JPS61201466A - 縦形バイポ−ラトランジスタ - Google Patents

縦形バイポ−ラトランジスタ

Info

Publication number
JPS61201466A
JPS61201466A JP60042256A JP4225685A JPS61201466A JP S61201466 A JPS61201466 A JP S61201466A JP 60042256 A JP60042256 A JP 60042256A JP 4225685 A JP4225685 A JP 4225685A JP S61201466 A JPS61201466 A JP S61201466A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor layer
electrode
region
layer
bipolar transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60042256A
Other languages
English (en)
Inventor
Nagaaki Nakajima
中島 長明
Koichi Nagata
公一 永田
Hiroshi Ito
弘 伊藤
Tadao Ishibashi
忠夫 石橋
Takayuki Sugata
孝之 菅田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP60042256A priority Critical patent/JPS61201466A/ja
Publication of JPS61201466A publication Critical patent/JPS61201466A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D10/00Bipolar junction transistors [BJT]
    • H10D10/80Heterojunction BJTs
    • H10D10/821Vertical heterojunction BJTs

Landscapes

  • Bipolar Transistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、縦形バイポーラトランジスタの改良に関する
従来の技術 縦形バイポーラトランジスタとして、従来、第4図を伴
なって次に述べる構成を有するものが提案されている。
すなわち、例えばGaAsでなる半絶縁性半導体基板1
0を有し、その半絶縁性半導体基板10上に、例えばG
aAsでなる、またはGaAsに比し広い禁制帯幅を有
する例えばAIGaAS系でなるn型またはp型の半導
体111が形成されている。
また、その半導体層11上に、その一部領域11′上を
除いた領域上において、例えば、半導体層11と同じま
たは半導体層11に比し狭い禁制帯幅を有する例えばG
aASでなり且つ半導体層11とは逆の導電型(半導体
層11がn型の場合p型、p型の場合n型)を有する半
導体層12が、半導体層11との間でpn接合21を形
成するように、形成されている。この場合、半導体11
2はその全厚さに亘って一定の禁制帯幅を有している。
また、半導体層12上に、その一部領域12′を除いた
領域上において、例えば、半導体層12に比し広い禁制
帯幅を有する例えばAIGaAS系でなる、または半導
体[112と同じ禁制帯幅を有する例えばGaASでな
り、且つ半導体l112とは逆の導電型(半導体層12
がp型の場合n型、n型の場合p型)を有する半導体層
13が、半導体層12との間でpn接合22を形成する
ように、形成されている。
さらに、半導体層11上に、その一部領域11′上にお
いて、半導体[111にオーム接触する電極ff131
が形成されている。
また、半導体層12上に、その一部領域12′上におい
て、半導体層12にオーム接触する電極層32が形成さ
れている。
さらに、半導体層13上に、その一部領域13′上にお
いて、半導体層13にオーム接触する電極層33が形成
されている。
以上が、従来提案されている縦形バイポーラトランジス
タの構成である。
このような構成を有する縦形バイポーラトランジスタは
、°半導体111.12及び13がそれぞれn型、p型
及びn型であり、且つ半導体1113が半導体層12に
比し広い禁制帯幅を有する半導体でなる場合、半導体1
11.12及び13をそれぞれコレクタ領域、ベース領
域及びエミッタ領域とし、また、電極1331.32及
び33をそれぞれコレクタ電極、ベース電極及びエミッ
タ電極としているnpn型の縦形バイポーラトランジス
タを構成している。
また、半導体層11.12及び13がそれぞれn型、p
型及びn型であり、且つ半導体層11が半導体層12に
比し広い禁制帯幅を有する半導体でなる場合、半導体層
11.12及び13をそれぞれエミッタ領域、ベース領
域及びコレクタ領域とし、また、電極層31.32及び
33をそれぞれエミッタ電極、ベース電極及びコレクタ
電極としているnpn型の縦形バイポーラトランジスタ
を構成している。
さらに、半導体層11.12及び13がそれぞれp型、
n型及びp型であり、且つ半導体層13が半導体層12
に比し広い禁制帯幅を有する半導体でなる場合、半導体
[111,12及び13をそれぞれコレクタ領域、ベー
ス領域及びエミッタ領域とし、また、電極層31.32
及び33をそれぞれコレクタ電極、ベース電極及びエミ
ッタ電極としているpnp型の線形バイポーラトランジ
スタを構成している。
また、半導体層11.12及び13がそれぞれp型、n
型及びp型であり、且つ半導体WJ11が半導体層12
に比し広い禁制帯幅を有する半導体でなる場合、半導体
F411.12及び13をそれぞれエミッタ領域、ベー
ス領域及びコレクタ領域とし、また、電極層31.32
及び33をそれぞれエミッタ電極、ベース電極及びコレ
クタ電極としているpnp型の縦形バイポーラトランジ
スタを構成している。
このようなnpn型またはpnp型の縦形バイポーラト
ランジスタの場合、■、ミッタ領域としての半導体層1
3(または半導体層11)と、コレクタ領域としての半
導体層11(または半導体層13)との間に、エミッタ
電極としての電極層33(または電極JI31)と、コ
レクタ電極としての電極H31(または電極層33)と
を介して、半導体層11及び13がn型であるかp型で
あるかに応じて半導体領域13側を正または負とするコ
レクタバイアス電源を接続している状態で、エミッタ領
域としての半導体層13(または半導体層11)と、ベ
ース領域としての半導体層12との間に、エミッタ電極
としての電極層33(または電極層31)と、ベース電
極としての電極層32とを介して、半導体層13(また
は半導体層11)と、半導体層12との間のpn接合2
2(またはpn接合21)にバイアス電圧が順方向に与
えられる極性で、ベースバイアス電源を接続すれば、エ
ミッタ領域としての半導体層13(または半導体層11
)からベース領域としての半導体層12に少数キャリア
が注入し、次で、その少数キャリアがコレクタ領域とし
ての半導体層11(または半導体層13)に注入し、こ
れにもとずき、コレクタ電極としての電極層31(また
は電極1133)を通ってコレクタ電流が流れる、とい
う機構で縦形バイポーラトランジスタとしての機能を呈
する。
°この場合、ベース領域としての半導体層12に注入し
た少数キャリアの一部が、そのベース領域としての半導
体層12内を、その一部領域12′側に移動し、その一
部領域12′内で多数キャリアと再結合して消滅し、ま
た、他の一部が、ベース電極としての電極1I132に
到達することにもとすぎ、電極層32を通ってベース電
流が流れる。
このベース電極としての電極層22に流れるベース電流
に対する、コレクタ電極としての電極層31(または電
極層33)に流れるコレクタ電流の比は、電流増幅率と
称され、その電流増幅率が大であるのが、縦形バイポー
ラトランジスタとして望ましい。
発明が解決しようとする口 しかしながら、第4図に示す従来の縦形バイポーラトラ
ンジスタの場合、ベース領域としての半導体層12が、
その全厚さに亘って一定の禁制帯幅を有しているので、
その半導体!112には、その半導体層12に注入した
少数キャリアをコレクタ領域としての半導体層11(ま
たは半導体層13)に向って加速するような内部加速電
界を有していない。
このため、上述したベース電流の量が、上述したコレク
タ電流に対して比較的大なる割合を有している。
また、このため、上述した電流増幅率が、エミッタ領域
としての半導体[113(または半導体層11)と、ベ
ース領域としての半導体層12との間のpn接合22(
またはpn接合21)の周辺長と面積との比に比較的大
きく依存している。
従って、第4図に示す従来の縦形バイポーラトランジス
タの場合、エミッタ領域としての半導体[13(または
半導体111)と、ベース領域としての半導体層12と
の間のpn接合21(またはpn接合22)の周辺長と
面積との比に依存している、比較的低い電流増幅率しか
有していない、という欠点を有していた。
問題を解決するための手段 ゛よって、本発明は、上述した欠点のない、新規な縦形
バイポーラトランジスタを提案せんとするものである。
本発明による縦形バイポーラトランジスタは、第4図で
上述した従来の縦形バイボーラトランジスタの場合と同
様に、半絶縁性半導体基板上に、第1の導電型を有する
第1の半導体層が形成され、その第1の半導体層上に、
その一部領域上を除いた領域上において、第1の半導体
層との間で第1のpn接合を形成する、上記第1の導電
型とは逆の第2の導電型を有する第2の半導体層が形成
され、また、その第2の半導体層上に、その一部領域上
を除いた領域上において、第2の半導体層との間で第2
のpn接合を形成する、第1の導電型を有する第3の半
導体層が形成され、さらに、上記第1の半導体層上に、
その上記一部領域上において、第1の半導体層にオーム
接触する第1の電極層が形成され、また、上記2の半導
体層上に、その上記一部領域上において、第2の半導体
層にオーム接触する第2の電極層が形成され、さらに、
上記第3の半導体層上に、それにオーム接触すり第3の
電極層が形成され、しかして、上記第1の半導体層をコ
レクタ領域またはエミッタ領域、上記第2の半導体層を
ベース領域、上記第3の半導体層を上記第1の半導体層
が]レクタ領域であるかエミッタ領域であるかに応じて
エミッタ領域またはコレクタ領域とし、上記第1の電極
層を上記第1の半導体層がコレクタ領域であるかエミッ
タ領域であるかに応じてコレクタ電極またはエミッタ電
極、上記第2の電極層をベース電極、上記第3の電極層
を上記第3の半導体層がエミッタ領域であるかコレクタ
領域であるかに応じてエミッタ電極またはコレクタ電極
としている構成を有する。
しかしながら、本発明による縦形バイポーラトランジス
タは、このような構成を有する縦形バイポーラトランジ
スタにおいて、その上記第2の半導体層が、エミッタ領
域を上記第3の半導体層としているか第1の半導体層と
しているかに応じて決められた上記第2または第1のp
n接合の周辺長と面積との比にほとんど依存していない
電流増幅率が得られるに十分な、上記第3の半導体層側
から上記第1の半導体層側に向って、エミッタ領域を上
記第3の半導体層としているか上記第1の半導体層とし
ているかに応じて単調に狭くまたは広くなる禁制帯幅を
有している。
作  用 このような本発明による縦形バイポーラトランジスタに
よれば、第4図で上述した従来の縦形バイポーラトラン
ジスタにおいて、その第2の半導体層が、エミッタ領域
を第3の半導体層としているか第1の半導体層としてい
るかに応じて決められた第2または第1のpn接合の周
辺長と面積との比にほとんど依存しない電流増幅率が得
られるに十分な、第3の半導体層側から第1の半導体層
側に向って、エミッタ領域を第3の半導体層としている
か第1の半導体層としているかに応じて単調に狭くまた
は広くなる禁制帯幅を有していることを除いて、第4図
で上述した従来の縦形バイポーラトランジスタと同様の
構成を有するので、第4図で上述した従来の縦形バイポ
ーラトランジスタで述べたと同様の機構で、縦形バイポ
ーラトランジスタとしての機能を同様に呈する。
しかしながら、本発明による縦形バイポーラトランジス
タの場合、ベース領域としての第2の半導体層が、エミ
ッタ領域としての第3(または第1)の半導体層側から
コレクタ領域としての第1(または第3)の半導体層側
に向って単調に狭くなる禁制帯幅を有しているので、そ
の第2の半導体層に、その第2の半導体層に注入した少
数キャリアをコレクタ領域としての第1(まはた第3)
の半導体層に向って加速する内部加速電界を有し、そし
て、上述したベース領域としての第2の半導体層の禁制
帯幅が、エミッタ領域としての第3(または第1)の半
導体領域とベース領域としての第2の半導体層との間の
第2(または第1)のpn接合の周辺長と面積との比に
ほとんど依存していない電流増幅率が得られるに十分な
、禁制帯幅を有している。
このため、ベース領域としての第2の半導体層に注入し
た少数キャリアの一部が、第2の半導体層内を、その上
述した一部領域側に移動し、その一部領域で多数キャリ
アと再結合して消滅し、また、他の一部がベース電極と
しての第2の電極層に到達することにもとずき、ベース
電極としての第2の電極層を通って流れるベース電流の
量が、第4図で上述した従来の縦形バイポーラトランジ
スタの場合に比し格段的に少なく、また、このために、
電流増幅率が、エミッタ領域としての第3(または第1
)の半導体層と、ベース領域どしての第2の半導体層と
の間の第2(または第1)のpn接合の周辺長と面積と
の比にほとんど依存していない。
効  果 従って、本発明による縦形バイポーラトランジスタによ
れば、エミッタ領域としての第3(または第1)の半導
体層と、ベース領域としての第2の半導体層との間の第
2(または第1)Dn接合の周辺長と面積との比にほと
んど依存していない、従来の縦形バイポーラトランジス
タに比し格段的に高い電流増幅率を有する、という優れ
た特徴を有する。
実施例 次に、第1図を伴なって本発明による縦形バイポーラト
ランジスタの実/IIPAを述べよう。
第1図において、第4図との対応部分には同一符号を付
して詳細説明を省略する。
第1図に示す本発明による縦形バイポーラトランジスタ
の実施例は、第4図で上述した従来の縦形バイポーラト
ランジスタにおいて、その縦形バイポーラトランジスタ
の全厚さに亘って一定の禁制帯幅を有する半導体層12
が、エミッタ領域を半導体層13としているか半導体層
11としているかに応じて、半導体層13または半導体
層11側から半導体層11側に向って単調に狭くまたは
広くなる禁制帯幅を有し、そして、その禁u1帯幅が、
エミッタ領域を半導体1113としているか半導体Ig
11としているかに応じて決められたpn接合22また
はpn接合21の周辺長と面積との比にほとんど依存し
ない電流増幅率が得られるに十分な禁制帯幅である、と
いう半導体層42に置換され、これに応じて、ベース電
極としての電極層32が、半導体層12の一部領域12
′に対応している半導体1i42の一部領域42′上に
形成されていることを除いて、第4図に示す従来の縦形
バイポーラトランジスタと同様の構成を有する。
従って、第1図に示す本発明による縦形バイポーラトラ
ンジスタは、半導体層11がn型のGaASでなり、ま
た、半導体層°12がp型であり、さらに、半導体層1
3がn型を有し且つ半導体層12に比し広い半導体基板
を有する八〇   Ga   Asでなり、そして、半
導体層0.3  0.7 11.12及び13をそれぞれコレクタ領域、ベース領
域及びエミッタ領域とし、また、電極1131.32及
び33をそれぞれコレクタ電極、ベース電極及びエミッ
タ電極とするnpn型の縦形バイポーラトランジスタで
ある場合、半導体層42が例えばAIL Ga   A
s(O≦Xx     1−x 〈1〉でなり、そしてそのXの値が半導体層13側から
半導体層11側に向って小になり、従つで、−例として
、第2図に示すエネルギバンド構造を有している。
以上が、本発明による縦形バイポーラトランジスタの実
施例の構成である。
このような構成を有する本発明による縦形バイポーラト
ランジスタによれば、詳lI説明は省略するが、第4図
で上述した従来の縦形バイポーラトランジスタの場合で
上述したと同様の機構で、縦形バイポーラトランジスタ
としての機能を呈する。
しかしながら、上述した本発明による縦形バイポーラト
ランジスタの場合、それが第2図で上述したエネルギバ
ンド構造を有する場合で述べれば、詳細説明は省略する
が、半導体W142が、上述した禁制帯幅を有している
ので、第2図において符号eで示す少数キャリアとして
の電子が、半導体層42内において加速されることによ
って、第3図の実線で示すように、電流増幅率(これを
βとする)が、エミッタ領域としての半導体層13と、
ベース領域としての半導体層42との間のpn接合22
の周辺長(これを1とする)と面積(これをSとする)
との比L/Sにほとんど依存していない、第3図の点線
で示す第4図で上述した従来の縦形バイポーラトランジ
スタの場合に比し、高い値を有する。
なお、上述においては本発明の1つの実施例を示したに
留まり、本発明の精神を脱することなしに、種々の変型
、変更をなし得るであろう。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による縦形バイポーラトランジスタの
実施例を示す路線的断面図である。 第2図は、第1図に示す本発明による縦形バイポーラト
ランジスタの実施例のエネルギバンド構造を示す図であ
る。 第3図は、第1図に示す本発明による縦形バイポーラト
ランジスタの実施例が、第2図に示すエネルギバンド構
造を有している場合における、その線形バイポーラトラ
ンジスタのpn接合22の周辺長りと面積Sとの比L/
Sに対する電流増幅率βの関係を示す図である。 第4図は、従来の縦形バイポーラトランジスタを示す路
線的断面図である。 10・・・・・・・・・・・・・・・半絶縁性半導体基
板11.12.13 ・・・・・・・・・・・・・・・半導体層11’ 、1
2’ 、13’ ・・・・・・・・・・・・・・・半導体層11.12.
13の一部領域 21.22・・・・・・pn接合 31.32.33

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 半絶縁性半導体基板上に、第1の導電型を有する第1の
    半導体層が形成され、 上記第1の半導体層上に、その一部領域上を除いた領域
    上において、上記第1の半導体層との間で第1のpn接
    合を形成する、上記第1の導電型とは逆の第2の導電型
    を有する第2の半導体層が形成され、 上記第2の半導体層上に、その一部領域上を除いた領域
    上において、上記第2の半導体層との間で第2のpn接
    合を形成する、第1の導電型を有する第3の半導体層が
    形成され、 上記第1の半導体層上に、その上記一部領域上において
    、上記第1の半導体層にオーム接触する第1の電極層が
    形成され、 上記第2の半導体層上に、その上記一部領域上において
    、上記第2の半導体層にオーム接触する第2の電極層が
    形成され、 上記第3の半導体層上に、それにオーム接触する第3の
    電極層が形成され、 上記第1の半導体層をコレクタ領域またはエミッタ領域
    、上記第2の半導体層をベース領域、上記第3の半導体
    層を上記第1の半導体層がコレクタ領域であるかエミッ
    タ領域であるかに応じてエミッタ領域またはコレクタ領
    域とし、上記第1の電極層を上記第1の半導体層がコレ
    クタ領域であるかエミッタ領域であるかに応じてコレク
    タ電極またはエミッタ電極、上記第2の電極層をベース
    電極、上記第3の電極層を上記第3の半導体層がエミッ
    タ領域であるかコレクタ領域であるかに応じてエミッタ
    電極またはコレクタ電極としている縦形バイポーラトラ
    ンジスタにおいて、 上記第2の半導体層が、エミッタ領域を上記第3の半導
    体層としているか第1の半導体層としているかに応じて
    決められた上記第2または第1のpn接合の周辺長と面
    積との比にほとんど依存していない電流増幅率が得られ
    るに十分な、上記第3の半導体層側から上記第1の半導
    体層側に向つて、エミッタ領域を上記第3の半導体層と
    しているか上記第1の半導体層としているかに応じて単
    調に狭くまたは広くなる禁制帯幅を有していることを特
    徴とする縦形バイポーラトランジスタ。
JP60042256A 1985-03-04 1985-03-04 縦形バイポ−ラトランジスタ Pending JPS61201466A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60042256A JPS61201466A (ja) 1985-03-04 1985-03-04 縦形バイポ−ラトランジスタ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60042256A JPS61201466A (ja) 1985-03-04 1985-03-04 縦形バイポ−ラトランジスタ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61201466A true JPS61201466A (ja) 1986-09-06

Family

ID=12630943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60042256A Pending JPS61201466A (ja) 1985-03-04 1985-03-04 縦形バイポ−ラトランジスタ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61201466A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4998969A (ja) * 1973-01-24 1974-09-19
JPS5039076A (ja) * 1973-08-08 1975-04-10

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4998969A (ja) * 1973-01-24 1974-09-19
JPS5039076A (ja) * 1973-08-08 1975-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4066917A (en) Circuit combining bipolar transistor and JFET's to produce a constant voltage characteristic
US4027177A (en) Clamping circuit
JPS62115765A (ja) 半導体装置
JPH0534834B2 (ja)
JPH0465552B2 (ja)
US4529998A (en) Amplified gate thyristor with non-latching amplified control transistors across base layers
JPS60160166A (ja) ヘテロ接合コレクタを有するバイポ−ラトランジスタ
JP2601862B2 (ja) アノードショート型導電変調mosfet
GB1566540A (en) Amplified gate thyristor
US4131806A (en) I.I.L. with injector base resistor and schottky clamp
JPH0465532B2 (ja)
US3040197A (en) Junction transistor having an improved current gain at high emitter currents
US3668540A (en) Integrated video amplifier
JP2969778B2 (ja) 高電子移動度複合トランジスタ
IE48720B1 (en) Switching circuit
JPH06291337A (ja) 定電圧ダイオード
JP4302329B2 (ja) 半導体装置
JPS62144357A (ja) スイツチング用半導体装置
JPS59103425A (ja) スイツチングデバイス
JPH0575029A (ja) 半導体装置
JPH0671003B2 (ja) バイポ−ラトランジスタ
JPH0583190B2 (ja)
JPH04239792A (ja) 半導体レーザ
JPS6248072A (ja) 半導体装置
JPH03108726A (ja) 過電流制限型半導体装置