JPS6070334A - レンズの欠点検査装置 - Google Patents
レンズの欠点検査装置Info
- Publication number
- JPS6070334A JPS6070334A JP17896483A JP17896483A JPS6070334A JP S6070334 A JPS6070334 A JP S6070334A JP 17896483 A JP17896483 A JP 17896483A JP 17896483 A JP17896483 A JP 17896483A JP S6070334 A JPS6070334 A JP S6070334A
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- Japan
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- lens
- signal
- defect
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- area
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
- G01M11/0278—Detecting defects of the object to be tested, e.g. scratches or dust
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（Ａ）本発明の技術分野
本発明は、レンズの欠点検査装置に関し、さらに訂しく
は、例えば、表面が樹脂でコー１〜されたプラスチック
製眼鏡用レンズのコーティングムラ検査装置に関する。
は、例えば、表面が樹脂でコー１〜されたプラスチック
製眼鏡用レンズのコーティングムラ検査装置に関する。
（Ｂ）従来技術
従来この種コーティングムラの検査は、熟練した検査員
による目視検査に頼っていた。
による目視検査に頼っていた。
づなわち、白色光によるレンズ投影像を半透明なガラス
に映し出し、検査員がレンズの向きを変えながら、欠点
像の有無を目視により判断していた。
に映し出し、検査員がレンズの向きを変えながら、欠点
像の有無を目視により判断していた。
ところが、こういった目視検査によると、検査員間の判
断基準のバラツキにより、あるいは、同一検査員でも検
査時の健康状態等により判断基準が変化し、結果的に商
品として出荷するレンズの品質のバラツキを招くことに
なっていた。
断基準のバラツキにより、あるいは、同一検査員でも検
査時の健康状態等により判断基準が変化し、結果的に商
品として出荷するレンズの品質のバラツキを招くことに
なっていた。
また、検査員になるためには相当の熟練を要し、かつ、
目を酷使するなとその労鋤条イ′１も過酷なものであっ
た。
目を酷使するなとその労鋤条イ′１も過酷なものであっ
た。
さらにまた、人手によるため、判定が微妙な場合など検
査に手間取るという欠点があった。
査に手間取るという欠点があった。
（Ｃ）本発明の目的
本発明は、上記欠点を解消すべくなされたもので、人手
によらず、したがって、検査結果にバラツキのない、か
つ、検査所用時間がコンスタントなレンズの欠点検査装
置を提供することを目的とする。
によらず、したがって、検査結果にバラツキのない、か
つ、検査所用時間がコンスタントなレンズの欠点検査装
置を提供することを目的とする。
（Ｄ＞本発明の構成
上記目的を達成するため、本発明は下記する構成からな
る。
る。
すなわち、レーザ光源、該レーザ光源から発振されるレ
ーザビームを所望の拡がり角に拡大する光学系、該光学
系にＪ、り拡大されたレーザビームの光軸上に位置し被
検レンズの像が投影されるスクリーン、該スクリーン上
の投影像をとらえ該投影像の画像信号を黒石として出力
するテレビカメラ、該テレビカメラから出−力される画
像信号を受けてレンズの欠点をレンズ欠点面積がレンズ
全表面積に占める面積率として自動的に判定する画像信
号処理装置とを右してなり、該画像信号処理装置が 〔イ〕前記テレビカメラからのｌ１Ｔｉｉ像信号を増幅
せしめる増幅回路と、 Ｃ口〕該増幅回路により１１１幅された画像信号の照度
分イｂを均一化せしめるシェーディング補正回路と、 〔ハ〕該シエ〜ディング補正回路の信号からノイズをカ
ッ１へし縦方向の欠点信号に特有の周波数のみを抽出づ
るバンドパスフィルタと、 〔二〕該バンドパスフィルタと並列に設けられ前記シェ
ーディング補正回路の信号のうち横方向の欠点信号を抽
出する垂直輪郭抽出回路と、〔ホ〕該垂直輪郭抽出回路
および前記バンドパスフィルタと並列に設けられ前記シ
ェーディング補正回路からの欠点信号を該欠点信号より
は低く、かつ、レンズ輪郭に相当する信号を部分づる電
圧レベルで２値化しレンズ像の面積に相当するビット数
を出力するとともに該レンズ輪郭に相当覆る部分に時間
的に対応するパルスを発づるエツジ補正回路と、 〔へ〕前記バンドパスフィルターｄ３よひ垂直輪郭抽出
回路からの二つの欠点信号をミ４−シングした信号を出
ツノするミキサーと、 〔１〜〕該ミキサーからの二つの欠点信号と前記エツジ
補正回路からのパルスとを突合μ、レンズの欠点信号の
みを通過せしめるグー１〜回路と、〔ヂ〕該欠点信号に
相当する電圧レベルを検出づるために設けたスライスレ
ベルにより欠点信号を２値化し欠点面積に相当するビッ
ト数を出ツノする２値化回路と、 （す）該２値化回路から出力されるレンズ欠点面積に相
当するピッ１−数おにび前記エツジ補正回路から出力さ
れるレンズ像の面積に相当するビット数とからレンズ面
積に対するレンズ欠点部分の面積比率を演算覆る演０処
理装置と、 からなることを特徴とするレンズの欠点検査装置。
ーザビームを所望の拡がり角に拡大する光学系、該光学
系にＪ、り拡大されたレーザビームの光軸上に位置し被
検レンズの像が投影されるスクリーン、該スクリーン上
の投影像をとらえ該投影像の画像信号を黒石として出力
するテレビカメラ、該テレビカメラから出−力される画
像信号を受けてレンズの欠点をレンズ欠点面積がレンズ
全表面積に占める面積率として自動的に判定する画像信
号処理装置とを右してなり、該画像信号処理装置が 〔イ〕前記テレビカメラからのｌ１Ｔｉｉ像信号を増幅
せしめる増幅回路と、 Ｃ口〕該増幅回路により１１１幅された画像信号の照度
分イｂを均一化せしめるシェーディング補正回路と、 〔ハ〕該シエ〜ディング補正回路の信号からノイズをカ
ッ１へし縦方向の欠点信号に特有の周波数のみを抽出づ
るバンドパスフィルタと、 〔二〕該バンドパスフィルタと並列に設けられ前記シェ
ーディング補正回路の信号のうち横方向の欠点信号を抽
出する垂直輪郭抽出回路と、〔ホ〕該垂直輪郭抽出回路
および前記バンドパスフィルタと並列に設けられ前記シ
ェーディング補正回路からの欠点信号を該欠点信号より
は低く、かつ、レンズ輪郭に相当する信号を部分づる電
圧レベルで２値化しレンズ像の面積に相当するビット数
を出力するとともに該レンズ輪郭に相当覆る部分に時間
的に対応するパルスを発づるエツジ補正回路と、 〔へ〕前記バンドパスフィルターｄ３よひ垂直輪郭抽出
回路からの二つの欠点信号をミ４−シングした信号を出
ツノするミキサーと、 〔１〜〕該ミキサーからの二つの欠点信号と前記エツジ
補正回路からのパルスとを突合μ、レンズの欠点信号の
みを通過せしめるグー１〜回路と、〔ヂ〕該欠点信号に
相当する電圧レベルを検出づるために設けたスライスレ
ベルにより欠点信号を２値化し欠点面積に相当するビッ
ト数を出ツノする２値化回路と、 （す）該２値化回路から出力されるレンズ欠点面積に相
当するピッ１−数おにび前記エツジ補正回路から出力さ
れるレンズ像の面積に相当するビット数とからレンズ面
積に対するレンズ欠点部分の面積比率を演算覆る演０処
理装置と、 からなることを特徴とするレンズの欠点検査装置。
（Ｅ）本発明の実施例
本発明を実施例を用いて図面を参照しながら説明する。
第１図は、本発明に係るレンズ欠点検査装置の一実施例
を示１構成図である。
を示１構成図である。
第１図において、シー１ｆ−光源１から投射された波長
６３２．８ｎｍのト１ｅ−ＮＯレーザビームは、拡大レ
ンズ２、ピンホール３を通り拡大される。
６３２．８ｎｍのト１ｅ−ＮＯレーザビームは、拡大レ
ンズ２、ピンホール３を通り拡大される。
ここで、ピンホール３は拡大レンズを透過したレーザビ
ームの合焦による干渉縞防止のために設けてあり、例え
ば２５μｎ１の径を有する。この拡大されたレーザビー
ムは、８デイオプトりの拡大レンズ４でその拡がり角が
さらに拡大されて被検レンズ５へ照射されるので、被検
レンズ５のエツジ近くに存在する欠点も十分確実に検出
可能となる。
ームの合焦による干渉縞防止のために設けてあり、例え
ば２５μｎ１の径を有する。この拡大されたレーザビー
ムは、８デイオプトりの拡大レンズ４でその拡がり角が
さらに拡大されて被検レンズ５へ照射されるので、被検
レンズ５のエツジ近くに存在する欠点も十分確実に検出
可能となる。
被検レンズ５は直径の異なるものが数種類あり、しかも
、その各々の度数が必ずしも同じではないので、被検レ
ンズを透過したレーザビームの拡がり角は検査されるレ
ンズによって種々異なる。
、その各々の度数が必ずしも同じではないので、被検レ
ンズを透過したレーザビームの拡がり角は検査されるレ
ンズによって種々異なる。
補正レンズ６はこの不都合をなくづ−ために設けられた
ものであり、スクリーン７に映る像の大きさを第４図に
示す高感度撮像管を使った工業用テレビカメラ９の視野
内におさまる大きさ、例えば、２０〜３Ｑｃｍに補正覆
る。
ものであり、スクリーン７に映る像の大きさを第４図に
示す高感度撮像管を使った工業用テレビカメラ９の視野
内におさまる大きさ、例えば、２０〜３Ｑｃｍに補正覆
る。
スクリーン回転装置８は、モーター等（図示せず）の駆
動源によりスクリーン７を回転、または、振動させるこ
とによりレーザビーム１コｉ有のスペックル縞を平均化
し、第２図に示づようなレンズのコー］ヘムラに対応す
る投影像中の欠点（第３図ａの縦筋）を抽出し易くする
。
動源によりスクリーン７を回転、または、振動させるこ
とによりレーザビーム１コｉ有のスペックル縞を平均化
し、第２図に示づようなレンズのコー］ヘムラに対応す
る投影像中の欠点（第３図ａの縦筋）を抽出し易くする
。
この第３図（ａ）に示す欠点像を工業用テレビカメラ９
でとらえ、その画像信号を第３図（ｂ）に示す照度とし
て出力する。
でとらえ、その画像信号を第３図（ｂ）に示す照度とし
て出力する。
以下、本発明に係るレンズの欠点検査装置において用い
る画像信号処理装置の作用機能を第４図乃至第６図を用
いて説明１−る。
る画像信号処理装置の作用機能を第４図乃至第６図を用
いて説明１−る。
第４図において、］二葉月テレビカメラ９からの欠点像
（第３図ａ）に関覆る欠点信号（第３図ｂ）を増幅回路
１０で増幅し、シェーディング補正回路１１を通す。こ
のシェーディング補止回路１１は、スクリーン７上での
レーザ拡大ビームの照度分布が被検レンズの度数の相違
により異なるため、これを均一に補正Ｊるためのもので
、例えば、欠点信号のある画像信号（第３図１））と、
その画像信号のピーク検波をｔ″′ｉなって欠点信号を
なくした画像信号（第３図Ｃ）を作り、（第３図１）の
信号）／（第３図Ｃの信号）をめて第５図に示すような
一定レベル化した画像信号を得るための回路である。
（第３図ａ）に関覆る欠点信号（第３図ｂ）を増幅回路
１０で増幅し、シェーディング補正回路１１を通す。こ
のシェーディング補止回路１１は、スクリーン７上での
レーザ拡大ビームの照度分布が被検レンズの度数の相違
により異なるため、これを均一に補正Ｊるためのもので
、例えば、欠点信号のある画像信号（第３図１））と、
その画像信号のピーク検波をｔ″′ｉなって欠点信号を
なくした画像信号（第３図Ｃ）を作り、（第３図１）の
信号）／（第３図Ｃの信号）をめて第５図に示すような
一定レベル化した画像信号を得るための回路である。
この補正回路を通して一定レベル化された画像信号は第
５図に示ηごと（その中に干渉縞の部分に相当する欠点
信号（凸部）が存在している状態になっている。
５図に示ηごと（その中に干渉縞の部分に相当する欠点
信号（凸部）が存在している状態になっている。
そして、バンドパスフィルタ１２にて第５図に領域Ｆで
示す任意範囲の周波数帯の信号、すなわち、経験的には
０．５〜１．０ＭＨｚ領域の信号のみを通すことにより
、シェーディング補正回路１１の信号からノイズをカッ
トして、縦方向に存在する欠点信号に特有の周波数のみ
を抽出する。
示す任意範囲の周波数帯の信号、すなわち、経験的には
０．５〜１．０ＭＨｚ領域の信号のみを通すことにより
、シェーディング補正回路１１の信号からノイズをカッ
トして、縦方向に存在する欠点信号に特有の周波数のみ
を抽出する。
すなわち、−走査線内にある欠点信号のみを検出する。
さらに、横方向線状欠点信号を検出Ｊるため、前記バン
ドパスフィルタ１２と並列に垂直輪郭抽出回路１３を設
りである。
ドパスフィルタ１２と並列に垂直輪郭抽出回路１３を設
りである。
この垂直輪郭抽出回路１３は、テレビ信号を一走査線分
遅らせＩ〔信号を作り出し、その信号と元のテレビ信号
とを減算することにより横方向゛線状欠点の検出を可能
とした回路である。
遅らせＩ〔信号を作り出し、その信号と元のテレビ信号
とを減算することにより横方向゛線状欠点の検出を可能
とした回路である。
次いで、この垂直輪郭抽出回路１３を通して得た横方向
の欠点信号と、前記バンドパスフィルタ１２からの縦方
向の欠点信号とはミキリ−−′１５で重ね合わされ、こ
こでレンズの全面の欠点信号が得られる。しかしこの欠
点信号はレンズエツジ部に相当する信号をノイズとして
含むので、後述するエツジ補正回路１４からのパルス、
すなわち、エツジ信号をゲート回路１６に送ってゲート
をかけノイズを除去する必要がある。
の欠点信号と、前記バンドパスフィルタ１２からの縦方
向の欠点信号とはミキリ−−′１５で重ね合わされ、こ
こでレンズの全面の欠点信号が得られる。しかしこの欠
点信号はレンズエツジ部に相当する信号をノイズとして
含むので、後述するエツジ補正回路１４からのパルス、
すなわち、エツジ信号をゲート回路１６に送ってゲート
をかけノイズを除去する必要がある。
すなわち、垂直輪郭抽出回路１３、および、バンドパス
フィルタ１２と並列に設けられたエツジ補正回路１４で
は、前記シェーディング補正回路１１からの欠点信号を
、この欠点信号よりは低く、かつ、レンズ輪郭に相当Ｊ
る信号を三方する第６図（ａ ）に８１で示す電圧レベ
ルで２値化し、レンズ像の面積に相当するピッ１〜数を
出力するとともにこのレンズ輪郭に相当する部分に時間
的に対応するエツジ信号をゲート回路１Ｇに出力する。
フィルタ１２と並列に設けられたエツジ補正回路１４で
は、前記シェーディング補正回路１１からの欠点信号を
、この欠点信号よりは低く、かつ、レンズ輪郭に相当Ｊ
る信号を三方する第６図（ａ ）に８１で示す電圧レベ
ルで２値化し、レンズ像の面積に相当するピッ１〜数を
出力するとともにこのレンズ輪郭に相当する部分に時間
的に対応するエツジ信号をゲート回路１Ｇに出力する。
したがって、グーｌ−回路１６では、前記ミキサー１５
からのレンズ全面の欠点信号が、エツジ補正回路１４か
らのエツジ信号により、レンズ輪郭に相当する出力信号
を除去した真の欠点信号のみに補正され、この補正され
た真の欠点信号のみが次の２値化回路１７に通される。
からのレンズ全面の欠点信号が、エツジ補正回路１４か
らのエツジ信号により、レンズ輪郭に相当する出力信号
を除去した真の欠点信号のみに補正され、この補正され
た真の欠点信号のみが次の２値化回路１７に通される。
この真の欠点イム号は２値化回路１７で処理され、第６
図（ｂ）に示すようにデジタル化される。
図（ｂ）に示すようにデジタル化される。
これは、第６図（ａ）に凸部で示すレンズ欠点部分の信
号をほぼ三方するようなスライスレベルＳ２を設けこの
スライスレベル８２以上の信号が存在する部分、すなわ
ち、欠点部分は１°′とじて他の部分はＯ″とするもの
である。そして、この欠点部分（” １ ”の部分）、
および、前記エツジ補正回路１４で得られた前記レンズ
像の面積に相当するビット数をマイクロコンピュータ１
８で計数し、レンズ欠点部分のレンズ全表面積に占める
面積比率を計算する。
号をほぼ三方するようなスライスレベルＳ２を設けこの
スライスレベル８２以上の信号が存在する部分、すなわ
ち、欠点部分は１°′とじて他の部分はＯ″とするもの
である。そして、この欠点部分（” １ ”の部分）、
および、前記エツジ補正回路１４で得られた前記レンズ
像の面積に相当するビット数をマイクロコンピュータ１
８で計数し、レンズ欠点部分のレンズ全表面積に占める
面積比率を計算する。
この面積比率からレンズコーティングムラの有無、ムラ
の状態を判別するものである。
の状態を判別するものである。
（Ｆ）本発明の効果
以上本発明は、従来検査員の目視に頼っていたレンズ等
のコーティングムラの検査を自動化することによって、
省力化を実現し、合Ｕて、測定結果にバラツキのない、
したがって、不良品を良品として出荷する恐れのない適
正な検査を可能とした。
のコーティングムラの検査を自動化することによって、
省力化を実現し、合Ｕて、測定結果にバラツキのない、
したがって、不良品を良品として出荷する恐れのない適
正な検査を可能とした。
第１図は本発明に係るレンズの欠点検査装置の一実施例
を示す構成図、第２図はレンズのコートムラを示す図、
第３図（ａ）は第２図に示すレンズのコートムラに対応
覆る第１図の装置によって得られた等影像を模式的に示
す図、第３図（ｂ）は第３図（ａ ）に開田るテレビカ
メラからの欠点信号、第３図（Ｃ）は第３図（ｂ）に示
す欠点信号のピーク検波を行なって欠点信号をなくした
画像信号、第４図は本発明に係るレンズの欠点検査装置
において用いる画像信号処理装置のブロック図、第５図
はく第３図１）の信号）／（第３図Ｃの信号）をめ一定
レベル化した画像信号、第６図（ａ）は真の欠点信号に
スライスレベルを設け２値化り−ることを説明するため
の図、および、第６図（１１）は真の欠点信号のみがデ
ジタル化された図である。 ４、図面の簡単な説明 １・・・レーザ光源 ２．４・・・拡大レンズ３！・・
ピンホール ５・・・被検レンズ６・・・補正レンズ
７・・・スクリーン８・・・スクリーン回転装置 ９・・・工業用テレビカメラ １０・・・増幅回路 １１・・・シェーディング補正回路 １２・・・バンドパスフィルタ １３・・・垂直輪郭抽出回路 １４・・・エツジ補正回路 １５・・・ミル１ノー１６
・・・ゲート回路 １７・・・２１＋ｒｊ化回路１８・
・・マイクロコンピュータ 特許出願人 東 し 株 式 会 社 第１欝 第２図 第４図 ５
を示す構成図、第２図はレンズのコートムラを示す図、
第３図（ａ）は第２図に示すレンズのコートムラに対応
覆る第１図の装置によって得られた等影像を模式的に示
す図、第３図（ｂ）は第３図（ａ ）に開田るテレビカ
メラからの欠点信号、第３図（Ｃ）は第３図（ｂ）に示
す欠点信号のピーク検波を行なって欠点信号をなくした
画像信号、第４図は本発明に係るレンズの欠点検査装置
において用いる画像信号処理装置のブロック図、第５図
はく第３図１）の信号）／（第３図Ｃの信号）をめ一定
レベル化した画像信号、第６図（ａ）は真の欠点信号に
スライスレベルを設け２値化り−ることを説明するため
の図、および、第６図（１１）は真の欠点信号のみがデ
ジタル化された図である。 ４、図面の簡単な説明 １・・・レーザ光源 ２．４・・・拡大レンズ３！・・
ピンホール ５・・・被検レンズ６・・・補正レンズ
７・・・スクリーン８・・・スクリーン回転装置 ９・・・工業用テレビカメラ １０・・・増幅回路 １１・・・シェーディング補正回路 １２・・・バンドパスフィルタ １３・・・垂直輪郭抽出回路 １４・・・エツジ補正回路 １５・・・ミル１ノー１６
・・・ゲート回路 １７・・・２１＋ｒｊ化回路１８・
・・マイクロコンピュータ 特許出願人 東 し 株 式 会 社 第１欝 第２図 第４図 ５
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 レーザ光源、該レーザ光源から発振されるレーザビーム
を所望の拡がり角に拡大する光学系、該光学系により拡
大されたレーザど−ムの光軸上に位置し被検レンズの像
が投影されるスクリーン、該スクリーン上の投影像をと
らえ該投影像の画像信号を照度として出力するテレビカ
メラ、該テレビカメラから出力される画像信号を受（プ
てレンズの欠点をレンズ欠点面積がレンズ全表面積に占
める面積率として自動的に判定Ｊ−る画像信号処理装置
とを有してなり、該画像信号処理装置装置が〔イ〕前記
テレビカメラからの画像信号を増幅せしめる増幅回路と
、 〔口〕該増幅回路にＪ：り増幅された画像信号の照度分
布を均一化ぼしめるシェーディング補正回路と、 〔ハ〕該シェーディング補正回路の信号からノイズをカ
ットし縦方向の欠点信号に特許ｊの周波数のみを抽出す
るバンドパスフィルタと、 〔二〕該バンドパスフィルタと並列に設（プられ前記シ
ェーディング補正回路の信号のうち横方向の欠点信号を
抽出する垂直輪郭抽出回路と、〔ホ〕該垂直輪郭抽出回
路および前記バンドパスフィルタと並列に設けられ前記
シェーディング補正回路からの欠点信号を該欠点信Ｑ
Ｊ、り低く、かつ、レンズ輪郭に相当する信号を部分り
る電圧レベルで２値化しレンズ像の面積に相当するビッ
ト数を出ノｊするとともに該レンズ輪郭に相当覆る部分
に時間的に対応するパルスを発するエツジ補正回路と、 〔へ〕前記バンドパスフィルタおよび垂直輪郭抽出回路
からの二つの欠点信号をミキシングした信号を出力する
ミキサーと、 〔ト〕該ミキサーからの二つの欠点信号と前記エツジ補
正回路からのパルスとを突合せ、レンズの欠点信号のみ
を通過せしめるゲート回路と、〔ヂ〕該欠点信号に相当
する電圧レベルを検出寸るだめに設けたスライスレベル
により欠点信号を２値化し欠点面積に相当り゛るピッ１
へ数を出力する２値化回路と、 〔す）該２値化回路から出力されるレンズ欠点面積に相
当するビット数Ｊ５よび前記エツジ補正回路から出ツノ
されるレンズ像の面積に相当するビット数とからレンズ
面積に対するレンズ欠点部分の面積比率を演募する演ｔ
１処理装首と、 からなることを１？Ｉ徴とりるレンズの欠点検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17896483A JPS6070334A (ja) | 1983-09-27 | 1983-09-27 | レンズの欠点検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17896483A JPS6070334A (ja) | 1983-09-27 | 1983-09-27 | レンズの欠点検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6070334A true JPS6070334A (ja) | 1985-04-22 |
Family
ID=16057738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17896483A Pending JPS6070334A (ja) | 1983-09-27 | 1983-09-27 | レンズの欠点検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6070334A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2143944A1 (es) * | 1998-03-31 | 2000-05-16 | Univ Catalunya Politecnica | Dispositivo para la deteccion automatica de defectos en lentes oftalmicas. |
| US6430310B1 (en) | 1995-06-07 | 2002-08-06 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| JP2016038217A (ja) * | 2014-08-05 | 2016-03-22 | 株式会社 清原光学 | レンズまたはミラー検査装置およびその検査方法 |
| JP2024506258A (ja) * | 2021-01-26 | 2024-02-13 | アルコン インコーポレイティド | 半透明欠陥に対する眼科用レンズの検査用の方法 |
-
1983
- 1983-09-27 JP JP17896483A patent/JPS6070334A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6430310B1 (en) | 1995-06-07 | 2002-08-06 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
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