JPS6094768A - 光半導体装置 - Google Patents

光半導体装置

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Publication number
JPS6094768A
JPS6094768A JP58202208A JP20220883A JPS6094768A JP S6094768 A JPS6094768 A JP S6094768A JP 58202208 A JP58202208 A JP 58202208A JP 20220883 A JP20220883 A JP 20220883A JP S6094768 A JPS6094768 A JP S6094768A
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JP
Japan
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layer
light
emitter layer
receiving part
resistance
Prior art date
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Pending
Application number
JP58202208A
Other languages
English (en)
Inventor
Mutsuhiro Mori
睦宏 森
Nobutake Konishi
信武 小西
Takeshi Yokota
横田 武司
Masahiro Okamura
岡村 昌弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58202208A priority Critical patent/JPS6094768A/ja
Publication of JPS6094768A publication Critical patent/JPS6094768A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F30/00Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors
    • H10F30/20Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices having potential barriers, e.g. phototransistors
    • H10F30/21Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices having potential barriers, e.g. phototransistors the devices being sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • H10F30/26Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices having potential barriers, e.g. phototransistors the devices being sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation the devices having three or more potential barriers, e.g. photothyristors
    • H10F30/263Photothyristors

Landscapes

  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Thyristors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、エミッタ短絡型の光半導体装置に係シ、特に
光半導体装置の光感度を向上させる構造に関するもので
ある。
〔発明の背景〕
第1図は、エミッタ短絡型の光半導体装置のひとつであ
る従来の光サイリスタの断面構造を示している。図にお
いて、半導体基体1は積層状になっておシ、例えば、1
3はn型導電性の第1エミッタ層であシ、その上に順次
n型導電性の第1ペース層12.n型導電性の第2ベー
ス層11.n型導電性の第2エミッタ層1oが積層状に
形成され、各層間にpn接合JI−Jsができている。
第1エミッタ層13の裏面にはアノード電極21が低抵
抗接触している。一方、表面側では、第2エミッタ層1
0と第2ペース層11とが露出1〜、その上にカソード
電極200が低抵抗接触している。従って、pn接合J
3は短絡されている。更に、第2ベース層11内には、
第2エミッタ層10から離れ、表面に露出する第2エミ
ッタ層10と同じ導電型の受光エミツタ層10aが形成
され、この受光部エミツタ層10aと第2ベース層11
との間のpn接合J4の露出部が受光部電極201で短
絡されている。
この光サイリスタは、例えば光ファイバ30からの光3
1でまず点弧する受光部サアリスタとしての第1の4層
領域Tl1l とこの受光部サイリスタの電流で点弧す
る主サイリスタとしての第2の4層領域Th2とからな
る。第1の4層領域と第2の4層領域の間に補助サイリ
スタとしての第3の4層領域を形成し、第1の4層領域
で発生する電流を増幅して主サイリスタに供給すること
も可能である。
とのような構造を採るのは、大電流を制御する場合、初
期点弧領域である光照射領域に大電流が集中することを
防ぎ、小電流のうちに導通面積を補助サイリスタ、更に
主サイリスタへと広げ、ジ2 ニール熱による素子破壊
を防ぐためである3、こうすると、主サイリスタよシも
補助サイリスタ、それよりも受光部サイリスタの点弧感
度を高くてき\受光部サイリスタの高感度化を図ること
ができる。
光による点弧現象に関する発明者等の研究の結果、第1
図の受光部エミッタ層10afc通して光が照射される
受光部サイリスタをもつ光サイリスタでは、光によって
第1エミツタ層13.第1ベース層12.第2ベース層
11に発生し主サイリスタのカソード電極200へ流れ
るi!流iI、のほかに、受光部サイリスクの第2ベー
ス層11と受光部エミツタ層10aのpn接合J4によ
る太陽電池効果で受光部電極201を通って流れる電流
1pがあることが発見された。これらの電流の和i b
 十ipと第2ベース層11の横方向の抵抗Rmとによ
り、光照射領域下の受光部エミツタ層ioaと第2ベー
ス層11とのJ4接合に11#1方向ノ’I[圧(I 
b + t p ) X Rnが加わる。この電圧がJ
4接合のしきい値電圧よシ大きくAると、受光部エミツ
タ層10aから多量の電子が注入されることから、アノ
ード・カソード電極間に印加された電圧を阻止していた
J2接合の空乏層が第1の4層領域において消滅し、受
光部サイリスタは点弧する。この受光部サイリスタが点
弧するときの最小の光照射量を最小点弧光入力PGTと
呼ぶことにする。
最小点弧光入力PGTは、第1図のような構造で4kV
程度の阻止電圧をもつ光サイリスタでは、5mW程度で
あシ、ターンオン時間を短くするには、更にPGTの5
倍以上の光量が必要である。しかし、現状では、発光素
子と光ファイバの光結合効率が数チと低いため、光ファ
イバからの光出力は小さく、そのような大きな光量を、
発光素子によシ安定的に供給するのは困難で、P(IT
を小さくすることが望ましい。最小点弧光入力Potを
小さくするには、抵抗RBを大きくし、小さな1b−4
−tpの電流でJn4接合がしきい値電圧に達するよう
にすればよい。
ここで、第1図に示すような光サイリスタのアノード電
極21に正、カソード電極200に負の急峻な立ち上シ
の電圧を加えると、tT2接合にibと同じような変位
電流が流れる。この変位電流と抵抗Rmとにより、第2
ベース層11と第2エミッタ層10との間の53接合及
び第2ペース層と受光部エミツタ層10との間のJ4接
合が順バイアスされ、光照射しなくても、光サイリスタ
が誤点弧してしまう。誤点弧しない電圧上昇率の限界値
をd v / d を耐1.という。先に述べた抵抗′
fLIIを大きくすることは、dv/di耐計を低下さ
せるので好ましくない。
以上の事柄をまとめると、最小点弧光入力PG?を小さ
くするために抵抗R1を大きくした場合に、d v /
 d を耐量が逆に低下してしまう欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、dv/dtillIttの低下を来さ
ずに、光入力に対して高感度の光半導体装置を提供する
ことである。
〔発明の概要〕
本発明は、太陽電池効果により発生する起電力を効率よ
く引き出すために第2ベース層11と受光部エミツタ層
10aとの間に抵抗分を介在させて光感度を高める一方
、d v / d を耐量に対しては、この抵抗分が影
響を及ぼさないようにして、最小点弧光入力POTとd
v/dt耐量を独立に設定できるようにしたものである
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を第2図〜第6図により説明する
第2図は、本発明の光半導体装置のひとつの実施例を示
しており、第1図の従来例と同一符号を付した部分は同
一機能を果す。この第1実施例の特徴は、第1の4層領
域のp型溝電性の第2ベース層11とn型導電性の受光
部エミツタ層10aとの間に外付は抵抗Rを介在させて
いる点にある。
従って、従来例の受光部電極201ば、この実施例では
、第1の電極202と第2の電極203とに分割されて
いる。
抵抗層を介在させたことにより、第2ベース層11と受
光部エミツタ層10aとの間に順方向の電圧降下を生じ
させる成分として、(1b−1−1p )xn、nのほ
かに、t、XRが加わるために、J4接合をしきい値電
圧に高め易く、光感度が向上する。
抵抗Rを付加したことのdv/dt耐−畦に与える影響
を考慮してみると、アノード電極21とカソード電極2
00間に負の急峻な立ち上りの電圧を加えた場合は、電
流I、の影響はなく、ibのような電流のみが流れるた
めに、第2ベース層11と受光部エミツタ層10aとの
間に順方向の電圧降下を生じさせる抵抗分としては、T
L*のみが関与する。従って、抵抗Rを介在させること
によ、9、dv/dt耐量が低下することは危い。
第3図は、抵抗Rを変えたときの最小点弧光入力POT
の変化を示す図である。A点から抵抗層を大きくするに
つれてP(ITが低下し、すなわち光感度が向上する。
更に抵抗Rを大きくすると、最小点弧光入力はB点で極
小値に達し、その後は急速に光感度が悪化する。との光
感度の低下は、光サイリスタの点弧直前から始まる受光
部エミツタ層10aから第2ベース層11への電子注入
により、受光部エミッタ層10a、抵抗R9第1の電極
へと流れる電流が生じ、この電流が抵抗Rを電流量、と
は逆方向に流れるため、第2ベース層11と第2エミッ
タ層10との間に逆方向の電圧降下を生じることと、抵
抗Rにより電子注入の電流が抑制されることに起因する
次に抵抗層の好ましい値について述べる。第4図は、受
光部サイリスクの第2ベース層11と受光部エミツタ層
10aとの間の太陽電池効果によって生ずるこれら層間
の電圧V1mと電流i、の関係を示す図である。発明者
らの研究の結果、第3図のA、B、C各点に対応する抵
抗値を重ねて表示してみると、Potが極小値を示すB
点の抵抗は、第4図において、太陽電池の起電力(i、
XVnP+)を最も効率よく引き出す抵抗であることが
わかった。つまシ、第2ベース層11の横方向の抵抗R
++と抵抗Rとの和を、太陽電池の起電力を効率よく引
き出す値に調整することで、光感度を最大にできること
が発見された。なお、A点ではVB z0S が小さく、第2べ・−ス層11と受光部エミツタ層10
との間に順方向の電圧降下を生じさせる効果が少ない。
一方、0点では、Ipが小さいために、1、とは逆方向
の電子注入による電流で抵抗Rを流れるみかけの1.の
電流が更に小さくなシ、抵抗Rによる順方向の電圧降下
が小さくなる。以上の理由からA点およびC点付近では
光感度が低下する。
この実施例によれば、最小点弧光入力PaTが極小値と
なるB点では、抵抗層を付加しない時に比較して、光感
度を約30%向上できることが、実験で確認できた。
第5図は、本発明の他の実施例を示すもので、抵抗Rを
光サイリスタ内に形成した点に特徴がある。抵抗層50
0は、例えば抵抗率の制御が比較的容易な多結晶シリコ
ンによ多形成され、wcl及び第2の電極202と20
3によシ、第2ベース層11と受光部エミツタ層10B
とにそれぞれ低抵抗で接触している。400は、第2ベ
ース層11と受光部エミツタ層10gとの短絡を防ぐた
(10) めのs s 02などの絶縁層である。
このように抵抗Rも集積化すれば、外付は抵抗が不要と
なるので、スペースの節約となり、取扱いも容易である
第6図は、本発明のもうひとつの実施例を示している。
この実施例では、第2図の抵抗Rと等価的な抵抗Rzを
受光部エミツタ層内に設けたことを特徴とする。n型導
電性の受光部エミツタ層10aは、電子の注入効率を良
くするために、一般に高濃度のキャリアを含んでおり、
抵抗率が小さくなっている。そこで、この受光部エミツ
タ層内に抵抗Rと等価な抵抗Rzを設けるには、第6図
示の如く、受光部エミツタ層の一部をエツチングしてキ
ャリア数が少なく抵抗の大きな領域を形成すればよい。
本実施例では、第5図に示すような抵抗層500を形成
する必要がなく、製造が容易になる利点がある。
なお、dv/dt耐量についての要求がそれほど厳しく
kい光サイリスタでは、上記抵抗層RIIを調整しても
よいことはいうまでもない。
(11) 〔発明の効果〕 本発明によれば、太陽電池効果により発生する起電力を
効率よく引き出すために第2ペース層と受光部エミツタ
層との間に抵抗層を設けて光感度を高めることができ、
しかもこの抵抗層がd v/d i耐量に対して何らの
悪影響を及ぼさないので、光感度が高くしかもd v/
d i耐重も高い光半導体装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の光サイリスタの概略断面図、第2図は本
発明の第1実施例の概略断面図、第3図は抵抗と最小点
弧光入力の関係を示す特性図、第4図はベースとエミッ
タ間の市、圧と電流との関係を示す特性図、第5図は本
発明の第2実施例の概略断面図、第6図は本発明の第3
実施例の概略断面図である。 1・・・光半導体装置(光サイリスタ)、lo・・・n
型導電性第2エミッタM、10 a・・・受光部エミツ
タ層、11・・・p型導電性第2ベース層、12・・・
n型導電性第1ベース層・ 13・・・p型導電性第1
エミ(12) ツタ層、21・・・アノード電極、30・・・光ファイ
バ、31・・・光、200・・・カソード電極、201
・・・受光部電極、202,203・・・第1.第2の
電極、400・・・絶縁層、500・・・抵抗層、R,
RI・・・抵抗。 代理人 弁理士 鵜沼辰之 (13) 帛 l 目 茅3 目 ヘース・エミンタ向めfi−”b %ニア九尺第 5 
日 第 6 日 3020! 3’ 10(L ;″ J3/l = 丁L? T/12−一−−−トーー丁り、、rh、21 丁 11 Jl ” \13

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、導電型が交互に異なる第1エミツタ層、第1ペース
    層、第2ベース層、第2エミッタ層の積層からなる主サ
    イリスタ領域と、第1エミッタ層。 第1ペース層、第2ベース層及び受光部エミツタ層の積
    層からなる受光部サイリスタ領域とが並設された半導体
    基体と、第1エミッタ層にオーミックコンタクトした第
    1の主電極と、第2エミッタ層にオーミックコンタクト
    した第2の主電極と、受光部エミツタ層表面に光l・リ
    ガー信号を付与する手段と、受光部エミツタ層と第2ペ
    ース層との間に、光トリガ信号を付与したときに第2ペ
    ース層と受光部エミツタ層との間に発生する光起電力を
    最大にする抵抗値を有する抵抗分と、を形成したことを
    特徴とする光半導体装Iff。 2、特許請求の範囲第1項において、抵抗分が前記短絡
    部に介在させた外付は抵抗であることを特徴とする光半
    導体装置。 3、特許請求の範囲第1項において、抵抗分を前記半導
    体基体内の第1領域自体に形成したことを特徴とする光
    半導体装置。
JP58202208A 1983-10-28 1983-10-28 光半導体装置 Pending JPS6094768A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH041916A (ja) * 1990-03-12 1992-01-07 Toshiba Corp 半導体装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH041916A (ja) * 1990-03-12 1992-01-07 Toshiba Corp 半導体装置

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