JPS6119941B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6119941B2 JPS6119941B2 JP13188780A JP13188780A JPS6119941B2 JP S6119941 B2 JPS6119941 B2 JP S6119941B2 JP 13188780 A JP13188780 A JP 13188780A JP 13188780 A JP13188780 A JP 13188780A JP S6119941 B2 JPS6119941 B2 JP S6119941B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- circuit
- capacitor
- oscillating
- trigger
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/333—Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
- G01R31/3333—Apparatus, systems or circuits therefor
- G01R31/3336—Synthetic testing, i.e. with separate current and voltage generators simulating distance fault conditions
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、合成試験法によるしや断器の等価試
験装置に関し、特にアーク延長のためのインパル
ス回路に関する。
験装置に関し、特にアーク延長のためのインパル
ス回路に関する。
しや断器の等価試験装置は、しや断性能試験を
実使用状態と同じ規模で実施する直接試験に代つ
て、比較的小規模設備による検証を可能にする。
そのうち、合成試験法は第１図に示すワイル法に
代表されるように高圧電圧源Ｖと大電流源Ａを用
意し、しや断前に電流源から供試しや断器CBtに
供給している大電流をしや断器CBtのしや断時に
電圧源に切換えて再起電圧波形の電圧が印加され
ることでしや断性能の検証がなされる。このしや
断性能試験において、開極時のアーク時間が半サ
イクルを越えた領域までのしや断性能を検証でき
ることが望まれる。即ち、合成等価試験では、開
極から最初の電流零点を越えて確実にアーク延長
させる技術が要求される。このアーク延長のため
に、従来は第１図に示すＲ―Ｌ―Ｃ回路と３点ギ
ヤツプＧのインパルス回路と補助しや断器
AuxCBとを用意し、３点ギヤツプＧを発弧させ
て予め充電されたコンデンサＣからしや断器CBt
の電流零点でその電荷をリアクトルＬさらには抵
抗Ｒを介してしや断電流に急峻なパルス電流とし
て重畳させる。
実使用状態と同じ規模で実施する直接試験に代つ
て、比較的小規模設備による検証を可能にする。
そのうち、合成試験法は第１図に示すワイル法に
代表されるように高圧電圧源Ｖと大電流源Ａを用
意し、しや断前に電流源から供試しや断器CBtに
供給している大電流をしや断器CBtのしや断時に
電圧源に切換えて再起電圧波形の電圧が印加され
ることでしや断性能の検証がなされる。このしや
断性能試験において、開極時のアーク時間が半サ
イクルを越えた領域までのしや断性能を検証でき
ることが望まれる。即ち、合成等価試験では、開
極から最初の電流零点を越えて確実にアーク延長
させる技術が要求される。このアーク延長のため
に、従来は第１図に示すＲ―Ｌ―Ｃ回路と３点ギ
ヤツプＧのインパルス回路と補助しや断器
AuxCBとを用意し、３点ギヤツプＧを発弧させ
て予め充電されたコンデンサＣからしや断器CBt
の電流零点でその電荷をリアクトルＬさらには抵
抗Ｒを介してしや断電流に急峻なパルス電流とし
て重畳させる。
しかし、従来のインパルス回路では、絶縁回復
特性に優れる供試しや断器には電流の第１零点で
のアーク延長成功率が低いものであつた。これ
は、アーク延長用注入電流に1KHz以上の高周波
電流をしや断電流に重畳させ、しや断器のしや断
能力を越えるdi/dtの合成電流を流すも、合成電
流には必ず電流値零の瞬間があつてしや断電流零
時点を通り過ぎた後に合成電流が再び零をよぎる
ことになり、この電流零のよぎりが多数回発生し
かつ注入電流が減衰する過程で零点でのdi/dtが
減ずるため、供試しや断器の絶縁回復特性を上ま
わるに充分な電圧を与えられないことによる。
特性に優れる供試しや断器には電流の第１零点で
のアーク延長成功率が低いものであつた。これ
は、アーク延長用注入電流に1KHz以上の高周波
電流をしや断電流に重畳させ、しや断器のしや断
能力を越えるdi/dtの合成電流を流すも、合成電
流には必ず電流値零の瞬間があつてしや断電流零
時点を通り過ぎた後に合成電流が再び零をよぎる
ことになり、この電流零のよぎりが多数回発生し
かつ注入電流が減衰する過程で零点でのdi/dtが
減ずるため、供試しや断器の絶縁回復特性を上ま
わるに充分な電圧を与えられないことによる。
本発明の目的は、供試しや断能力以上のdi/dt
の合成電流でしや断電流零点を越え、電流零点を
越えた後の合成電流が再び零点をよぎらない電流
注入を可能にした等価試験装置を提供するにあ
る。
の合成電流でしや断電流零点を越え、電流零点を
越えた後の合成電流が再び零点をよぎらない電流
注入を可能にした等価試験装置を提供するにあ
る。
第２図は本発明の一実施例を示す回路図であ
る。供試しや断器CBtには回路分離用しや断器
Aux，Auxによつて電流源Ａと電流源Ｖから
の大電流、高電圧の供給・しや断がなされる。電
流源Ａは短絡用交流発電機AGから供試しや断器
CBtに短絡電流I1を供給し、回路保護コンデンサ
ＣA及びその分離用しや断器Auxなどを具備す
る。電流源Ａの出力電流I1に重畳するアーク延長
用注入電流I2はインパルス回路IMPから供給さ
れ、供試しや断器CBtに合成電流ＩTが供給され
る。
る。供試しや断器CBtには回路分離用しや断器
Aux，Auxによつて電流源Ａと電流源Ｖから
の大電流、高電圧の供給・しや断がなされる。電
流源Ａは短絡用交流発電機AGから供試しや断器
CBtに短絡電流I1を供給し、回路保護コンデンサ
ＣA及びその分離用しや断器Auxなどを具備す
る。電流源Ａの出力電流I1に重畳するアーク延長
用注入電流I2はインパルス回路IMPから供給さ
れ、供試しや断器CBtに合成電流ＩTが供給され
る。
インパルス回路IMPは、アーク延長指令でトリ
ガされる３点ギヤツプG1を通した出力電流I2を２
種類の電流経路から供給し、その１つは予め充電
されるコンデンサC1から放電用リアクトルL1を
通した振動電流回路で供給され、C1，L1及び線
路リアクタンスL2で決定される共振周波数の高
周波振動電流を供試しや断器CBtのI0に重畳して
注入電流として供給する。インパルス回路IMPの
他の電流経路はコンデンサC1から抵抗R1―２点
トリガのギヤツプG2―ギヤツプG1―線路リアク
タンスL2を通した非振動電流回路で構成され、
この回路はコンデンサC1がL1との振動半サイク
ル経過で負極性に充電されたときにギヤツプG2
のトリガにより供給される。ここで、抵抗R1は
リアクトルL1を短絡（バイパス）するに充分な
低い抵抗値（例えば１Ω）にされる。
ガされる３点ギヤツプG1を通した出力電流I2を２
種類の電流経路から供給し、その１つは予め充電
されるコンデンサC1から放電用リアクトルL1を
通した振動電流回路で供給され、C1，L1及び線
路リアクタンスL2で決定される共振周波数の高
周波振動電流を供試しや断器CBtのI0に重畳して
注入電流として供給する。インパルス回路IMPの
他の電流経路はコンデンサC1から抵抗R1―２点
トリガのギヤツプG2―ギヤツプG1―線路リアク
タンスL2を通した非振動電流回路で構成され、
この回路はコンデンサC1がL1との振動半サイク
ル経過で負極性に充電されたときにギヤツプG2
のトリガにより供給される。ここで、抵抗R1は
リアクトルL1を短絡（バイパス）するに充分な
低い抵抗値（例えば１Ω）にされる。
ギヤツプG2のトリガ回路TRGは、充電用抵抗
R2と抵抗R1を通して予め充電されるコンデンサ
C2からギヤツプG3のトリガによつてコンデンサ
C2―コンデンC3―リアクトルL3の直列共振回路
に振動電流を流し、コンデンサC3の両端交流電
圧で抵抗R3，R3′を介したギヤツプG2のトリガ装
置部の放電をなす。
R2と抵抗R1を通して予め充電されるコンデンサ
C2からギヤツプG3のトリガによつてコンデンサ
C2―コンデンC3―リアクトルL3の直列共振回路
に振動電流を流し、コンデンサC3の両端交流電
圧で抵抗R3，R3′を介したギヤツプG2のトリガ装
置部の放電をなす。
インパルス回路IMPからの注入電流に必要なエ
ネルギーは充電回路RecによつてコンデンサC1と
C2が予め図示極性に充電されることでなされ
る。
ネルギーは充電回路RecによつてコンデンサC1と
C2が予め図示極性に充電されることでなされ
る。
インパルス回路IMPの制御は第３図に示す波形
図で説明する。試験に際してコンデンサC1及び
C2は図示極性で所定電圧まで充電され、しや断
器Auxが投入されて電流源Ａから電流I1が供給
される状態において、供試しや断器CBtを開極
（時刻t1）後、最初の電流零点直前でギヤツプG1を
トリガする。この時点（t2）ではC1，L1，L2で決
定される直列共振電流I2が電流I1に重畳して流
れ、コンデンサC1の充電極性がI1に正に重畳され
る極性となつて合成電流ＩTは電流値が高周波電
流の半周期期間では高くなる。
図で説明する。試験に際してコンデンサC1及び
C2は図示極性で所定電圧まで充電され、しや断
器Auxが投入されて電流源Ａから電流I1が供給
される状態において、供試しや断器CBtを開極
（時刻t1）後、最初の電流零点直前でギヤツプG1を
トリガする。この時点（t2）ではC1，L1，L2で決
定される直列共振電流I2が電流I1に重畳して流
れ、コンデンサC1の充電極性がI1に正に重畳され
る極性となつて合成電流ＩTは電流値が高周波電
流の半周期期間では高くなる。
次に、振動電流の最初の半周期終了時（時刻
t3）にギヤツプG3をトリガしてトリガ回路TRGに
よるギヤツプG2をトリガすると、コンデンサC1
はその電圧極性がほぼ完全に反転していることか
ら、コンデンサC1―抵抗R1―リアクトルL2で決
定されるほぼ非振動電流がI1に逆極性で重畳して
流れる。このインパルス電流I2はコンデンサC1と
リアクトルL1の振動電流に比して高い周波数に
なる反面抵抗R1による減衰波形になり、合成電
流ＩTは零点を高いdi/dtで通過した後には再び電
流零点を通過することなく極性反転し、0.5のア
ーク延長が行われる。また、アーク延長直後には
しや断器Auxは投入され、電流源Ａにその回路
保護用コンデンサＣAを接続する。
t3）にギヤツプG3をトリガしてトリガ回路TRGに
よるギヤツプG2をトリガすると、コンデンサC1
はその電圧極性がほぼ完全に反転していることか
ら、コンデンサC1―抵抗R1―リアクトルL2で決
定されるほぼ非振動電流がI1に逆極性で重畳して
流れる。このインパルス電流I2はコンデンサC1と
リアクトルL1の振動電流に比して高い周波数に
なる反面抵抗R1による減衰波形になり、合成電
流ＩTは零点を高いdi/dtで通過した後には再び電
流零点を通過することなく極性反転し、0.5のア
ーク延長が行われる。また、アーク延長直後には
しや断器Auxは投入され、電流源Ａにその回路
保護用コンデンサＣAを接続する。
トリガ回路TRGの動作は、ギヤツプG3のトリ
ガでC2―C3―L3の共振電流が流れ、コンデンサ
C3の両端電圧で抵抗R3及びR3′を介してギヤツブ
G2での放電を起し、その後はC2―R3―L3で決定
される回路でトリガ電流を供給する。このトリガ
回路は、ギヤツプG2に加える電圧が交流波形に
なつて直流印加と異なりそのトリガタイミングを
合せるのが難しくなるため、２点トリガとしてト
リガ電流の増大及びタイミング合せを容易にす
る。反面、交流電圧によるトリガ回路によつて、
コンデンサC2はC1と同じ充電回路を利用するこ
とができ、トリガ回路専用の充電電源を必要とし
ないし、コンデンサC2の容量値と抵抗R3の値に
よつてトリガ電流値及び時定数の調整は容易にな
る。なお、ギヤツプG2のトリガは２点トリガと
しているが、３点以上とするにはトリガ電極とそ
の抵抗R3を追加するだけで容易に達成される
し、一層確実なトリガ制御が可能になる。
ガでC2―C3―L3の共振電流が流れ、コンデンサ
C3の両端電圧で抵抗R3及びR3′を介してギヤツブ
G2での放電を起し、その後はC2―R3―L3で決定
される回路でトリガ電流を供給する。このトリガ
回路は、ギヤツプG2に加える電圧が交流波形に
なつて直流印加と異なりそのトリガタイミングを
合せるのが難しくなるため、２点トリガとしてト
リガ電流の増大及びタイミング合せを容易にす
る。反面、交流電圧によるトリガ回路によつて、
コンデンサC2はC1と同じ充電回路を利用するこ
とができ、トリガ回路専用の充電電源を必要とし
ないし、コンデンサC2の容量値と抵抗R3の値に
よつてトリガ電流値及び時定数の調整は容易にな
る。なお、ギヤツプG2のトリガは２点トリガと
しているが、３点以上とするにはトリガ電極とそ
の抵抗R3を追加するだけで容易に達成される
し、一層確実なトリガ制御が可能になる。
以上のとおり、本発明は、アーク延長用注入電
流源としてインパルス回路に、C1―L1―L2によ
る電流源とC1―R1―L2によるほぼ非振動の電流
源を具備し、C1―L1―L2回路による大きな振動
電流を損失少なく供給して電流源Ａの電流I1の零
直前の合成電流を高くしておき、合成電流零タイ
ミングでC1―R1―L2回路による高いdi/dtの非振
動電流を負極性方向に重畳することで合成電流零
点近傍のdi/dtを大きくして零点をよぎると共に
合成電流が零になつた瞬間の供試しや断器端子間
に加わる電圧値を大きくすることができる。ま
た、C1―R1―L2回路ではR1によりインパルス電
流を減衰させることができ、合成電流ＩTが２回
以上零点をよぎることが無く確実なアーク延長が
可能となる。また、しや断器Aux，で電圧源
Ｖ及び電流源Ａ間の分離、コンデンサＣAの分離
を容易にしてしかも供試しや断器CBtの端子間に
加わる電圧及び電圧上昇率を大きくすることがで
きる。
流源としてインパルス回路に、C1―L1―L2によ
る電流源とC1―R1―L2によるほぼ非振動の電流
源を具備し、C1―L1―L2回路による大きな振動
電流を損失少なく供給して電流源Ａの電流I1の零
直前の合成電流を高くしておき、合成電流零タイ
ミングでC1―R1―L2回路による高いdi/dtの非振
動電流を負極性方向に重畳することで合成電流零
点近傍のdi/dtを大きくして零点をよぎると共に
合成電流が零になつた瞬間の供試しや断器端子間
に加わる電圧値を大きくすることができる。ま
た、C1―R1―L2回路ではR1によりインパルス電
流を減衰させることができ、合成電流ＩTが２回
以上零点をよぎることが無く確実なアーク延長が
可能となる。また、しや断器Aux，で電圧源
Ｖ及び電流源Ａ間の分離、コンデンサＣAの分離
を容易にしてしかも供試しや断器CBtの端子間に
加わる電圧及び電圧上昇率を大きくすることがで
きる。
第１図は従来のしや断器の等価試験装置を示す
図、第２図は本発明の一実施例を示す回路図、第
３図は第２図の動作波形図である。 Ａ……電流源、Ｖ……電圧源、IMP……インパ
ルス回路、Rec……充電回路、CBt……供試しや
断器、TRG……トリガ回路。
図、第２図は本発明の一実施例を示す回路図、第
３図は第２図の動作波形図である。 Ａ……電流源、Ｖ……電圧源、IMP……インパ
ルス回路、Rec……充電回路、CBt……供試しや
断器、TRG……トリガ回路。
Claims (1)
- １ アーク延長のためのインパルス回路を有する
合成試験法によるしや断器の等価試験装置におい
て、上記インパルス回路は、電流源から供試しや
断器に供給するしや断電流の最初の零点直前でコ
ンデンサとリアクトルの直列共振回路から振動電
流を該しや断電流に重畳させる電流源と、この振
動電流の最初の半波電流としや断電流の合成電流
が零点を通過する際に上記コンデンサからリアク
トルをバイパスする抵抗を介して該合成電流に同
極性に非振動電流を重畳させる電流源とを備えた
ことを特徴とするしや断器の等価試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13188780A JPS5756765A (en) | 1980-09-22 | 1980-09-22 | Equivalent tester for breaker |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13188780A JPS5756765A (en) | 1980-09-22 | 1980-09-22 | Equivalent tester for breaker |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5756765A JPS5756765A (en) | 1982-04-05 |
| JPS6119941B2 true JPS6119941B2 (ja) | 1986-05-20 |
Family
ID=15068461
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13188780A Granted JPS5756765A (en) | 1980-09-22 | 1980-09-22 | Equivalent tester for breaker |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5756765A (ja) |
-
1980
- 1980-09-22 JP JP13188780A patent/JPS5756765A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5756765A (en) | 1982-04-05 |
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