JPS6066403A - 薄膜磁気ヘッド用セラミックス基板 - Google Patents

薄膜磁気ヘッド用セラミックス基板

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JPS6066403A
JPS6066403A JP58174738A JP17473883A JPS6066403A JP S6066403 A JPS6066403 A JP S6066403A JP 58174738 A JP58174738 A JP 58174738A JP 17473883 A JP17473883 A JP 17473883A JP S6066403 A JPS6066403 A JP S6066403A
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aluminum oxide
titanium carbide
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山田 宏秀
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正彦 榊原
Yoshiharu Koike
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は高密1良1、d録に適した薄膜)l(へ・ン1
ζ11セラミックス基板および−での製造Ij法に関す
るものである・。 最近、コンビコータ録再用磁気ヘッド、\t r l<
)−−ブのIQ i&決め用磁気しン4ノー、L)CM
録合テープ用ヘッドなどの高密度記録用磁気ヘッドどし
く従来のノ」ライI−+3 J、びレンタストを使用し
たヘットに変−ノU av膜1妊気ヘッドが注目されて
いる。 薄膜磁気ヘラ1〜用基板に要求される特1tどして上記
のJ負目が挙げられる。 (イ)表面が311il’I C気孔が存肴しない。 (11)粕密(太械1111 Tが容易(しかblll
l 1中クシツク、チッピングを/1じ/、「い。 (ハ)耐1へ゛耗1′1に(肇1′シ(いる。 (−)化学的に安定Cdりる。 (小)絶縁層としく−J−iイングされイ))A ′X
、’、iど熱膨張係数が同等(・(lうる。 これらの要求にヌil I心りるため一1現在では酸I
L :j’ルミーウムど炭化ブタンを主成分どりる複合
セラミックスが開発され使用され(いる。1]かしなが
ら、(二の複合セラミックスは耐化シ’/レミーウムと
炭化1タン粒子間のi需れ(’1が悪いためチッピング
の光!1しや1いことが欠点どされている。 これの欠点は、用途は異4するが、酸化〕′ル;ミニウ
ムど炭化チタンを生成5)とりるレラミyり切削]二具
においても同様C゛あるが、セレミツ・り1−貝の・分
野においては、焼結助剤(−1として酸化物〉を添加し
て、結晶粒成長を抑制し微細化する)°j法あるいは、
金属元素を添加して液相焼結をbい緻密化することによ
って、デツピング1″1の改良か図1うれている。 例えば、酸化物を添加りるノ“ノ;人とじ(は、1゛1
間昭49−2808号の酸化タンゲスノン、特開nrr
4g 2(i309+づ、+3J、び1J1聞昭!i 
3−127 h 14おの重化−ツクル、酸化マグネシ
ラZ\、1;I 1til 1lil 49 997 
(1!+の酸化マグネシウム、酸化り「111の11・
E×は2種J:11(!−添加する例があるが、これ゛
◇従宋IAfil ’i 17膜ヘンド用レラミyクス
Lt板どしく使用(する場合には、不完5′)′r−あ
り、ざうGL i!=!1密1!’) tq’i 品第
1°7 微1111 化w ヨー)Cチッピングを改良
り−るどどしくJ、1 ft m以1−の空孔が皆無に
なるよう焼結4るξどが必鼎(・ある。 木光明は」記の従来の欠点を除)、シ/、−iiQ膜磁
気ヘッド用基板d3よびイの製造ノ゛ノ法4.” li
i: ’13ξリ−るものCある。 リーなわら、本発明にJ:る薄膜磁気ヘッド用しラミツ
シス基板は1実化1タン20−55小rX1%、残部酸
化アルミニウl\から4にる複合セラミックス 1 (
l O@m部に対しシリニ]ンJ5よび鉄の酸化物の1
種又は2 $IIiを0 、0 !+へ・!l En 
fl1部添加した薄膜磁気ヘッド用1」板あるいは1−
記組成物にさらに鉄、り[1ム。 クシゲス)ンの1種叉は2種部1−を0゜05 =−5
重重部添加したことを特徴とづる薄IFJ磁気ヘッド用
ヒシミックス以4ix +”ある。 、J、た、1記相成にλJ l、 C1炭化ブタンの!
1−に0[ル%をir、Llr、v、N+1.’l’a
、Cr、Mo。 Wの炭化物の′1トド文は2秤以J ’li 、 ir
 、 llr 。 \/、Nll 、l r+のイ)で化物の′1(4又は
24す・以l−<il’71灸1iJ iiヒC゛あり
、酸化jノルミーウ11のjI・−GILLル%を醇化
ジルコ1−ウ1XC1さらに酸化ジル゛I−パノムノ2
−1(1′tル9fi4Mす0.Ca Q、’l’ 2
03 :C固)?(さμたことを1.11徴どりるbの
ぐある。1さらには、」11C絹成物からなる基板を小
ツトプレス後さらに熱間静水圧加11リ−ることが製j
聞り法の特徴である。 以下、本発明について詳しく説明りる。 本発明では酸化アルミニウムと炭化f−タンを真空又は
不活性ガス雰囲気中で、しかし黒鉛ダイス中でポット・
プレス焼結する条(’I C+4、シリ−1ンa3よび
鉄の酸化物の1種又は2種の添加がイi Kl ’(−
あり、酸化j′ルミニウムと炭化f−・タン粒子間の界
面強1uが人さくなることを見出した1、酸化ケイd;
 cl>、J、び酸化鉄は焼結する過程で、炭化]゛9
ンあイ)いは黒鉛の炭素と反応し−(炭化グイ秦に−,
イy 7) Lす、fの後ml U’酸化)lルミニウ
ムの酩小と1父応しく酸化クイ素および酸化鉄になるこ
とかくり返され、そのため炭化1タンお、に U’酸化
ノノルミーウム粒1′の表面が活↑!1化され、強固り
結白か′1す゛るしのJ−とえられる。これに、さらに
り11ノ、おJ、げ9ングメ!>酸化物の1種又は2種
部するシリ 1ンおJ、び鉄の酸化物と同時に添加ケイ
)こIに、j、−ノ(、酸化ツノルミニウムど1美化f
タン顆1′間の1,11合をJ、り強固にづることがr
l lii2 ’C:あ−)/、=1゜シリ」ンおJこ
び鉄の酸化物の1種又は2種が0.05重塁部以下の場
合は、シリ 1ン添加の効果が゛hく、5.(ll’j
5i部以上になると硬さが小さく4するため、シリコン
の添加甲は0.05・〜1)0中111部がIj′よし
い。 :t i、−11記絹成物のIjJ化ブタブタン1・、
llf。 V、N11.王a、Or、IVIO,Wの炭化物の1種
又は21f 以上テii % シ、a ラニ#J、−1
’i、/r。 In、V、Nl]、’l−aの窒化物の1秒又は2種以
上で置換覆ることによって、1記組成物の力2れ11体
の粗織を微細化・jることが′Cきる。これらの添加物
は、炭化ブタンの!)上ル%Jメト(゛あるとどの効果
はなく、GOLル%以上(あるど焼結1’lがj!j:
 <イiるためCの添7JI目1iは(I・・・60シ
ル%が適しくいる1゜J、た、I−+’ij絹成1初成
1カtJルミーウL ’/’−酸化ジルー3− 「:ノ
ム(1’ ii’7模7JることにJ、・)(、酸化)
′ルミニウム相が強靭化され、耐1ツビング1!1か向
1する。 1、rに酸化ジル−1,−ラムにス・1しく安定化剤と
しUtvb70 、に a O、JjよびY 203の
1種又は2種以上を2へ・10シル%固溶さUるどさら
に9ノ宋的(・ある。 ・方、製造り法としては、ホットプレス法が主流である
が、最)Uアルゴンガス雰囲気炉(゛焼結し、相対密度
を94%以上にした後、熱間静水月111+ 1i ’
IJる方法も行われ(いる。 前者では、結晶粒径2μIl+と微?lll ?:ある
が、相対密度は99%が限匪である。1C貨(3L、相
り・目9.ご麻がほぼ100%どなるが、結晶粒径かj
μm1メ−1
【・ありブーツピングの発ljコし1″)
りいことか欠jiilて・ある。 本発明による薄膜磁気ヘラ1〜用レノミックス(J気孔
率が(,1ば零で、しかb iEk細れ11品粒組織で
゛あることが要求されるため小ツi・プレスに、1、〕
C2相対密1998%以−1に一焼結し、さらに熱間静
水11加丹して相λ・j密度をはぽ100%に(するl
)(人が望31、しい。 以下、本発明を実施例をあ0(説明りる1゜実施例] 純1σ9!1.9% 317均粒子径()、j量11 
Illの0り11コノlルミニウ八、純11%99.!
i%、\II均粒j′径0 、 [i /l Illの
1尖1にブタン1w j:lL桑1級のシリ−1ン、1
り1.り11ムJ5,1、Oタンゲスアン酸化物の粉末
4り+’I表(J示tl ;J、11百〇配合し、ボー
ルミルで24時間混白しIこ1.乾゛操後、造粒し1t
、・’cmの圧力で80φ× t・・Iilの・1法(
J成形し lこ 。 成形体を黒鉛ハリに設置し、lo(Hl”C(・111
.’+間間圧圧下処理し1.:、、テのIM Qらに1
500℃r1!1(Hl気f[。 11”I 17fl A r7;囲気中で処理1)だ。 焼結1ホl;17G、2φX 41M 加I L /、
:後、j”i 1−ril ヲo、oi S G、−<
t <’l J、CラッピングしIこ。ラッピング面の
空孔を顕微鏡(観察し、空孔の人ひざを測定した。相λ
4 m +uは空孔の人込さど分イli J、り弾出し
た。また、焼tl+1陣をダイ17 tンドブレイドで
切削し、ラッピング面と切削11ijの1春に(1fる
カケの−<J i人を測定しI、:。 さらに、破面を走吉型電了11ri微鋭(71輩察し、
t7j品粒径を測定した5、Jズ1の測定結果を第1人
に示11、l 第1表(゛木ブご明rlG 1111内の実施例IJ 
N o 、 /l−9であり、N 0.1−・;〕は範
囲外の比較例(ある。 本発明範囲内の試1:81はいJ” it、 t)相λ
・1密麿が4141.7%1スト1′″)ツ(ご”ング
面内の空孔は1/1111以1・、稜のカケは1ull
11スト(・th Lっ、A9膜ヘッド川レラミッ・タ
ス基板に;凶【〕(いる。、した、No、1・−3は相
対W;Yαが低く、−ラッピング面内の空イい、L1f
Im以−1のものかあ(′)、稜のカケは1μmJズ」
のbのが明細書の浄書(内容に変更なし) あるためA9膜l\ツド川レラミックス基板どして不適
当Cある。 実施例2 実施例1の配合組成の他に第2表に示りJ、うに1’i
 、Zr、llr、V、Nb、1−a、Cr、Mo。 Wの炭化物、窒Its物を配合しC実施例1とl1jJ
様り方)ム(試料を171成し、jol+洒した。この
結果を第2表に示り−1,りi2人(1’N(1,1は
従来の小ツトlレス′jAわ1でパド均結晶粒径(よ4
・〜 571m cル2るが、木R明に”J、るNo、
2・−No、13はいヂれ01f1m以下(あり、王:
Nd’3A:び71’ 、 llr 、 V、 Nll
 、 lαの病室化物の添1111効宋が明らかC゛あ
る1゜実施例3 実施例1の配合組成の他に第3表に小iJ J、)に、
MI2化ンルJ−ウノい1ノJ、びイの安定化ハリ4配
命しく、実施例1ど同]]:hノ°I法(試1゛+1を
1′1製し、11 S 4+、’、i曲げ試験法に、J
、り抗IR力を測定した++ ’(の!、+1甲を第3
表に示1’ ++第33表で’No、iは従来の小ツト
プレス拐であり、抗117カ5!1k(1/ mm2に
3−I L、 ’C’ 、本発明によるNo、2−・・
No、20はいり゛れb抗Jli力が人きく酸化ジル−
1ニウムの効果が明らか(′ある1゜明細書の浄書(内
容に変更なし) 明細書の浄−1!)(内容に変更なし)QII4ti1
占’+7)ij’占””’LFに’&Hなし)以上のよ
うに、本発明範囲内の範囲の組成物+よ薄膜磁気ヘッド
用セ)ミックスぶt板と1.、 (:Jl常に優れた士
!l能を備えl〔月利C゛ある1、〜) 手続補正書(方式〕 1v+ 和59.2.’20 ” ’rrcI’ll (1) 名41 薄膜磁シ4ヘッド
用セラミックス基板川11)を4°る杏 補止命令の日刊 貼札59年1月31日(発送日)浦1
1のk・l象 明細1の「発明の詳細な説明」の掴 l+li 1の内容 門札1第10真の第1表、第13頁の第2表および手続
ンflj正剋1 昭和59年9+i23日 昭和58年 特ム1願 第174738月発明の名称 
薄膜磁気ヘッド用ヒラミックス基板補正をする省 事件との関係 精工′1出願人 住所 車止n;下桟1111メ丸ノ内二二丁に11番2
号名称 (!108) LJ3ン金屈株式会ン1代表者
 がり 野 典 人 代理人 居所 東3;ミ都[代[11区火の内二丁目1吊2杉E
J S7 金 属 株 式 会 ネ1 内電話 東京2
BシlG42 (代表) 氏名 (8001) 弁l!p 11 i島 石 橘 
馬補正の内容 全文削正明細書 発明の名称 簿膜磁気ヘッド用セラミックス基板1寺8
′[請求の範凹 1、炭化チタン20・〜55tJAm%、残部酸化アル
ミニウムからなる複合セラミックス 100重量部に対
し、シリコンまたは畝の酸化物の1種又は2種を0.0
5・〜5重量部添加したことを特徴とりる簿膜磁気ヘッ
ド用レジミックスu 4N。 2、特許請求の範囲第1項記載のセラミックス基板にお
いて、さらにり[」ム、またはタンゲスアンの酸化物の
1種又は2秤を0.05〜5■口Lf1部添加したこと
を特徴とりる薄膜磁気ヘッド用セラミックス基板。 3、特許請求の範囲第1 +j’iまたは第2項記載の
薄膜磁気ヘッド用M 4fxにおいて、上記炭化チタン
の5・”60モル%を、/r 、 In 、 V、 N
b 、 −1−a 。 C1・、MO、Wの炭化物の1種又は2種以上で置換し
たことを特徴とりる11J磁気ヘツド用レラミツクス基
板。 4、特許請求の範囲第1項、第2項または第3項記載の
薄膜磁気ヘッド用はラミックス基板にJJいて、上記炭
化チタンの5〜60[ル%を、TI。 Zr 、 l−1f 、 V、 Nb 、 Taの窒化
物の1種又は2種以上で置換したことを特徴とづる薄膜
磁気ヘッド用セラミックス基板。 5、特許請求の範囲第1項、第2項、第3項J5よび第
4項記載のIIQ磁気ヘッド用しラミックス基板に71
5いて、酸化アルミニウムの5〜60モル%を酸化ジル
コニウムで置換しlこことを特徴とする薄11(11!
気ヘツド用セラミツクス基板。 6、特許請求の範囲第5項記載のイ9膜磁気ヘッド用セ
ラミックス基板において、酸化ジルコニウムに酸化ジル
コニウムの2〜10モル%のM(10゜Ca o、Y2
03を1+!i又(,12種種部−固溶したことを特徴
どりるit9 膜磁気ヘッド用レフミックス基板。 発明の詳細な説明 本発明は高密度記録に適した薄膜磁気ヘッド用セラミッ
クス基板に関するものである。 最近、コンピュータ録再用磁気ヘッド、VIR’シ−−
ブの位置決め用磁気しンリー、1)0M録音テープ用ヘ
ッドなどの高密度記録用磁気ヘッドどして従来のフコラ
イトJ3よびレンダストを使用したヘッドに代っ(薄膜
磁気ヘッドがl1目されている。 薄膜磁気ヘッド用M板に要求される狛1りどして下記の
項目が挙げられる。 (イ)表面が平坦で気孔が存在しない。 (]」)精精密機械工が容易でしかも加工中クラック、
チッピングを生じない。 (ハ)耐摩耗性に優れている。 (ニ)化学的に安定Cある。 (小)絶縁層どして]−フイングされる材質ど熱膨張係
数が同等ぐある。 これらの要求にヌ・j応するlζめ、現右ぐは酸化アル
ミ−ラムと炭化Jタンを主成分とりる複合レジミックス
が開発され使用されている。しかしながら、この複合セ
ラミックスは酸化アルミニウムと炭化f−タン粒子間の
濡れ性が悪いためブーツピングの発生しやづいことが欠
点どされている。 これの欠点は、用途は異なるが、酸化アルミニウムと炭
化チタンを主成分とりるレジミツク切削工具にJjいて
も同様であるが、ピラミック]−具の分野においては、
焼結助剤(′:1として酸化物)を添加して、結晶粒成
長を抑制し微細化する方法あるいは、金底冗素を添加し
U 817相焼結を(jい緻密化することによって、デ
ツピング竹の改良が図られている。 例えば、酸化物を添加りる)J法どし?【よ、特開昭4
L−2808号の酸化タンゲスアン、1−11間11F
+ll9−26309号、 Jjよσ特開昭!13−1
27!1ill翼の酸化ニッケル、1lli化マグネシ
ウム、特開昭1f!+ 9970!弓・】の酸化マグネ
シウム、酸化り1」ムの1種又は2種以上を添加Jる例
があるが、これら従来4A斜をFiJn’Aヘッド用レ
ラミックし基板どして使用りる場百に【よ、不充分(゛
あり、さらに^侘°曳結晶粒微細化にJ、−)(チッピ
ングを改良りるどともに、1μ1以上の空孔が皆無にな
ろ゛よう焼結することが必要ぐある。 本発明は−I C1,!の従来の欠点を除去したMl!
11磁気ヘッド用基板を提供するものぐある。 すなわら、本発明によるit9 n’A磁気ヘッド用レ
ラミックス基板は炭化チタン20〜55重量%、残部酸
化アルミニウムからなる複合セラミックス100ff1
石部に対しシリコンまたは鉄の酸化物の′1種又は2秤
を0.05−!i重■部添加したi9膜磁気ヘッド用基
板あるいは」記絹成物にさらにりUム、タングステンの
酸化物の1種又は2種部1を0.05〜;)重fil 
f’ill添加したことを特徴とJる薄膜磁気ヘッド用
セラミックス暴板である。 また、L記絹成に対しで、炭1しブタンのJへ・6〇七
ル%をZr 、 Il[、V、 Nll 、丁a、Cr
。 MO,Wの炭化物の1種又は2種以上、また番よ1−i
 、 Zr 、 Hf 、 V、 Nb 、 ’I’a
の窒化物の1種又は2種以−1で置換可能であり、また
酸化アルミニウムの5・〜・60シル%を酸化ジルニ1
ニウムぐ置換可能であり、さらに酸化ジル:1ニウ11
の2〜10tル%を〜H1O,C;a O,Y20a 
’rlZzl溶さt!(良いことを特徴どりるムのCあ
る。 本発明においては、」−記組成物からなる4を板を小ツ
1−プレス後さらに熱間静水圧加1」−りる製迅/j法
を適用づることにより、より好ましい結果が得られる。 本発明では酸化アルミニウムと炭化チタンを真空又は不
活性ガス雰囲気中で、しが6黒鉛ダイス中でホッl〜プ
レス焼結する条flぐは、シリ」ンまたは鉄の酸化物の
1種又は2種の添加が有効であるが、これは酸化アルミ
ニウムと炭化チタン粒子間の界面強度が大きくなること
によると考えられる。また、酸化ケイ素J3よび酸化鉄
は焼結する過程で、炭化チタンあるいは黒鉛の炭素と反
応して炭化ケイ素になったり、王の後j1jσ酸化j′
ルミニウムの酸素ど反応して酸化ケイ素J3よび酸化鉄
になることがくり返され、イのため炭化チタンd3よび
酸化アルミニウム粒子の表面が活性化され、強固な結合
が生り゛るものと考えられる1、これに、さらにり1コ
ムおよびタングステン酸化物の1[又は2種以上をシリ
:ノンJ)J、び欽の酸化物とN局に添加することによ
っ(、酸化)′ルミ−ラムと炭化Jタン粒子間の結合を
より強固にりることが可能となるものと考えられる。 本発明においで1シリコンまたは畝の酸化物の1種又は
2種が0.0!i重(、E1部未満の場合には、Al2
O3と丁ICの結合を強化づる効果が少なく、また5コ
ム1部を越えると硬さが小さくなるため、その添加量は
0 、0 !i〜5重四部がtl+ましい。 Cr203.’vVO3(7)添加fHハ0.05 □
−5小ffi部であることが望ましい。その理由【よ、
5fO2゜[(!203の場合と同様に、0.05手単
用未満では結合強化の効果がない1.:めであり、また
5重量部を越えると硬さが小さくなるためである。 また、上記組成物の炭化ブータンを71・、Llf。 V、Nb、Ta、Cr、Mo、Wの炭化物の11!I!
又は2種部1′clf&換し、ざらには、−j’i、Z
r。 Hr 、V、Nb 、−1a・の窒化物の1種又は2種
以上で置換りることによって、」−記組成物の焼結体の
組織を微細化りることがeさる。これらの添加物は、炭
化ブタンの5しル%木満であるとての効果は少なく、6
0シル%4越えると焼結1りが悪くなるため、ぞの添加
量は!1〜60モル%が適しCいる。 また、上記組成物の酸化アルミニウムを酸化ジルラム相
が強靭化され、耐チッピング竹が向上Jる。 Z「02の量は、5〜Go mo1%の範囲が好ましい
が、これは5m01%未満では強靭化に寄与しないため
であり、また60 mo1%以上で(ま映さの低下が若
しいためである。zro2が強靭化に寄Lj!Iるため
には室温において正方品として残留づることが必要であ
る。そのための安定化剤としてY20a 。 CaO,MaOをZr 02 ml、Jl シr:2−
10 mo1%添加することが望ましい。これらの添加
用が2mo1%未満では正方品の残留に効果がなく、ま
た10 mo1%を越えると立方晶/l’o2が出現し
C強度が低下づる。 一方、本発明によるセラミック基板を得るための製造1
]法としては、ホットプレス法が主体であるが、アルゴ
ンガス雰囲気炉(゛焼結し、相対密度を94%以−[に
した後、熱間静水11−加用する方法もイi 9)J 
Fある。 前当Cは、結晶粒径2μmと微細であるが、相対密度は
99%が限1良である。−/j1後右は、相対亦1α 
1式LIL’f 111i1Q4 J−b Z)fi 
−詑t、1話粒 怪 Il呪 !+ 11 m 以上ど
なり易く、チッピングが発生しやりくなる。 このため本発明による薄膜磁気ヘッド用セラミックスは
気孔率がほぼ零で、しかも微III帖晶粒組織であるこ
とが要求されるため小ツトゾレスによっ゛C1相対密度
98%以上に焼結し、さらに熱間静水圧加汗して相対密
1良をはば100%に・jる方法が望ましい。 以−ト、本発明を実施例に基づいC説明りる、。 実施例1 純度99.9%、平均粉子径0.!)μmの酸化アルミ
ニウム、純度99.!i%、平均粒子径0.6μmの炭
化チタンに試薬1級のシリコン、鉄、りDムajよびタ
ンゲスアン酸化物の粉末を第1表に示Ilυ1合で配合
し、ボールミルぐ24時間混台した。乾燥後、J j(
l L、r I L / ON ”7) J、I−力テ
80φX 7〜13LI/) =J 7人に1戊形した
。 成形体を黒鉛型に説にし、I G (10℃でI 11
.)冊減圧1・で処理した。−での後さらに1500℃
で1500気圧。 1時間A r雰囲気中ぐ処理した。焼結体は?(i、2
φX4tに加1シIこ後、片面を0,013になるまで
ラッピングした。ラッピング而の空孔を顕微鏡で観察し
、空孔の人ささを測定した。相対密度は空孔の人ささと
5)イFより締出した。また、焼結体をダイヤモンドプ
レイドで切削し、ラッピング而と切削面の稜に生ずるカ
ケの1法を測定した。 またマイクロビッカース硬1良旧により荷tlA 20
0QでHVを測定した。以1の測定結果を第2表に承り
。 第1表 笛9実 第1.2表で、No、1.2,3.’1.6.9゜13
.16は本発明の範囲外の比較例Cある。 No、1は従来のΔl 20a −1−i Cの小ツト
ルス品であるが、相対密度は98.5%と低く、ラッピ
ング面内の1μmの空孔は多く、ま/、=カケb1μm
以上どなる。NO,2,3はMoO,NiOを加え(密
度を1昇さμにものであるが、昏はり空孔、カケとも人
さい。イれに対し本発明にJ、るS! 02 、 Fe
 20a添加材では空孔、カケが大幅に改善される。5
IO2を単独で添加しlζ場合、添加用の少ないN01
4ひはまだ空孔、カケども太さいが、 1%添加したN
015では相対密度は99,7%Jス土になり 1μm
以上の空孔、カケはなくなる。 添加llが8%と多いNo、GCLよ空孔、カケは少な
いが、ビッカースff!+uが伯のものが2000以上
なのに対し1100ど低くヘッド基板としては不通であ
る。 Fe2O3の揚台も同様に0.0!i・〜・5%添加材
が碩さ、空孔、カケとも良好であった。 Si 07 、Fl! 20aにさらに0r20a。 WO3を添加し1.:、場合の例をNo、11・−′1
8に示すが、やはり添加mの多いNO,13,16Fは
硬さが小さくなって望ましくない。Si 02 +Fe
 20a添加材に比べCr20s 、WO3をさらに添
加した場合には、Al201と一1゛ICの結合力が一
層強化されるため、特にカケは皆無であった。 実施例2 実施例1の配合組成の池に第3表に示jJ J、うにT
i、Zr、1−1f、V、Nb、l−a、fvlo、W
の炭化物、窒化物を配合しC実施例1と11+1様なI
j法で試別を作成し評価した。まΔ二破面を走査型電子
顕微鏡で観察し、結晶粒径を測定し)ご5.以1の結果
を第4表に承り。 第3.4表rNo、1.3.5.7は本発明の範囲外の
比較例ぐある。 N011は従来の小ツトプレス品であるが、イ(1封密
度は低く、粒径も人込い。これにS!O9゜Fe2O3
を添加Jるど相対密度は土h’−’Jるが粒径はな15
人さい、、、N003・〜5′cは1−ic(7)一部
をZrCで置換したしのであるが、置換ffiが4mo
1%と少ない場合には粒径は3−411mとまだ人さい
。 fm 1条iiiがNO0/lの22.!+ mo1%
、No、5の74,4 mo1%((よこれにえ1し粒
1¥0.1μm以下とイyすZrCの置換による結晶粒
微細化の効果(J顕名(゛ある。 しかし、No、5のよ)にU換偵が多いどL) ’ 0
21Fe203を添加しCあるにしかかわI) J−1
密度は11(<イにるため!A 4uどしCは不、適c
Iy)る。N017し/1゛CのU換にJ、り結晶粒は
微細Cあるが、Sl 02 、1.:020sを添加し
Cいイメいノ、め畜1哀は低い。No、6.8・−・1
6はSiO3,10゜03、Cr20ar、WO3を添
加し、+tCの一部を窒化物、炭化物で置換したものだ
が、いずれも結晶粒径171m以IZど微細′Cあり、
また相対密度も>99.7%と高く、1μm以−1のカ
ケ、空孔は皆無であった。 実施例3 実施例1.2の配合組成にさらに第5表に承りように酸
化ジルコニウム及び安定1ヒ剤を配合して実施例1ど同
41 ’、7 lj法で試別の11製、評価を行った。 さらにJIS4点曲げ試験法にJ、り抗tli力を測定
した。それらの結果を第6表に承り。 第5.6表でNo、1 、2.6.8LL木Ji明+7
)範囲外の比較例である。 N001は従来のホラ1へプレス品であるが、抗折ツノ
は5of(0,’mll+2ど低い。これに対しN+1
.2のZ Fe2を10%添加したものは名士抗折力は
増加するがなJj低い。N093は本発明による5iO
7゜Fe 203添加祠であるが、強度は、’+ (l
 k (1/ +111112とA”)はリイはい。N
o、1−10はS l 021 Fe2o3m7J+目
4に対し、Zl’ 02 m、Y203U1を変化さけ
たものである。71=02を10%添加し、Y 203
fFi ヲZ l” 02 kl ニJJ L/、0.
 1. 3.12mo1%と変化ざぜたNO,C9,5
,10rはいずれbZr02を添加しない場合に比ベノ
iL折力は増加している。しかし、0.1mo1%で【
よ−6f1kg/mm2とあまり4. yIシない。そ
れに対し、3mo 1%添加材では73kg/mm2と
上界し、12 mo1%1りび減少しCいる。これは3
mo1%程曵で正1ノ品が)℃全に残留し、また12 
mo1%では立1ノ晶Z r O2が存在することによ
るものど思われる。Z I’ 02 !it /L変化
さl! タN O、5−= 8−(’は/ro2mが少
t「い範囲ぐは強度上胃が見られず、また7rO2が多
いと強度は大きいが、硬さが小さくなって基板材として
は不適である。 No、13〜18は炭化物、窒化物を添加したものにZ
rO2を添加した場合としない場合を比較したものであ
る。いずれもZrO7を添加しくTい場合に比べ〜20
k(1/m1抗折力は増加してJjす、7rO2による
抗折力敗色の効架は明らかC゛ある。 以上のように本発明範囲外の組成物は薄膜磁気ヘッド用
しラミックス基板とし゛C非1ルに侵れた性能を備えた
44 Plである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ′1.炭化チタン20〜’+i+i重量%、残部酸化ア
    ルミ−ラムからなる祷合セシミックス100小吊部に対
    し、シリ]1ンおよび鉄の酸化物の1種には2秤を0.
    Oj)・〜j1市量部添加1ノたことを特徴とづる?+
    ’+f I!、!■気ヘッド用レしミツタス塁板1゜ 2.1、旨1′1晶求の範囲第i jri記載のしシミ
    ソクス基扱し=おいC1さl)に釦1.り【1ム、タン
    ゲスノンの1種又は2種以」を 0.0!i =” 5
    重用部添加し1.:ことを特徴どする’A9膜磁気ヘッ
    ド用ヒラミックス講、を板。 3− ’IM i’1品求請求囲第1 JHまたは第2
    項記載の薄Iつ)磁気ヘッド用S;t 4睨に、1メい
    C,J−開広化I・タンの、’+ ”□ (i 0 ’
    Eル%を、’/r 、 fir 、 V、 Nl+ 、
     l’a 。 Cr、MO,Wの炭化物の1種又は2種しス上で置模し
    Iこことを’lJi 微とりる薄肪!磁気l\ツド用し
    ラミックス基板。 4、特許′[請求の範囲第1項、第2項よ)こは第3項
    記載の薄膜磁気ヘッド用セラミックス基板に63It’
    で、上記炭化チタンの5〜60゛[ル%を、1− i 
    、 ’7r。 旧、 y、 Nll 、 i’aの窒化物の1種ヌ(J
    2!I以上で置換したことを特徴とりる薄膜Wtk ’
    At ’\ンlζ月1゜ヒラミックス基板。 5、特許請求の範囲l 11JL m 21j’!、 
    第3]r!J3.J:び第4項記載の薄I+!11磁気
    ヘッド川l!シミ・ソクス33板において、酸化アルミ
    −ラムの;)−・・60シル%を酸化ジルコニウムで置
    換したことを1−’i mと+するA9111&気ヘッ
    ド川セラミ・ンクスM IJj 、。 6、特R′[請求の範囲第51項記載のd;・膜1a気
    t\)1:用セラミックス基板において、酸化ジル−」
    ニウムに酸化ジル:]ニニラの2〜10’[/し%の〜
    +GO,Cσ0、Y2O3を1種又は2種以1固溶しI
    こ(−1とを特徴とりる薄膜磁気へ・ンド用しノミ・ン
    クλJ1tJli 、。
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