプロピルメタクリルアミド、N−メチ
ル−N−フェニルメタクリルアミド、N−エチル−N−
フェニルメタクリルアミドなと)。
単量体とは、アクリルアミド類には例えば、アクリルア
ミド、N−IN換アクリルアミド(例えばメチルアクリ
ルアミド、エチルアクリルアミド、プロピルアクリルア
ミド、イソゾロビルアクリルアミド、ブチルアクリルア
ミド、t−ブチルアクリルアミド、ヘプチルアクリルア
ミド、t−オクチルアクリルアミド、シフ日ヘキシルア
クリルアミド、ベンジルアクリルアミド、ジメチルアミ
ンエチルアクリル・アミド、フェニルアクリルアミド、
トリルアクリルアミド、ナフチルアクリルアミド、ジメ
チルアクリルアミド、ジエチルアクリルアミド、ジブチ
ルアクリルアミド、ジイソジチルアクリルアミド、ダイ
ア七トンアクリルアミド、メチルベンジルアクリルアミ
ド、β−シアノエチルアクリルアミド、アクリロイルモ
ルホリン、N−y’fルーN−アクリロイルピペラジン
、N−アクリロイルピペリジン、アクリロイルグリシン
、N−β−モルホリノエチルアクリルアミド、N−アク
リロイルへキサメチレンイミン、N−α−アセトアミド
、エチル−N−アセチルアクリルアミドなど)、メタク
リルアミド、N−置換メタクリルアミド(例えば、メチ
ルメタクリルアミド、t−ブチルメタクリルアミド、t
−オクチルメタクリルアミド、ベンジルメタクリルアミ
ド、シクロヘキシルメタクリルアミド、フェニルメタク
リルアミド、ジメチルメタクリルアミド、ジエチルメタ
クリルアミド、ジプロピルメタクリルアミド、N−メチ
ル−N−フェニルメタクリルアミド、N−エチル−N−
フェニルメタクリルアミドなと)。
具体的にはアクリルアミド、メチルアクリルアミド、エ
チルアクリルアミド、メチルメタアクリルアミドのポリ
マーまたはコポリマーが好ましい。
チルアクリルアミド、メチルメタアクリルアミドのポリ
マーまたはコポリマーが好ましい。
シアツキ含有ポリマーとしては、アクリロニトリル、メ
タクリロニトリル、α−クロルアクリロニトリル、α−
ブロムアクリロニトリル、α−フルオルアクリロニトリ
ル、α−クロル−β−ジフルオルアクリロニトリル、α
−トリフルオルメチルアクリロニトリル、α−トリフル
オルメチルアクリロニトリル、α−メトキシアクリロニ
トリル、α−アセトキシアクリロニトリル、炭素数λ〜
りのアルキル基を有するα−アルキルアクリロニトリル
、α−フェニルアクリロニトリル、α−置換フェニル7
79口ニトリル、α−カルバアルコキシアクリロニトリ
ル、シアン力ビニリデン等のホモポリマーまたはコポリ
マーが含まれる。この中で特にアクリロニトリル、メタ
アクリロニトリル、αクロルアクリロニトリル、αクロ
ルメタアクリロニトリルのホモポリマーまたはコポリマ
ーが好ましい。
タクリロニトリル、α−クロルアクリロニトリル、α−
ブロムアクリロニトリル、α−フルオルアクリロニトリ
ル、α−クロル−β−ジフルオルアクリロニトリル、α
−トリフルオルメチルアクリロニトリル、α−トリフル
オルメチルアクリロニトリル、α−メトキシアクリロニ
トリル、α−アセトキシアクリロニトリル、炭素数λ〜
りのアルキル基を有するα−アルキルアクリロニトリル
、α−フェニルアクリロニトリル、α−置換フェニル7
79口ニトリル、α−カルバアルコキシアクリロニトリ
ル、シアン力ビニリデン等のホモポリマーまたはコポリ
マーが含まれる。この中で特にアクリロニトリル、メタ
アクリロニトリル、αクロルアクリロニトリル、αクロ
ルメタアクリロニトリルのホモポリマーまたはコポリマ
ーが好ましい。
%開昭57−/310ttに記載のポリマーのほとんど
が本発明の目的とする、経時による記録層の変質防止、
記録層と基板の経時による密着力の低下防止、記録層と
基板の間の析出物の発生防止等の効果を有しない。例え
ば、ポリ塩化ビニリデン、酢酸ビニールと塩化ビニール
の共電合体、ポリエチレン、ポリスチレン等は上記の効
果を示さない。本発明に用いる親水性基を有するポリマ
ー層の上に異極のポリマーを史に積層して設け、その上
に記録層を設けてもよい。
が本発明の目的とする、経時による記録層の変質防止、
記録層と基板の経時による密着力の低下防止、記録層と
基板の間の析出物の発生防止等の効果を有しない。例え
ば、ポリ塩化ビニリデン、酢酸ビニールと塩化ビニール
の共電合体、ポリエチレン、ポリスチレン等は上記の効
果を示さない。本発明に用いる親水性基を有するポリマ
ー層の上に異極のポリマーを史に積層して設け、その上
に記録層を設けてもよい。
親水性ポリマーを溶解する溶剤としては、アセトン、メ
チルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、ジアセト
ンアルコール、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、
プチルセロソルフ、メチルセロソルブアセテート、エチ
ルセロソルブアセテート、ブチルセロソルブアセテート
、メタノール、エタノール、プロパツール、イソプロピ
ルアルコール、ブタノール、ジメチルホルムアミド、シ
ンナー等の中から、使用する高分子物質に応じて選べば
良い。
チルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、ジアセト
ンアルコール、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、
プチルセロソルフ、メチルセロソルブアセテート、エチ
ルセロソルブアセテート、ブチルセロソルブアセテート
、メタノール、エタノール、プロパツール、イソプロピ
ルアルコール、ブタノール、ジメチルホルムアミド、シ
ンナー等の中から、使用する高分子物質に応じて選べば
良い。
これらの高分子物質の中には、可塑剤、滑剤などの各種
添加物を目的に応じて添加することかり能である。
添加物を目的に応じて添加することかり能である。
また、塗布方式としては、スプレー法、スピンナー法、
ディップ法、ロールコート法、ブレートコート法、ドク
ターロール法、スクリーン印刷等があり目的に応じて使
用される。膜厚としては、転換として0.01−20μ
、特にO17〜2μが好ましく、親水性ポリマーの分子
量としては各ポリマーの41mによって異なるが10〜
30万で特に100−100,000程度が好ましい。
ディップ法、ロールコート法、ブレートコート法、ドク
ターロール法、スクリーン印刷等があり目的に応じて使
用される。膜厚としては、転換として0.01−20μ
、特にO17〜2μが好ましく、親水性ポリマーの分子
量としては各ポリマーの41mによって異なるが10〜
30万で特に100−100,000程度が好ましい。
以下に実施例により本発明を説明する。
実施例 1
ソーダ石灰ガラス板(2,5インチ角、厚さ/。
smm)をアルカリ、イソゾロビルアルコールで洗浄し
て乾燥させる。このガラス上に、カルボキシル基含有ポ
リマーとしてポリメチルアクリル酸3%メタノール溶液
をスピンコーター300Orpmで30秒間塗布をして
、1000Cで10分間乾燥させた。
て乾燥させる。このガラス上に、カルボキシル基含有ポ
リマーとしてポリメチルアクリル酸3%メタノール溶液
をスピンコーター300Orpmで30秒間塗布をして
、1000Cで10分間乾燥させた。
この時の塗布の厚さは0.2μであった。
さらに、この基板上に記録層として金属層Inだ。この
試料につき経時テスト後の感度・記録保存性・接着力を
評価した。
試料につき経時テスト後の感度・記録保存性・接着力を
評価した。
実施例 2
実施例1と同様にポリα−メチルアクリル酸を軟膜でO
o、2μになるように塗布して乾燥させた後、断熱を目
的としてポリメチルメタアクリレート2チ メチルエチ
ルケトン/メチルセロソルブアセテルト= 4 / !
溶液をスピンコータjo。
o、2μになるように塗布して乾燥させた後、断熱を目
的としてポリメチルメタアクリレート2チ メチルエチ
ルケトン/メチルセロソルブアセテルト= 4 / !
溶液をスピンコータjo。
rpm30秒間で軟膜で0.23μとなるように塗布を
してgo 0c、10分乾燥させ重層構成とした。その
後実施例/と同様に記録層をっけ評価した。
してgo 0c、10分乾燥させ重層構成とした。その
後実施例/と同様に記録層をっけ評価した。
実施例 3
実施例1と同様に処理したガラス板上にスルフォン酸基
含有ポリマーとし、てポリへキサメチレンスルフオン酸
3チジメチルフオルムアミド溶gを塗布し、実施例1と
同様に試料を作り計画した。
含有ポリマーとし、てポリへキサメチレンスルフオン酸
3チジメチルフオルムアミド溶gを塗布し、実施例1と
同様に試料を作り計画した。
実施例 4
実施例1と同様に処理したガラス板上にオキシスルフォ
ン酸基含有ポリマーとしてポリオキシヘキサメチレンス
ルフオン酸3%ジメチルフォルムアミド溶液を塗布し、
実施例1と同様に試料を作り、評価した。
ン酸基含有ポリマーとしてポリオキシヘキサメチレンス
ルフオン酸3%ジメチルフォルムアミド溶液を塗布し、
実施例1と同様に試料を作り、評価した。
実施例 5
実施例1と同様に処理したガラス板上に水酸基含有ポリ
マーとしてポリビニルアルコール3チ水溶を夜を塗布し
、実施例1と同様に試料を作り評価した。
マーとしてポリビニルアルコール3チ水溶を夜を塗布し
、実施例1と同様に試料を作り評価した。
実施例 6
実施例1と同様に処理したガラス板上にアミド基含有ポ
リマーとしてナイロン6、メタトル/メチルエチルケト
ン−7/3加熱溶液を塗布し、実施例/と同様に試料を
作り評価した。
リマーとしてナイロン6、メタトル/メチルエチルケト
ン−7/3加熱溶液を塗布し、実施例/と同様に試料を
作り評価した。
実施51J 7
実施例1と同様に処理したガラス板上にアクリルアミド
基含有ポリマーとしてポリアクリルアミドの3係エタノ
ール溶液を用いて実施例1と同様に試tトを作り評価し
/c0 比較例 1 実施例1と同様に処理したガラス板上にポリ塩化ビニリ
デンの3俤メチルエチルケトンd数を塗布し、実施例/
と同様に試料を作り評価した。
基含有ポリマーとしてポリアクリルアミドの3係エタノ
ール溶液を用いて実施例1と同様に試tトを作り評価し
/c0 比較例 1 実施例1と同様に処理したガラス板上にポリ塩化ビニリ
デンの3俤メチルエチルケトンd数を塗布し、実施例/
と同様に試料を作り評価した。
比較例 2
実施例/と同様に処理したガラス板上に酢酸ビニル−塩
化ビニール共正合体(重合比2θ:ざOlM 8度2o
oo)の3%メチルエチルケトノ溶液を塗布し実碓例/
と同様に試料を作り評価した。
化ビニール共正合体(重合比2θ:ざOlM 8度2o
oo)の3%メチルエチルケトノ溶液を塗布し実碓例/
と同様に試料を作り評価した。
比較例 3
実施例1と同様に処理したガラス板上にポリスチレンの
3%メチルエチルケトン溶液ヲ塗布し実施例1と同様に
試料を作り評価した。
3%メチルエチルケトン溶液ヲ塗布し実施例1と同様に
試料を作り評価した。
評価は賃料をto 0c、りO%RHでj日間強制経時
テスト後、次の方法で行なった。
テスト後、次の方法で行なった。
記録に要する感度、レーザー出力(mW): 本発明試
料にガラス板側から最大出力2Wのアルゴン・イオン・
レーザー・ビーム(波長Kl≠jA)をレノズで2.夕 μ〃zのビーム径に集束してパルス露光時間/に101
1SeCでパルス露光記録を行い各試料に記録跡が形成
される最小のV−ザー出力強度をめた。
料にガラス板側から最大出力2Wのアルゴン・イオン・
レーザー・ビーム(波長Kl≠jA)をレノズで2.夕 μ〃zのビーム径に集束してパルス露光時間/に101
1SeCでパルス露光記録を行い各試料に記録跡が形成
される最小のV−ザー出力強度をめた。
このレーザー出力の大小によつ又記録
感朋の比較がされる。すなわちこの出力が小さいほど高
感度である。
感度である。
接着カニ 記録層上にWA 製ナイフによって支持体に
至る深さで/ 7727μ間VfAの平行様ケ縦方向お
よび横方向に引き切れ目をつけ/ mnl X / in 772 ノ領域のます目を/
o Ofled作シ、その上マイラーテープ(日東成工
製ポリエチレンテレフタレート感圧接着テーゾA−3/
B)をはりつけた後、そのマイラーテープを上方りOo
の方向に強くはがした時に残っている1mmX1nt
ynのます目の数でi?’F価した。すなわち残ったま
ず目の数が多いほど接着力は良い。(100/100が
最良である。)記録保存性: 経時テスト後の記録面の
びインチ角の面積中の析出物の数を200倍の光学顕微
鏡で観察した。また肉眼で記録層の状態を観察した。表
中、○印は析出物がOコで、記録層にくもり等が発生し
なかったもの、Δ印は析出1勿が/、10コで、記録層
に若干くもりが発生したもの、x印は析出物が173以
上で記録層にくもりが発生したものである。
至る深さで/ 7727μ間VfAの平行様ケ縦方向お
よび横方向に引き切れ目をつけ/ mnl X / in 772 ノ領域のます目を/
o Ofled作シ、その上マイラーテープ(日東成工
製ポリエチレンテレフタレート感圧接着テーゾA−3/
B)をはりつけた後、そのマイラーテープを上方りOo
の方向に強くはがした時に残っている1mmX1nt
ynのます目の数でi?’F価した。すなわち残ったま
ず目の数が多いほど接着力は良い。(100/100が
最良である。)記録保存性: 経時テスト後の記録面の
びインチ角の面積中の析出物の数を200倍の光学顕微
鏡で観察した。また肉眼で記録層の状態を観察した。表
中、○印は析出物がOコで、記録層にくもり等が発生し
なかったもの、Δ印は析出1勿が/、10コで、記録層
に若干くもりが発生したもの、x印は析出物が173以
上で記録層にくもりが発生したものである。
以上の結果の如く、親水性嬶含有ポリマーによるガラス
基板の下塗は感層・接着力・記録保存性の点で良好な結
果を与えた。
基板の下塗は感層・接着力・記録保存性の点で良好な結
果を与えた。
特許出願人 富士写真フィルム株式会社手続補正書
特許庁長官殿
1、事件の表示 昭和!を年特許願第1731,7を号
2、発明の名称 レーザー記録材料 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 件 所 神奈川県南足柄市中沼210番地4、補正の対
象 明細書 5、補正の内容 明細書の全文を別紙のとおり補正する。
2、発明の名称 レーザー記録材料 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 件 所 神奈川県南足柄市中沼210番地4、補正の対
象 明細書 5、補正の内容 明細書の全文を別紙のとおり補正する。
明 W!4 書
1、発明の名称 レーザー記録材料
2、特許請求の範囲
(1)透明なガラス基板上に、レーザーにより情報を書
き込み及び/又は読取りができる記録層を有する情報記
録材料において、該ガラス基板が、カルボキシ基を有す
るポリマーもしくは無水マレイン酸の共重合体を含む下
塗層を有することを特徴とするレーザー記録材料。
き込み及び/又は読取りができる記録層を有する情報記
録材料において、該ガラス基板が、カルボキシ基を有す
るポリマーもしくは無水マレイン酸の共重合体を含む下
塗層を有することを特徴とするレーザー記録材料。
(2)下塗層の厚さが0.0/−コ0μであることを特
徴とする特許請求の範囲第7項記載のレーザー記録材料
。
徴とする特許請求の範囲第7項記載のレーザー記録材料
。
(3)下塗層が、アクリル酸、α−メチルアクリル酸、
イタコン酸、クロトン酸、ソルビン酸、フマル酸、マレ
イン酸、もしくは無水マレイ酸を構成要素として含むポ
リマーを含有することを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のレーザー記録材料。
イタコン酸、クロトン酸、ソルビン酸、フマル酸、マレ
イン酸、もしくは無水マレイ酸を構成要素として含むポ
リマーを含有することを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のレーザー記録材料。
(4)下塗層がポリアクリル酸、ポリメタアクリル酸、
スチレン無水マレイン酸コポリマー、スチる特許請求の
範囲第1項記載のレーザー記録材料。
スチレン無水マレイン酸コポリマー、スチる特許請求の
範囲第1項記載のレーザー記録材料。
(5) 記録層が、金属もしくは半金属の硫化物、フッ
化物、酸化物、ハロゲン化物、ホウ化物、ケイ素化物、
炭化物及び窒化物及び窒化物↓り選ばれる金属化合物も
しくは半金属化合物を含有することを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のレーザー記録材料。
化物、酸化物、ハロゲン化物、ホウ化物、ケイ素化物、
炭化物及び窒化物及び窒化物↓り選ばれる金属化合物も
しくは半金属化合物を含有することを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のレーザー記録材料。
3、発明の詳細な説明
(産業上の利用分野)
本発明は高エネルギー密度のレーザービームを用込て、
熱的に情報を記録するための熱的記録材料に関するもの
であり、さらに詳しくは、記録層と支持体であるガラス
基板の間にカルボキシル基を有するポリマーもしくは無
水マレイン酸の共重合体を含む下塗層を有する高感度か
つ記録層と支持体との間の密着性のよく、ま次経時によ
る感度低下がなくさらに記録保存性のよい熱的記録材料
に関するものである。
熱的に情報を記録するための熱的記録材料に関するもの
であり、さらに詳しくは、記録層と支持体であるガラス
基板の間にカルボキシル基を有するポリマーもしくは無
水マレイン酸の共重合体を含む下塗層を有する高感度か
つ記録層と支持体との間の密着性のよく、ま次経時によ
る感度低下がなくさらに記録保存性のよい熱的記録材料
に関するものである。
最近、レーザ光等の高エネルギー密度のビームを用いる
、いわゆるオプチカルディスクと称する情報記録媒体が
開発され、実用化されている。
、いわゆるオプチカルディスクと称する情報記録媒体が
開発され、実用化されている。
このタイプの記録媒体は、基本的にはガラスやプシスチ
ツクよりなる円盤状透明基板に、Bi。
ツクよりなる円盤状透明基板に、Bi。
Sn、In%Te等の金属、半金属又は半導体など全蒸
着等に↓り薄膜状に記録層又は光反射層c以下、記録層
と称する)として設けた構成をとっている。
着等に↓り薄膜状に記録層又は光反射層c以下、記録層
と称する)として設けた構成をとっている。
この種の記録媒体は暗室操作が不要であること、高密度
、高コントラストの記録が得られること、情報のアドオ
ン(追加記録)が可能であること、記録はれ文情報をレ
ーザ光で走査することに工って読み取ることができる等
の利点を有している。
、高コントラストの記録が得られること、情報のアドオ
ン(追加記録)が可能であること、記録はれ文情報をレ
ーザ光で走査することに工って読み取ることができる等
の利点を有している。
(従来技術)
この糧の記録媒一体の基板としては、寸度安定性、透明
性及び平面性の点でガラス基板の方がプラスチック基板
エリもすぐれている。しかしながらガラス基板を用い九
場合、経時に工り記録層が変質し、記録時の感度が低下
し九り、読み取り時の光学濃度が低下すること、経時に
より記録層とガラス基板の密着が低下したり、基板と記
録層との間に析出物が発生し、記録の欠陥を生じること
等の問題を生じる。即ち経時安定性の点で問題がある。
性及び平面性の点でガラス基板の方がプラスチック基板
エリもすぐれている。しかしながらガラス基板を用い九
場合、経時に工り記録層が変質し、記録時の感度が低下
し九り、読み取り時の光学濃度が低下すること、経時に
より記録層とガラス基板の密着が低下したり、基板と記
録層との間に析出物が発生し、記録の欠陥を生じること
等の問題を生じる。即ち経時安定性の点で問題がある。
本発明者等はこの原因を検討した結果、ガラス基+ +
2+ 板中のNa 、K %Ca 、Ba”、Mg2十等のイ
オンが、温湿度の影響により基板表面に拡散して記録層
に作用し、前述のごとき問題を生じることを見出した。
2+ 板中のNa 、K %Ca 、Ba”、Mg2十等のイ
オンが、温湿度の影響により基板表面に拡散して記録層
に作用し、前述のごとき問題を生じることを見出した。
更に特定のポリマーによりガラス基板を下塗すると、こ
の問題が解決されることを見出し、本発明に到達したの
である。
の問題が解決されることを見出し、本発明に到達したの
である。
ガラスや金属等の基板表面に一般的なポリマーを塗布し
、ポリマー層の断熱効果により、基板への熱の伝達を防
ぎ、感度を上げることは特開昭j7−/31064等に
おいて知られている。本発明は、特にポリマーとしてカ
ルボキシル基を有するポリマーもしくは無水マレイン酸
共重合体全選択し、基板中からの金属イオンの記録層へ
の拡散を防止し、記録層の変質にふる感度低下や、光学
濃度の変化、析出物の発生による欠陥を防止するもので
あり、前述の特開昭zy−i3rottとはその目的も
作用原理も効果も全く異にするものである。
、ポリマー層の断熱効果により、基板への熱の伝達を防
ぎ、感度を上げることは特開昭j7−/31064等に
おいて知られている。本発明は、特にポリマーとしてカ
ルボキシル基を有するポリマーもしくは無水マレイン酸
共重合体全選択し、基板中からの金属イオンの記録層へ
の拡散を防止し、記録層の変質にふる感度低下や、光学
濃度の変化、析出物の発生による欠陥を防止するもので
あり、前述の特開昭zy−i3rottとはその目的も
作用原理も効果も全く異にするものである。
(発明の目的)
本発明の第1の目的は経時安定性の高いレーザー記録材
料を得ることである。即ち経時にエリ記録層が劣化し窺
りすることがなく、析出物が発生し九り、記録層が変形
したりすることのない記録材料を得ることである。
料を得ることである。即ち経時にエリ記録層が劣化し窺
りすることがなく、析出物が発生し九り、記録層が変形
したりすることのない記録材料を得ることである。
本発明の第2の目的は感度の高いレーザー記録材料を得
ることにある。
ることにある。
(発明の構成)
上記の目的はガラス基板と記録層との間にカルボキシル
基を有するポリマーもしくは無水マレイン酸共重合体を
含有する層を設けることにより達成される。
基を有するポリマーもしくは無水マレイン酸共重合体を
含有する層を設けることにより達成される。
本発明は、記録層に、金属や半金属全単体や合金として
用いた場合エリも、これら金属や半金属の化合物、例え
ば硫化物、フッ化物、酸化物、ハロゲン化物、ホウ化物
、ケイ素化物、炭化物、窒化物等を含む記録層に適用し
九場合特に効果が大きい。これは、これらの化合物を含
む記録層は金属や半金属単体、Cりもレーザー光での書
き込み時の感度は高い反面、ガラス基板中の金属イオン
の影響をより受けやすいためと思われる。本発明の記録
層に用る化合物の具体例としては、Cr S % Cr
2 S b Cr 2 S a、M o S 2、M
nS、Fed、Fed2、Co S s CO2S s
、Nip%N12S%PdS、Cu25s kg2Ss
ZnS、In2S3、In252、CeSx (xは正
の実数)、Sn8% SnS %PbS、Ge5x(x
は正の実数)、As2S3、Sb2S3゜B l 2
S 3、MgF2、Ca F 2、RhF3、Mob、
I nO,1n 20.1 n 203、Gem。
用いた場合エリも、これら金属や半金属の化合物、例え
ば硫化物、フッ化物、酸化物、ハロゲン化物、ホウ化物
、ケイ素化物、炭化物、窒化物等を含む記録層に適用し
九場合特に効果が大きい。これは、これらの化合物を含
む記録層は金属や半金属単体、Cりもレーザー光での書
き込み時の感度は高い反面、ガラス基板中の金属イオン
の影響をより受けやすいためと思われる。本発明の記録
層に用る化合物の具体例としては、Cr S % Cr
2 S b Cr 2 S a、M o S 2、M
nS、Fed、Fed2、Co S s CO2S s
、Nip%N12S%PdS、Cu25s kg2Ss
ZnS、In2S3、In252、CeSx (xは正
の実数)、Sn8% SnS %PbS、Ge5x(x
は正の実数)、As2S3、Sb2S3゜B l 2
S 3、MgF2、Ca F 2、RhF3、Mob、
I nO,1n 20.1 n 203、Gem。
PbO1Pb01S、Eu2O3、A12o3、Ga
O、Y O、V O、VO、Tie。
O、Y O、V O、VO、Tie。
23 23 23 2
Nb205、HfO□、M o 02、M o Oa、
WO□、WOa−LazOa、Yb2o3、Sin。
WO□、WOa−LazOa、Yb2o3、Sin。
Nd2O3、CeO2、M n O、旧0 % G e
O,z、Zn0%ZrO2、S n O2、S iO
’2 % Z n I 2、SbI3.5bI5、Ca
B2、KI、AgI。
O,z、Zn0%ZrO2、S n O2、S iO
’2 % Z n I 2、SbI3.5bI5、Ca
B2、KI、AgI。
ZrI %SnI 、SnI、、S r L 2、2
CsI、T/I、W I s T x I 4、CuI
、T b I 、P b I 、B t I 3等の金
属沃化物、2 SbBr %AgBr、SnBr2、CsBr。
、T b I 、P b I 、B t I 3等の金
属沃化物、2 SbBr %AgBr、SnBr2、CsBr。
Tjl!Br%CuBrb NaBr、PbBr 2、
NbBr、BaBr 等の金属臭化物、CdCA 。
NbBr、BaBr 等の金属臭化物、CdCA 。
2 2
K C1%A g Ub S n C1、T 7 C−
1s T a C/! 5、Cl6、Naα、Pb0
、N d o s B a C:l 23 等の金属塩化物@ Z n F s A 73 F a
、Crp2、Z r F s S n F2、T Z
F s F eF 2 s FeF a、Cu F %
N a F s P b F 2、NbF2、N s
F 2、BaF %BiF bMnF2、L i F
、 MgF2、2 CaF 等の金属弗化物、TiB 、ZrB2、2 CaB %S r B s、NbB 2、MoB2、T
aB2等の金属ホウ化物、V Si%FeSi2.B、
Si等の金属ケイ素化物、SiC,’yc%ZrC。
1s T a C/! 5、Cl6、Naα、Pb0
、N d o s B a C:l 23 等の金属塩化物@ Z n F s A 73 F a
、Crp2、Z r F s S n F2、T Z
F s F eF 2 s FeF a、Cu F %
N a F s P b F 2、NbF2、N s
F 2、BaF %BiF bMnF2、L i F
、 MgF2、2 CaF 等の金属弗化物、TiB 、ZrB2、2 CaB %S r B s、NbB 2、MoB2、T
aB2等の金属ホウ化物、V Si%FeSi2.B、
Si等の金属ケイ素化物、SiC,’yc%ZrC。
B4C,HfC等のごとき金属の炭化物、TiN。
T a N s S s a N 、i等のごとき金属
炭化物があげられる。これらの化合物は金属や半金IF
gfllJえばI It、 S n%Ge、 T e等
と共蒸着し、混合物の形で用いると感度や光学濃度、経
時安定性等の点で更に有利である。
炭化物があげられる。これらの化合物は金属や半金IF
gfllJえばI It、 S n%Ge、 T e等
と共蒸着し、混合物の形で用いると感度や光学濃度、経
時安定性等の点で更に有利である。
本発明に用いる特定のポリマーによる下塗は、前述のご
とく、ガラス基板中の金属イオンが記録層に感作用する
のを防止する以外に、記録1髄ヲ熱にエリ熔解してピラ
トラ形成させて記録するタイプの記録材料の場合、ビッ
トの輪郭を明確にしてS/N比をあげる効果もある。
とく、ガラス基板中の金属イオンが記録層に感作用する
のを防止する以外に、記録1髄ヲ熱にエリ熔解してピラ
トラ形成させて記録するタイプの記録材料の場合、ビッ
トの輪郭を明確にしてS/N比をあげる効果もある。
本発明に用いるカルボキシル基含有ポリマーは、カルボ
キシル基と不飽和二重結合とを併有するモノマーの重合
物もしくはこれらの共重合物もしくは、これらと他の不
飽和化合物飼えばスチレン、酢酸ビニル、ビニルエーテ
ル、メチルメタアクリレート等との共重合物である。
キシル基と不飽和二重結合とを併有するモノマーの重合
物もしくはこれらの共重合物もしくは、これらと他の不
飽和化合物飼えばスチレン、酢酸ビニル、ビニルエーテ
ル、メチルメタアクリレート等との共重合物である。
本発明に用いるカルボキシル基含有ポリマーの具体列と
しては、アクリル酸、α−メチルアクリル酸、エチルア
クリル酸、コーメトキシアクリル酸、コーブトキシアク
リル酸、コーンエノキシアクリル酸、クロルアクリル酸
、ヒドロキシアクリル酸、シアンアクリル酸、ジメチル
アミノアクリル酸、ノ、2−ジメチルヒドロキシアクリ
ル酸、ジエチレングリコール七ノアクリル酸、トリメチ
ロールプロパンモノアクリル酸、イタコン酸、クロトン
ii2.ンルビン酸、桂皮酸、フマル酸、マレイン酸、
シトラコン酸、メサコン酸等のホモポリマーま7tはコ
ポリマーがあげられる。この中で好ましいものにポリア
クリル酸、ポリメタクリル酸、スチレン無水マレイン酸
共重合体及びスチレンマレイン酸共重合体である。最も
好ましいのはスチレン無水マレイン酸であり、前述の効
果の他、高温高湿下に記録材料をさらした場合に記録層
にンワが発生するのを防止する効果もある。
しては、アクリル酸、α−メチルアクリル酸、エチルア
クリル酸、コーメトキシアクリル酸、コーブトキシアク
リル酸、コーンエノキシアクリル酸、クロルアクリル酸
、ヒドロキシアクリル酸、シアンアクリル酸、ジメチル
アミノアクリル酸、ノ、2−ジメチルヒドロキシアクリ
ル酸、ジエチレングリコール七ノアクリル酸、トリメチ
ロールプロパンモノアクリル酸、イタコン酸、クロトン
ii2.ンルビン酸、桂皮酸、フマル酸、マレイン酸、
シトラコン酸、メサコン酸等のホモポリマーま7tはコ
ポリマーがあげられる。この中で好ましいものにポリア
クリル酸、ポリメタクリル酸、スチレン無水マレイン酸
共重合体及びスチレンマレイン酸共重合体である。最も
好ましいのはスチレン無水マレイン酸であり、前述の効
果の他、高温高湿下に記録材料をさらした場合に記録層
にンワが発生するのを防止する効果もある。
前述のポリマー類は分子量j 000−vj O万が好
ましく、特に分子量1万〜20万のものが好ましい。分
子量zooo以下のポリマーではアルカリの拡散防止能
力が低い。分子敬jO万を過えると塗布面状が不均一と
なり好ましくない。
ましく、特に分子量1万〜20万のものが好ましい。分
子量zooo以下のポリマーではアルカリの拡散防止能
力が低い。分子敬jO万を過えると塗布面状が不均一と
なり好ましくない。
特開昭17−13ざottに記載のポリマーのほとんど
が本発明の目的とする、経時による記録−の変質防止、
記録1と基板の経時による密着力の低下防止、記録層と
基板の間の析出物の発生防止等の効果を有しない。列え
は、ポリ塩化ビニIJデン、酢酸ビニールと塩化ビニー
ルの共重合体、ポリエチレン、ポリスチレン等は上記の
効果を示さない。感度を更に上げる目的で本発明に用い
る特定のポリマー層の上にカルボキシル基を有さないポ
リマーを第2喘目として積層して設け、その上に記録N
Aを設けてもよい。
が本発明の目的とする、経時による記録−の変質防止、
記録1と基板の経時による密着力の低下防止、記録層と
基板の間の析出物の発生防止等の効果を有しない。列え
は、ポリ塩化ビニIJデン、酢酸ビニールと塩化ビニー
ルの共重合体、ポリエチレン、ポリスチレン等は上記の
効果を示さない。感度を更に上げる目的で本発明に用い
る特定のポリマー層の上にカルボキシル基を有さないポ
リマーを第2喘目として積層して設け、その上に記録N
Aを設けてもよい。
第2層目に用いるカルボキシル基を有さないポリマーの
同としては、アクリルf[I]L セルロース系ポリマ
ー、ビニール系ポリマー、塩素化ポリマー等があげられ
る。その具体例として、ポリメチルメタアクリレート、
酢酸セルロース、ニトロセルロース、ポリスチレン、ポ
リビニルトルエン、ポリヒドロキシスチレン、アクリル
酸メチル−ビニルアルコール共重合体、塩素化ポリオレ
フィン等があげられる。
同としては、アクリルf[I]L セルロース系ポリマ
ー、ビニール系ポリマー、塩素化ポリマー等があげられ
る。その具体例として、ポリメチルメタアクリレート、
酢酸セルロース、ニトロセルロース、ポリスチレン、ポ
リビニルトルエン、ポリヒドロキシスチレン、アクリル
酸メチル−ビニルアルコール共重合体、塩素化ポリオレ
フィン等があげられる。
本発明に用いるポリマー類を溶解する溶剤としては、ア
セトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルクトン
、ジアセトンアルコール、メチルセロソルブ、エチルセ
ロンルブ、ブチルセロソルブ、メチルセロソルブアセテ
ート、エチルセロソルブアセテート、ブチルセロソルブ
アセテート、メタノール、エタノール、ブロノξノール
、イソプロピルアルコール、フタノール、ジメチルホル
ムアミド等の中から、使用する高分子物質に応じて選べ
ば良い。
セトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルクトン
、ジアセトンアルコール、メチルセロソルブ、エチルセ
ロンルブ、ブチルセロソルブ、メチルセロソルブアセテ
ート、エチルセロソルブアセテート、ブチルセロソルブ
アセテート、メタノール、エタノール、ブロノξノール
、イソプロピルアルコール、フタノール、ジメチルホル
ムアミド等の中から、使用する高分子物質に応じて選べ
ば良い。
これらの高分子物質の中には、可塑剤、滑剤などの各種
添、加物を目的に応じて添加することが可能である。
添、加物を目的に応じて添加することが可能である。
また、塗布方式としては、スプレー法、スピンナー法、
ディップ法、ロールコート法、ブレードコート法、ドク
ターロール法、スクリーン印刷等があり目的に応じて使
用される。膜厚としては、軟膜としてo、oi〜λOμ
、特にo、i〜3μが好ましい。
ディップ法、ロールコート法、ブレードコート法、ドク
ターロール法、スクリーン印刷等があり目的に応じて使
用される。膜厚としては、軟膜としてo、oi〜λOμ
、特にo、i〜3μが好ましい。
以下に実施例に工り本発明を説明する。
実施例 l
ソーダ石灰ガラス板(2,3インチ角、厚さ/。
オfi省洋30θn1をアルカ1]、イソプロピルアル
コールで洗浄して乾燥させる。このガラス上に、カルボ
キシル基含有ポリマーとしてポリアクリル酸(分子量約
lO万)3%メタノール溶液をスピンコーター300O
rpmで3θ秒間塗布をして、1OO0Cで70分間乾
燥させた。
コールで洗浄して乾燥させる。このガラス上に、カルボ
キシル基含有ポリマーとしてポリアクリル酸(分子量約
lO万)3%メタノール溶液をスピンコーター300O
rpmで3θ秒間塗布をして、1OO0Cで70分間乾
燥させた。
この時の塗布の厚さf−50,2μであった。
さらに、この基板上に記録層として金fg啼In友。こ
の試料につき経時テスト後の感度・記録保存性・接着力
を評価した。
の試料につき経時テスト後の感度・記録保存性・接着力
を評価した。
実施例 コ
実施例1におけると同様にポリアクリル酸ヲO。
コμ塗布した層の′上に、更に第2層目としてポリメチ
ルメタアクリレートをコ%溶解したメチルエチルケトン
/メチルセロソルブ了セテー)=A/≠の溶液を軟膜で
0.2μとなるように塗布し^。
ルメタアクリレートをコ%溶解したメチルエチルケトン
/メチルセロソルブ了セテー)=A/≠の溶液を軟膜で
0.2μとなるように塗布し^。
以後の記録層の作成等は実施例1と同様に処理し、試料
を得た。
を得た。
実施例 3
実施例コにおけるポリアクリル酸のかわりにポリα−メ
チルアクリル酸(MW約7万)を用いる他は実施列λと
同様に処理し、ポリα−メチルアクリル酸θ。コμとポ
リメチルメタアクリレート0.2μの積層された下塗@
を有する試料を得た。
チルアクリル酸(MW約7万)を用いる他は実施列λと
同様に処理し、ポリα−メチルアクリル酸θ。コμとポ
リメチルメタアクリレート0.2μの積層された下塗@
を有する試料を得た。
実施列 l
実施向2におけるポリα−メチルアクリル酸溶液のかわ
りに、 からなる溶液をスピンコーp−テi o o o r
pm30秒間で、軟膜で0.2μとなるように第1層目
を塗布した。以後の処理は実施例λと同様に行なった。
りに、 からなる溶液をスピンコーp−テi o o o r
pm30秒間で、軟膜で0.2μとなるように第1層目
を塗布した。以後の処理は実施例λと同様に行なった。
実施fIl!
実施例コvc、Thけるポリアクリル酸溶液のがゎりv
cxq−vンーマレイン酸共重合体(スチレン合歓!λ
%、無水マレイン酸含量at%、MW約μ万)を用いる
他は実施例λと同様に処理した。
cxq−vンーマレイン酸共重合体(スチレン合歓!λ
%、無水マレイン酸含量at%、MW約μ万)を用いる
他は実施例λと同様に処理した。
実施向 6
実施列μにおける第、2層目のポリメチルメタアク’)
レ−1のかわりにニトロセルロース(高品名ダイセルR
8//λ、窒素の含有址で表わし几硝化度//、j〜1
2..2%、J、1.S、KA7θ3で表わした溶液粘
度が2!%において2秒〜lμ、2秒)を0.λμの厚
さに塗布し、他の処理は実施料亭と同様に処理した。
レ−1のかわりにニトロセルロース(高品名ダイセルR
8//λ、窒素の含有址で表わし几硝化度//、j〜1
2..2%、J、1.S、KA7θ3で表わした溶液粘
度が2!%において2秒〜lμ、2秒)を0.λμの厚
さに塗布し、他の処理は実施料亭と同様に処理した。
比較列 l
実施例1におけるポリアクリル酸溶液のがわりにポリ塩
化ビニリデンの3%メチルエチルケトン溶液を軟膜でO
0弘μとなるように塗布し、実施例1と同様に試料を作
り評価した。
化ビニリデンの3%メチルエチルケトン溶液を軟膜でO
0弘μとなるように塗布し、実施例1と同様に試料を作
り評価した。
比較例 コ
実施列lにおけるポリアクリル酸溶液のがわりに酢酸ビ
ニル−塩化ビニール共重合体(重合比2o:to、重合
度、zooo)の3%メチルエチルケトン溶液を軟膜で
O,Uμとなるように塗布し実施例1と同様に試料を作
り評価した。
ニル−塩化ビニール共重合体(重合比2o:to、重合
度、zooo)の3%メチルエチルケトン溶液を軟膜で
O,Uμとなるように塗布し実施例1と同様に試料を作
り評価した。
比較例 3
実施例1におけるポリアクリル酸溶液のかわりにポリス
チレン(M、W、約l万)の3%メチルエチルケトン溶
液を軟膜でO0参μとなるように塗布し実施例1と同様
に試料を作り評価した。
チレン(M、W、約l万)の3%メチルエチルケトン溶
液を軟膜でO0参μとなるように塗布し実施例1と同様
に試料を作り評価した。
比較例 l
実施例1におけるポリアクリル酸溶液のかわりに、
からなる溶液を軟膜でO0μμとなる工うに塗布し、実
施例1と同様に試料を作り評価した。
施例1と同様に試料を作り評価した。
レーザー記録感度の測定は、ディスク状の試料f!/!
rpmで回転させ、ディスクの中心よりりOXの位置の
記録層上に、波長t 20 mのレーザー光をレンズで
直径/、Jμに集光し、λ、j1MHzのパルスで照射
し、記録が可能な最低のし一ザー出力(MW)’を記録
感度とした。この値は小さい方が感度が高いことを示す
。結果を第1表に示す。経時安定性の評価は、各資料@
zo0ctO%RHの条件下に放置し、j日目及び30
0層目、析出物の発生の有無f、200倍の光学顕微鏡
を用いて観察した。結果を第1表に示す。
rpmで回転させ、ディスクの中心よりりOXの位置の
記録層上に、波長t 20 mのレーザー光をレンズで
直径/、Jμに集光し、λ、j1MHzのパルスで照射
し、記録が可能な最低のし一ザー出力(MW)’を記録
感度とした。この値は小さい方が感度が高いことを示す
。結果を第1表に示す。経時安定性の評価は、各資料@
zo0ctO%RHの条件下に放置し、j日目及び30
0層目、析出物の発生の有無f、200倍の光学顕微鏡
を用いて観察した。結果を第1表に示す。
第1表エリ本発明のレーザー記録材料はいずれもl≠m
W以下のレーザーパーワーで記録が可能で、’E7’C
経時テストによる析出物の発生もなかった。
W以下のレーザーパーワーで記録が可能で、’E7’C
経時テストによる析出物の発生もなかった。
また実施例ノ〜tのごとく、カルボキシル基を有するポ
リマーもしくは熱水マレイン酸の共重合体の上Vc更に
カルボキシル基を含有しないポリマーを第二−目として
設は次ものはいずれもImW以下のレーザーパーワーで
記録が可能であり、きわめて感度が高く、また析出物の
発生もみら北なかつ窺。
リマーもしくは熱水マレイン酸の共重合体の上Vc更に
カルボキシル基を含有しないポリマーを第二−目として
設は次ものはいずれもImW以下のレーザーパーワーで
記録が可能であり、きわめて感度が高く、また析出物の
発生もみら北なかつ窺。
Claims (3)
- (1)透明なガラス基板上に、レーザーにより情報を薔
き込み及び/又は読取りができる記録層をることを特徴
とするレーザー記録材料。 - (2)親水性基を有するポリマーがカルボキシル基、ス
ルフォン酸基、水酸基、アミド基もしくはシア/基を有
するポリマーであることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載のレーザー記録材料。 - (3)記録層が、金属もしくは半金属の硫化物、フッ化
物、酸化物、ハロゲン化物、ホウ化物、ケイ素化物、炭
化物及び窒化物より選ばれる金属化合物もしくは半金属
化合物であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載のレーザー記録材料。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58173676A JPS6064894A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | レ−ザ−記録材料 |
| US06/841,033 US4663276A (en) | 1983-09-20 | 1986-03-17 | Glass based laser recording material with intermediate layer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58173676A JPS6064894A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | レ−ザ−記録材料 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6064894A true JPS6064894A (ja) | 1985-04-13 |
Family
ID=15965028
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58173676A Pending JPS6064894A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | レ−ザ−記録材料 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4663276A (ja) |
| JP (1) | JPS6064894A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6233348A (ja) * | 1985-08-06 | 1987-02-13 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | 光学的記録媒体 |
| US4656118A (en) * | 1984-08-30 | 1987-04-07 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Information recording medium using laser beam |
| CN113480171A (zh) * | 2021-07-09 | 2021-10-08 | 宁波阳光和谱光电科技有限公司 | 一种无Se长波红外透明硫系玻璃及其制备方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5114828A (en) * | 1990-04-19 | 1992-05-19 | Daicel Chemical Industries, Ltd. | Optical information recording medium containing linear acrylic resin |
| US5985400A (en) * | 1998-05-29 | 1999-11-16 | Tapematic S.P.A. | Method for forming a protective barrier layer on an optical memory disc substrate |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3971874A (en) * | 1973-08-29 | 1976-07-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical information storage material and method of making it |
| JPS5932319B2 (ja) * | 1974-03-22 | 1984-08-08 | 富士写真フイルム株式会社 | 記録材料 |
| US4195312A (en) * | 1978-02-24 | 1980-03-25 | Rca Corporation | Recorder and antireflective record blank having an optically passive transparent layer |
| JPS57186241A (en) * | 1981-05-11 | 1982-11-16 | Mitsui Toatsu Chem Inc | Optical information recording disc |
| JPS57138066A (en) * | 1982-01-20 | 1982-08-26 | Hitachi Ltd | Information recorder |
-
1983
- 1983-09-20 JP JP58173676A patent/JPS6064894A/ja active Pending
-
1986
- 1986-03-17 US US06/841,033 patent/US4663276A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4656118A (en) * | 1984-08-30 | 1987-04-07 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Information recording medium using laser beam |
| JPS6233348A (ja) * | 1985-08-06 | 1987-02-13 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | 光学的記録媒体 |
| CN113480171A (zh) * | 2021-07-09 | 2021-10-08 | 宁波阳光和谱光电科技有限公司 | 一种无Se长波红外透明硫系玻璃及其制备方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4663276A (en) | 1987-05-05 |
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| GB2074899A (en) | Recording material | |
| JPH0129714B2 (ja) | ||
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