JPS6085386A - 検出器における自動感度調整装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 この発明は投光素子と受光素子とを備え、同両省間に被
検出物体を導入して同被検出物体を検出する検出器に係
り、詳しくはその検出器の検出感度を調整する調整装置
に関するものである。

従来技術 従来、被検出物体の通過状態を検出する投光素子と受光
素子とからなる被検出物体検出器は受光素子の受光の有
無若しくは受光量の多少に基づいて検出しそいた。そし
て、被検出物体の形状（殊に厚み）もしくは材質が変わ
った場合、検出レベルも変わるため、その都度感度を再
調整しなければならなかった。殊に受光ｍの多少に基づ
いて検出する場合にはその感度調整は非常に難しく熟練
を必要としていた。

例えば、この種の検出器を備えたミシンにおいて、第１
図Ａ、Ｂに示Ｊ加工布（身頃）１の側縁に沿って本縫い
縫い目を形成したい場合における布終了端検知、又は第
２図Ａ、Ｂに示す身頃１にポケット布片２を重ね合せ周
布片２を身頃１に縫い合せをする場合におけるポケット
布片２の布端（段差部Ｗ２）検知ではその都度作業者は
手作業で感度調整を行なっていた。特にポケット布片２
を縫い合せる際、その布片２の布端を検知する場光量の
多少に基づいて重ね合せ部ｗ１がどうかを検出していた
。

従って、身頃１及びボヶッ］・布片２の厚さ若しくは材
質が変わった場合、その光の透過ｍｂ変わることになる
ため、その感度調整は熟練を要し、かつ、非常に面倒な
ものとなっていた。

目的 この発明は前記問題点を解消覆るためになされたもので
あって、その目的は被検出物体の厚さ若しくは材質に応
じてその光の透過量が変動しても検出器の検出感度を自
動的に最適な感度に調整づることができ、その調整作業
の労力を軽減することのできる自動感度調整装置を提供
するにある。

実施例 以下この発明を具体化した一実施例を図面に従って説明
づる。

第３図において、ミシンフレーム１１はアーム部１２と
ベット部１３とを備え、そのアーム部１２の頭部内に上
下動可能に装着された針棒１４に針１５が取着されてい
る。そして、この針１５とベラ１へ部１３内に設けた釜
（図示せず）との協働により加工布１に本縫い縫い目が
形成されるようになっている。アーム部１２の頭部前面
には検出器を構成づる投光器１６が取着され、第４図に
承りように発光ダイオードよりなる投光素子１７を内蔵
したケース１８が前記頭部前面に固設された１１１ルダ
ー１９の収容筒部１９ａ内にビス止めされている。ケー
ス１８の下端部には透明の保護板１８ａが取り付けられ
投光素子１７にゴミが付着するのを防止する。

前記ベット部１３には滑板２０及び針板２１が配設され
ていて、その針板２１には釧穴２２から送り込側へ所定
の間隔をおいた位置に形成した嵌合孔２３に受光器２４
の上部が嵌合されている。

受光器２４のケース２５は第４図に示すように基端部が
前記ベット部１３に対してビス止めされでいるとともに
上端に透明の保護板２５ａが取イ１４ノられている。前
記ケース２５内に設けられたホトトランジスタよりなる
受光素子２６は前記投光素子１７と相対向するように配
設されていて同投光素子１７からの光を直接受光すると
ともに、加工布１が送り込み側から縫合位置へ送り込ま
れ同加工布１によって遮られたとぎ、その加工布１を透
過してくる投光素子１７からの光（透過光）を受光する
。

次に、前記投光素子１７及び受光素子２６！ｓからなる
検出器の電気回路について説明づ°る。

第６図において、投光素子１７は抵抗Ｒ１、増幅器３１
を介して発振器３２から出力されるヂョッパ信号ＳＧＩ
　（第７図参照）を同増幅器３２Ｃ増幅反転させて整形
したパル２４５号Ｓ’Ｇ２が印加され、同信号ＳＧ２に
基づいて発光される。１〜ランジスタＴｒはそのコレク
タ端子に前記投光素子１７の一端が接続されているとと
もにコレクターエミッタ端子間に抵抗Ｒ２が接続されて
いる。そして、１へラジスタＴｒがオン状態の時、電流
制限抵抗は前記抵抗Ｒ１だりどなり同投光素子１７に流
れる電流は大となって投光素子１７の発光量が大きくな
る。反対にトランジスタＴｒがオフ状態の時、電流制限
抵抗は抵抗Ｒ１、Ｒ２となり、投光素子１７に流れる電
流は小となって投光素子１７の発光量が小さくなる。

前記受光素子２６は投光素子１７から出力される光の受
光最に比例したレベルの出力電圧■１を出力し、その出
ノＪｆｆｉＪ王Ｖ１がバンドパスフィルター３３を介し
て可変減衰器３４に出力される。可変減衰器３４は前記
出力電圧Ｖ１をＯｄＢから−６０ｄ　Ｂの範囲で減衰し
増幅器３５を介して減衰出力電圧■２としてコンパレー
タ３６に出力するようになっていて、この減衰相は後記
する入出力インターフェイス４６を介して中央処理装置
４３から出力される制御信号ＳＧ３に基づいて段階的く
本実施例では２ｄＢ毎）に可変制御されるようになって
いる。

比較器としての前記コンパレータ３６はこの減衰出力電
圧ｖ２と基準電圧変更手段としての基準電圧設定器３７
からの基準電圧Ｖｓとを比較し、減衰出力電圧ｖ２より
基準電圧ＶＳが大きいときＨレベル（プラス電位）の、
又その反対の場合にはし、レベル（０電位）の検出信号
ＳＧ４を出力する。前記基準電圧設定器３７は基準電圧
Ｖｓを本実施例では３Ｖから５Ｖの範囲で変更でき、後
記覆る入出力インターフェイス４６を介して中央処理装
置４３から出力される制御信号ＳＧ５に基づいて段階的
（本実施例では±１ｄＢ毎）に可変制御されるようにな
っている。

前記コンパレータ３６から出力される検出信−号ＳＧ４
を入力する第１のフリップフロップ回路（以下、第１の
ＦＦ回路という）３８はＬレベルの検出信号ＳＧ４の立
ち干かりによって反転され同回路３８のＱ端子の出力が
ＨレベルからＬレベルどなる。第２のフリップフロップ
回路（以下、第２のＦＦ回路という）３つは前記第１の
ＦＦ回路３８の１」レベルからＬレベルの立ち下がりに
応答してそのＱ端子の出力、Ｓ　Ｇ　６をＨレベルから
Ｌレベルに反転させる。又、両用１及び第２のＦＦ回路
３８．３９は前記発振器３２のチョッパ信号ＳＧＩの立
ち下がりでそれぞれリセットされるようになっている。

１三ＸＯＩ’（回路４０は第１及び第２のＦＦ回路３８
．３９のＱ端子の出力を入力するようになっていて、両
Ｑ端子が互いに同じレベルのときＬレベルの出力ＳＧ７
を、両Ｑ端子が互いに異なるとき１−ルベルの出力ＳＧ
７を出力する。

感度調整スイッチ４１は検出器を作動させるためのスイ
ッチであって、同スイッチ４１のΔン信号は入出力イン
ターフェイス４６を介して中央処理装置４３に出力され
る。モニタ用発光ダイオード４２は中央処理装置４３の
制御信号に基づいて点灯制御される。尚、感度調整スイ
ッチ４１及び発光ダイオード４２はミシンフレーム１１
の所定の位置、例えばアーム部１２の頭部前面の操作及
び視認可能な位置に設けている。

各種手段としての中央処理装置（以下、ＣＰＵという）
４３は読み出し専用のメモリ（以下、ＲＯＭという）４
４と読み出し及び書き替え可能なメモリ（以下、ＲＡＭ
という）４５を備え、前記用度減衰器３４の減衰量を段
階的に変更するための制御信号ＳＧ３を入出力インター
フェイス４６を介して同減衰器３４に出ツノするととも
に、前記基準電圧設定器３７の基準電圧、ｆＶＳを段階
的に変更するための制御信号ＳＧ５を同インターノエイ
ス２６を介して同設定器３７に出力覆る。又、ＣＰＵ４
３は前記トランジスタｌ’　ｒをオン、オフ制御すると
ともに、第２のＦ　Ｆ回路３９のＱ端゛子出力レベルを
検知して基準電圧Ｖｓより減衰出力電圧Ｖ２が大きくな
ったかどうかを判定し、同判定結果に基づいて可変減衰
器３４及び基準電圧設定器３７に出力する制御信号３　
Ｇ　３、ＳＧ５の制御量を決定するようになっている。

次に前記のように構成した検出器の作用を第９図に示ず
ＣＰＬＩ４３の動作を示す７０一チヤト図に従って説明
する。

今、第２図Ａ、Ｂに示ずようにポケット布片２を加工布
１に縫い合せる場合における検出器の感度調整を行うべ
く、まず、加工布１のみを受光素子２６上に載せた後、
感度調整スイッチ４１をオンさゼると、ＣＰＩＪ４３は
モニタ用発光ダイオード４２を消すステップ１の処理動
作を行うとともに１〜ランジスタｌｒをオンさせるステ
ップ２の処１１１ｉ動作を行う。次にＣＰＵ４３は基準
電圧設定器３７から出力される基準電ｆ：［Ｖ　ｓを最
小（３ｖ）にづべく同設定器３７に制御信号ＳＧ５を出
力するステップ３の処理動作を行うとともに、可変減衰
器３４の減衰器を最大（〜６０ｄＢ）にすべく同ｖＡ哀
器３４に制御信号ＳＧ３を出力するステップ４の処理動
作を行う。一方、これと同時に発振器３２からチョッパ
信＠ＳＧＩが出力される。

従って、投光素子１７はこの発振器３２の発振動作に基
づいて点滅動作が開始される。この時、トランジスター
「ｒはオン状態なので電流制限抵抗は抵抗Ｒ１だけなの
で投光素子１７は発光量が大の状態となる。一方、第１
及び第２のにＦ回路３８．３９は発振器３２のチョッパ
信号ＳＧＩの最初の立ち下がりによってリセッ１−状態
となり、ＥＸＯＲ回路４０からの出力ＳＧ７はＬレベル
の状態になっている。

ＣＰＵ４３はこのＬレベルに基づいて両ＦＦ回路３８．
３９が単発ノイズ信号で誤動作していないことを判別す
るステップ５の処理動作を行う。

尚、この時、ＥＸＯＲ回路４０（７）出力Ｓ　Ｇ　７　
カＨレベルのとき両ＦＦ回路３８．３９が誤動作してい
ると判断して同回路４ｏの出力ＳＧ７がＬレベルになる
まＣ１即ち、両「に回路３８．３９がリセットされるま
で待機する。

さて、投光素子１７から出ツノされた光は加工布１を透
過して受光素子２６に受光される。この透過光を受光し
た受光素子２６はその透過光量に比例した出力電圧ｖ１
をバンドパスフィルター３３を介して可変減衰器３４に
出力Ｊる。可変減衰器３４はこの出力電圧Ｖ１を減衰（
−６０ｄＢ）させて増幅器３５を介して減衰出力電圧Ｖ
２としてコンパレータ３６に出ノＪする。この時、減衰
出力電圧ｖ２は最大に減衰された値なので、最初は第８
図に承りように基準電圧ＶＳより追かに小さくその結果
コンパレータ３６の検出器＠ＳＧ４はト（レベルとなる
。この］−ルベルの検圧信号ＳＧ４に基づいて第１及び
第２のＦＦ回路３８．３９は反転Ｖず、第２のＦＦ回路
３９のＱ端子の出力ＳＧ６はＨレベルのままとなる。

ＣＰＵ４３はこの出力に基づいてステップ６の処理動作
を行う。この時、ＣＰＵ４３は出力ＳＧ６がＬレベルと
いうことに基づいて減衰出力電圧Ｖ２が基準電圧ＶＳよ
り小さいことを判定する。

この判定結果に基づいてＣＰＵ４３は可変減衰器３４の
減衰量が最小かどうかの判別をするステップ７の処理動
作を行う。そして、この時、減衰量は最大であることに
基づいてＣＰｔＪ４３は減衰器を１段階小さくでるだめ
の制御信号ＳＧ３を出力するステップ８の処理動作を行
う。従って、この時点で可変減衰器３４の減衰量は１段
小さくなった状態となる。

この状態から次の第２番目のチョッパ信号ＳＧ１が出力
されると、第１及び第２のＦＦ回路３８．３９がリセッ
トされるとともに投光素子１７が再び点滅づ−る。そし
て、この発光により受光素子２６は透過光量が前記と同
じであることから前記と同じレベルの出力電圧Ｖ１を可
変減衰器３４に出力する。可変減衰器３４の減衰量が１
段小さくなったことにより、コンパレータ３６に出力さ
れる減衰出力電圧■２は第８図に示すように減衰量が小
さくなった分大きくなる。

コンパレータ３６はこの減衰出力電圧ｖ２と基準電圧Ｖ
ｓとを前記と同様に比較検出する。この時、第８図に示
すようにいまだ基準電Ｊ１−Ｖ　ｓが人きいことから前
記と同様に第１及び第２のＦＦ回路３８．３９が動作す
ることに’ｃ７す、ＣＰ　Ｕ　４３は前記と同じ処理動
作を行い減衰器３４の減衰量を１段諧下げる。以後、Ｃ
Ｉ）　Ｕ　４３は減衰出力電圧Ｖ２が基準電圧Ｖｓより
大きくなるまで（越えるまで）減衰器３４の減衰量を段
階的に小さくして減衰出力電圧Ｖ２のレベルを順次大き
くして行く。

尚、前記動作を繰り返している途中に、可変減衰器３４
の減衰量が最小になった時、ＣＰＵ４３はモニタ用発光
ダイオード４２を１０回点滅動作させるステップ１８の
処理動作を行い作業者に検出不能を知らせる。そして、
次にＣＰＵ４３は同発光ダイオード４２をオフするステ
ップ１９の処理動作を行って終了する。

やがて、投光素子１７が５回目の点滅動作が行われ、コ
ンパレータ３６に出力される減衰出力電圧ｖ２が第８図
に示すように基準電圧ＶＳより大ぎくなるど、同コンパ
レータ３６はＬレベルとなり第１及び第２のＦＦ回路３
８．３９を反転させ、第２のにＦ回路３９のＱ出力端子
の出力ＳＧ６をＬレベルにする。ＣＰＵ４３はこのＬレ
ベルにより、基準電圧Ｖｓを減衰出力電圧Ｖ２が越えた
ことを判定してステップ９の処理動作に移る。

ＣＰＵ４３は現在の可変減衰器３４の減衰量が予め定め
た基準減衰ｆｆｌ　Ｐ　Ｊ：り大きいかどうかの判別を
行う。基準減衰ｆｆ１Ｐは被検出物体としての加工布１
が厚物か薄物かを判別、すなわち、加工布１が透過性の
悪いもの又は良いものかを判定し、当該減衰器３４の減
衰毎で加工布検知を行う際、透過性の良いものであれば
投光素子１７の発光量を小さくし、反対に透過性の悪い
ものであれば発光量を大きくして最適な状態で布検知を
するための目安となる値であって、ここで当該加工布１
とボクット布片２との縫い合せる場合にお【ノる投光素
子１７の最適な光量が決定される。

そして、透過性のある例えば薄物の加工布１の場合には
ＣＰＵ４３はトランジスター「ｒをオフして投光素子１
７の発光量を壬げるステップ１０の処理動作を行つＩＣ
後、この投光素子１７の発光量の条件のもとて再び前記
と同様の処理動作が実行される。

一方、透過性の悪い例えば厚物の場合にはＣＰＵ　４３
は前記基準電圧Ｖｓのレベルを第８図に示すように１段
階上げるべく制御信号ＳＧ５を基準電圧設定器３７に出
力するステップ１１の処理動作を行う。

この状態で次のチョッパ信号ＳＧ１が出力されると、第
１及び第２のＦＦ回路３８．３９がリレッ１−されＥ　
Ｘ　ＯＲ回路４０の出力ＳＧ７がＬレベルとなる。そし
て、ＣＰＵ４３は前記ステップ５と同じ内容のステップ
１２の処理動作を行なう。

一方、これと同時に投光素子１７が点滅動作さｆしると
、コンパレータ３６には前回と同じレベルの減衰量ツノ
電圧Ｖ２が入力され同減衰出力電圧Ｖ２は１段階下がっ
た基ｉ（（電圧ＶＳと同コンパレータ３６とで比較され
る。この時、第８図に示すように、減衰出力電圧Ｖ２は
基準電圧Ｖｓより太き（へので、コンパレータ３６の検
出信号ＳＧ４はＬレベルとなり、第１及び第２のＦＦ回
路３８．３９は反転し、第２のＦＦ回路３９のＱ端子の
出力ＳＧ６はＬレベルとなる。ＣＰＵ４３はこのＬレベ
ルに基づいて、減衰出力電圧Ｖ２が基準電圧Ｖｓより人
きいことを判定するステップ１１の処理動作を行う。こ
の判定信号に基づいてＣＰ　Ｕ　４３はＩＪｉｉ〜ｌ−
７Ｉｉ圧ＶＳを１段上げるための前記ステップ１１の処
理動作を再び行う。

従って、この時点で基準電圧ＶＳのレベルはさらに１段
上げられる。そして、以後Ｃｌ）　Ｕ　４３は減衰器３
４の減衰量を一定のままに保持した状態で、前記基準電
圧ＶＳが減衰出力電ｆｆ、　Ｖ　２より大きくなるまで
基準電圧設定器３４の減衰量を段階的に順次大きくして
行く。

やがて、投光素子１７が９回目の点滅動作を行い、コン
パレータ３６に入力される基準電圧ＶＳが第８図に示す
ように、減衰出力電圧Ｖ２より大きくなると、同コンパ
レータ３６は１ルベルとなり、第１及び第２のＦＦ回路
３８．３９は反転せず、第２のＦＦ回路３９のＱ出力端
子の出力ＳＧ６をＨレベルのままとなる。ＣＰＵ４３は
このレベルにより、基準電圧Ｖｓが減衰出力電圧ｖ２を
越えたことを判定してステップ１／Ｉの処理動作に移る
。ＣＰＵ’４３はこの判定結果に塁づいてトランジスタ
ｌ−ｒがオンかオフかどうかを判断し、１〜ランジスタ
Ｔｒがオンの場合には厚物用のための最適基準電圧値■
ｓａの設定のための処理動作（ステップ１５）を行い、
反対にオフの場合には薄物用の最適基準電圧値Ｖｓｕの
設定のための処理動作（ステップ１６）をおこなう。

この場合、トランジスタＴｒは前記したようにオフ状態
なので、ＣＰＵ４３はステップ１５の処理動作を行い現
在の基準電圧ＶＳから予め設定したｊワ物マージン値（
基準電圧ＶＳを若干下げて厚物のイｂ検知を確実に行う
ために余裕をもたせるための値）Ｋ１を引き算して厚物
用最適基準電圧値ＶＳａを算出し、ＲＡ　Ｍ　４　Ｆ５
に記憶するとともに、その時の可変減衰器３４の減衰量
及びトランジスタＴ　ｒのオン、オフ状態を同ＲＡＭ４
５に記憶づる。

尚、前記ステップ１６の処理動作においてトランジスタ
Ｔｒがオフの場合にはＣＰ　Ｕ　４．３は現在のり準電
圧Ｖｓから予め設定した薄物マージン値（基準電圧Ｖｓ
を若干下げて薄物の加工布検知を確実に行うために余裕
をもたせせるための値）Ｋ２を引き算して薄物用最適％
準電圧値Ｖｓｕを算出し、ＲＡＭ４５に記憶するととも
に、その時の可変減衰器３４の減衰量及びトランジスタ
丁ｒのオン、オフ状態を同ＲＡ　Ｍ　４５に記憶するこ
とになる。

ＲＡＭ４５に上記した厚物最適基準値Ｖｓａ及び可変減
衰器３４の減衰量等が記憶されると、ＣＰＵ４３は前記
モニタ用発光ダイＡ−ド４２を点灯させるステップ１７
の処理動作を行い検出器の感度調整が完了したことを作
業者に知らせた後、一連の加工布１の感度調整作業を終
える。

調整作業が終了し、作業者がこの加工布１とポケット布
片２を重ね合せ縫製位置に案内して縫製をＵ１始すると
、ＣＰＵ４３は前記感度調整モードから加工布検知モー
ドに変る。ＣＰＵ４３は前記ＲＡＭ４５に記憶さ°Ｉた
最適ｍ　１ｉ（ｙｔｒ　Ｋ値Ｖｓａ及びトランジスタＴ
ｒをオフ状態にしたときにお（プる減衰器３４の減衰量
のデータを読み出す。そして、ＣＰ　Ｕ　４　’３はこ
のデータに基づいて基準電圧設定器３７から厚物最適基
準電圧値Ｖｓａを出力させるための制御信号ＳＧ５を出
力づるとともに、１〜ランジスタＴｒをオンさＵｌかっ
、減衰器３４の減衰量を前記した減衰量となるＪ：うに
制御信号ＳＧ３を出ツノする。

そして、検出器が第２図Ｂに示す２枚重なった部分Ｗ１
を検出しているときには投光素子１７からの光はポケッ
ト布片２及び加工布１を通って受光素子２６に到達する
ため、前記加工布１だけで行つ７ブ感度調整処理動作の
とぎより投光素子１７が受光する量は少なくなる。従っ
て、減衰出力電Ｉｇ、Ｅ　Ｖ　２は最適基準電圧値Ｖｓ
ａより逼かに小さくなることからコンパレータ３６の検
出信号ＳＧ４は１ルベルとなり、このＨレベルに基づい
てＣＰＵ４３は今２枚重なった部分Ｗ１が受光素子２Ｇ
上を通過していることを判断する。

縫製が進み受光素子２６上にポケット布片２の布端が来
た時、Ｊなわら段差部Ｗ２が来た時、投光素子１７の光
は加工布１のみを通って受光素子２６に到達するため、
前記加重に布１だ（プで行った感度調整処理動作のとき
と同じ受光量を受光素子２６が受光Ｊることになる。従
って、減衰出力電圧Ｖ２は最適基準電圧１ｆｉ　Ｖ　ｓ
　ａより大きくなることからコンパレータ３６の検出信
号ＳＧ４はＬレベルとなり、このＬレベルに基づいてＣ
ＰＵ４３は分段差部分Ｗ２が受光素子２６上を通過して
いることを判断する。

このように本実施例において、加工布１を予め受光素子
２６上に置くだけで同加工布１の厚さ及び材質等に応じ
てこの２枚重ね合せて縫い合せる場合の検出器の検出感
度が常に最適な感度に自動的に設定されることになる。

尚、第１図Ａ、Ｂに示づように１枚の加工布１の側縁に
沿って縫い目形成する場合には加工布１を受光素子２６
上に置くことなく直接投光素子１７の光を受光素子２６
に照射ざＬることによって感度調整処理が行われる。そ
して、前記と同様な感度処理動作が行われ、加＝「布１
の側縁に沿って縫い目形成する場合にｄ５４ブる検出器
の最適感度が設定される。

そして、この場合の調整作業が終了し、作業者がこの加
工布１を縫製位置に案内して縫製を開始すると、ＣＰＵ
４３は前記感度調整モードから加工布検知モードに変る
。ＣＰ　ＬＪ　４３は前記ＲＡＭ４５に記憶させた最適
基準電圧値Ｖｓｕ若しくはＶ　Ｓ　ＬＪ及び１〜ランジ
スタＴｒをＡン、オフ状態にしたときにおりる減衰器３
／′Ｉの減衰量のデータを工夫み出す。そして、ＣＰＵ
４３はこのデ′−夕に基づいて基準電圧設定器３７から
最適基準電圧値ＶＳａ若しくはＶｓｕを出力させるため
の制御信号ＳＧ５を出力づるとともに、トランジスタＴ
ｒをＡン若しくはオフさせ、かつ、減衰器３４の減衰器
をこの場合の減衰量となるように制御信号ＳＧ３を出ツ
ノづ−る。

そして、検出器が第１図Ｂに示づ加工布１を検出してい
るときには投光素子１７からの光は加工布１を通って受
光素子２６に到達するため、受光素子２６が直接投光素
子１７がら光を受光して感度調整処理動作を行ったとき
より投光素子１７が受光する司は少なくなる。従って、
減衰出力電圧Ｖ２は最適基準電圧値Ｖｓｕ若しくはＶ　
Ｓ　ＬＪより道かに小さくなることからコンパレータ３
６の検出信号ＳＧ４は］」レベルとなり、この１ルベル
に基づいてＣＰｔＪＩＩ３は今加１布１が受光素子２６
上を通過していることを判断する。

縫製が進み受光素子２６上に加エイｔｊ　１の加工布終
了端が来た時、投光素子１７の光は直接受光素子２６に
到達するため、前記加工布１なしで行った感度調整処理
動作のとぎどＩｉＪじ受光量を受光素子２６が受光する
ことになる。従って、減衰出力電圧Ｖ２は最適基準電圧
値Ｖｓｕ若しくはＶｓｕより大きくなることからコンパ
レータ３６の検出信号ＳＧ４はＬレベルとなり、このＬ
レベルに基づいてＣｌ）　Ｕ　４３は今加１布Ｈ’ｆ　
’Ａ：が受光素子２６上を通過していることを判断づる
。

尚、この発明は前記実施例に限定されるものではなく、
例えば、前記実施例ではステップ８の処理動作で減衰器
３４の減衰量を小ざくした後、ステップ１１の処理動作
で基準電圧設定器３７から出力される基準電圧ＶＳを下
げることにより、感度調整を行ったが、これを第１０図
に示づ−ように基準電圧ＶＳは常に一定状態に保持さし
、ステップ５〜ステツプ８の処理動作で基準電ＩＥｌ−
Ｖ　ｓ　Ｊζり大きくなった滅哀出力電ｆｉＦＶ　２を
次に基準電圧ＶＳより小さくなるまで可変減衰器３４の
減衰量を大きくして最適基準電圧値ｖＳａ若しくはＶＳ
ＬＩ及び減衰量を設定するようにして実施してもよい。

この場合、第９図に示すＣＰＵ４３のステップ１１の処
理動作は第１１図に示すように可変減衰器３４の減衰量
を１設入ぎくするステップ１１の処理動作となる。

発明の効果 以上詳述したように、この発明は受光素子からの出力電
圧を減衰させるための可変減衰器と、基準電圧変更手段
と、その基準電圧変更手段の出力電圧とｎｒＩ記可変減
衰器の出力電圧とを比較し、その比較結果に基づき被検
出物体の検出信号を発生ずる比較器とを備え、且つ、感
度調整にあたり前記基準電圧変更手段の出力電圧を所定
レベルに設定づるための基′Ｑ−電圧設定手段と、前記
可変減衰器によって減衰された出力電圧が前記基＊電圧
設定手段によって設定された出力電圧を越えるまでその
可変減衰器の減衰量を段階的に変更するための第一の変
更手段と、その第一の変更手段の作動に基づき前記可変
減衰器によって減衰された出力電圧が前記基準電圧設定
手段によって設定された出力電圧を越えたことを判定す
るための判定手段と、その判定手段による判定後、前記
可変減衰器によって減衰された出力電圧と前記基準電圧
変更手段からの出ツノ電圧とが前記被検出物体の有無若
しくは厚みの検出に適当なレベルとなるように前記可変
減衰器の減衰吊若しくは基準電圧変更手段の変更用の内
の少なくとも一方を変更するｌ〔めの第二の変更手段と
を設りたことにより、被検出物体の厚さ若しくは材質に
応じてその光の透過量が変動しても検出器の検出感度を
自動的に最適な感度に調整づることができ、その調整作
業の労力を軽減することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図Ａ、Ｂは加工布の一部破断正面図及び側断面図、
第２図Ａ、Ｂは加工布とボタット布片の一部破断正面図
及び側ＶＪｉ面図、第３図はミシンの側面図、第４図は
投光素子と受光素子の取り（ｑけ状７（ｐを示４正面図
、第５図はミシンのベラ１〜部の一部平面図、第６図は
検出器の電気ブロック回路図、第７図はチョッパ信号と
パルス信号の出力波形図、第８図は減衰出力電圧と基準
電圧の関係を示づ図、第９図はＣＰＵの処理動作を示す
フロープレート図、第１０図はこの発明の詳細な説明す
るための減衰出力電圧と基準電圧の関係を示す図、第１
１図は同じ＜ｃｐｕの処理動作を示すフロープレート図
である。 被検出物体としての加工布１、ポケット布片２、ミシン
フレーム１１、アーム部１２、ベット部１３、投光素子
１７、受光素子２６、可変減衰器３１、比較器としての
コンパレータ３６、基準電圧変更手段としての基準電圧
設定器３７、感度調整スイッチ４１、各種の手段として
の中央処理装置（ＣＩ）　Ｌノ　）　４３　。 特許出願人　ブラザー工業株式会社 代　埋　人　弁理士　恩１）博宣 第１図 （Ａ） 第１図 （Ｂ） （１ ）−７−コタニ 第２図 （・Ａ） 第２図 （Ｂ） ２ 第４Ｎ 第８図 時間−〉 時間−−

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、投光素子（１７）と受光素子（２６）とを備え、両
   名間に導入される被検出物体（１）の有無若しくは厚み
   の変化を光の透過量に基づき検出Ｊる検出器において、 前記受光素子（２６）からの出力電圧（Ｖｌ）を減衰さ
   せるための可変減衰器（３４）と、基準電圧変更手段（
   ３７）と、 その基準電圧変更手段（３７）の出力電圧（ＶＳ）と前
   記可変減衰器（３４）の出力電圧（ｙ２）とを比較し、
   その比較結果に基づき被検出物体く１）の検出信号（Ｓ
   Ｇ４）を発生ずる比較器（３６）と、 を備え、且つ 感度調整にあたり前記基準電圧変更手段（３７）の出力
   電圧（Ｖｓ）を所定レベルに設定するための基準電圧設
   定手段（４３ニステツプ３）と、前記可変減衰器（３４
   ）ににつ−Ｃ減衰された出力電圧（Ｖ２）が前記基準電
   圧設定手段（３４）によって設定された出力電圧（Ｖｓ
   ）を越えるまでその可変減衰器（３４）の減衰器を段階
   的に変更するための第一の変更手段（４３；ステップ５
   〜ステツプ８）と、 その第一の変更手段（４３；ステップ５〜ステツプ８）
   の作動に基づき前記可変減衰器（３４）によって減衰さ
   れた出力電圧（Ｖ２）が前記基準電圧設定手段（４３）
   によって設定された出力電圧（ＶＳ）を越えたことを判
   定するための判定手段（４３；ステップ６）と、 その判定手段（４３ニステツプ６）ににる判定後、前記
   可変減衰器（３４）によって減衰されＩζ出力電圧（Ｖ
   ２）と前記基準電ＩＥ変更手段（４３）からの出力電圧
   （Ｖｓ）とが前記被検出物体（１）の有無若しくは厚み
   の検出にｊ内当なレベルとなるように前記可変減衰器（
   ３／Ｉ）の減衰聞苦しくは基準電圧変更手段（３７）の
   変更量の内の少なくとも一方を変更するだめの第二の変
   更手段（４３：ステップ１１〜ステツプ１６）と を段りたことを特徴とする自動感度調整装置。