JPS61175655A - 半導体レ−ザの出力制御装置 - Google Patents
半導体レ−ザの出力制御装置Info
- Publication number
- JPS61175655A JPS61175655A JP1600985A JP1600985A JPS61175655A JP S61175655 A JPS61175655 A JP S61175655A JP 1600985 A JP1600985 A JP 1600985A JP 1600985 A JP1600985 A JP 1600985A JP S61175655 A JPS61175655 A JP S61175655A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor laser
- output
- down counter
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- Laser Beam Printer (AREA)
- Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明はレーザプリンタなどに用いられる半導体レーザ
の出力制御装置に関°する。
の出力制御装置に関°する。
(従来技術)
半導体レーザの出力強度は温度に対して非常に不安定で
ある為、半導体レーザの周囲温度が変化する環境下では
半導体レーザの出力制御装置等により半導体レーザの出
力強度を安定化させる必要がある。半導体レーザの出力
制御装置にはカウンタを用いる方式があり、矛2図はそ
の方式の一例を採用したレーザプリンタの一例を示ス。
ある為、半導体レーザの周囲温度が変化する環境下では
半導体レーザの出力制御装置等により半導体レーザの出
力強度を安定化させる必要がある。半導体レーザの出力
制御装置にはカウンタを用いる方式があり、矛2図はそ
の方式の一例を採用したレーザプリンタの一例を示ス。
半導体レーザ1より発生したレーザビームはカップリン
グレンズ例えばコリメータレンズ2を介して回転多面鏡
よりなる光走査装置6で偏向され、fθ レンズ4によ
り感光体ドラム5の帯電された表面に結像されてその結
像スポットが回転多面鏡6の回転で矢印X方向に反復し
て移動すると同時に感光体ドラム5が回転する。光検出
器6は清報書込領域外に設けられ、回転多面鏡5で偏向
されたレーザビームを検出して同期信号を発生する。
グレンズ例えばコリメータレンズ2を介して回転多面鏡
よりなる光走査装置6で偏向され、fθ レンズ4によ
り感光体ドラム5の帯電された表面に結像されてその結
像スポットが回転多面鏡6の回転で矢印X方向に反復し
て移動すると同時に感光体ドラム5が回転する。光検出
器6は清報書込領域外に設けられ、回転多面鏡5で偏向
されたレーザビームを検出して同期信号を発生する。
信号処理回路7は光検出器6からの同期信号により情報
信号をタイミング制御して半導体レーザ駆動回路8に変
調信号として印加する。半導体レーザ駆動回路8は信号
処理回路7からの変調信号により半導体レーザ1を駆動
し、したがって情報信号で変調されたレーザビームが感
光体ドラム5に照射されて静電a隙が形成される。この
静電層重は現隙器で現1されて転写器で紙等に転写され
る。
信号をタイミング制御して半導体レーザ駆動回路8に変
調信号として印加する。半導体レーザ駆動回路8は信号
処理回路7からの変調信号により半導体レーザ1を駆動
し、したがって情報信号で変調されたレーザビームが感
光体ドラム5に照射されて静電a隙が形成される。この
静電層重は現隙器で現1されて転写器で紙等に転写され
る。
また半導体レーザ1から後方に出射されるレーザビーム
は光検出器9に入射してその光強度が検出され、制御回
路10が光検出器9の出力信号に応じて半導体レーザ駆
動回路8を制御して半導体レーザ1の出力光量を一定に
制御する。
は光検出器9に入射してその光強度が検出され、制御回
路10が光検出器9の出力信号に応じて半導体レーザ駆
動回路8を制御して半導体レーザ1の出力光量を一定に
制御する。
矛6図は上記半導体レーザ駆動回路8及び制御回路10
を詳細に示す。
を詳細に示す。
半導体レーザ1から後方に出射されたレーザビームは半
導体レーザ1と一緒に一つのユニ・ントに構成されてい
るフォトダイオードよりなる光検出器9に入射し、フォ
トダイオード9はそのレーザビームの強度に比例した電
流を出力する。この電流は増幅器11により電圧に変換
され、比較器12で可変基準電源からの基準電圧Vre
f と比較される。
導体レーザ1と一緒に一つのユニ・ントに構成されてい
るフォトダイオードよりなる光検出器9に入射し、フォ
トダイオード9はそのレーザビームの強度に比例した電
流を出力する。この電流は増幅器11により電圧に変換
され、比較器12で可変基準電源からの基準電圧Vre
f と比較される。
比較器12の出力電圧は比較器12の両入力電圧の大小
関係により高レベル又は低レベルとなりアンプダウンカ
ウンタ16のカウントモードを制御する。
関係により高レベル又は低レベルとなりアンプダウンカ
ウンタ16のカウントモードを制御する。
例えば半導体レーザ1からのレーザビームの強度が基準
値より弱い時には比較器12の出力が低レベルになり、
アップダウンカウンタ16はアップカウンタとして動作
する状態となる。タイミング信号T1 によりエツジ
検出回路14がアップダウンカウンタ13へのディスエ
ーブル信号を解除すると、半導体レーザ1のパワーセッ
ト(出力強度の設定)が行なわれる。即ちアップダウン
カウンタ13は発振器15からのクロック信号によりそ
の計数値が増加して行く。このアップダウンカウンタ1
3の計数出力はデジタル/アナログ変換器16でアナロ
グ量に変換されて半導体レーザ駆動回&′2!8に入力
される。半導体レーザ駆動回路8は信号処理回路7から
の変調信号により半導体レーザ1を駆動するが、その駆
動電流をデジタル/アナログ変換器16の出力に応じて
変化させる。したがって7ツプダウンカウンタ16の計
数値が徐々に増加することにより半導体レーザ1からの
レーザビームの強度が徐々に増加し、増幅器11の出力
を増加する。そして比較器’12(1)出力が低レベル
から高レベルに反転すると、エツジ検出回路14が比較
器12の出力の立上りエツジを検出してアップダウンカ
ウンタ16をディスエーブル状態にする。よってアップ
ダウンカウンタ15は計数値を保持し、半導体レーザ1
の駆動電流の大きさがそのまま保持される。、またタイ
ミング信号T、によりエツジ検出回路14がアップダウ
ンカウンタ16のディスエーブル状態を解除した時比較
器12の出力が高レベルであれば(半導体レーザの出力
強朋が強ければ)アップダウンカウンタ16はダウンカ
ウンタとして動作し発振器15からのクロック信号によ
り計数値が減少して行く。Xってデジタル/アナログ変
換器16の出力が減少して半導体レーザ1の駆動電流が
減少し、増幅器11の出力が減少する。そして増幅器1
1の出力が基準電圧Vref より小さくなって比較
器12の出力が高レベルから低レベルに反転すると、エ
ツジ検出回路14は比較器12の出力の立下りエツジを
検出してアップダウンカウンタ13をディスエーブル状
態にする。したがってアップダウンカウンタ16が計数
値を保持することになり、半導体レーザ1の駆動電流の
大きさがそのまま保持される。ここにエツジ検出回路1
4はタイミング信号TI Kより1ツブダウンカウン
タ13のディスエーブル状態を解除して比較器12の出
力が低レベルから高レベルに反転した時にのみアップダ
ウンカウンタ16をディスエーブル状態にするx5に構
成しておけば比較器12の出力が低レベルでタイミング
信号T1 によりアップダウンカウンタ13のディス
エーブル状態が解除されている時に比較器12の出力が
低レベルから高レベルに反転すると、アップダウンカウ
ンタ13はディスエーブル状態になって計数値を保持す
る。
値より弱い時には比較器12の出力が低レベルになり、
アップダウンカウンタ16はアップカウンタとして動作
する状態となる。タイミング信号T1 によりエツジ
検出回路14がアップダウンカウンタ13へのディスエ
ーブル信号を解除すると、半導体レーザ1のパワーセッ
ト(出力強度の設定)が行なわれる。即ちアップダウン
カウンタ13は発振器15からのクロック信号によりそ
の計数値が増加して行く。このアップダウンカウンタ1
3の計数出力はデジタル/アナログ変換器16でアナロ
グ量に変換されて半導体レーザ駆動回&′2!8に入力
される。半導体レーザ駆動回路8は信号処理回路7から
の変調信号により半導体レーザ1を駆動するが、その駆
動電流をデジタル/アナログ変換器16の出力に応じて
変化させる。したがって7ツプダウンカウンタ16の計
数値が徐々に増加することにより半導体レーザ1からの
レーザビームの強度が徐々に増加し、増幅器11の出力
を増加する。そして比較器’12(1)出力が低レベル
から高レベルに反転すると、エツジ検出回路14が比較
器12の出力の立上りエツジを検出してアップダウンカ
ウンタ16をディスエーブル状態にする。よってアップ
ダウンカウンタ15は計数値を保持し、半導体レーザ1
の駆動電流の大きさがそのまま保持される。、またタイ
ミング信号T、によりエツジ検出回路14がアップダウ
ンカウンタ16のディスエーブル状態を解除した時比較
器12の出力が高レベルであれば(半導体レーザの出力
強朋が強ければ)アップダウンカウンタ16はダウンカ
ウンタとして動作し発振器15からのクロック信号によ
り計数値が減少して行く。Xってデジタル/アナログ変
換器16の出力が減少して半導体レーザ1の駆動電流が
減少し、増幅器11の出力が減少する。そして増幅器1
1の出力が基準電圧Vref より小さくなって比較
器12の出力が高レベルから低レベルに反転すると、エ
ツジ検出回路14は比較器12の出力の立下りエツジを
検出してアップダウンカウンタ13をディスエーブル状
態にする。したがってアップダウンカウンタ16が計数
値を保持することになり、半導体レーザ1の駆動電流の
大きさがそのまま保持される。ここにエツジ検出回路1
4はタイミング信号TI Kより1ツブダウンカウン
タ13のディスエーブル状態を解除して比較器12の出
力が低レベルから高レベルに反転した時にのみアップダ
ウンカウンタ16をディスエーブル状態にするx5に構
成しておけば比較器12の出力が低レベルでタイミング
信号T1 によりアップダウンカウンタ13のディス
エーブル状態が解除されている時に比較器12の出力が
低レベルから高レベルに反転すると、アップダウンカウ
ンタ13はディスエーブル状態になって計数値を保持す
る。
比較器12の出力が高レベルでタイミング信号T1によ
りアップダウンカウンタ16のダイス二一ブル状態が解
除されている時に比較器12の出力が高レベルから低レ
ベルになると、アップダウンカウンタ16はディスエー
ブル状態が解除されたままで比較器12の出力によりア
ップカウンタとして動作することになる。そして半導体
レーザ1の駆動電流が増加し比較器12の出力が低レベ
ルから高レベルに反転すると、エツジ検出回路14がそ
の立上りエツジを検出してアップダウンカウンタ15を
ディスエーブル状態にしその計数値を保持させる。上記
タイミング信号T1 はフレーム同期信号の立上りエ
ツジを検出して作ったプリントエンド信号が用(・られ
、フレーム記録終了毎に半導体レーザ1の駆動電流が調
整される。またアップダウンカウンタ15 は電源投入
時に最小計数値(例えば0)がロードされ、半導体レー
ザ1の出力強度は基準信号Vref を可変すること
によって調整する。
りアップダウンカウンタ16のダイス二一ブル状態が解
除されている時に比較器12の出力が高レベルから低レ
ベルになると、アップダウンカウンタ16はディスエー
ブル状態が解除されたままで比較器12の出力によりア
ップカウンタとして動作することになる。そして半導体
レーザ1の駆動電流が増加し比較器12の出力が低レベ
ルから高レベルに反転すると、エツジ検出回路14がそ
の立上りエツジを検出してアップダウンカウンタ15を
ディスエーブル状態にしその計数値を保持させる。上記
タイミング信号T1 はフレーム同期信号の立上りエ
ツジを検出して作ったプリントエンド信号が用(・られ
、フレーム記録終了毎に半導体レーザ1の駆動電流が調
整される。またアップダウンカウンタ15 は電源投入
時に最小計数値(例えば0)がロードされ、半導体レー
ザ1の出力強度は基準信号Vref を可変すること
によって調整する。
しかしこのレーザプリンタにおける半導体レーザの出力
制御装置にあってはサービスマンによる保守点検時など
に電源投入に1リアツグダウンカウンタ13に最小計数
値がロードされた状態ですでに半導体レーザ1の出力強
度が大きくて比較器12の出力が高レベルとなってしま
う場合が生ずる。
制御装置にあってはサービスマンによる保守点検時など
に電源投入に1リアツグダウンカウンタ13に最小計数
値がロードされた状態ですでに半導体レーザ1の出力強
度が大きくて比較器12の出力が高レベルとなってしま
う場合が生ずる。
このような場合タイミング信号T1 により工・フジ
検出回路14がアップダウンカウンタ16のディスエー
ブル状態を解除すると、アップダウンカウンタ16
はダウンモードで発振器15かものりaツク信号が1つ
入力されることにより計数値が最小計数値から最大計数
値に飛び以後クロック信号によりダウンカウントを続け
るという動作をくり返すことになる。よって半導体レー
ザ1の駆動電流は大きい状態で更に大幅に増大してから
徐々に減少することになり、半導体レーザ1が破壊して
しまう。
検出回路14がアップダウンカウンタ16のディスエー
ブル状態を解除すると、アップダウンカウンタ16
はダウンモードで発振器15かものりaツク信号が1つ
入力されることにより計数値が最小計数値から最大計数
値に飛び以後クロック信号によりダウンカウントを続け
るという動作をくり返すことになる。よって半導体レー
ザ1の駆動電流は大きい状態で更に大幅に増大してから
徐々に減少することになり、半導体レーザ1が破壊して
しまう。
(目 的)
本発明は半導体レーザの過大な駆動電流による破壊を防
止することができる半導体レーザの出力制御装置を提供
することを目的とする。
止することができる半導体レーザの出力制御装置を提供
することを目的とする。
(構 成)
本発明はアップダウンカウンタが半導体レーザの駆動電
流?増加させるように最小計数値から最大計数値へ又は
最大計数値から最小計数値へ飛ぶことを禁止するXうに
したものである。
流?増加させるように最小計数値から最大計数値へ又は
最大計数値から最小計数値へ飛ぶことを禁止するXうに
したものである。
矛1図は本発明の一実捲例を示す。
この実捲例は上記レーザプリンタにおける半導体レーザ
の出力制御装置においてアップダウンカウンタ13の制
御を変えたものである。フレーム同期信号FSYNCは
レーザプリンタにおけるフレーム記録期間に低レベルに
なってスタンバイモードで高レベルになる同期信号であ
り、その立上りエツジがエツジ検出回路17で検出され
る。このエツジ検出回路17の出力信号はオア回路18
を通りアンド回路19でフレーム同期信号FSYNCと
のアンドがとられる。フリップフロップ20はアンド回
路19の出力信号によりスタンバイモードの初めにセ・
ントされて出力信号を生じ、またDフリップフロップよ
りなる同期回路21はアンド回路19の出力信号を発振
器15からのりaツク信号によりとり込んでフリップフ
ロップ22をクリアする。フリップ、。ツブ20 の
非反転出力信号及びフリップフロップ220反転出力信
号はアンド回路23によりアンドがとられ、アップダウ
/カウンタ16はフリップフロップ220反転出力信号
にxt)H源投入時に最小計数値例えば0がロードされ
る。この最小計数値は半導体レーザ1の最小駆動電流を
設定する値である。
の出力制御装置においてアップダウンカウンタ13の制
御を変えたものである。フレーム同期信号FSYNCは
レーザプリンタにおけるフレーム記録期間に低レベルに
なってスタンバイモードで高レベルになる同期信号であ
り、その立上りエツジがエツジ検出回路17で検出され
る。このエツジ検出回路17の出力信号はオア回路18
を通りアンド回路19でフレーム同期信号FSYNCと
のアンドがとられる。フリップフロップ20はアンド回
路19の出力信号によりスタンバイモードの初めにセ・
ントされて出力信号を生じ、またDフリップフロップよ
りなる同期回路21はアンド回路19の出力信号を発振
器15からのりaツク信号によりとり込んでフリップフ
ロップ22をクリアする。フリップ、。ツブ20 の
非反転出力信号及びフリップフロップ220反転出力信
号はアンド回路23によりアンドがとられ、アップダウ
/カウンタ16はフリップフロップ220反転出力信号
にxt)H源投入時に最小計数値例えば0がロードされ
る。この最小計数値は半導体レーザ1の最小駆動電流を
設定する値である。
アップダウ/カウンタ16はアンド回路23の出力信号
によりディスエーブル状態が解除され、前述の通り比較
器12の出力が低レベルであれば発振器15からのクロ
ック信号をアップカウントし、比較器12 の出力が
高レベルであれば発振器15からのクロック信号をダウ
ンカウントする。エツジ検出回路24は比較器12の出
力の立上りエツジと立下りエツジ(又は立上りエツジの
み)を検出してフリップフロップ20ナリセツトし、ア
ップダウンカウンタ16をディスエーブル状態に戻す。
によりディスエーブル状態が解除され、前述の通り比較
器12の出力が低レベルであれば発振器15からのクロ
ック信号をアップカウントし、比較器12 の出力が
高レベルであれば発振器15からのクロック信号をダウ
ンカウントする。エツジ検出回路24は比較器12の出
力の立上りエツジと立下りエツジ(又は立上りエツジの
み)を検出してフリップフロップ20ナリセツトし、ア
ップダウンカウンタ16をディスエーブル状態に戻す。
アップダウンカウンタ15が最小計数値になった時に出
力するリップルキャリー信号と比較器12の出力信号と
のアンドがアンド回路25でとられ、その出力信号によ
りフリップフロップ22がセントされる。したがって比
較器12の出力が高レベルでアップダウンカラ/り13
の計数値が最小計数値の0になったときにはフリップフ
ロップ22がリセットされてアップダランカウンタ13
がディスエーブル状態になり、アップダウンカウンタ1
6が最小計数値から最大計数値に飛ばなくなって半導体
レーザ1は駆動電流が保持されて破壊されなくなる。第
4図はこの時のタイミングチャートである。
力するリップルキャリー信号と比較器12の出力信号と
のアンドがアンド回路25でとられ、その出力信号によ
りフリップフロップ22がセントされる。したがって比
較器12の出力が高レベルでアップダウンカラ/り13
の計数値が最小計数値の0になったときにはフリップフ
ロップ22がリセットされてアップダランカウンタ13
がディスエーブル状態になり、アップダウンカウンタ1
6が最小計数値から最大計数値に飛ばなくなって半導体
レーザ1は駆動電流が保持されて破壊されなくなる。第
4図はこの時のタイミングチャートである。
また出力制御タイミング発生器22はフレーム同期信号
FSYNCに2リスタンバイモードで動作し、一定周期
で出力タイミング信号を発生してオア回路18に出力す
ることによって半導体レーザ1のパワーセットを一定周
期で行なわせる。
FSYNCに2リスタンバイモードで動作し、一定周期
で出力タイミング信号を発生してオア回路18に出力す
ることによって半導体レーザ1のパワーセットを一定周
期で行なわせる。
なおアップダウンカウンタ16は比較器12の出力°
が低レベルでダウンカウンタとして動作して比較器12
の出力が高レベルでアップカウンタとして動作するよう
にし、その計数値と半導体レーザ1の駆動電流とが反比
例するようにしてもよい。この場合アップダウンカウン
タ13が最大計数値になったことと比較器12の出力が
低レベルになったことを判別してフリップフロップ22
をセットする論理回路がアンド回路25の代りに設けら
れ、アンプダウンカウンタ16が最大計数値から最小計
数値に飛ぶことか禁止される。
が低レベルでダウンカウンタとして動作して比較器12
の出力が高レベルでアップカウンタとして動作するよう
にし、その計数値と半導体レーザ1の駆動電流とが反比
例するようにしてもよい。この場合アップダウンカウン
タ13が最大計数値になったことと比較器12の出力が
低レベルになったことを判別してフリップフロップ22
をセットする論理回路がアンド回路25の代りに設けら
れ、アンプダウンカウンタ16が最大計数値から最小計
数値に飛ぶことか禁止される。
(効 果)
以上のように本発明によればアップダウンカウンタが半
導体レーザの駆動電流を増加させるように最小計数値か
ら最大計数値へ又は最大計数値から最小計数値へ飛ぶこ
とを禁止したので、半導体レーザの過大な駆動電流によ
る破壊を防止することができる。
導体レーザの駆動電流を増加させるように最小計数値か
ら最大計数値へ又は最大計数値から最小計数値へ飛ぶこ
とを禁止したので、半導体レーザの過大な駆動電流によ
る破壊を防止することができる。
矛1図は本発明の一実捲例を示すプa 7り図、矛2図
はレーザプリンタの一例を示すブロック図、矛3図は同
レーザプリンタの一部を示すブロック図、矛4図は上記
実捲例のタイミングチャートである。 1・・・半導体レーザ、8・・・半導体レーザ駆動回路
、9・・・光検出器、12・・・比較器、13・・・ア
ップダウンカウンタ、16・・・、デジタル/アナログ
変換器、17゜24 ・・・エツジ検出回路、20.
22・・・フリップフロップ、23.25・・・アンド
回路。 リフグル↑79−(乙、5゜ nnJ入力 L
はレーザプリンタの一例を示すブロック図、矛3図は同
レーザプリンタの一部を示すブロック図、矛4図は上記
実捲例のタイミングチャートである。 1・・・半導体レーザ、8・・・半導体レーザ駆動回路
、9・・・光検出器、12・・・比較器、13・・・ア
ップダウンカウンタ、16・・・、デジタル/アナログ
変換器、17゜24 ・・・エツジ検出回路、20.
22・・・フリップフロップ、23.25・・・アンド
回路。 リフグル↑79−(乙、5゜ nnJ入力 L
Claims (1)
- 半導体レーザの出力強度を設定するためのアップダウン
カウンタと、このアップダウンカウンタの計数出力をア
ナログ量に変換するデジタル/アナログ変換器と、この
デジタル/アナログ変換器の出力信号に応じた電流を上
記半導体レーザに流す半導体レーザ駆動回路と、上記半
導体レーザの出力強度を検出する光検出手段と、この光
検出手段の出力信号を基準信号と比較する比較器と、上
記アップダウンカウンタのディスエーブル状態を所定の
タイミングで解除して上記アップダウンカウンタを上記
比較器の両入力信号の差が零になるように計数させた後
にディスエーブル状態に戻す制御手段と、上記アップダ
ウンカウンタが上記半導体レーザの駆動電流を増加させ
るように最小計数値から最大計数値へ又は最大計数値か
ら最小計数値へ飛ぶことを禁止する手段とを備えた半導
体レーザの出力制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1600985A JPS61175655A (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 半導体レ−ザの出力制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1600985A JPS61175655A (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 半導体レ−ザの出力制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61175655A true JPS61175655A (ja) | 1986-08-07 |
Family
ID=11904589
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1600985A Pending JPS61175655A (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 半導体レ−ザの出力制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61175655A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6397061A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レ−ザ記録装置 |
| JPS6397060A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レ−ザ記録装置 |
-
1985
- 1985-01-30 JP JP1600985A patent/JPS61175655A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6397061A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レ−ザ記録装置 |
| JPS6397060A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レ−ザ記録装置 |
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