JPS6096088A - 軸対称物体の欠陥検査装置 - Google Patents
軸対称物体の欠陥検査装置Info
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- JPS6096088A JPS6096088A JP20391183A JP20391183A JPS6096088A JP S6096088 A JPS6096088 A JP S6096088A JP 20391183 A JP20391183 A JP 20391183A JP 20391183 A JP20391183 A JP 20391183A JP S6096088 A JPS6096088 A JP S6096088A
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- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 22
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- FBOUIAKEJMZPQG-AWNIVKPZSA-N (1E)-1-(2,4-dichlorophenyl)-4,4-dimethyl-2-(1,2,4-triazol-1-yl)pent-1-en-3-ol Chemical compound C1=NC=NN1/C(C(O)C(C)(C)C)=C/C1=CC=C(Cl)C=C1Cl FBOUIAKEJMZPQG-AWNIVKPZSA-N 0.000 description 1
- 108010091769 Shiga Toxin 1 Proteins 0.000 description 1
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、ＴＶカメラによって被検査物体全撮影し、こ
のＴＶｉメラの画像信号を処理して上記被検査物体の欠
陥の有無を検査するようにした欠陥検査装置であって、
特に被検査物体として軸対称物体の欠陥の有無を検査す
るようにしだ軸対称物体の欠陥検査装置ＮＫ関するもの
である。
のＴＶｉメラの画像信号を処理して上記被検査物体の欠
陥の有無を検査するようにした欠陥検査装置であって、
特に被検査物体として軸対称物体の欠陥の有無を検査す
るようにしだ軸対称物体の欠陥検査装置ＮＫ関するもの
である。
従来、ＴＶカメラを使用し、種々の形状の製品の欠陥の
有無全検査する方法としてパターンマツチンタ法がある
。この男声はあらか。しめ良品のパターン全記憶してお
き、゛欠陥検査の対象となる製品ヲ映した画像と１画素
ずつ比較していく方法であるが、実際には参照パターン
と対象パターンとの位１侍が異なる為、どちらかのｒＩ
ＩＩ像の位置を変えながら細度も繰返す必要があり、処
理時間が長くなるという欠点があった他２画曲分のフレ
ームメ℃りを備える必要があり、コストも高くつくこと
から、実用的には２値画像１での処理が限界であった。
有無全検査する方法としてパターンマツチンタ法がある
。この男声はあらか。しめ良品のパターン全記憶してお
き、゛欠陥検査の対象となる製品ヲ映した画像と１画素
ずつ比較していく方法であるが、実際には参照パターン
と対象パターンとの位１侍が異なる為、どちらかのｒＩ
ＩＩ像の位置を変えながら細度も繰返す必要があり、処
理時間が長くなるという欠点があった他２画曲分のフレ
ームメ℃りを備える必要があり、コストも高くつくこと
から、実用的には２値画像１での処理が限界であった。
ま友欠陥＠食の対象物を軸対称あものと限定し □た場
合、その対称軸を中心に比較することにより、参照２〜
ターンを備える必偵がなくなるが、対象パターン全記憶
しておいて、ソフトウェアにより対称軸の両側の対称ア
ドレスを逐次計算し比較することになる為、やはり処理
に時間ヲ駿するという問題があった。
合、その対称軸を中心に比較することにより、参照２〜
ターンを備える必偵がなくなるが、対象パターン全記憶
しておいて、ソフトウェアにより対称軸の両側の対称ア
ドレスを逐次計算し比較することになる為、やはり処理
に時間ヲ駿するという問題があった。
零発り−１は、軸対称物体の欠陥を簡単な構成で高速に
検出することができるようにした軸対称物体の欠陥検査
装置全提供すること全目的とするものである。゛ 〔発明の開示〕 （実施例１） 第１図に軸対称物体をＴＶカメラで撮影した際のモニタ
ー画像を示す。同図中クロス斜線部は背景で十分レベル
は低い（暗い）−のとする。対称＠は一点鎖線＋示すよ
うに画面中央付近にあり、−被検査物体である軸対称物
体は同図中の斜線部分及び白地部で示すような形状を有
して水平方向に対称であるとし、そ゛の回転ずれは無視
し得る程度に小さいものとする０第２図に゛本発明の第
１の実施例の構成を示す。この回路は「ビデオ入力」と
して得られるＴＶカメラ出力の画像信号の２回のフレー
ム走査によす前作する。筐ず１回目の走査時では画像信
号はアナＯり比較器［１１により第３図のように２値化
される。このとき背景は十分暗いので対象物の全体が白
％ Ｉ １１背景が黒１０Ｉになる電圧レベルにスライ
スレベルＫｌ定しておく。
検出することができるようにした軸対称物体の欠陥検査
装置全提供すること全目的とするものである。゛ 〔発明の開示〕 （実施例１） 第１図に軸対称物体をＴＶカメラで撮影した際のモニタ
ー画像を示す。同図中クロス斜線部は背景で十分レベル
は低い（暗い）−のとする。対称＠は一点鎖線＋示すよ
うに画面中央付近にあり、−被検査物体である軸対称物
体は同図中の斜線部分及び白地部で示すような形状を有
して水平方向に対称であるとし、そ゛の回転ずれは無視
し得る程度に小さいものとする０第２図に゛本発明の第
１の実施例の構成を示す。この回路は「ビデオ入力」と
して得られるＴＶカメラ出力の画像信号の２回のフレー
ム走査によす前作する。筐ず１回目の走査時では画像信
号はアナＯり比較器［１１により第３図のように２値化
される。このとき背景は十分暗いので対象物の全体が白
％ Ｉ １１背景が黒１０Ｉになる電圧レベルにスライ
スレベルＫｌ定しておく。
り１′ニンジコントロ一ル部（２）は、１水平期間に１
０′から′ １ ′への変化点のアドレス取と、１１′
から１０＃への変化点のアドレスＸＢとを検出しその中
点（ＸＡ十ＸＢ） ’ｔ：対称軸のアドレスＸｃとして
めるためのｒｌｉｉ＋素カウンタと加箕柩割算器とを倫
えて棉戚、されている。次に上記画体１８号の２回目の
走査では、画像信号はＡ／Ｄ変換器（３）でＡ／Ｄ変換
され、Ｆ Ｉ ＦＯ／Ｌ Ｉ ＦＯ１４１に入力される
。ＰＩ Ｆ’Ｏ／Ｌ Ｉ ＦＯ１４１は２つのモートを
持っており、ＦＩＦＯｔ−ドのときは先に入ったデータ
か先に出てくる為、複数本のシフトレジスタと同等の作
用をする。またＬ Ｉ ＦＯ，七−ドでは最後に入った
データが最初に出力される。従ってＦ Ｉ ＦＯ’ｅ−
トのときはデータたれ流しのバッファであり、ＬＩＦＯ
Ｅ−ドＶＬ：、１７Ｊ＃）換わった瞬間からそのバッフ
ァの内容を逆に読出す。この切換えのタイ三ジグをタイ
ミンクコント０−ル部（２）よりの対称軸アドレスＸ。
０′から′ １ ′への変化点のアドレス取と、１１′
から１０＃への変化点のアドレスＸＢとを検出しその中
点（ＸＡ十ＸＢ） ’ｔ：対称軸のアドレスＸｃとして
めるためのｒｌｉｉ＋素カウンタと加箕柩割算器とを倫
えて棉戚、されている。次に上記画体１８号の２回目の
走査では、画像信号はＡ／Ｄ変換器（３）でＡ／Ｄ変換
され、Ｆ Ｉ ＦＯ／Ｌ Ｉ ＦＯ１４１に入力される
。ＰＩ Ｆ’Ｏ／Ｌ Ｉ ＦＯ１４１は２つのモートを
持っており、ＦＩＦＯｔ−ドのときは先に入ったデータ
か先に出てくる為、複数本のシフトレジスタと同等の作
用をする。またＬ Ｉ ＦＯ，七−ドでは最後に入った
データが最初に出力される。従ってＦ Ｉ ＦＯ’ｅ−
トのときはデータたれ流しのバッファであり、ＬＩＦＯ
Ｅ−ドＶＬ：、１７Ｊ＃）換わった瞬間からそのバッフ
ァの内容を逆に読出す。この切換えのタイ三ジグをタイ
ミンクコント０−ル部（２）よりの対称軸アドレスＸ。
とすると、最初ＦＩＦＯ’ｅ−ドにあったＦ Ｉ ＦＯ
／Ｌ Ｉ ＦＯ１４１はＬＩＦＯモードとなりてアトし
ス況以１１Ｊのデータを逆に出力するのでこの波形デー
タとＡ／Ｄ変換器（３）出力の画像データとを比較すれ
ば、軸対称物に欠陥がなく画像そのものが対称なときは
等しい波形となり、次に上記前者のデータから後者のデ
ータを減算器（６）で減算してもノイズ分程度の値とし
かならない。ところが軸対称物体に汚れや変形の欠陥が
あれば、この減詩、結果の差が大きくなるので、必要に
応じて積分器（６）又は加算器を介してデジタル比較器
（７）で検出可能となる。この判定する期１ＩＩｉはア
ドレスＸＯをスタート点としｘ（、−ＸＢ（又はＸＡ−
ＸＯ）より少し長い程度とし、その期間をタイミンクコ
ント０−ル部ｔ２１が指定（ゲート）する。
／Ｌ Ｉ ＦＯ１４１はＬＩＦＯモードとなりてアトし
ス況以１１Ｊのデータを逆に出力するのでこの波形デー
タとＡ／Ｄ変換器（３）出力の画像データとを比較すれ
ば、軸対称物に欠陥がなく画像そのものが対称なときは
等しい波形となり、次に上記前者のデータから後者のデ
ータを減算器（６）で減算してもノイズ分程度の値とし
かならない。ところが軸対称物体に汚れや変形の欠陥が
あれば、この減詩、結果の差が大きくなるので、必要に
応じて積分器（６）又は加算器を介してデジタル比較器
（７）で検出可能となる。この判定する期１ＩＩｉはア
ドレスＸＯをスタート点としｘ（、−ＸＢ（又はＸＡ−
ＸＯ）より少し長い程度とし、その期間をタイミンクコ
ント０−ル部ｔ２１が指定（ゲート）する。
（実励例２）
第４図は本発明の第２の実施例の構成を示し、前述の第
１の実施例のものか、ＬＩＦＯＥ−ドで読出したＦ Ｉ
ＦＯ／Ｌ Ｉ ＦＯ＋４１の出力波形データからＡ／
Ｄ変換器（３）出力の画像データを減算し、この減算値
が設定値を越えているか否かをデジタル比較熱（７）で
比較するように構成していたのに対し、この第２の実施
例のものはＦＩＦＯ／１：ＩＦ０（４）の出力波形デー
タとＡ／Ｄ変換器（３）出力の画像データとの相関全相
関器（８）で才め、この相関器（ｓｌｔｉ（万全デジタ
ル比秒器（７）で判定するようにしたものである。しか
して相関器（８）は例えば第５図ブロック図に示すよう
な卆ＩＩ、戚を有する相関ＩＣで輻−成されているもの
であって、Ａ／Ｄｆ換器（３）出力（即ちＦ Ｉ ＦＯ
／Ｌ Ｉ ＦＯｉ＋１出力）のピット＆ｎに相自する個
数の相関器ユニット０ ＝ ｎにより各ヒツト毎の相関
金言１矢−するとともに、上記ピット数ｎより１少ない
個数のＳＵＭＩ〜ｎにより１ピツトずつ下の段にいくに
つれて左にずらすことにより車み付けして上記相関器ユ
ニットの出力を加智するように構１ｊＭされており、Ｓ
ＵＭｎの出力が相関器）８）出力として得られることに
なる。
１の実施例のものか、ＬＩＦＯＥ−ドで読出したＦ Ｉ
ＦＯ／Ｌ Ｉ ＦＯ＋４１の出力波形データからＡ／
Ｄ変換器（３）出力の画像データを減算し、この減算値
が設定値を越えているか否かをデジタル比較熱（７）で
比較するように構成していたのに対し、この第２の実施
例のものはＦＩＦＯ／１：ＩＦ０（４）の出力波形デー
タとＡ／Ｄ変換器（３）出力の画像データとの相関全相
関器（８）で才め、この相関器（ｓｌｔｉ（万全デジタ
ル比秒器（７）で判定するようにしたものである。しか
して相関器（８）は例えば第５図ブロック図に示すよう
な卆ＩＩ、戚を有する相関ＩＣで輻−成されているもの
であって、Ａ／Ｄｆ換器（３）出力（即ちＦ Ｉ ＦＯ
／Ｌ Ｉ ＦＯｉ＋１出力）のピット＆ｎに相自する個
数の相関器ユニット０ ＝ ｎにより各ヒツト毎の相関
金言１矢−するとともに、上記ピット数ｎより１少ない
個数のＳＵＭＩ〜ｎにより１ピツトずつ下の段にいくに
つれて左にずらすことにより車み付けして上記相関器ユ
ニットの出力を加智するように構１ｊＭされており、Ｓ
ＵＭｎの出力が相関器）８）出力として得られることに
なる。
本発明は上述のように構成したものであるから、１フレ
ーム目で軸対称物体の対称軸の位相を自１１ｔｌＪ的に
１１測することになって、粘度の高い位置法めが不要で
あり、欠陥横置操作が簡略化される効果音イ］する他、
対象物の形状によらずこの対称物が軸対称である限り同
一の処理でどのような形状のものでも欠陥検出が可能で
ある効果を有し、しかも構成が簡単で画像メモリが不υ
であり、安価化が達成される効果を有するとともに、２
フレームの走査時間で処理ができるため、凸速処理が可
能になる効果を有するものである。
ーム目で軸対称物体の対称軸の位相を自１１ｔｌＪ的に
１１測することになって、粘度の高い位置法めが不要で
あり、欠陥横置操作が簡略化される効果音イ］する他、
対象物の形状によらずこの対称物が軸対称である限り同
一の処理でどのような形状のものでも欠陥検出が可能で
ある効果を有し、しかも構成が簡単で画像メモリが不υ
であり、安価化が達成される効果を有するとともに、２
フレームの走査時間で処理ができるため、凸速処理が可
能になる効果を有するものである。
！−５’ １図は本発明一実施例の軸対称物体のモニタ
ー画曲図、第２図は同上のブロック回路図、第３図は同
上の２値化した軸対称物体のｔニタ−画曲囚、第４図は
木ヴ１ｊのｆ４ＪＪ２の実施例のブロック回路図、第５
図は同上の相関器の内部ブロック図であり、（４）はＦ
Ｉ ＦＯ／Ｌ Ｉ ＦＯＴ６る。 代理人 弁理士 石 １）艮 七
ー画曲図、第２図は同上のブロック回路図、第３図は同
上の２値化した軸対称物体のｔニタ−画曲囚、第４図は
木ヴ１ｊのｆ４ＪＪ２の実施例のブロック回路図、第５
図は同上の相関器の内部ブロック図であり、（４）はＦ
Ｉ ＦＯ／Ｌ Ｉ ＦＯＴ６る。 代理人 弁理士 石 １）艮 七
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｆｉｌ軸対称物体を撮影するＴＶカメラと、このＴＶカ
メラ出力の画像信号の１フレーム目で上記軸対称物体の
対称軸の位りヲ計測する手段と、上記２フレーム目の画
像信号を上記対称軸の位−筐で記憶するメ七りとを具俯
し、上記２フレーム目の画像信号の上記対称軸以降の信
号と上記メモリから逆に読み出した記憶画像信号とを比
較することにより欠陥による非対称を検出するようにし
て成ること全特徴とする軸対称物体の欠陥検査装置。 １２＋画偽信号をＡ／Ｄ変換して入力するＦ Ｉ ＦＯ
／Ｌ Ｉ ＦＯによりメモリを構成し、ＦＩＦＯｔ−ド
で画像データを記憶するとともに、対称軸位向が設定さ
れるアドレスカウンタの出力によりＬＩＦＯｔ−ドで上
記画像データを読み出し、この読み出された記憶画像デ
ータと画像信号をＡ／Ｄ変換した画像データとの差を検
出し、この差を予め設定したー値と比較するようにして
敗ることを特徴とする特許請求の範囲第１ｒＡ記戦の軸
対称物体の欠陥検査装置。 （３）２フレーム目の画像信号の上記対称軸以降の信号
と上記メ七りから逆に読み出した記憶画像信号との相関
を計算することにより欠陥による非対称を検出するよう
にして成ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の軸対称物体の欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20391183A JPH0236896B2 (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | Jikutaishobutsutainoketsukankensasochi |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20391183A JPH0236896B2 (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | Jikutaishobutsutainoketsukankensasochi |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6096088A true JPS6096088A (ja) | 1985-05-29 |
| JPH0236896B2 JPH0236896B2 (ja) | 1990-08-21 |
Family
ID=16481735
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20391183A Expired - Lifetime JPH0236896B2 (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | Jikutaishobutsutainoketsukankensasochi |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0236896B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61126454A (ja) * | 1984-11-22 | 1986-06-13 | Hajime Sangyo Kk | 自動検査装置 |
| JPS62259044A (ja) * | 1986-04-16 | 1987-11-11 | Inax Corp | 表面検査方法 |
| JPS62274249A (ja) * | 1986-05-23 | 1987-11-28 | Inax Corp | 板状物表面の自動検査方法 |
| GB2271780B (en) * | 1992-02-28 | 1995-06-28 | Daido Metal Co | Process for producing sliding bearing |
-
1983
- 1983-10-31 JP JP20391183A patent/JPH0236896B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61126454A (ja) * | 1984-11-22 | 1986-06-13 | Hajime Sangyo Kk | 自動検査装置 |
| US4692800A (en) * | 1984-11-22 | 1987-09-08 | Hajime Industries Ltd. | Automatic inspection device |
| JPS62259044A (ja) * | 1986-04-16 | 1987-11-11 | Inax Corp | 表面検査方法 |
| JPS62274249A (ja) * | 1986-05-23 | 1987-11-28 | Inax Corp | 板状物表面の自動検査方法 |
| GB2271780B (en) * | 1992-02-28 | 1995-06-28 | Daido Metal Co | Process for producing sliding bearing |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0236896B2 (ja) | 1990-08-21 |
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