JPS61121578A - 画素欠陥補償回路 - Google Patents
画素欠陥補償回路Info
- Publication number
- JPS61121578A JPS61121578A JP59241752A JP24175284A JPS61121578A JP S61121578 A JPS61121578 A JP S61121578A JP 59241752 A JP59241752 A JP 59241752A JP 24175284 A JP24175284 A JP 24175284A JP S61121578 A JPS61121578 A JP S61121578A
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- Japan
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- Pending
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 48
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract 1
- 201000009032 substance abuse Diseases 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 230000009931 harmful effect Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 241000519995 Stachys sylvatica Species 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は固体撮像装置の信号処理回路に関し、特に固体
撮像素子の画素欠陥を信号処理によって補償する画素欠
陥補償回路に関するものである。
撮像素子の画素欠陥を信号処理によって補償する画素欠
陥補償回路に関するものである。
固体撮像素子、特に標準テレビシ璽ン方式に対応した素
子では２０万画素程度の画素で構成されているが、その
内の少数の暗電流の多い白点キズと呼ばれる欠陥画素発
生が製品歩留）上最大の問題点となりている。この様な
欠陥画素による歩留り低下の救済策として、欠陥画素の
信号を隣接する正常な画素の信号で置換する画素欠陥補
償がテレピッ嘗ン学会技術報告方式回路研究会ＴＥＢＳ
９０−４等で提案され、一部で実際に実施されている
。このよう表欠陥補償回路は例えば第３図に示すように
、駆動回路３３からの信号を固体撮像素子３１及びす／
ｆルΔルス発生回路３４へ加えるとともに、欠陥画素の
情報を書き込んだメモリー３５にも加えられる。サンプ
ルパルス発生回路３４では各画素の信号に対応してテン
グルパルスが発生され、サンプルパルス制御回路３６を
通してサンプルホールド回路３２へ加えられる。サンプ
ルホールド回路３２ではサンプルホールドに対応して固
体撮像素子３１かもの信号をサンプルホールドする。い
ま、欠陥画素の信号が固体撮像素子３１から出力される
とそれと同時にメモリー３５からも信号が発生し、サン
プルパルス制御回路３６でサンプルパルスを停止させる
。
子では２０万画素程度の画素で構成されているが、その
内の少数の暗電流の多い白点キズと呼ばれる欠陥画素発
生が製品歩留）上最大の問題点となりている。この様な
欠陥画素による歩留り低下の救済策として、欠陥画素の
信号を隣接する正常な画素の信号で置換する画素欠陥補
償がテレピッ嘗ン学会技術報告方式回路研究会ＴＥＢＳ
９０−４等で提案され、一部で実際に実施されている
。このよう表欠陥補償回路は例えば第３図に示すように
、駆動回路３３からの信号を固体撮像素子３１及びす／
ｆルΔルス発生回路３４へ加えるとともに、欠陥画素の
情報を書き込んだメモリー３５にも加えられる。サンプ
ルパルス発生回路３４では各画素の信号に対応してテン
グルパルスが発生され、サンプルパルス制御回路３６を
通してサンプルホールド回路３２へ加えられる。サンプ
ルホールド回路３２ではサンプルホールドに対応して固
体撮像素子３１かもの信号をサンプルホールドする。い
ま、欠陥画素の信号が固体撮像素子３１から出力される
とそれと同時にメモリー３５からも信号が発生し、サン
プルパルス制御回路３６でサンプルパルスを停止させる
。
サンプルパルスが停止されるとサンプルホールド回路３
２は欠陥画素の直前の画素の信号を次のサンプルパルス
が印加されるまで保持することになる。
２は欠陥画素の直前の画素の信号を次のサンプルパルス
が印加されるまで保持することになる。
すなわち欠陥画素の信号が隣接した１画素前の信号で置
換されたことになる。
換されたことになる。
ところで、このような欠陥補償は欠陥画素と置換する画
素との信号に相関があることを前提としているため相関
のある場合は補償動作を全く感じさせない画像が得られ
るが、例えば第４図に示すように欠陥画素４１が白、１
画素前の置換する画素′４２が黒であるような相関の全
く無い信号の場合は第５図に示すように本来臼である画
像に黒の偽信号があられれる。この欠陥補償による偽信
号は欠陥画素と置換する画素への入射光のコントラスト
比としてあられれるため、信号が大きくなるほど偽信号
が強くなり、本来欠陥画素が持つている暗電流増加分に
よる隣接画素との暗電流コントラスト比を大巾に越え、
信号量の多い明るい被写体撮像時は画素欠陥補償によっ
てかえって画質を大巾に劣化させる欠点があった。
素との信号に相関があることを前提としているため相関
のある場合は補償動作を全く感じさせない画像が得られ
るが、例えば第４図に示すように欠陥画素４１が白、１
画素前の置換する画素′４２が黒であるような相関の全
く無い信号の場合は第５図に示すように本来臼である画
像に黒の偽信号があられれる。この欠陥補償による偽信
号は欠陥画素と置換する画素への入射光のコントラスト
比としてあられれるため、信号が大きくなるほど偽信号
が強くなり、本来欠陥画素が持つている暗電流増加分に
よる隣接画素との暗電流コントラスト比を大巾に越え、
信号量の多い明るい被写体撮像時は画素欠陥補償によっ
てかえって画質を大巾に劣化させる欠点があった。
本発明の目的は以上に述べた従来の欠点を大幅に軽減し
た画素欠陥補償回路を提供することにある。
た画素欠陥補償回路を提供することにある。
本発明は複数の画素からなる固体撮像素子の欠陥画素を
隣接する周辺画素の信号によって置換する画素欠陥補償
回路において、欠陥画素と、置換する画素との相関関係
の有無を前記固体撮像素子の出力信号と所定の信号レベ
ルとの大小によって比較する信号レベル比較器と、前記
出力信号が所定の信号レベルを超えたときに周辺画素の
信号による欠陥画素の置換動作を停止する機能を備えた
サンプルパルス制御回路とを有することを特徴とする画
素欠陥補償回路である。
隣接する周辺画素の信号によって置換する画素欠陥補償
回路において、欠陥画素と、置換する画素との相関関係
の有無を前記固体撮像素子の出力信号と所定の信号レベ
ルとの大小によって比較する信号レベル比較器と、前記
出力信号が所定の信号レベルを超えたときに周辺画素の
信号による欠陥画素の置換動作を停止する機能を備えた
サンプルパルス制御回路とを有することを特徴とする画
素欠陥補償回路である。
本発明では欠陥画素の持っている欠陥による信号コント
ラスト比を越える比較的信号量多い明るい画面では欠陥
画素を欠陥として認識することが出来にくくなることに
鑑み、低照度で信号量の少ない撮像時は隣接する画素信
号によって画素欠陥補償動作を行なわせ、一方所定のレ
ベルよシ明るく信号量の多い撮像時は画素欠陥補償動作
を停止させることによプ、欠陥補償によって生じる弊害
を極力減少させるものである。
ラスト比を越える比較的信号量多い明るい画面では欠陥
画素を欠陥として認識することが出来にくくなることに
鑑み、低照度で信号量の少ない撮像時は隣接する画素信
号によって画素欠陥補償動作を行なわせ、一方所定のレ
ベルよシ明るく信号量の多い撮像時は画素欠陥補償動作
を停止させることによプ、欠陥補償によって生じる弊害
を極力減少させるものである。
以下本発明の実施例について図面を用いて説明する。
（実施例１）
第１図は本発明の第１の実施例を示す画素欠陥補償回路
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
固体撮像素子１１からの信号はサンプルホールド回路１
２へ加えられる。駆動回路１３の信号は固体撮像素子１
１、欠陥画素の情報を書き込んだメモＩＪ−１５、サン
プルパルス発生回路１４へそれぞれ印加される。サンプ
ルパルス制御回路１４では各画素に対応シテサンプルパ
ルスが発生され、サンプルパルス制御回路１６を通して
サンプルホールド回路１２へ印加される。サンプルホー
ルド回路１２ではサンプルパルスに対応して固体撮像素
子１１からの信号をサンプルホールドする。サンプルホ
ールド回路１２の信号は信号レベル比較器１７に入力さ
れ、所定の基準信号レベルとの比較がなされる。この信
号レベル比較器１７の出力信号はサンプルパルス制御回
路１６へ印加され、信号レベル比較器１７の信号によっ
て欠陥補償動作を制御する。このような回路構成におい
て、正常な画素の信号は、各画素に対応したサンプルパ
ルスによってサンプルホールド回路１２でサンプルホー
ルド処理される。
２へ加えられる。駆動回路１３の信号は固体撮像素子１
１、欠陥画素の情報を書き込んだメモＩＪ−１５、サン
プルパルス発生回路１４へそれぞれ印加される。サンプ
ルパルス制御回路１４では各画素に対応シテサンプルパ
ルスが発生され、サンプルパルス制御回路１６を通して
サンプルホールド回路１２へ印加される。サンプルホー
ルド回路１２ではサンプルパルスに対応して固体撮像素
子１１からの信号をサンプルホールドする。サンプルホ
ールド回路１２の信号は信号レベル比較器１７に入力さ
れ、所定の基準信号レベルとの比較がなされる。この信
号レベル比較器１７の出力信号はサンプルパルス制御回
路１６へ印加され、信号レベル比較器１７の信号によっ
て欠陥補償動作を制御する。このような回路構成におい
て、正常な画素の信号は、各画素に対応したサンプルパ
ルスによってサンプルホールド回路１２でサンプルホー
ルド処理される。
いま、固体撮像素子１１から欠陥画素の信号が出力され
るとそれに対応して、メそリ−１５から欠陥画素である
ことの信号が発生されサンプルパルス制御回路１６へ加
えられる。−力木実施例の信号レベル比較器１７ではサ
ンプルホールドされた信号の平均値が所定の基準信号レ
ベルよシ犬か小かを判定する平均値形信号レベル比較を
行ない、もし基準信号レベルより小さければハイレベル
の信号が発生され、サンプルパルス制御回路１６へ印加
される。サンプルパルス制御回路１６ではメモリー１５
からの信号によって欠陥画素に対応したサンプルパルス
を停止し、それによってサンプルホールド回路１２では
欠陥画素と隣接する一画素前の信号をホールドし続け、
欠陥画素の・信号を置換する動作をする。一方、被写体
が明るくなって固体撮像素子１１から信号が犬きくなシ
信号レベル比較器１７でその平均値が欠陥画像の欠陥信
号コントラストを十分越えるような所定の基準信号レベ
ルより大きいと判定すると、信号レベル比較器１７より
ローレベルの信号が発生され、サンプルパルス制御回路
１６ではメモリー１５からの信号によシ欠陥画素のサン
プル・臂ルスを停止する動作を中止させ、正常な画素と
同様にサンプルパルスを発生させる。そこでサンプルホ
ールド回路１２では欠陥画素の信号を正常画素同様サン
プルホールド処理する。
るとそれに対応して、メそリ−１５から欠陥画素である
ことの信号が発生されサンプルパルス制御回路１６へ加
えられる。−力木実施例の信号レベル比較器１７ではサ
ンプルホールドされた信号の平均値が所定の基準信号レ
ベルよシ犬か小かを判定する平均値形信号レベル比較を
行ない、もし基準信号レベルより小さければハイレベル
の信号が発生され、サンプルパルス制御回路１６へ印加
される。サンプルパルス制御回路１６ではメモリー１５
からの信号によって欠陥画素に対応したサンプルパルス
を停止し、それによってサンプルホールド回路１２では
欠陥画素と隣接する一画素前の信号をホールドし続け、
欠陥画素の・信号を置換する動作をする。一方、被写体
が明るくなって固体撮像素子１１から信号が犬きくなシ
信号レベル比較器１７でその平均値が欠陥画像の欠陥信
号コントラストを十分越えるような所定の基準信号レベ
ルより大きいと判定すると、信号レベル比較器１７より
ローレベルの信号が発生され、サンプルパルス制御回路
１６ではメモリー１５からの信号によシ欠陥画素のサン
プル・臂ルスを停止する動作を中止させ、正常な画素と
同様にサンプルパルスを発生させる。そこでサンプルホ
ールド回路１２では欠陥画素の信号を正常画素同様サン
プルホールド処理する。
ところでこのように信号の多い明るい画面では本来の欠
陥画素の暗電流増加分による欠陥信号コントラストより
被写体信号分によるコントラストの方が強くなるため画
素欠陥はほとんど認識することは出来ない。一般的には
欠陥信号コントラストの３倍以上の被写体信号コントラ
ストがあれば良く、信号レベル比較器１７の基準をこの
ような値に設定すれば十分な効果が得られる。
陥画素の暗電流増加分による欠陥信号コントラストより
被写体信号分によるコントラストの方が強くなるため画
素欠陥はほとんど認識することは出来ない。一般的には
欠陥信号コントラストの３倍以上の被写体信号コントラ
ストがあれば良く、信号レベル比較器１７の基準をこの
ような値に設定すれば十分な効果が得られる。
ところで以上の実施例では、信号の平均値によつて欠陥
画素の置換動作を制御する場合について説明したが、こ
の他、置換する欠陥画素の１画素前の正常な画素の信号
レベルによる制御等信の信号でも良いことは言うまでも
無い。また欠陥画素を置換する画素信号も本実施例の１
画素前の画素の他、欠陥画素と隣接する前後の画素から
補間しｔ信号あるいは垂直方向の上下あるいは隣接する
すべての画素による補間信号でも良いことは明らかであ
る。
画素の置換動作を制御する場合について説明したが、こ
の他、置換する欠陥画素の１画素前の正常な画素の信号
レベルによる制御等信の信号でも良いことは言うまでも
無い。また欠陥画素を置換する画素信号も本実施例の１
画素前の画素の他、欠陥画素と隣接する前後の画素から
補間しｔ信号あるいは垂直方向の上下あるいは隣接する
すべての画素による補間信号でも良いことは明らかであ
る。
（実施例２）
第２図は本発明の他の実施例である。第１の実施例では
、すべての欠陥画素を一つの基準信号レベルによって一
律に欠陥補償動作の停止制御を行なったが通常欠陥画素
の欠陥信号コントラストは同一では無いため、第２図の
メモリー２５には欠陥画素の情報として各欠陥画素の欠
陥信号コントラストの情報が更に書き込まれている。ま
たメモリー２５からの信号は信号レベル比較器２７にも
入力されている。信号レベル比較器２７はメモリー１５
からの各欠陥画素の欠陥信号コントラスト情報に対応し
て基準信号レベルを変化させ、常に欠陥信号コントラス
トの３倍以上の信号量がある時のみ欠陥補償動作を停止
させる信号を発生するように構成されている。このよう
な構成ではすべての各欠陥画素が欠陥補償なしに認識さ
れにくいもっとも適した信号レベルによって欠陥補償動
作を停止するため、第１の実施例より更に欠陥補償によ
る弊害を少なくできる。
、すべての欠陥画素を一つの基準信号レベルによって一
律に欠陥補償動作の停止制御を行なったが通常欠陥画素
の欠陥信号コントラストは同一では無いため、第２図の
メモリー２５には欠陥画素の情報として各欠陥画素の欠
陥信号コントラストの情報が更に書き込まれている。ま
たメモリー２５からの信号は信号レベル比較器２７にも
入力されている。信号レベル比較器２７はメモリー１５
からの各欠陥画素の欠陥信号コントラスト情報に対応し
て基準信号レベルを変化させ、常に欠陥信号コントラス
トの３倍以上の信号量がある時のみ欠陥補償動作を停止
させる信号を発生するように構成されている。このよう
な構成ではすべての各欠陥画素が欠陥補償なしに認識さ
れにくいもっとも適した信号レベルによって欠陥補償動
作を停止するため、第１の実施例より更に欠陥補償によ
る弊害を少なくできる。
以上のように本発明によれば、画素欠陥が問題となる信
号量の少ない場合は欠陥画素の補償を行ない、欠陥画素
の欠陥信号コントラストよシ被写体のコントラストが強
くなる明るい画面では欠陥補償動作を停止するため、従
来より欠陥補償による弊害を著るしく減少できる効果を
有するものである。
号量の少ない場合は欠陥画素の補償を行ない、欠陥画素
の欠陥信号コントラストよシ被写体のコントラストが強
くなる明るい画面では欠陥補償動作を停止するため、従
来より欠陥補償による弊害を著るしく減少できる効果を
有するものである。
第１図は本発明による画素欠陥補償回路の１つの実施例
による構成を示すプロ、り図、第２図は他の実施例を示
すブロック図、第３図は従来の画素欠陥補償回路の構成
を示すプロ、り図、第４図。 第５図は従来の画素欠陥補償回路による補償動作時の被
写体と補償後の画像に発生する偽信号を示す図である。 図において、１２はサンプルホールド回路、１６はサン
プルパルス制御回路、 １５．２５はメモリー、１７．
２７は信号レベル比較器である。 ゛（−
による構成を示すプロ、り図、第２図は他の実施例を示
すブロック図、第３図は従来の画素欠陥補償回路の構成
を示すプロ、り図、第４図。 第５図は従来の画素欠陥補償回路による補償動作時の被
写体と補償後の画像に発生する偽信号を示す図である。 図において、１２はサンプルホールド回路、１６はサン
プルパルス制御回路、 １５．２５はメモリー、１７．
２７は信号レベル比較器である。 ゛（−
Claims (1)
- （１）複数の画素からなる固体撮像素子の欠陥画素を隣
接する周辺画素の信号によって置換する画素欠陥補償回
路において、欠陥画素と置換する画素との相関関係の有
無を前記固体撮像素子の出力信号と所定の信号レベルと
の大小によって比較する信号レベル比較器と、前記出力
信号が所定の信号レベルを超えたときに隣接する周辺画
素の信号による欠陥画素の置換動作を停止する機能を備
えたサンプルパルス制御回路とを有することを特徴とす
る画素欠陥補償回路
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59241752A JPS61121578A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 画素欠陥補償回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59241752A JPS61121578A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 画素欠陥補償回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61121578A true JPS61121578A (ja) | 1986-06-09 |
Family
ID=17079003
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59241752A Pending JPS61121578A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 画素欠陥補償回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61121578A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61177074A (ja) * | 1985-01-31 | 1986-08-08 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | テレビジヨン・カメラ |
-
1984
- 1984-11-16 JP JP59241752A patent/JPS61121578A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61177074A (ja) * | 1985-01-31 | 1986-08-08 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | テレビジヨン・カメラ |
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