JPS61258458A - 樹脂封止ic - Google Patents
樹脂封止icInfo
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- JPS61258458A JPS61258458A JP60099561A JP9956185A JPS61258458A JP S61258458 A JPS61258458 A JP S61258458A JP 60099561 A JP60099561 A JP 60099561A JP 9956185 A JP9956185 A JP 9956185A JP S61258458 A JPS61258458 A JP S61258458A
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- Japan
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
- H10W74/10—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition
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- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/411—Chip-supporting parts, e.g. die pads
- H10W70/415—Leadframe inner leads serving as die pads
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- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07551—Connecting or disconnecting of bond wires characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
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- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Die Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、樹脂封止ICに係シ、特に素子の大形化に好
適な樹脂封止ICに関するものである。
適な樹脂封止ICに関するものである。
半導体装置は、メモリ容量を増大させるため、ICチッ
プすなわち素子の大形化が要請されている。これに対し
て外部端子リードの幅は、従来製品との互換性やメーカ
の申し合わせなどで広げることができない現状にある。
プすなわち素子の大形化が要請されている。これに対し
て外部端子リードの幅は、従来製品との互換性やメーカ
の申し合わせなどで広げることができない現状にある。
そのため、パッケージの外形寸法を変えることなく素子
を大形化しなければならない。
を大形化しなければならない。
そこで、従来用いられていたタブを廃止して、素子の大
形化をはかる技術が開発されており、例えば、特開@5
6−137665号公報記載のものがある。
形化をはかる技術が開発されており、例えば、特開@5
6−137665号公報記載のものがある。
当該公報によれば、少なくとも2個のベレットをリード
フレームを挾んで対向させて配置し、各ペレットの電極
部をリードフレームにボンディングした半導体装置が開
示されている。しかし、この発明は、素子とリードとの
接続を手出パンクで行っておシ、その信頼性について十
分配慮されていなかった。また、この発明は、セラミッ
ク製のペースおよびキャップを用いた密封形パッケージ
に関するものである。
フレームを挾んで対向させて配置し、各ペレットの電極
部をリードフレームにボンディングした半導体装置が開
示されている。しかし、この発明は、素子とリードとの
接続を手出パンクで行っておシ、その信頼性について十
分配慮されていなかった。また、この発明は、セラミッ
ク製のペースおよびキャップを用いた密封形パッケージ
に関するものである。
従来の樹脂封止ICについて第3図を参照して説明する
。
。
第3図は、従来の樹脂封止ICの断面図である。
図に示すように、従来は、チップマウントであるタブ2
の上に、ICチップすなわち素子1′を接合し、外部端
子リード(以下単にリードといり)4′の端部4’aと
素子1′の電極部とをワイヤ3を用いて接続している。
の上に、ICチップすなわち素子1′を接合し、外部端
子リード(以下単にリードといり)4′の端部4’aと
素子1′の電極部とをワイヤ3を用いて接続している。
5′は、パッケージを構成するためのモールド樹脂であ
る。
る。
このような構成では、ワイヤ3をり−・ド4’aに接続
する部分6、リード4/aとタブ2t−絶縁するための
部分7および素子1′とタブ2の位置ずれに対する余裕
部分8が必要となシ、素子の大形化を妨げていた。
する部分6、リード4/aとタブ2t−絶縁するための
部分7および素子1′とタブ2の位置ずれに対する余裕
部分8が必要となシ、素子の大形化を妨げていた。
本発明は、前述の従来技術の実状に鑑みてなされたもの
で、パッケージの外形寸法を変えずに、素子を大形化す
ることの可能な樹脂封止ICの提供を、その目的として
いる。
で、パッケージの外形寸法を変えずに、素子を大形化す
ることの可能な樹脂封止ICの提供を、その目的として
いる。
本発明に係る樹脂封止ICの構成は、封止用樹脂で成形
されたパッケージの両側面に、複数の外部端子リードを
当該パッケージの長手方向に配列する樹脂封止ICにお
いて、前記パッケージの大きさが許容しうる大きさの面
積を有し、その長手方向の端部に電極部を具備する素子
を設け、この素子の下面に、前記外部端子リードのり−
ド7レームを前記素子の電極部位置近傍まで延長せしめ
、そのリードフレームと前記素子とを電気絶縁物を介し
て接合するとともに、上記パッケージの長手方向の端部
における前記素子の電極部と前記リードフレームの延長
部とをワイヤで接続するよりにしたものである。
されたパッケージの両側面に、複数の外部端子リードを
当該パッケージの長手方向に配列する樹脂封止ICにお
いて、前記パッケージの大きさが許容しうる大きさの面
積を有し、その長手方向の端部に電極部を具備する素子
を設け、この素子の下面に、前記外部端子リードのり−
ド7レームを前記素子の電極部位置近傍まで延長せしめ
、そのリードフレームと前記素子とを電気絶縁物を介し
て接合するとともに、上記パッケージの長手方向の端部
における前記素子の電極部と前記リードフレームの延長
部とをワイヤで接続するよりにしたものである。
なお、本発明を開発した考え方を、さきに説明した従来
技術の第3図に対応する7a2図を参照して説明する。
技術の第3図に対応する7a2図を参照して説明する。
ここに第2図は、本発明の基本的な構成を示す樹脂封止
ICの断面図である。
ICの断面図である。
本発明では、第2図に示すように、従来用いられていた
タブ2(第3図参照)を用いず、リード4を素子1の下
部中央付近まで延長し、電気絶縁物10を介して素子1
.をリード4に接合する構造であシ、素子1は、先の第
3図で示した6、7゜8の部分までカバーしておシ、モ
ールド樹脂5が形成するパッケージの大きさが許容しり
る大きさの範囲に素子1を大形化したものである。
タブ2(第3図参照)を用いず、リード4を素子1の下
部中央付近まで延長し、電気絶縁物10を介して素子1
.をリード4に接合する構造であシ、素子1は、先の第
3図で示した6、7゜8の部分までカバーしておシ、モ
ールド樹脂5が形成するパッケージの大きさが許容しり
る大きさの範囲に素子1を大形化したものである。
以下、本発明の一実施例を第1図を参照して説−明する
。
。
ここに第1図は、本発明の一実施例に係る樹脂封止IC
の構成を示す一部破断斜祝図である。
の構成を示す一部破断斜祝図である。
第1図において、1はICチップ、すなわち素子で、そ
の長手方向の両端部に電極部1aを具備している。4は
、パッケージの両側面から下方に突出して、パッケージ
の長手方向に配列される複数の外部端子リードで、複数
の外部端子リード4は、そのリードフレーム4−1.4
−2.4−3.4−4・・・・・・4− iが、前−配
素子1の下面に、L字状に曲折した形状で延びている。
の長手方向の両端部に電極部1aを具備している。4は
、パッケージの両側面から下方に突出して、パッケージ
の長手方向に配列される複数の外部端子リードで、複数
の外部端子リード4は、そのリードフレーム4−1.4
−2.4−3.4−4・・・・・・4− iが、前−配
素子1の下面に、L字状に曲折した形状で延びている。
その延長部の先端4−1 a、 4−2 a、 4−3
a、 4−4 a・−・−4−1aは、前記素子1の
電極部1aの近傍に位置するよりに各リードフレームご
とに異なった長さに形成されている。
a、 4−4 a・−・−4−1aは、前記素子1の
電極部1aの近傍に位置するよりに各リードフレームご
とに異なった長さに形成されている。
5は、封止用樹脂に係るモールド樹脂で、パッケージを
形成するものである。
形成するものである。
第1図に、モールド樹脂5を破断して内部構成を示すよ
うに、素子lは、パッケージの大きさが許容しうる大き
さの面積をもつものに大形化されている。そして、パッ
ケージの長手方向の両端部における前記素子1の電極部
1aと、リード7ンームの延長部の先端4−1 a、
4−2 a、 4−3a。
うに、素子lは、パッケージの大きさが許容しうる大き
さの面積をもつものに大形化されている。そして、パッ
ケージの長手方向の両端部における前記素子1の電極部
1aと、リード7ンームの延長部の先端4−1 a、
4−2 a、 4−3a。
4−4a・・・・・・4− i aとが、ワイヤ3で電
気的に接続されている。
気的に接続されている。
素子1の下面とリードフレームとの間には、電気絶縁物
lOが挿入されておシ、前記素子1とリードフレーム4
−1,4−2・・・・・・4− iとは電気絶縁物10
t−介して接合されている。
lOが挿入されておシ、前記素子1とリードフレーム4
−1,4−2・・・・・・4− iとは電気絶縁物10
t−介して接合されている。
電気絶縁物lOは、セラミックス、プラステッりの板が
接着材を用いる。また、封止用樹脂を索子1とリードフ
レーム4−1.4−2・・・・・・4− iの間に流し
込んで電気絶縁物としてもよい。
接着材を用いる。また、封止用樹脂を索子1とリードフ
レーム4−1.4−2・・・・・・4− iの間に流し
込んで電気絶縁物としてもよい。
このように樹脂封止ICのパッケージを構成することに
より、先に第3図の従来技術で説明したタブ2が廃止さ
れ、ワイヤ3をリード4 / aに接続する部分6、リ
ード4/aとタブ2を絶縁するための部分7および素子
1′とタブ2の位置ずれに対する余裕部分8の各部分が
不要となシ、シたがって索子をパッケージの大きさが許
容しうる範囲で大形化することができる。
より、先に第3図の従来技術で説明したタブ2が廃止さ
れ、ワイヤ3をリード4 / aに接続する部分6、リ
ード4/aとタブ2を絶縁するための部分7および素子
1′とタブ2の位置ずれに対する余裕部分8の各部分が
不要となシ、シたがって索子をパッケージの大きさが許
容しうる範囲で大形化することができる。
例えば、従来の16ピンのパッケージでは、外部端子リ
ード幅が6.6 m 、素子の幅が40園程度であった
が、本実施例によるパッケージでは、素子の幅を5.6
wx程度にすることができ、したがって素子を40−
大形化することが可能である。
ード幅が6.6 m 、素子の幅が40園程度であった
が、本実施例によるパッケージでは、素子の幅を5.6
wx程度にすることができ、したがって素子を40−
大形化することが可能である。
なお、本実施例の特有の効果として下記の点をあげるこ
とができる。
とができる。
本実施例のリードフレーム4−1.4−2、・・・4−
iは、従来のリード4′ (第3図参照)にくらべて
長いので、リードフレーム→ワ4イヤ→素子を通る大気
中の水分の侵入経路が長くなシ、素子の水分による腐食
を低減することができる。
iは、従来のリード4′ (第3図参照)にくらべて
長いので、リードフレーム→ワ4イヤ→素子を通る大気
中の水分の侵入経路が長くなシ、素子の水分による腐食
を低減することができる。
また、素子1の下面にリードフレームが接合されている
ので、放熱効率が向上する。
ので、放熱効率が向上する。
さらに、ワイヤ3の接続部分が、パッケージの長手方向
の端部に果申しているので、ワイヤボンディング作業工
数が短縮される。
の端部に果申しているので、ワイヤボンディング作業工
数が短縮される。
以上述べたように、本発明によれば、パッケージの外形
寸法を変えずに、素子を大形化することの可能な樹脂封
止ICを提供することができる。
寸法を変えずに、素子を大形化することの可能な樹脂封
止ICを提供することができる。
第1図は、本発明の一実施例に係る樹脂封止ICの構成
を示す一部破断斜視図、第2図は、本発明の基本的な構
成を示す樹脂封止ICの断面図、第3図は、従来の樹脂
封止ICの断面図である。 1・・・素子、1a・・・電極部、3・・・ワイヤ、4
・・・外部端子リード、4−1. 4−2.4−3.4
−4・・−・・4− i・・・リードフレーム、4−1
a、 4−2 a。 4−38,4−48・・・・・・4− i a・・・延
長部の先端、5・・・モールド樹脂、10・・・電気絶
縁物。 v、1 目
を示す一部破断斜視図、第2図は、本発明の基本的な構
成を示す樹脂封止ICの断面図、第3図は、従来の樹脂
封止ICの断面図である。 1・・・素子、1a・・・電極部、3・・・ワイヤ、4
・・・外部端子リード、4−1. 4−2.4−3.4
−4・・−・・4− i・・・リードフレーム、4−1
a、 4−2 a。 4−38,4−48・・・・・・4− i a・・・延
長部の先端、5・・・モールド樹脂、10・・・電気絶
縁物。 v、1 目
Claims (1)
- 1、封止用樹脂で成形されたパッケージの両側面に、複
数の外部端子リードを当該パッケージの長手方向に配列
する樹脂封止ICにおいて、前記パッケージの大きさが
許容しうる大きさの面積を有し、その長手方向の端部に
電極部を具備する素子を設け、この素子の下面に、前記
外部端子リードのリードフレームを前記素子の電極部位
置近傍まで延長せしめ、そのリードフレームと前記素子
とを電気絶縁物を介して接合するとともに、上記パッケ
ージの長手方向の端部における前記素子の電極部と前記
リードフレームの延長部とをワイヤで接続するよりに構
成したことを特徴とする樹脂封止IC。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60099561A JPS61258458A (ja) | 1985-05-13 | 1985-05-13 | 樹脂封止ic |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60099561A JPS61258458A (ja) | 1985-05-13 | 1985-05-13 | 樹脂封止ic |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61258458A true JPS61258458A (ja) | 1986-11-15 |
Family
ID=14250558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60099561A Pending JPS61258458A (ja) | 1985-05-13 | 1985-05-13 | 樹脂封止ic |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61258458A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63222454A (ja) * | 1987-03-11 | 1988-09-16 | Mitsui Haitetsuku:Kk | 半導体装置およびその製造方法 |
| JPS63222453A (ja) * | 1987-03-11 | 1988-09-16 | Mitsui Haitetsuku:Kk | 半導体装置 |
| JPS647645A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-11 | Hitachi Ltd | Semiconductor device and manufacture thereof |
| JPS6476744A (en) * | 1987-09-18 | 1989-03-22 | Hitachi Ltd | Resin sealed semiconductor device |
| JPH01114058A (ja) * | 1987-10-28 | 1989-05-02 | Hitachi Ltd | 樹脂封止型半導体装置 |
| US4937656A (en) * | 1988-04-22 | 1990-06-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device |
| US4987474A (en) * | 1987-09-18 | 1991-01-22 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
| US4989068A (en) * | 1988-02-12 | 1991-01-29 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
-
1985
- 1985-05-13 JP JP60099561A patent/JPS61258458A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63222454A (ja) * | 1987-03-11 | 1988-09-16 | Mitsui Haitetsuku:Kk | 半導体装置およびその製造方法 |
| JPS63222453A (ja) * | 1987-03-11 | 1988-09-16 | Mitsui Haitetsuku:Kk | 半導体装置 |
| JPS647645A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-11 | Hitachi Ltd | Semiconductor device and manufacture thereof |
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| US4989068A (en) * | 1988-02-12 | 1991-01-29 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
| US4937656A (en) * | 1988-04-22 | 1990-06-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device |
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