JPS6110748A - びん口の不良検出方法 - Google Patents
びん口の不良検出方法Info
- Publication number
- JPS6110748A JPS6110748A JP13064784A JP13064784A JPS6110748A JP S6110748 A JPS6110748 A JP S6110748A JP 13064784 A JP13064784 A JP 13064784A JP 13064784 A JP13064784 A JP 13064784A JP S6110748 A JPS6110748 A JP S6110748A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mouth
- mouth part
- bright line
- image
- bottle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、びんの口部Ｋ、口火、傷、ひび、汚れ等が
ある場合、その日次、傷、汚れ部等で切目が生じるよう
に１０部表面に円形輝線を形成させて、その輝線の切目
を検知して口部の不良を検出するようにしたびん口の不
良検出方法に１する。
ある場合、その日次、傷、汚れ部等で切目が生じるよう
に１０部表面に円形輝線を形成させて、その輝線の切目
を検知して口部の不良を検出するようにしたびん口の不
良検出方法に１する。
従来、びんの口火検出方法は第１図に示すようＫ、びん
口部１の周辺部に複数の投光器２を配置し、それら投光
器２から特定の周波数の光を、びん口部ｌＫ照射し、び
ん口部１に口火３がある場合、その照射した光を反対＠
に設置したセンサ４で受けるようにして、口火を検出す
るようにしている。この場合、相肖大きな口火けで々け
れば検出できず、口火の巾、深さの程度によって検出率
が大きく変シ、びん口の上面が僅かでも残っていれば検
出できない。また口部の傷、ひび、汚れ等の場合も検出
できないという欠点があった。
口部１の周辺部に複数の投光器２を配置し、それら投光
器２から特定の周波数の光を、びん口部ｌＫ照射し、び
ん口部１に口火３がある場合、その照射した光を反対＠
に設置したセンサ４で受けるようにして、口火を検出す
るようにしている。この場合、相肖大きな口火けで々け
れば検出できず、口火の巾、深さの程度によって検出率
が大きく変シ、びん口の上面が僅かでも残っていれば検
出できない。また口部の傷、ひび、汚れ等の場合も検出
できないという欠点があった。
この発明は、上記欠点を解消することのできるびん口の
不良検出方法を提供することを目的とする、 以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
不良検出方法を提供することを目的とする、 以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第２ないし第４図において、１１はコンベアライン（図
示せず）によって流れてくるびん、１２は例えば０．５
ｗｍの径を有する光ファイバーを数百本束ねたもので
、その後端１２ａから例えばミニハロゲンランプ１３で
発光された光が図示しない反射鏡で集光されて入射する
ようにｈつている。、またその先端１２ｂが口部１４の
上方位置に、その口部１４の外径よシ大きいリング状に
力るように口部１４に対向して配列され。
示せず）によって流れてくるびん、１２は例えば０．５
ｗｍの径を有する光ファイバーを数百本束ねたもので
、その後端１２ａから例えばミニハロゲンランプ１３で
発光された光が図示しない反射鏡で集光されて入射する
ようにｈつている。、またその先端１２ｂが口部１４の
上方位置に、その口部１４の外径よシ大きいリング状に
力るように口部１４に対向して配列され。
後端１２ａから入射した光を所定の角度で口部１４に均
一に照射し１口部１４に、口火、傷、ひび、汚れ等があ
る場合、その日次、傷、ひび。
一に照射し１口部１４に、口火、傷、ひび、汚れ等があ
る場合、その日次、傷、ひび。
汚れ部等で切目が生じるように、口部１４表面に口部１
４と同心状の高輝度の円形輝線を形成させるようになっ
ている。１５は前記円形輝線の像を基板１６上に形成さ
せるスキャナーで、゛口部】４の中心線ａと光軸すとが
一直線に々るように口部１４の上方位置に設置されてい
る。
４と同心状の高輝度の円形輝線を形成させるようになっ
ている。１５は前記円形輝線の像を基板１６上に形成さ
せるスキャナーで、゛口部】４の中心線ａと光軸すとが
一直線に々るように口部１４の上方位置に設置されてい
る。
１７〜２２は基板１６上に形成される像の位１に配置さ
れたホトセンサである。
れたホトセンサである。
前記スキャナー１５は、レンズ３１とプリズム３２等か
ら構成されるもので、図示しないモータによって光軸す
を中心にして高速回転され、この回転によって基板１６
上に形成された像を、その像の中心を中心にして回転さ
せるものである。
ら構成されるもので、図示しないモータによって光軸す
を中心にして高速回転され、この回転によって基板１６
上に形成された像を、その像の中心を中心にして回転さ
せるものである。
次に上記から構成される実施例の作用について説明する
、 先ず最初にスキャナー１５を光軸すを中心にして回転さ
せるとともに、ミニハロゲンランプ１３を点灯させる。
、 先ず最初にスキャナー１５を光軸すを中心にして回転さ
せるとともに、ミニハロゲンランプ１３を点灯させる。
この点灯によって光を図示しない反射鏡で集光して、光
ファイ・々−１２の後端１２ａに入射させる。前記後端
１２ａに入射した光は先端１２ｂから口部１４に、第３
図に示すように所定の角度で均一に照射する。そしてこ
の照射によって第４図に示すように口部１４に、口部１
４と同心状の高輝度の円形輝線Ｍが形成され、さらに輝
線Ｍの像がスキャナー１５によって基板】６に形成され
る。本し口部１４′が第５図に示すように口火ししてい
れば輝線Ｍ′に切目が生じ、第６図に示すようＫその輝
線Ｍの像Ｓに切目Ｑが生じる。スキャナー１５が口部１
４の中心線ａと一直線になっている光軸すを中心にして
回転しているので、像Ｓが中心Ｐを支点にして回転する
。したがって切目Ｑが中心Ｐを支点にして回転するので
、スキャナー１５が１／６回転すると、ホトセンサ１７
又はホトセンサ２２がその切目Ｑを検知する。これによ
り口火が検出される。
ファイ・々−１２の後端１２ａに入射させる。前記後端
１２ａに入射した光は先端１２ｂから口部１４に、第３
図に示すように所定の角度で均一に照射する。そしてこ
の照射によって第４図に示すように口部１４に、口部１
４と同心状の高輝度の円形輝線Ｍが形成され、さらに輝
線Ｍの像がスキャナー１５によって基板】６に形成され
る。本し口部１４′が第５図に示すように口火ししてい
れば輝線Ｍ′に切目が生じ、第６図に示すようＫその輝
線Ｍの像Ｓに切目Ｑが生じる。スキャナー１５が口部１
４の中心線ａと一直線になっている光軸すを中心にして
回転しているので、像Ｓが中心Ｐを支点にして回転する
。したがって切目Ｑが中心Ｐを支点にして回転するので
、スキャナー１５が１／６回転すると、ホトセンサ１７
又はホトセンサ２２がその切目Ｑを検知する。これによ
り口火が検出される。
前記輝線Ｍ′の切目Ｑは、小さな口火はもとより傷、ひ
び、汚れや第７．８図に示す上下のすれ、水平のずれ等
の場合でも生じるので、傷、ひび、汚、上下のずれ、水
平のずれ等を検出することかできる。またホトセンサを
６個使用しているので、スキャナー１５が／回転すれば
、びん口部１４の全周の検査が可能となり、瞬間的（約
ＩＡ ｏ ｏ ｏ秒）に口部の不良を検出することがで
きる。、々おホトセンサの数は６個に限定されるもので
はなく、いくつ使用してもよいことは勿論である。
び、汚れや第７．８図に示す上下のすれ、水平のずれ等
の場合でも生じるので、傷、ひび、汚、上下のずれ、水
平のずれ等を検出することかできる。またホトセンサを
６個使用しているので、スキャナー１５が／回転すれば
、びん口部１４の全周の検査が可能となり、瞬間的（約
ＩＡ ｏ ｏ ｏ秒）に口部の不良を検出することがで
きる。、々おホトセンサの数は６個に限定されるもので
はなく、いくつ使用してもよいことは勿論である。
以上のようにこの発明は、複数の光ファイバーの各先端
から光をびんの口部に照射して１口部に傷や汚れ等があ
る場合、その偏部等で切目が生じるように１口部表面に
円形輝線を形成させ、口部上方に設置したスキャナーで
、このスキャナーの上方位置に前記円形輝線の像を形成
させ、そのスキャナーを回転させて前記像を回転させ、
像の形成位置に設置したホトセンサで、像の切目を検知
して口部の不良を検出するようにしたものであるから１
口部の小さな口火や傷。
から光をびんの口部に照射して１口部に傷や汚れ等があ
る場合、その偏部等で切目が生じるように１口部表面に
円形輝線を形成させ、口部上方に設置したスキャナーで
、このスキャナーの上方位置に前記円形輝線の像を形成
させ、そのスキャナーを回転させて前記像を回転させ、
像の形成位置に設置したホトセンサで、像の切目を検知
して口部の不良を検出するようにしたものであるから１
口部の小さな口火や傷。
ひび、汚れ等のある口部不良を確実に検出することがで
きるという効果を有する。
きるという効果を有する。
第１図は従来の口火を検出する検出方法の説明図、第２
図は実施例の概略斜視図、第３図は第２図の断面図、第
４図は口部表面に形成されだ円形輝線の説明図、第５図
は口火がある場合の口部表面に形成された円形輝線の説
明図、第６図は基板に形成された像とホトセンサとの位
置関係の説明図、第７，８図はびん口部の上下のずれお
よび水平のずれの説明図である。 １１・・・びん 】２・・・光ファイバー１
２ｂ・・・先端 １４・・・口部１５・・・
スキャナー Ｍ・・・円形輝線１７〜２２・・・ホ
トセンサ 崩２図 篤３図 Ｉら 図 第６図
図は実施例の概略斜視図、第３図は第２図の断面図、第
４図は口部表面に形成されだ円形輝線の説明図、第５図
は口火がある場合の口部表面に形成された円形輝線の説
明図、第６図は基板に形成された像とホトセンサとの位
置関係の説明図、第７，８図はびん口部の上下のずれお
よび水平のずれの説明図である。 １１・・・びん 】２・・・光ファイバー１
２ｂ・・・先端 １４・・・口部１５・・・
スキャナー Ｍ・・・円形輝線１７〜２２・・・ホ
トセンサ 崩２図 篤３図 Ｉら 図 第６図
Claims (1)
- １、びんの口部の上方位置に、口部外径より大きいリン
グ状になるようにその口部に対向させて配列した、複数
の光ファイバーの各先端から光をびんの口部に照射して
、口部に傷や汚れ等がある場合、その傷や汚れ部等で切
目が生じるように、口部表面に口部と同心状の高輝度の
円形輝線を形成させ、口部上方に口部の中心線と光軸と
が一直線になるように設置したスキャナーで、このスキ
ャナーの上方位置に前記円形輝線の像を形成させ、その
スキャナーを光軸を支点にして回転させて前記像を、そ
の像の中心を中心にして回転させ、像の形成位置に設置
したホトセンサで、像の切目を検知して口部の不良を検
出するようにしたことを特徴とするびん口の不良検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13064784A JPS6110748A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | びん口の不良検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13064784A JPS6110748A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | びん口の不良検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6110748A true JPS6110748A (ja) | 1986-01-18 |
Family
ID=15039251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13064784A Pending JPS6110748A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | びん口の不良検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6110748A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03125947A (ja) * | 1989-10-06 | 1991-05-29 | Elpatronic Ag | ビン等の開口部を検査するための装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5472094A (en) * | 1977-11-21 | 1979-06-09 | Sapporo Breweries Ltd | Bottle bottom inspecting machine |
| JPS5634283U (ja) * | 1979-08-24 | 1981-04-03 |
-
1984
- 1984-06-25 JP JP13064784A patent/JPS6110748A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5472094A (en) * | 1977-11-21 | 1979-06-09 | Sapporo Breweries Ltd | Bottle bottom inspecting machine |
| JPS5634283U (ja) * | 1979-08-24 | 1981-04-03 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03125947A (ja) * | 1989-10-06 | 1991-05-29 | Elpatronic Ag | ビン等の開口部を検査するための装置 |
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