JPS6086448A - 測光装置 - Google Patents
測光装置Info
- Publication number
- JPS6086448A JPS6086448A JP58194417A JP19441783A JPS6086448A JP S6086448 A JPS6086448 A JP S6086448A JP 58194417 A JP58194417 A JP 58194417A JP 19441783 A JP19441783 A JP 19441783A JP S6086448 A JPS6086448 A JP S6086448A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light source
- measurement
- chopper
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
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- Pathology (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、レンズなどの物体に光を照射し。
その透過率あるいは反射率などを測定する測光装置の改
良に関するものである。
良に関するものである。
従来のこの種の装置の一例を第１図に示す。
第１図は物体の透過率を測定する測光装置である。１は
光源、２は光源１から発せられる光を周期的に通過、遮
光の状態にするチョッパー。
光源、２は光源１から発せられる光を周期的に通過、遮
光の状態にするチョッパー。
３はハーフミラ−１４，５は固定ミラー、６は可動ミラ
ーで、矢印方向に移動可能であり１通常は点線の位置（
第１図）にある。７は被検物（後述）を透過する前の測
定光、８は測定光路に入った状態の被検物（透過率を測
定したい物体）、８′は測定光路からはずれた状態の被
検物。
ーで、矢印方向に移動可能であり１通常は点線の位置（
第１図）にある。７は被検物（後述）を透過する前の測
定光、８は測定光路に入った状態の被検物（透過率を測
定したい物体）、８′は測定光路からはずれた状態の被
検物。
９は被写物８を透過した測定光、１０はハーフミラ−３
及び固定ミラー４．５で反射された監視光で、光源１か
ら発せられる光量の変動を調べるために用いられる。１
１は被検物８の移動方向、１２は測定光９（測定光７）
又は監視光１０を受光し、電気信号に変換する受光器、
Ｖ＋は受光器１２より出力される電気信号、１３は電
気信号■、に含まれる外乱光による雑音を除くための同
調増幅器、■は同調増幅器１４により雑音が除かれた後
の電気信号、１４は電気信号ぬを入力することにより、
被検物８の透過率を演算する演算処理回路である。
及び固定ミラー４．５で反射された監視光で、光源１か
ら発せられる光量の変動を調べるために用いられる。１
１は被検物８の移動方向、１２は測定光９（測定光７）
又は監視光１０を受光し、電気信号に変換する受光器、
Ｖ＋は受光器１２より出力される電気信号、１３は電
気信号■、に含まれる外乱光による雑音を除くための同
調増幅器、■は同調増幅器１４により雑音が除かれた後
の電気信号、１４は電気信号ぬを入力することにより、
被検物８の透過率を演算する演算処理回路である。
次に動作について説明する。先ず、被検物８を点線の位
置（被検物８′）まで移動、即ち、被検物８を測定光路
よりはずす。この状態で、チョッパー２が光源１からの
光を通過させる位置になった時に、測定光７を測定、即
ち、測定光７の光量は受光器１２にて電気信号■、に変
換され、同調増幅器１３を介して雑音が除去された電気
信号Ｖ２＆として演算処理回路１４で記憶される。次に
可動ミラー６を第１図実線の位置まで不図示の機構にて
移動し、監視光１０を測定。
置（被検物８′）まで移動、即ち、被検物８を測定光路
よりはずす。この状態で、チョッパー２が光源１からの
光を通過させる位置になった時に、測定光７を測定、即
ち、測定光７の光量は受光器１２にて電気信号■、に変
換され、同調増幅器１３を介して雑音が除去された電気
信号Ｖ２＆として演算処理回路１４で記憶される。次に
可動ミラー６を第１図実線の位置まで不図示の機構にて
移動し、監視光１０を測定。
即ち、監視光１０の光量は受光器１２にて電気信号■ｂ
に変換され、同調増幅器１３を介して外乱光による雑音
が除去された電気信号■ｂとして演算処理回路１４で記
憶される。
に変換され、同調増幅器１３を介して外乱光による雑音
が除去された電気信号■ｂとして演算処理回路１４で記
憶される。
今度は、被検物８を測定光路に入れ、前述と同様の動作
、即ち、チョッパー２が光源１からの光を通過させる状
態に位置した時の測定光９の光量と監視光１０の光量よ
り得られる電気信号Ｖ！８．電気信号Ｖｇａが演算処理
回路１６で記憶される。
、即ち、チョッパー２が光源１からの光を通過させる状
態に位置した時の測定光９の光量と監視光１０の光量よ
り得られる電気信号Ｖ！８．電気信号Ｖｇａが演算処理
回路１６で記憶される。
以上の動作が終了すると、演算処理回路１４は記憶した
電気信号鳩、〜Ｖｇａの演算、即ち、次式の様な演算を
行い、被検物８の透過率Ｔｔをめる。
電気信号鳩、〜Ｖｇａの演算、即ち、次式の様な演算を
行い、被検物８の透過率Ｔｔをめる。
なお、外乱光（迷光）の除去は、チョッパー２及びその
断続周波数と位相に同調する同調増幅器１３によって行
われる。
断続周波数と位相に同調する同調増幅器１３によって行
われる。
ところで、上述のような装置においては、外乱光による
測定精度の低下を防ぐために、同調増幅器１３が設けら
れているが、これは高価であるので、コストダウンの支
障となっていた。
測定精度の低下を防ぐために、同調増幅器１３が設けら
れているが、これは高価であるので、コストダウンの支
障となっていた。
本発明の目的は、上述した問題点を解決し。
コストダウンを計りつつ、外乱光による測定精度の低下
を防ぐことができる測光装置を提供することである。
を防ぐことができる測光装置を提供することである。
この目的を達成するために１本発明は、光源から物体へ
の光を通過状態と遮断状態とに切り換える光切換手段と
、光切換手段による通過状態及び遮断状態でのそれぞれ
の受光手段の出力から雑音除去演算を行う演算手段とを
設け、以て、光の遮断状態での受光手段の出力により外
乱光を検出し、これを光の通過状態での受光手段の出力
から減算するようにしたことを特徴とする。
の光を通過状態と遮断状態とに切り換える光切換手段と
、光切換手段による通過状態及び遮断状態でのそれぞれ
の受光手段の出力から雑音除去演算を行う演算手段とを
設け、以て、光の遮断状態での受光手段の出力により外
乱光を検出し、これを光の通過状態での受光手段の出力
から減算するようにしたことを特徴とする。
以下１本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
。
。
第２図は本発明の一実施例を示す測光装置である。第１
図と同じ部分は同一符号にて表す。
図と同じ部分は同一符号にて表す。
１５はチョッパー、１６は監視光１０を受光する受光器
、ｖｓｅｖａはそれぞれ受光器１２．１６で光電変換さ
れた電気信号、１７は電気信号Ｖ３ 。
、ｖｓｅｖａはそれぞれ受光器１２．１６で光電変換さ
れた電気信号、１７は電気信号Ｖ３ 。
ｖ４により被検物８の透過率をめる演算処理回路である
。なお、演算処理回路１７には、チョッパー１５が光源
１からの光を通過させているか又は遮光しているかの情
報が入力（点線にて示す矢印）しており、該演算処理回
路１７は外乱光と光源１からの光とを区別することがで
きる。被検物８の透過率Ｔｔをめるには、先ず。
。なお、演算処理回路１７には、チョッパー１５が光源
１からの光を通過させているか又は遮光しているかの情
報が入力（点線にて示す矢印）しており、該演算処理回
路１７は外乱光と光源１からの光とを区別することがで
きる。被検物８の透過率Ｔｔをめるには、先ず。
被検物８を測定光路からはずす。この状態において、
（１）チョッパー１５が光源１からの光を通過させる位
置になった時に、測定光７及び監視光１０の光量を測定
する。なお、この状態を第３図（ａｌに示す。この時、
受光器１２．１６より得られる電気信号Ｖｓｍ 、７４
ｍは演算処理回路１７で記憶される。
置になった時に、測定光７及び監視光１０の光量を測定
する。なお、この状態を第３図（ａｌに示す。この時、
受光器１２．１６より得られる電気信号Ｖｓｍ 、７４
ｍは演算処理回路１７で記憶される。
（２）チョッパー１５が光源１からの光を遮断する位置
になった時に、測定光７（外乱光）及び監視光１０（外
乱光）の光量を測定する。
になった時に、測定光７（外乱光）及び監視光１０（外
乱光）の光量を測定する。
なお、この状態を第３図（ｂｌに示す。この時。
受光器１２．１６より得られる電気信号Ｓｂ。
Ｖ４ｂは演算処理回路１７で記憶される。
次に、被検物８を測定光路に入れる。この状態において
。
。
（３） チョッパー１５が光源ｌからの光を通過させる
位置になった時に、測定光９及び監視光１０の光量を測
定する。なお、この状態を第３図（Ｃ１に示す。この時
、受光器１２．１６より得られる電気信号Ｖｓｅ、 Ｖ
４゜は演算処理回路１） ７で記憶される。
位置になった時に、測定光９及び監視光１０の光量を測
定する。なお、この状態を第３図（Ｃ１に示す。この時
、受光器１２．１６より得られる電気信号Ｖｓｅ、 Ｖ
４゜は演算処理回路１） ７で記憶される。
（４）チョッパー１５が光源１からの光を遮断する位置
になった時に、測定光ｉ（外乱光）及び監視光１０（外
乱光）の光量を測定する。
になった時に、測定光ｉ（外乱光）及び監視光１０（外
乱光）の光量を測定する。
なお、この状態を第３図（ｄｌに示す。この時。
受光器１２．１６より得られる電気信号Ｖｓｄ。
Ｖ４ｄは演算回路１７で記憶される。
以上の動作が終了すると、演算処理回路１７は記憶した
電気信号′ｖ８１〜Ｖｓｄ、 ｖ４ａ〜■４ｄの演算、
即ち１次式の様な演算を行い、被検物８の透過率Ｔｔを
める。
電気信号′ｖ８１〜Ｖｓｄ、 ｖ４ａ〜■４ｄの演算、
即ち１次式の様な演算を行い、被検物８の透過率Ｔｔを
める。
Ｖｓｅ Ｖｇｄ
Ｖ４ａ Ｖａｂ
このような動作を行うことにより、光源１の変動を受光
器１６を介して演算処理回路エフによって、受光器１２
より得られる電気信号Ｖｌｌａ〜Ｖ８ｄを記憶するのと
同時に調べることにより、この変動による測定精度の低
下を防ぐことができる。また、光源１からの光がチョッ
パー１５で遮光された時の電気信号Ｖｓｂ ＊ Ｖｉｄ
、 Ｖａｂ 、 Ｖｉａを記憶させることにより、外乱
光による測定精度の低下を防ぐことができる。更に、上
式による演算を、１回行うのではなく、ｎ回の測定、演
算処理を行うようにすれば、電気信号のＳ／Ｎ比を６−
倍に向上させることができ、これによって測定精度を向
上させることができる。
器１６を介して演算処理回路エフによって、受光器１２
より得られる電気信号Ｖｌｌａ〜Ｖ８ｄを記憶するのと
同時に調べることにより、この変動による測定精度の低
下を防ぐことができる。また、光源１からの光がチョッ
パー１５で遮光された時の電気信号Ｖｓｂ ＊ Ｖｉｄ
、 Ｖａｂ 、 Ｖｉａを記憶させることにより、外乱
光による測定精度の低下を防ぐことができる。更に、上
式による演算を、１回行うのではなく、ｎ回の測定、演
算処理を行うようにすれば、電気信号のＳ／Ｎ比を６−
倍に向上させることができ、これによって測定精度を向
上させることができる。
また、本実施例では、監視光１０を受光する受光器１６
を備えているため、可動ミラー及び該可動ミラーを移動
させるための複雑な機構を省くことができると共に該装
置の使いやすさが向上する。
を備えているため、可動ミラー及び該可動ミラーを移動
させるための複雑な機構を省くことができると共に該装
置の使いやすさが向上する。
本実施例において、チョッパー１５が本発明の光切換手
段に相当し、演算処理回路１７が演算手段に相当する。
段に相当し、演算処理回路１７が演算手段に相当する。
第２図実施例では、物体の透過率を測定する装置を例に
とって説明したが、これに限らず。
とって説明したが、これに限らず。
物体の反射率、物体のヘイズ率、光学レンズの像面照度
比、フレア率など、光源の輝度の変動が直接測定精度に
影響を及ぼすような測光装置全般にわたって１本発明を
応用することができる。また１本実施例では、光源１の
変動の割合を演算処理によって補正するような構成とし
ていたが、逆に、光源１の変動を他の手段によりて押さ
えるようにすれば、より一層測定精度の向上が期待でき
る。例えば、光源の変動を押える方法としては次のよう
なことが考えられる。
比、フレア率など、光源の輝度の変動が直接測定精度に
影響を及ぼすような測光装置全般にわたって１本発明を
応用することができる。また１本実施例では、光源１の
変動の割合を演算処理によって補正するような構成とし
ていたが、逆に、光源１の変動を他の手段によりて押さ
えるようにすれば、より一層測定精度の向上が期待でき
る。例えば、光源の変動を押える方法としては次のよう
なことが考えられる。
（１）第２図の監視光１０より得られる電気信号をフィ
ードバックし、光源の電圧を補正する。
ードバックし、光源の電圧を補正する。
（２） （１）と同様にフィードバックし、光源の位置
を補正する（光源を遠ざけると、受光器１２゜１零にお
ける照度が低下するような光源の場合）。
を補正する（光源を遠ざけると、受光器１２゜１零にお
ける照度が低下するような光源の場合）。
（３）光源の前面にＮＤフィルタを設置し、（１）と同
様にフィードバックし、その値に応じてＮＤフィルタの
濃度を変化させる。
様にフィードバックし、その値に応じてＮＤフィルタの
濃度を変化させる。
（４） 回転軸から距離によって透過光量が変化するチ
ョッパーを備え、（１）と同様にフィードバックし、そ
の値に応じて回転軸を移動させる。
ョッパーを備え、（１）と同様にフィードバックし、そ
の値に応じて回転軸を移動させる。
（５） （１）と同様にフィードバックし、受光器１２
の感度を変化（フォトマルチプライアのような感度を変
化させることができる受光器を想定している）させる。
の感度を変化（フォトマルチプライアのような感度を変
化させることができる受光器を想定している）させる。
なお、上述したフィードバックの方法としては、受光器
１６より得られる電気信号をそのままフィードバックさ
せても良いし、演算処理回路１７（例えば、コンビーー
タ）で行うこともできる。
１６より得られる電気信号をそのままフィードバックさ
せても良いし、演算処理回路１７（例えば、コンビーー
タ）で行うこともできる。
以上説明したように１本発明によれば、光源から物体へ
の光を通過状態と遮光状態とに切り換える光切換手段と
、光切換手段による通過状態及び遮光状態でのそれぞれ
の受光手段の出力から雑音除去演算を行う演算手段とを
設け、以て、光の遮光状態での受光手段の出力により外
乱光を検出し、これを光の通過状態での受光手段の出力
から減算するようにしたから、コストダウンを計りつつ
、外乱光による測定精度の低下を防ぐことができる。
の光を通過状態と遮光状態とに切り換える光切換手段と
、光切換手段による通過状態及び遮光状態でのそれぞれ
の受光手段の出力から雑音除去演算を行う演算手段とを
設け、以て、光の遮光状態での受光手段の出力により外
乱光を検出し、これを光の通過状態での受光手段の出力
から減算するようにしたから、コストダウンを計りつつ
、外乱光による測定精度の低下を防ぐことができる。
第１図は従来の測光装置の一例を示す図、第２図は本発
明の一実施例である測光装置を示す図、第３図（ａｌ〜
（ｄｌは測定の順序を説明する図である。 １・・・光源５ ７・・・測定光、 ８・・・被検物。 ９・・・測定光、 １０・・・監視光、 １２・・・受
光器、１５・・・チョッパー、１６・・・受光器、ｖ８
．〜Ｖｓｄ＋Ｖ４ａ〜■４ｄ・・・電気信号、１７・・
・演算処理回路、Ｔｔ・・・透過率。 特許出願人 キャノン株式会社 代理人 中 村 稔 第１図 第 １− Ｊ
明の一実施例である測光装置を示す図、第３図（ａｌ〜
（ｄｌは測定の順序を説明する図である。 １・・・光源５ ７・・・測定光、 ８・・・被検物。 ９・・・測定光、 １０・・・監視光、 １２・・・受
光器、１５・・・チョッパー、１６・・・受光器、ｖ８
．〜Ｖｓｄ＋Ｖ４ａ〜■４ｄ・・・電気信号、１７・・
・演算処理回路、Ｔｔ・・・透過率。 特許出願人 キャノン株式会社 代理人 中 村 稔 第１図 第 １− Ｊ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 物体を照射する光源と、物体からの透過光又は反
射光を受光する受光手段とを備えた測光装置において、
光源から物体への光を通過状態と遮断状態とに切り換え
る光切換手段と。 光切換手段による通過状態及び遮断状態でのそれぞれの
受光手段の出力から雑音除去演算を行う演算手段とを設
けたことを特徴とする測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58194417A JPS6086448A (ja) | 1983-10-19 | 1983-10-19 | 測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58194417A JPS6086448A (ja) | 1983-10-19 | 1983-10-19 | 測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6086448A true JPS6086448A (ja) | 1985-05-16 |
Family
ID=16324251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58194417A Pending JPS6086448A (ja) | 1983-10-19 | 1983-10-19 | 測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6086448A (ja) |
-
1983
- 1983-10-19 JP JP58194417A patent/JPS6086448A/ja active Pending
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