JPS61264796A - 回路基板 - Google Patents
回路基板Info
- Publication number
- JPS61264796A JPS61264796A JP10642985A JP10642985A JPS61264796A JP S61264796 A JPS61264796 A JP S61264796A JP 10642985 A JP10642985 A JP 10642985A JP 10642985 A JP10642985 A JP 10642985A JP S61264796 A JPS61264796 A JP S61264796A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal
- conductive
- circuit board
- film
- copper
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、絶縁板上に形成された回路パターンの各端子
部間が、導電ペーストで塗布形成された導電パスで短絡
されている構成を備えた回路基板に関する。
部間が、導電ペーストで塗布形成された導電パスで短絡
されている構成を備えた回路基板に関する。
(従来の技術〉
昨今の回路基板は、回路密度を高める見地や、スルーホ
ールによる接続(高コストとなる)を避ける見地から、
第3図に示すように、絶縁板1上に導電材料で形成され
た回路パターン2の例えば端子部3.4間を、導電ペー
ストにより塗布形成された導電パス(ジャンパー)5で
短絡させる構成を備えたものが出回っている。なお、導
電パス5のジャンパ一部分の下側は絶縁層(通常絶縁ペ
ーストで形成されている)7が回路パターン2との間に
介在している。
ールによる接続(高コストとなる)を避ける見地から、
第3図に示すように、絶縁板1上に導電材料で形成され
た回路パターン2の例えば端子部3.4間を、導電ペー
ストにより塗布形成された導電パス(ジャンパー)5で
短絡させる構成を備えたものが出回っている。なお、導
電パス5のジャンパ一部分の下側は絶縁層(通常絶縁ペ
ーストで形成されている)7が回路パターン2との間に
介在している。
従来、上記回路パターンは、絶縁板上に一体化された銅
箔の不要部分を選択的に除去したり(サブトラクティブ
法)又はマスキングしておいて無電解銅めっきで選択的
に析出させたりしくてデイテイブ法)、いずれも導電材
料として一般に銅を用いていた。
箔の不要部分を選択的に除去したり(サブトラクティブ
法)又はマスキングしておいて無電解銅めっきで選択的
に析出させたりしくてデイテイブ法)、いずれも導電材
料として一般に銅を用いていた。
〈発明が解決しようとする問題点)
しかし、銅は価格的に問題がないとは言えないため、本
発明者らは、回路基板の導電材料として、銅に代って、
銅より安価な金属(一般的に銅より卑な金属)、例えば
アルミニウムを使用することを検討した。
発明者らは、回路基板の導電材料として、銅に代って、
銅より安価な金属(一般的に銅より卑な金属)、例えば
アルミニウムを使用することを検討した。
この検討に際して、アルミニウムで形成された回路パタ
ーンの各端子部間を短絡する導電パスを、導電ペースト
で塗布形成した場合、前記各端子部に腐蝕が発生し、即
ち表面に酸化アルミニウムの被膜が形成され、導電不良
が発生しやすいことがわかった。
ーンの各端子部間を短絡する導電パスを、導電ペースト
で塗布形成した場合、前記各端子部に腐蝕が発生し、即
ち表面に酸化アルミニウムの被膜が形成され、導電不良
が発生しやすいことがわかった。
その理由は、次の如くであると推定される。
導電パスは露出状態で使用することが多く、導電パスを
形成する導電ペースト中の金属は、安定な(酸化しにく
い)イオン化傾向の小さな銀や銅である必要がある。ま
た、導電パス自体、導電ペーストで形成されているため
ポーラスである。従って、空気中の水分や酸素が導電パ
スの層を経て端子部に到達し、導電ペースト中の銀や銅
と、端子部のアルミニウムとの間に局部電池が発生し。
形成する導電ペースト中の金属は、安定な(酸化しにく
い)イオン化傾向の小さな銀や銅である必要がある。ま
た、導電パス自体、導電ペーストで形成されているため
ポーラスである。従って、空気中の水分や酸素が導電パ
スの層を経て端子部に到達し、導電ペースト中の銀や銅
と、端子部のアルミニウムとの間に局部電池が発生し。
端子部の腐蝕を進行させる。なお従来は、回路パターン
が銅で形成されているため、アルミニウムと銀又は銅と
の間におけるように、イオン化傾向の差は大きくなく、
局部電池が端子部と導電パスとの接合部に生じるような
ことはない。
が銅で形成されているため、アルミニウムと銀又は銅と
の間におけるように、イオン化傾向の差は大きくなく、
局部電池が端子部と導電パスとの接合部に生じるような
ことはない。
(発明の目的〉
本発明の回路基板は、上記にかんがみて、回路パターン
の各端子部間の導電パスが導電ペーストで形成されてい
る場合において、回路パターンを形成する導電材料とし
て銅より卑な金属を使用可能とすることを目的とする。
の各端子部間の導電パスが導電ペーストで形成されてい
る場合において、回路パターンを形成する導電材料とし
て銅より卑な金属を使用可能とすることを目的とする。
く問題点を解決するための手段〉
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので
あり、絶縁板上に少なくとも一対の端子部を有し、第一
の金属で形成された回路パターンと、少なくとも前記各
端子部を被覆し、第二の金属を含有する第一導電ペース
トで塗布形成された導電被膜と、該導電被膜が被覆され
た各端子部間を短絡し、第三の金属を含有する第二導電
ペーストで塗布形成された導電パスとを備え、前記第二
の金属イオン化傾向の大きさが、第一の金属〉第二の金
属〉第三の金属なる条件を満足することを特徴とする回
路基板である。
あり、絶縁板上に少なくとも一対の端子部を有し、第一
の金属で形成された回路パターンと、少なくとも前記各
端子部を被覆し、第二の金属を含有する第一導電ペース
トで塗布形成された導電被膜と、該導電被膜が被覆され
た各端子部間を短絡し、第三の金属を含有する第二導電
ペーストで塗布形成された導電パスとを備え、前記第二
の金属イオン化傾向の大きさが、第一の金属〉第二の金
属〉第三の金属なる条件を満足することを特徴とする回
路基板である。
〈実施例〉
以下1本発明の一実施例を第1〜2図に基づいて説明を
する。
する。
絶縁板1上には、少なくとも一対、通常複数対の端子部
3.4を有する回路パターン2が、第一の金属で形成さ
れている。これらの各端子部3.4は第二の金属を含有
する第一導電ペーストで塗布形成された導電被膜11で
被覆されている。そしてこの導電被膜11で被覆された
各端子部3.4間を短絡する導電パス5が第三の金属を
含有する第二導電ペーストでジャンパ一部分に形成され
た絶縁M7上に塗布形成されている。ここで、第二の金
属のイオン化傾向の大きさは、第一の金属〉第二の金属
〉第三の金属なる条件を満足させるものである。具体的
には、第一の金属をアルミニウムとした場合、第三の金
属は通常銀又は銅であるため、第二の金属は、ニッケル
、錫等の中から選択できるが、ニッケルが、導電率が比
較的大きく、イオン化傾向もアルミニウムと銀の略中間
に位置するため最適である。また、第一の金属としてニ
ッケル等も考えられるが、アルミニウムが導電車の大き
な良導体でかつ低価格あるため望ましい。
3.4を有する回路パターン2が、第一の金属で形成さ
れている。これらの各端子部3.4は第二の金属を含有
する第一導電ペーストで塗布形成された導電被膜11で
被覆されている。そしてこの導電被膜11で被覆された
各端子部3.4間を短絡する導電パス5が第三の金属を
含有する第二導電ペーストでジャンパ一部分に形成され
た絶縁M7上に塗布形成されている。ここで、第二の金
属のイオン化傾向の大きさは、第一の金属〉第二の金属
〉第三の金属なる条件を満足させるものである。具体的
には、第一の金属をアルミニウムとした場合、第三の金
属は通常銀又は銅であるため、第二の金属は、ニッケル
、錫等の中から選択できるが、ニッケルが、導電率が比
較的大きく、イオン化傾向もアルミニウムと銀の略中間
に位置するため最適である。また、第一の金属としてニ
ッケル等も考えられるが、アルミニウムが導電車の大き
な良導体でかつ低価格あるため望ましい。
上記において、絶縁板1としては、ポリエステル・ポリ
イミド製等の合成樹脂製フィルムからなるフレキシブル
板、又はプラスイック積層板、セラミックス板、金属板
等からなる硬質板いずれにも限定されないが、ポリエス
テルフィルを用いるのが汎用性及びコストの見地から望
ましい。
イミド製等の合成樹脂製フィルムからなるフレキシブル
板、又はプラスイック積層板、セラミックス板、金属板
等からなる硬質板いずれにも限定されないが、ポリエス
テルフィルを用いるのが汎用性及びコストの見地から望
ましい。
尚、図例では導電パスが回路パターンと立体的に交差す
るジャンパーである場合を例に採り説明したがこれに限
られるものではない、また、回路パターン上面を覆う保
護膜は、回路パターンがアルミニウムの場合酸化膜が表
面に形成されるので示していないが、必要により行なっ
てもよい。
るジャンパーである場合を例に採り説明したがこれに限
られるものではない、また、回路パターン上面を覆う保
護膜は、回路パターンがアルミニウムの場合酸化膜が表
面に形成されるので示していないが、必要により行なっ
てもよい。
〈発明の作用効果)
本発明の回路基板は、上記のような構成なので下記のよ
うな作用効果を奏する。
うな作用効果を奏する。
(a)アルミニウムのようなイオン化傾向の大きい第一
の金属で絶縁板上に形成された回路パターンの各端子部
間を短絡する導電パスを、銀や銅等のイオン化傾向の小
さい第三の金属を含有する第二導電ペーストで形成して
も、第一の金属と第三の金属との中間のイオン化傾向を
有する第二の金属を含有する第一導電ペーストで塗布形
成された導電被膜で各端子部は被覆されているため、端
子部と導電パスとの接合部において、イオン化傾向の差
の大きい金属相互(例えばアルミニウムと銀)が直接接
触することがなくなり、導電パスさらには導電被膜の暦
を経て端子部に空気中の水分や酸素が到達しても、該部
位で局部電池は生じにくい。
の金属で絶縁板上に形成された回路パターンの各端子部
間を短絡する導電パスを、銀や銅等のイオン化傾向の小
さい第三の金属を含有する第二導電ペーストで形成して
も、第一の金属と第三の金属との中間のイオン化傾向を
有する第二の金属を含有する第一導電ペーストで塗布形
成された導電被膜で各端子部は被覆されているため、端
子部と導電パスとの接合部において、イオン化傾向の差
の大きい金属相互(例えばアルミニウムと銀)が直接接
触することがなくなり、導電パスさらには導電被膜の暦
を経て端子部に空気中の水分や酸素が到達しても、該部
位で局部電池は生じにくい。
従って、各端子部の腐蝕による導電不良の発生がなくな
り、回路パターンを形成する導電材料としてイオン化傾
向の大きい、即ち銅より卑でかつ低価格のアルミニウム
のような金属が使用可能となり、結果的に、回路パター
ン以外の導電被膜、導電パスさらには絶縁層等は全てペ
ーストにより塗布形成可能なこととも相まって、回路基
板を安価に提供できる。
り、回路パターンを形成する導電材料としてイオン化傾
向の大きい、即ち銅より卑でかつ低価格のアルミニウム
のような金属が使用可能となり、結果的に、回路パター
ン以外の導電被膜、導電パスさらには絶縁層等は全てペ
ーストにより塗布形成可能なこととも相まって、回路基
板を安価に提供できる。
なお、前記端子部を被覆する導電被膜を無電解めっき等
により形成すれば(回路パターンがアルミニウムの場合
、銀又は銅めっき)、略完全に端子部は封止されるため
、局部電池が生じず腐蝕が発生しない、しかし、めっき
処理はペーストによる塗膜形成に比してコトス高となり
望ましくない。特に、アルミニウムに銀めっきを無電解
めっきで行なおうとすると、アルミニウムに銀めつきは
は直接できないため錫等で活性化処理する必要があり非
常に面倒である。
により形成すれば(回路パターンがアルミニウムの場合
、銀又は銅めっき)、略完全に端子部は封止されるため
、局部電池が生じず腐蝕が発生しない、しかし、めっき
処理はペーストによる塗膜形成に比してコトス高となり
望ましくない。特に、アルミニウムに銀めっきを無電解
めっきで行なおうとすると、アルミニウムに銀めつきは
は直接できないため錫等で活性化処理する必要があり非
常に面倒である。
第1〜2図は本発明の回路基板を示し、第1図は第2図
のI−I線拡大断面図、第2図は要部平面図、第3図は
従来の回路基板における要部断面図である。 1・・・絶縁板、 2・・・回路パターン。 3・・・端子部、 4・・・端子部。 5・・・導電パス(ジャンパー)、 7・・・絶縁層。 11・・・導電被膜。 特 許 出 願 人 ブラザー工業株式会社
のI−I線拡大断面図、第2図は要部平面図、第3図は
従来の回路基板における要部断面図である。 1・・・絶縁板、 2・・・回路パターン。 3・・・端子部、 4・・・端子部。 5・・・導電パス(ジャンパー)、 7・・・絶縁層。 11・・・導電被膜。 特 許 出 願 人 ブラザー工業株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、絶縁板上に少なくとも一対の端子部を有し第一の金
属で形成された回路パターンと、 少なくとも前記各端子部を被覆し、第二の金属を含有す
る第一導電ペーストで塗布形成された導電被膜と、 該導電被膜で被覆された前記各端子部間を短絡し、第三
の金属を含有する第二導電ペーストで塗布形成された導
電パスと を備え、 前記第二の金属のイオン化傾向の大さきが、第一の金属
>第二の金属>第三の金属 なる条件を満足することを特徴とする回路基板。 2、前記第一の金属が、アルミニウムであることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の回路基板。 3、前記第二の金属が、ニッケルであることを特徴とす
る特許請求の範囲第2項記載の回路基板。 4、前記第三の金属が、銅又は銀であることを特徴とす
る特許請求の範囲第3項記載の回路基板。 5、前記絶縁基材が、合成樹脂製フィルムよりなること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の回路基板。 6、前記フィルムが、ポリエステルフィルムであること
を特徴とする特許請求の範囲第5項記載の回路基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10642985A JPS61264796A (ja) | 1985-05-17 | 1985-05-17 | 回路基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10642985A JPS61264796A (ja) | 1985-05-17 | 1985-05-17 | 回路基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61264796A true JPS61264796A (ja) | 1986-11-22 |
Family
ID=14433412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10642985A Pending JPS61264796A (ja) | 1985-05-17 | 1985-05-17 | 回路基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61264796A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8273992B2 (en) | 2009-10-07 | 2012-09-25 | Renesas Electronics Corporation | Wiring board |
-
1985
- 1985-05-17 JP JP10642985A patent/JPS61264796A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8273992B2 (en) | 2009-10-07 | 2012-09-25 | Renesas Electronics Corporation | Wiring board |
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