JPS6126679A - 透明導電性被膜形成液 - Google Patents

透明導電性被膜形成液

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JPS6126679A
JPS6126679A JP14592684A JP14592684A JPS6126679A JP S6126679 A JPS6126679 A JP S6126679A JP 14592684 A JP14592684 A JP 14592684A JP 14592684 A JP14592684 A JP 14592684A JP S6126679 A JPS6126679 A JP S6126679A
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indium
organic
acetope
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Tsunemitsu Torigoe
恒光 鳥越
Mitsuru Kano
満 鹿野
Yoshinori Kato
加藤 義徳
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、浸漬法に適した透明導電性被膜形成液に係り
、特に焼成によって透明導電性金属酸化物となる有機金
属化合物を含む透明導電性被膜形成液に関する。
ガラス、セラ之ツク等の絶縁基板上に形成した、In 
、 Sn、 Sb 、 ca等の酸化物被膜は、光透過
率が高く良好な導電性を示すことはよく知られており、
半導体素子、液晶表示装置等に使用したり、或は電子写
真用紀録媒体などの光と電場が関与する電子機能デバイ
スの構成要素の1つとして、この他太陽電池や撮像管な
どの光電変換素子また透明面発熱体(デフロスタ−)や
透明断熱体、抵抗体や赤外線反射体などの機能膜として
利用されてきている。
この金玩酸化物透明導電膜の形成法としては化学スプレ
ー法、真空蒸着法、スパッタリング法、スクリーン印刷
法がある。化学スプレー法は比較的面積の大きな被膜を
得るには有利であるが、装置が大損りで、また特性の制
御が困難である。真空蒸着法は最近マスク蒸着法が発達
し、エツチング処理の必要はなくなったが、処理がバッ
チ式であるために量産性の点で問題がある。スパッタリ
ング法も真空蒸着法と同様処理がバッチ式であるために
量産性の点で問題がある。スパッタリング法も真空蒸着
法と同様処理がバッチ式であるから、大面積のものを得
るには不適当である。スクリーン印刷法は印刷時の作業
性が悪く、特に微細なパターンを安定に印刷しに〈<、
また形成された被膜の導電性の良否にもバラツキが大き
いという欠点があった。
これらの欠点を解消するものとして、近年浸漬法が注目
されている。この方法では、(イ)基材上への有機金属
化合物溶液の塗布、(ロ)乾燥、(ハ)焼成、に)エツ
チングの簡単な工程で、基材上に任意の形状の被膜を形
成することが可能であり、しかも設備も大損りのものを
必要とせず、また多電生産も容易である。
この浸漬法の原料としては、色々のものが検討されてき
ているが、種々の問題があり、実用化されていなイ。す
なわちIn0d、 、 InNOs 、 Snug、 
5107?*−等の無機塩の有機溶剤分散液を使用した
場合は、形成された膜が白濁化しており、膜の機械的強
度が弱く、傷がつぎやすい等の欠点がある。
一方、オクチル畝インジウム、あるいはインジウムトリ
プトキサイドl:IH(004H・)、〕などのアルコ
キシ置換の有機インジウム化合物を主体とし、これに電
気抵抗値調整剤としてテトラブトキシスズCSn (O
OaHo)、)  などのアルコキシ置換の有機スズ化
合物を添加したものが透明導電性被膜形成液として用い
られていた。ところがこれらの有機金属化合物は加水分
′解し易いから浸漬液の安定性に欠け、液の寿命が短か
いため被膜形成時の作業性に問題がある。また絶縁基板
に塗布した時に加水分解を起こして被膜が白濁化するこ
と、及び透明の被膜が搏られても面積抵抗値や機械的強
度等の物理的性質が不十力である。また加水分解し易い
ため、形成された透明導電性被膜の膜特性がばらつき易
く、品質の安定した゛導電性被膜が得られない。
〔発明の目的〕
本発明はこの目的とするところは、前述した従来技術の
欠点な解消し、浸漬液の寿命が長く、量産性に優れ、し
かも低抵抗で透明度および蕾着強度の高い透明導電性被
膜が得られる透明導電性被膜形成液を提供することを目
的とする0〔発明の概要〕 この目的を達成するため11本発明は、焼成によって透
明導電性金属酸化物となる有機金錫化合物と、電気抵抗
値Il整剤と、これら有機金属化合物および電気抵抗値
調整剤を溶解する有機溶媒とを含有する透明導電性被膜
形成液において、前記有機金属化合物が、rlに素の直
接配位した下記の一般構造式な有する有機インジウム化
合物であることを特徴とする。
一般式 但し、式中のXは一般式0HH2n4.1 (n −1
〜4 )で表わされるアルキル基、あるいはOnHgn
 (n −3〜5)で表わされるアンクン類、又は00
nH2n+1(n−1〜4)で表わされるアルコキシ基
である。
この一般式で示されるアセト酢酸エステルインジウム化
合物としては、例えばトリスイソブチルアセトアセテー
トインジウム(2) などがある。
また、本発明で用いられる電気抵抗値調整剤としては、
次の一般式で示される有機スズ化合物が好適である。
一般式 %式%() 但し、式中のXはβ−ジー?)ン類、Yは一般式cnl
(2n+1  (但しn −1〜s ) テab サh
;6゜この一般式で示される有機スズ化合物としては、
例えばアセチルアセトンとブタンが結合したジブチルス
ズアセトープO(04H@)2 Sn (αcac)*
 、ジメチルスズアセトープ(OHM )tsn (α
cac)、 、  ジエチルスズアセトープ(C!H1
) * Sn (αcac )などが用いられる。
前述の有機インジウム化合物ならびに電気抵抗値調整剤
を溶解する有機溶剤としては、焼成の前の乾燥工程での
揮発の容易さ、溶液の安定性、経済性等から低沸点の有
機溶剤、例えはメタノール、エタノールなどの低級アル
コール類、酢酸エチルや酢酸プ四ビルなどのエステル類
、アセトンやメチルケトンなどのケトン類、ベンゼンや
ヘキサンなどの炭化水素化合物などが好適である。
次に本発明の形成液を使用して透明導電膜を基材上に形
成する方法について説明する。基材としてはガラス、セ
ラミック等の板状またはその他の形状のものが用途に応
じて選ばれる。また、所望する膜厚に応じて形成液の濃
度や引き上げ速度を調整する。このようにして、基材上
に形成液を塗布した後、乾燥される。乾燥条件としては
140℃で10分間放置すれば溶剤は充分に蒸発し、基
板上に透明な膜が生成する。次に空気中において500
℃で30分間焼成する。この処理により有機物は完全に
分解し、基板上に透明な導電膜が形成される0この1回
の処理で膜厚等が不十分な場合は同様な処理を繰り返し
行ない、所望の膜厚を有する機械的強度の優れた透明導
電性膜を得ることができる。以下実施例に従って更に詳
細に述べる。
〔発明の実施例〕
実施例1 インジウム化合物に於いて(Xが一般式c’n)Izn
+1(n−1〜4)で表わされるアルキル基)、これら
の化合物が可溶な有機溶剤を見い出すべく検討を重ねた
式中のnが1〜4のそれぞれの化合物に対する結果をそ
れに応じて第1表から第4表に示す。なお表中の溶液安
定性及び溶液透明度については、浸漬液調整後1ケ月間
沈澱、にこり及び浸漬液の液面に浮遊物質等の異物が全
くなく、調整直後の状態がそのまま保持されていると判
断したものは◎印、上述の化学的性質に変化があったも
のは○印、調整直後と較べて著しく浸漬液の劣化が進ん
でいると判断したものはX印で示す。浸漬時の成膜性に
ついては◎印は優秀、○印は良好、X印は悪いと判断し
たものである。
l5 これらの表から明らかな様に有機溶剤としてはメチルエ
チルケトン、酢酸エチルあるいはこの2種の混合溶剤が
好ましい。これらの有機溶剤を用いた浸漬液は1ケ月以
上の長期にわたり化学的に安定しており、液の劣化の無
い浸漬液を得ることができた。
これに対してメタノール、エタノールのアルコール類や
エーテルを有機溶剤として用いた浸漬液は調整後2〜3
日で沈澱が発生し、液表面に結晶性の浮遊物が生じ、そ
の結果として浸漬液が白濁化してしまい、透明度が著し
く低下した。またnの増加に伴い各種有機溶剤に対する
溶解度も増加したがn−3の場合とn−4の場合では化
合物としての化学的特性は同等であった。
わされる有機インジウム化合物に於いて(Xが一般式0
nH2n (n −3〜5)で表わされろアルケン類)
、これらの化合物が可溶な有機溶剤を見い出すべく検討
を重ねた。nが3〜5のそれぞれの化合物に対する結果
をそれに応じて第5表から第7表に示す。なお表中の各
性質の判断基準は実施例1に準じた。
以上の表より明らかな様にn−5の場合に有機溶剤に対
する溶解性その他の化学的特性の優れた溶液を提供する
ことができる。一方n−3、及び4の場合には溶解性そ
の他の化学的特性は実施例1の有機インジウム化合物と
較べて劣っていることが判明した。
表わされる有機インジウム化合物に於いて(Xが一般弐
〇〇nHgn+1(n −1〜4 )で表わされるアル
コキシ基)、これらの化合物が可溶な有機溶剤を見い出
すべく検討を重ねた。nが1〜4のそれぞれの化合物に
対する結果をそれに応じて第8表から第11表に示す。
なお表中の各性質の判断基準は実施例1に準じた。
これらの表から明らかな様に有機溶剤としては、メチル
エチルケトン、酢酸エチル、この2種の混合溶剤、およ
びベンゼンが好ましい。nが1及び2の有機インジウム
化合物を用いた浸漬液は1り月以上の長期にわたり化学
的に安定しており、液の劣化の無い浸漬液を得ることが
できた。メタノール、エタノールのアルコール類ヤエー
テルナ有機溶剤として用いた浸漬液は調整後2〜3日で
沈澱が発生し、液表面に結晶性の浮遊物が生じその結果
とし【溶液が白濁化してしまい、透明度が著しく低下す
る。nが3及び4の有機インジウム化合物を用いた浸漬
液は加水分解が激しく、溶液調整後、数時間で沈澱が発
生し、白濁化してしまい、透明度は著しく低下し浸漬液
としては使用不能である事が判明した。
実施例4 実施例1から3までの結果から有機インジウム化合物が
可溶な有機溶剤としてメチルエチルケトン、酢酸エチル
、前記2種の混合溶剤およびベンゼンが好ましい事が判
明したが、メチルエチルケトンを使用して電気抵抗値調
整用有機スズ化合物について検討を行った。
まず、有機インジウム化合物として、一般式OnHla
n+1で表わされるアルキル基においてn −3、及び
n−4)の2種を用い、更に電気抵抗値調整用有機スズ
化合物としてジブチルススアセドープ(a、n、)、 
sn (acac )1  を、そして有機溶剤として
メチルエチルケトンをそれぞれ用い、下記組成比の浸漬
液な2種類作成した。
(溶剤) メチルエチルケトン 100−y重量優この浸漬液をA
液とする。
(有機金属) (溶剤) メチルエチルケトン  100−y  重置チこの浸漬
液をB液とする。
但し、組成中のXは有機インジウム化合物と有機スズ化
合物の混合物中における有機スズ化合物の含有率、yは
浸漬液中における有機スズ化合物(有機インジウム化合
物+有機スズ化合物)の含有率である。
A液とB液に於いて有機金属化合物の含有率yを10重
量%に規定して、有機金属化合物中における有機スズ化
合物の含有率Xを種★かえた被膜形tiを作成シて〜こ
の液中に幅が50a+X25關、厚さが1rNRのソー
ダガラス基板を浸漬した。
20cflK/分の引上げ速度で基板を溶液から引き上
げ、140℃10分間予備乾燥を行った。次いでベルト
炉中で500℃、30分間焼成して、ガラス基板上に透
明導電性被膜を得た。
この被膜の表面抵抗、膜厚、光透過度及び膜強度等の被
膜物性を測定した。表面抵抗と有機スズ化合物の含有率
Xとの関係を第1図に示す。図中の点IAは浸漬液A液
を、実WBは浸漬液B液のものをそれぞれ示す。またA
液についての上記の被膜物性を第12表に、B液につい
ての被膜物性を第13表にそれぞれ示す。透過率は55
0nmの可視光線透過度である。
第12表 第13表 これらの表および図から明らかな様に、いずれの浸漬液
の場合にも有機スズ化合物の添加量xは全有機金属量に
対して10〜15重偵−の範囲のものが好ましい。その
うちで1285重鯖:%のちのは低い面積抵抗値を有す
る導電性被膜が得られる。
しかし光透過度はいずれの場合も低いと゛いう事が判明
した。
実施例5 前記実施例4のジブチルスズアセトープの代りにジメチ
ルスズアセトープ(OHa)t 5n(acac)、を
用いて実施例4と同様の組成比を有する被膜形成液を作
る。
実施例6 @紀実施例4のジブチルスズアセトープの代りにジエチ
ルスズアセトープ(OxHs)t Sn (acac 
’) tを用いて実施例4と同様の組成比を有する破膜
形成液を作る。
実施例5および実施例6の破膜形成液も、有機スズ化合
□物と面積抵抗値の特性それとwBk物性も実施例4の
結果とほぼ同様の傾向を示すことが実験でr4詔された
実施例7 ンジウム化合物としてXが一般式an)(anで表わさ
れるアルケン類でn−5の化合物を用い、更に電気抵抗
値調整用有機スズ化合物としてジブチルススアセドープ
を、そして有!lie剤としてメチルエチルクトンをそ
れぞれ用い実施例4と同じ組成比の浸漬液を作成した。
この浸漬液を用いてガラス基板上に透明導電性鼓膜を形
成し、物性を第14表に示した。また、面積抵抗値と有
機スズ化合物の含有率Xとの関係を第2図に示した。
第14表 これらの表から明らかな様に、有機・スズ化合物の添加
量Xは全有機金属量に対して10〜15重量優の範囲の
ものが好ましい。そのうちで12.5重量−のものは低
い面積抵抗値を有する導電性被膜が得られる。
実施例8 前記実施例7のジブチルスズアセトープの代りにジメチ
ルスズアセトープ(OH3)x SH((Lcac)、
を用いて実施例4と同様の組成比な有する被膜形成液を
作る。
実施例9 前記実施例7のジブチルスズアセトープの代りにジエチ
ルスズアセトープ(01H*)z SH((LC(LC
)!を用いて実施例4と同様の組成比を有する被膜形成
液を作る。
実施例8および実施例9の被膜形成液も有機スス化合物
と面積抵抗値の特性それと被膜物性も実施例7の結果と
ほぼ同様の傾向な示すことが実験で確認されている。
ンジウム化合物として×が一般式0(3HHan+1で
表、わされるアルコキシ基でn−1およびn−2をそれ
ぞれ用い、更に電気抵抗値調整用有機スズ化合物として
ジブチルスズアセトープ、(04Ho ) ! SH(
acac) !そして有機溶剤としてメチルエチルケト
ンを用い実施例4と同じ組成比の浸漬液を2種類作成し
た。
n−1の場合で示される有機インジウム化合物を使用し
た形成液をO液、n−2の有機インジウム化合物を使用
した形成液をD液とする。この2種類の浸漬液を用いて
ガラス基板上に透明導電性被膜を得て、この被膜の物性
を測定した。C液に対する被膜物性を第15表に、D液
に対する被膜物性を第16表に示す。形成された導電性
被膜の面積抵抗値と有機スズ化合物の含有率Xとの関係
な第3図に示す。図中点線Cは被膜形成液C液のもの、
実11Dは被膜形成液り液のものである。
第15表 第16表 これらの表から明らかな様に、有機スズ化合物の添加量
Xは全有機金属量に対して10〜15重量−の範囲のも
のが好ましい。そのうちで12..5重量−のものは低
い面積抵抗値を有する導電性被膜が得られる。
実施例11 前記実施例10のジブチルスズアセトープの代りにジメ
チルススアセドープ(OHI)15n(acac)。
を用いて実施例4と同様の組成比を有する被膜形成液を
作る。
実施例12 前記実施例10のジブチルススアセドープの代りにジエ
チルスズアセトープ(0xHs)*Sn (acac)
を用いて実施例4と同様の組成比を有する被膜形成液な
作る。 。
実施例11お−よび実施例12の被膜形成液も有機スズ
化合、物と面積抵抗値の特性ならびに被膜物性も実施例
1Oの結果とほぼ同様の傾向を示すことが実験で確認さ
れている。
実施例j3  、  、y 実施例4から実施例、12までの結果により一1有機金
属化合物中における。有機スズ化合物の含有率Xは12
5重量−が最適である事が、判明したので、次に有機金
属化合物の適正含有率について検討した。この検討を行
うために7下ε組成の形成液を作成した。
但しXは一般式cn)Ign+lノで示されるアルキル
基でn−3及び4 ((04Ho)tSn(cLcac)1]  o、12
5y重蓋優(溶媒) メチルエチルケトン  100−y点景チ但しyは全有
機金属含有率である。
この組成において、有機金属化合物の含有率yを次の表
に示すように種々変えて被膜形成液をつくり、この形成
液の安定性、浸漬時の成膜性、焼成後の膜面状態、面積
抵抗値Rs 、光透過率、膜強度ならびに膜厚をそれぞ
れ検討した結果を第17表に示す。同表はn−3の化合
物を使用した被膜形成液の緒特性である。
なお形成液の安定性においては、15日以上使用可能な
ものに○印、1日以上14日以内使用可能なものにΔ印
、それ以下のものにX印を付した。
浸漬時の成膜性については、浸漬後の白濁、膜厚むらの
顕著なものにX印、やや顕著なものにΔ印、特に問題の
ないものに○印を付した。さらに焼成後の膜面状態につ
いては、クラック、白濁の顕著なものにX印、やや顕著
なものにΔ印、特に問題のないものにO印を付した。
第17表 この表から明らかな様に、全有機金に含有蚤iyが10
〜30重量%、好ましくは15〜20重量%のものは、
優れた諸種の特性を有している。また35重凰チではク
ラック、ひび割れ等が発生した。n−4の有機インジウ
ム化合物を使用した形成液も第17表と同等の特性を示
した。しかし光透過率はいずれの場合も低い事が判明し
た0実施例14 前記実施例13のジブチルスズアセトープの代りにジメ
チルスズアセトープ(CHa’)t Sn (αc(L
c)。
を用いて実施例13と同様の組成比を有する被膜形成液
を作る。
実施例15 前記実施例13のジブチルスズアセトープの代’) K
 シーc チA/ スズアセドープ(C3HI+)、S
n(αcac)。
を用いて、実施例13と同様の組成比を有する被膜形成
液な作る。  一 実施例14および実施例15の被膜形成液も、この形成
液自体の特性、この形成液により作成された被膜の緒特
性も実施例13と同様の傾向を示すことが実験で確認さ
れている。
実施例16 で表わされる(但しXは一般式011Hzlで表わされ
るアルケン類においてn−5)有機インジウム化合物を
使用して実施例13と同枠の組成比を有する被膜形成液
な作成し、有機金属化合物の−1含有率について検討し
た。その結果を第18表に示す。なお、表中の各性質の
判断基準は実施例13に準、じた。
この表から明らかな様に、全有機金属含有量yが10〜
20重量−が好ましい。10〜17.5重@優のものは
、優れた諸種の特性を有している。
また25重址優ではクラック、ひび割れ等が発生した。
実施例17 前記実施例16のジブチルススアセドープの代りにジエ
チルスズアセトープCCtHJz sn (acac)
を用いて実施例16と同様の組成比を有する被膜形成液
を作る。
実施例18 前記実施例16のジブチルスズアセトープの代りにジメ
チルスズアセトープ(OHs)t sn (acac)
 、を用いて実施例16と同様の組成比を有する被膜形
成液を作る。
実施例17および実施例18の被膜形成液も、この形成
液自体の特性、この形成液により作成された被膜の緒特
性も実施例16と同様の傾向な示すことが実験で確認さ
れている。
実施例19 で表わされる(但しXは一般式00nH2n+1で表わ
されるアルコキシ基においてn−1及びn−2)有機イ
ンジウム化合物を使用して実施例13と同様の組成比な
有する被膜形成液を作成し、有機金属化合物の適正含有
率について検討した結果を第19表に示す。これはn−
1の場合の有機インジウム化合物を使用した被膜形成液
の緒特性である。
なお、表中の各性質の判断基準は実施例13に準じた。
第19表 この表から明らかな様に、有機金属化合物の含有率yが
10〜25重量−の時が好ましい。特に10〜20重蓋
−のものは緒特性が優れている。
また含有率が30重量優な越えるとクラック、ひび割れ
が発生する事が判明した。n−2の場合の有機インジウ
ム化合物を使用した形成液も第19表と同等の特性を示
した。
実施例20 前記実施例19のジブチルスズアセトープの代りにジエ
チルススアセドープCCHs)tsn(acac )t
を用いて、実施例19と同様の組成比を有する被膜形成
液を作る。
実施例21 前記実施例19のジブチルスズアセトープの代りにジメ
チルスズアセトープ(C2HJ@Sn(acac)2を
用いて、実施例19と同様の組成比を有する被膜形成液
を作成する。実施例20及び実施例21の被膜形成液も
この形成液自体の特性、この形成液により作成された被
膜の緒特性も実施例19と同様の傾向を示すことが実験
で確認されている。
実施例22 導電性被膜形成液のポットライフを検討するため、次の
組成表に示すような本発明に係る被膜形成液、E液、F
液、G液と従来の被膜形成液H液を作成する。これをそ
れぞれ所定期間室温で放iαしてその後導電性被膜をつ
くり、放置にともなう面積抵抗値変化を測定し、その結
果を第4図に示す0 第4図から明らかなように、従来の被膜形成液Hな用い
たものは、被膜形成液の放置にともなう面積抵抗値の増
大が暑しいが、本発明に係る被膜形成液E、F、G液の
いずれの場合も経時的変化が少なく、被膜形成液をしば
らく放置しても常に低い面積抵抗値を有する導電性被膜
が形成される。
また従来の被膜形成液Hの場合には、調整後1日で白濁
化し、3日目で完全にゲル化するなど、液の安定性も良
くない。これに対し本発明に係る被膜形成液E、F、G
では、放置によって有機溶媒が揮散して濃度変化はある
ものの、20日以上ゲル化することがなく、従来のもの
に比べて長いポットライフを有する。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図はそれぞれ本発明の各実施例に
係る被膜形成液中の有機スズ化合物含有率と形成された
導電性被膜の面積抵抗値との関係な示す特性図、第4図
は本発明に係る被膜形成液と従来の被膜形成液の放置期
間にともなう面積抵抗値の変化を示す特性図である。 第1図 刊機スズ゛化合′@含有争x(重量%)第2図

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)焼成によって透明導電性金属酸化物となる有機金
    属化合物と、電気抵抗値調整剤と、これら有機金属化合
    物および電気抵抗値調整剤を溶解する有機溶媒とを含有
    する透明導電性被膜形成液において、前記有機金属化合
    物が次の一般式で示される有機インジウム化合物である
    ことを特徴とする透明導電性被膜形成液。 一般式 ▲数式、化学式、表等があります▼ 但し、式中のXは一般式C_nH_2_n_+_1(n
    =1〜4)で表わされるアルキル基、あるいはC_nH
    _2_n(n=3〜5)で表わされるアンケン類、又は
    OC_nH_2_n_+_1(n=1〜4)で表わされ
    るアルコキシ基である。
  2. (2)特許請求の範囲第(1)項記載において、前記有
    機インジウム化合物がトリスメチルアセトアセテートイ
    ンジウム、トリスエチルアセトアセテートインジウム、
    トリスプロピルアセトアセテートインジウム、トリスイ
    ソブチルアセトアセテートインジウムのグループから選
    択された有機インジウム化合物であることを特徴とする
    透明導電性被膜形成液。
  3. (3)特許請求の範囲第(1)項記載に於いて、前記有
    機インジウム化合物がトリス−1−プロペンアセトアセ
    テートインジウム、トリス−1−ブテンアセトアセテー
    トインジウム、トリス−1−ペンテンアセトアセテート
    インジウムのグループから選択された有機インジウム化
    合物であることを特徴とする透明導電性被膜形成液。
  4. (4)特許請求の範囲第(1)項記載に於いて、前記有
    機インジウム化合物がトリスメトキシアセトアセテート
    インジウム、トリスエトキシアセトアセテートインジウ
    ム、トリスプロポキシアセトアセテートインジウム、ト
    リスブトキシアセトアセテートインジウム、のグループ
    から選択された有機インジウム化合物であることを特徴
    とする透明導電性被膜形成液。
  5. (5)特許請求の範囲第(1)項記載において、前記電
    気抵抗値調整剤が次の一般式で示される有機スズ化合物
    であることを特徴とする透明導電性被膜形成液。 一般式 (Y)_2Sn(X)_2 但し、式中Xはβ−ジケトン、Yはアルキル基。
  6. (6)特許請求の範囲第(5)項記載において、前記有
    機スズ化合物が、ジブチルスズアセトープ、ジメチルス
    ズアセトープ、およびジエチルスズアセトープから選択
    された少なくとも1種の有機スズ化合物であることを特
    徴とする透明導電性被膜形成液。
  7. (7)特許請求の範囲第(1)項記載において、前記有
    機溶剤が低沸点有機液体であることを特徴とする透明導
    電性被膜形成液。
  8. (8)特許請求の範囲第(7)項記載において、前記有
    機溶剤がメチルエチルケトン、酢酸エチル、ベンゼンの
    グループから選択されたものであることを特徴とする透
    明導電性被膜形成液。
  9. (9)特許請求の範囲第(5)項記載において、前記有
    機インジウム化合物がトリスプロピルアセトアセテート
    インジウムで、前記有機スズ化合物がジブチルスズアセ
    トープ、ジメチルスズアセトープ、およびジエチルスズ
    アセトープのグループから選択された少なくとも1種の
    有機スズ化合物で、前記有機インジウム化合物と有機ス
    ズ化合物の混合物中における有機スズ化合物の含有率が
    約5〜20重量%の範囲に規制されていることを特徴と
    する透明導電性被膜形成液。
  10. (10)特許請求の範囲第(5)項記載において、前記
    有機インジウム化合物がトリスブチルアセトアセテート
    インジウムで、前記有機スズ化合物がジブチルスズアセ
    トープ、ジメチルスズアセトープ、およびジエチルスズ
    アセトープのグループから選択された少なくとも1種の
    有機スズ化合物で前記有機インジウム化合物と有機スズ
    化合物の混合物中における有機スズ化合物の含有率が約
    5〜20重量%の範囲に規制されていることを特徴とす
    る透明導電性被膜形成液。
  11. (11)特許請求の範囲第(5)項記載において、前記
    有機インジウム化合物がトリス−1−ペンテンアセトア
    セテートインジウムで、前記有機スズ化合物がジブチル
    スズアセトープ、ジメチルスズアセトープ、ジエチルス
    ズアセトープのグループから選択された少なくとも1種
    の有機スズ化合物で、前記有機インジウム化合物と有機
    スズ化合物の混合物中における有機スズ化合物の含有率
    が約5〜20重量%の範囲に規制されていることを特徴
    とする透明導電性被膜形成液。
  12. (12)特許請求の範囲第(5)項記載において、前記
    有機インジウム化合物がトリスメトキシアセトアセテー
    トインジウムで、前記有機スズ化合物がジブチルスズア
    セトープ、ジメチルスズアセトープ、ジエチルスズアセ
    トープのグループから選択された少なくとも1種の有機
    スズ化合物で、前記有機インジウム化合物と有機スズ化
    合物の混合物中における有機スズ化合物の含有率が約5
    〜20重量%の範囲に規制されていることを特徴とする
    透明導電性被膜形成液。
  13. (13)特許請求の範囲第(5)項記載において、前記
    有機インジウム化合物がトリスエトキシアセトアセテー
    トインジウムで、前記有機スズ化合物がジブチルスズア
    セトープ、ジメチルスズアセトープ、ジエチルスズアセ
    トープのグループから選択された少なくとも1種の有機
    スズ化合物で、前記有機インジウム化合物と有機スズ化
    合物の混合物中における有機スズ化合物の含有率が約5
    〜20重量%の範囲に規制されていることを特徴とする
    透明導電性被膜形成液。
  14. (14)特許請求の範囲第(5)項記載において、前記
    有機インジウム化合物と有機スズ化合物の全有機金属量
    が被膜形成液中に約6〜40重量%含有されていること
    を特徴とする透明導電性被膜形成液。
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