JPS60200403A - 薄膜誘電体の製造方法 - Google Patents
薄膜誘電体の製造方法Info
- Publication number
- JPS60200403A JPS60200403A JP59056467A JP5646784A JPS60200403A JP S60200403 A JPS60200403 A JP S60200403A JP 59056467 A JP59056467 A JP 59056467A JP 5646784 A JP5646784 A JP 5646784A JP S60200403 A JPS60200403 A JP S60200403A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dielectric
- thin film
- compounds
- compound
- precursor solution
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の利用分野:
本発明は、薄膜誘電体に係わり、さらに詳しくは、基板
」二に、第3成分を添加固溶してなるチタンジルコン酸
鉛(以下、[3成分系PZTJと称する。)またはラン
タン含有チタンジルコン酸鉛(以下、rPl、、ZTJ
と称する。)のいずれかの薄膜を形成した薄膜誘電体お
よびその製造方法に関する。
」二に、第3成分を添加固溶してなるチタンジルコン酸
鉛(以下、[3成分系PZTJと称する。)またはラン
タン含有チタンジルコン酸鉛(以下、rPl、、ZTJ
と称する。)のいずれかの薄膜を形成した薄膜誘電体お
よびその製造方法に関する。
従来技術:
従来、薄膜状の誘電体は粉粒体状の無機金属化合物の混
合物を加圧成形し高温度下に焼結して誘電体磁器を製造
し、ついで、所望の厚さにまで研磨して製造している。
合物を加圧成形し高温度下に焼結して誘電体磁器を製造
し、ついで、所望の厚さにまで研磨して製造している。
該方法においては、優れた誘電体素子の条件である厚さ
が百ミクロン以下と薄<、かつ、高比誘電率を有する薄
膜誘電体を製造することは、極めて困難である。 特に
、高硬3一 度の結晶性の高い誘電体磁器を所望の厚さにまで研磨す
ることは、結晶粒の欠損やクラックの発生が生じ易く、
特殊な装置を必要とする。 また、焼結温度が高いため
、電極として特殊な高価な金属材料を使用する必要があ
る。 スパッタリング法、真空蒸着法、気相反応法等に
より、優れた誘電体素子として利用可能な薄膜誘電体を
製造する方法が検討されているが、これらの方法におい
ては、各組成成分の蒸気圧が異なり、鉛含有誘電体の場
合特に酸化鉛の蒸気圧が大きく揮敗し易いため、スI・
イノキオメトリ制御が困難であり、目的とする誘電体特
性を得ることが極めて難しく、また、導通が避けにくく
実用化に至っていない。
が百ミクロン以下と薄<、かつ、高比誘電率を有する薄
膜誘電体を製造することは、極めて困難である。 特に
、高硬3一 度の結晶性の高い誘電体磁器を所望の厚さにまで研磨す
ることは、結晶粒の欠損やクラックの発生が生じ易く、
特殊な装置を必要とする。 また、焼結温度が高いため
、電極として特殊な高価な金属材料を使用する必要があ
る。 スパッタリング法、真空蒸着法、気相反応法等に
より、優れた誘電体素子として利用可能な薄膜誘電体を
製造する方法が検討されているが、これらの方法におい
ては、各組成成分の蒸気圧が異なり、鉛含有誘電体の場
合特に酸化鉛の蒸気圧が大きく揮敗し易いため、スI・
イノキオメトリ制御が困難であり、目的とする誘電体特
性を得ることが極めて難しく、また、導通が避けにくく
実用化に至っていない。
特開昭56−28408号公報には、有機金属化合物を
含有する溶液をガラス基板」二に滴下法またはディッピ
ング法により塗布し、常温の空気中で30分間、さらに
、110℃の恒温槽中で30分間乾燥して加水分解反応
を終了させた後、電気炉中において、強制的に水蒸気を
送込しながら200℃〜800℃の温度に加熱して焼成
する薄膜誘電体の製造方法が提案されている。 しかし
ながら、該方法において例示される有機金属化合物の溶
液は、極めて不安定であり大気中の水分を吸収して容易
に加水分解されるため、均質な塗膜を得ることが困難で
ある。 さらに、加水分解4一 時および焼成時における雰囲気、特に水蒸気分圧の制御
が困難である。 また、加水分解工程を経由することに
より、焼成時に水酸基の分解離脱が困難なため、導通を
生じ実用的な薄膜誘電体を製造することができない。
該方法は、誘電体の薄膜をガラス基板上に形成し得るこ
とを示唆するが、該公報には、得られた薄膜の具体的な
誘電特性が示されておらず、誘電体素子として利用可能
な薄膜誘電体が製造できたことは確認されていない。
本発明の出願人の既出側である特開昭58−41723
号および特願昭57−152739号にも誘電体の前駆
体槽液を用いて、基板上に薄膜誘電体の薄膜を製造する
記載があるが、具体的に薄膜誘電体としての誘電体特性
を示す記載はない。
含有する溶液をガラス基板」二に滴下法またはディッピ
ング法により塗布し、常温の空気中で30分間、さらに
、110℃の恒温槽中で30分間乾燥して加水分解反応
を終了させた後、電気炉中において、強制的に水蒸気を
送込しながら200℃〜800℃の温度に加熱して焼成
する薄膜誘電体の製造方法が提案されている。 しかし
ながら、該方法において例示される有機金属化合物の溶
液は、極めて不安定であり大気中の水分を吸収して容易
に加水分解されるため、均質な塗膜を得ることが困難で
ある。 さらに、加水分解4一 時および焼成時における雰囲気、特に水蒸気分圧の制御
が困難である。 また、加水分解工程を経由することに
より、焼成時に水酸基の分解離脱が困難なため、導通を
生じ実用的な薄膜誘電体を製造することができない。
該方法は、誘電体の薄膜をガラス基板上に形成し得るこ
とを示唆するが、該公報には、得られた薄膜の具体的な
誘電特性が示されておらず、誘電体素子として利用可能
な薄膜誘電体が製造できたことは確認されていない。
本発明の出願人の既出側である特開昭58−41723
号および特願昭57−152739号にも誘電体の前駆
体槽液を用いて、基板上に薄膜誘電体の薄膜を製造する
記載があるが、具体的に薄膜誘電体としての誘電体特性
を示す記載はない。
発明の解釈しようとする問題点:
本発明は、基板上に誘電体を薄膜状に形成した、高誘電
特性を有する誘電体素子として利用可能な薄膜誘電体お
よびその製造方法を提供することを、その目的とする。
特性を有する誘電体素子として利用可能な薄膜誘電体お
よびその製造方法を提供することを、その目的とする。
問題点を解釈するための手段:
本発明は、基板上に、下記(a)、または(b)、の1
種の誘電体組成物の薄膜を、2層以上積層してなる薄膜
誘電体(a)組成式(1) Pb(Ti XZry)s (M’ I/3M” 2/
3)t 03 ・・”・・ (1)(ここに、M’は2
価のMg、Co、Fe、Cr、Zn、Mn、旧またはC
d門”はNbまたはTaを表し、 Xは0.3〜0.55 yは0.7〜0.45であり、かつ、 x+y=1 s +t−1かつ、L≦0.6 である。)で表される
第3成分を含有するチタンジルコン酸鉛(3成分系PZ
T) (b)組成式(2) %式%(2) (ここに、HはTiおよびZrを表し、2≦0.2であ
る。)で表されるランタン含有チタンジルコン酸鉛(P
l、、ZT)および、β−ジケトン類、ケトン酸類、ケ
I−エステル類、オキシ酸類、オキシ酸エステル類およ
びオキシケトン類よりなる群から選ばれた1種又は2種
以上を主成分とする有機溶媒に、マグネシウム化合物、
コバルト化合物、鉄化合物、クロム化合物、亜鉛化合物
、マンガン化合物、ニッケル化合物およびカドミウム化
合物よりなる群から選ばれる1種、タンタル化合物また
はニオブ化合物、有機チタニウム化合物、有機ジルコニ
ウム化合物および鉛化合物の混合物または反応生成物も
しくは有機チタニウム化合物、有機ジルコニウム化合物
、ランタン化合物および鉛化合物の混合物または反応生
成物よりなる群から選ばれる1種の誘電体形成前駆体を
溶解した誘電体形成前駆体溶液を、基板上に塗布、乾燥
して誘電体形成前駆体の塗膜を形成した後、塗膜中の有
機物の分解温度板−ヒ、誘電体の結晶化温度以下の温度
で仮焼し、さらに、誘電体形成前駆体溶液の塗布、乾燥
および仮焼を繰り返し、ついで、誘電体の結晶化温度以
」二の温度で本焼成して誘電体の薄膜を形成するか、も
しくは、基板上への誘電体形成前駆体溶液の塗布、乾燥
および誘電体の結晶化温度以下ヒの温度での本焼成を繰
り返して誘電体の薄膜を形成することを特徴とする薄膜
誘電体の製造方法である。
種の誘電体組成物の薄膜を、2層以上積層してなる薄膜
誘電体(a)組成式(1) Pb(Ti XZry)s (M’ I/3M” 2/
3)t 03 ・・”・・ (1)(ここに、M’は2
価のMg、Co、Fe、Cr、Zn、Mn、旧またはC
d門”はNbまたはTaを表し、 Xは0.3〜0.55 yは0.7〜0.45であり、かつ、 x+y=1 s +t−1かつ、L≦0.6 である。)で表される
第3成分を含有するチタンジルコン酸鉛(3成分系PZ
T) (b)組成式(2) %式%(2) (ここに、HはTiおよびZrを表し、2≦0.2であ
る。)で表されるランタン含有チタンジルコン酸鉛(P
l、、ZT)および、β−ジケトン類、ケトン酸類、ケ
I−エステル類、オキシ酸類、オキシ酸エステル類およ
びオキシケトン類よりなる群から選ばれた1種又は2種
以上を主成分とする有機溶媒に、マグネシウム化合物、
コバルト化合物、鉄化合物、クロム化合物、亜鉛化合物
、マンガン化合物、ニッケル化合物およびカドミウム化
合物よりなる群から選ばれる1種、タンタル化合物また
はニオブ化合物、有機チタニウム化合物、有機ジルコニ
ウム化合物および鉛化合物の混合物または反応生成物も
しくは有機チタニウム化合物、有機ジルコニウム化合物
、ランタン化合物および鉛化合物の混合物または反応生
成物よりなる群から選ばれる1種の誘電体形成前駆体を
溶解した誘電体形成前駆体溶液を、基板上に塗布、乾燥
して誘電体形成前駆体の塗膜を形成した後、塗膜中の有
機物の分解温度板−ヒ、誘電体の結晶化温度以下の温度
で仮焼し、さらに、誘電体形成前駆体溶液の塗布、乾燥
および仮焼を繰り返し、ついで、誘電体の結晶化温度以
」二の温度で本焼成して誘電体の薄膜を形成するか、も
しくは、基板上への誘電体形成前駆体溶液の塗布、乾燥
および誘電体の結晶化温度以下ヒの温度での本焼成を繰
り返して誘電体の薄膜を形成することを特徴とする薄膜
誘電体の製造方法である。
本発明の薄膜誘電体において、基板は、ガラス板、セラ
ミック板、電極として使用可能な導電膜たとえば金、白
金パラジウム、銀、銅、クロム、アルミニウム、タンタ
ル、ニッケルークロム等の金属または合金の薄膜、スズ
また、はアンチモン等をドープした酸化インジウム膜、
アンチモン、砒素等をドープした酸化スズ膜などを被着
したガラス板およびセラミック板、金属板または金属箔
たとえば金、白金、銀、銅、ニッケル、ニッケルークロ
ム等および白金族の金属の薄膜を被着したニッケル、ニ
ッケルークロムなどの耐熱性基板である。
ミック板、電極として使用可能な導電膜たとえば金、白
金パラジウム、銀、銅、クロム、アルミニウム、タンタ
ル、ニッケルークロム等の金属または合金の薄膜、スズ
また、はアンチモン等をドープした酸化インジウム膜、
アンチモン、砒素等をドープした酸化スズ膜などを被着
したガラス板およびセラミック板、金属板または金属箔
たとえば金、白金、銀、銅、ニッケル、ニッケルークロ
ム等および白金族の金属の薄膜を被着したニッケル、ニ
ッケルークロムなどの耐熱性基板である。
本発明の薄膜誘電体は、誘電体としてよく知られた、前
記一般式または組成式で表される3成分系PZT、また
はPLZTの薄膜を、前記基板上に2層以」二積層して
所望の膜厚に形成したものである。 3成分系PZTと
して組成式(3)中のi゛がMg、 M”がNbである
PZT−PMN、M’がN+、 M”がNbであるPZ
T−PNN等を例示できる。
記一般式または組成式で表される3成分系PZT、また
はPLZTの薄膜を、前記基板上に2層以」二積層して
所望の膜厚に形成したものである。 3成分系PZTと
して組成式(3)中のi゛がMg、 M”がNbである
PZT−PMN、M’がN+、 M”がNbであるPZ
T−PNN等を例示できる。
本発明の薄膜誘電体の製造方法において、誘電体形成前
駆体溶液は、アセチルアセトン、ベンゾイルアセトン等
のβ−ジケトン類、アセト酢酸、プロピオニル酪酸、ベ
ンゾイル蟻酸等のケトン酸類、ケトン酸のメチル、エチ
ル、プロピル、ブチル等の低級アルキルエステル類、乳
酸、グリコール酸、α−オキシ酪酸、サリチル酸等のオ
キシ酸類、オキシ酸の低級アルキルエステル類およびジ
アセトン、アルコール、アセトイン等のオキシケトン類
よりなる群から選ばれた1種の単独溶媒または2種板−
ヒの混合溶媒を主成分とする有機溶媒を使用する。
駆体溶液は、アセチルアセトン、ベンゾイルアセトン等
のβ−ジケトン類、アセト酢酸、プロピオニル酪酸、ベ
ンゾイル蟻酸等のケトン酸類、ケトン酸のメチル、エチ
ル、プロピル、ブチル等の低級アルキルエステル類、乳
酸、グリコール酸、α−オキシ酪酸、サリチル酸等のオ
キシ酸類、オキシ酸の低級アルキルエステル類およびジ
アセトン、アルコール、アセトイン等のオキシケトン類
よりなる群から選ばれた1種の単独溶媒または2種板−
ヒの混合溶媒を主成分とする有機溶媒を使用する。
これらの有機溶媒に、誘電体形成前駆体溶液の粘度調整
その他を目的として、アルコール系溶媒、芳香族炭化水
素系溶媒を添加使用することができる。
その他を目的として、アルコール系溶媒、芳香族炭化水
素系溶媒を添加使用することができる。
本発明の薄膜誘電体の製造方法において、誘電体形成前
駆体溶液に用いる有機チタニウム化合物および有機ジル
コニウム化合物は、前記有機溶媒に可溶性の化合物であ
ればよく、たとえば、下記一般式(3) %式%(31 Rは1価の炭化水素基の異種同種を表す。)で表される
アルコキシド類、その加水分解により生成する、下記一
般式(4) %式% (ここに、門およびRは、前記と同じ意味を表す。)を
繰り返しの単位とする重合度2ないし20の重合体類、
アルコキシドまたはその重合体のアルコキシ基の一部ま
たは全部を2個の官能基を有するキレート化剤の残基で
置換した化合物類などを例示することができる。有機チ
タニウム化合物により具体例を示すと、テトラメトキシ
チタン。
駆体溶液に用いる有機チタニウム化合物および有機ジル
コニウム化合物は、前記有機溶媒に可溶性の化合物であ
ればよく、たとえば、下記一般式(3) %式%(31 Rは1価の炭化水素基の異種同種を表す。)で表される
アルコキシド類、その加水分解により生成する、下記一
般式(4) %式% (ここに、門およびRは、前記と同じ意味を表す。)を
繰り返しの単位とする重合度2ないし20の重合体類、
アルコキシドまたはその重合体のアルコキシ基の一部ま
たは全部を2個の官能基を有するキレート化剤の残基で
置換した化合物類などを例示することができる。有機チ
タニウム化合物により具体例を示すと、テトラメトキシ
チタン。
テトラエトキシチタン、テトライソプロポキシチタン、
ナトラブ1〜キシチタン、ジメトキシジイソプロポキシ
チタン。
ナトラブ1〜キシチタン、ジメトキシジイソプロポキシ
チタン。
ジェトキシジイソプロポキシチタン、ジエトキシジブト
キシチクン等の異種同種の置換基をゆうするチタニウム
アルコキシド類、チタニウムアルコ−1−シトの加水分
解により生成する重合体類、これらのアルコキシドまた
はその重合体のアルコキシ基の一部または全部を、アセ
チルアセトン。
キシチクン等の異種同種の置換基をゆうするチタニウム
アルコキシド類、チタニウムアルコ−1−シトの加水分
解により生成する重合体類、これらのアルコキシドまた
はその重合体のアルコキシ基の一部または全部を、アセ
チルアセトン。
ヘンジイルアセトン等のβ−ジケトン類、アセト酢酸、
プロピオニル醋酸、ベンゾイル蟻酸等のケ1ヘン酸類、
ケトン酸のメチル、エチル、プロピル、ブチル等の低級
アルギルエステル類、乳酸、グリコール酸、α−オキシ
酪酸、サリチル酸等のオキシ酸類、オ;)−シ酸の低級
アルキルエステル類、ジアセトンアル:1−ル、アセ1
〜イン等のオキシケトン類、グリシン、アラニン等のα
−アミノ酸類、アミノエチルアルコール等のアミノアル
コール類などの2個の官能基を有するキレート化剤の残
基で置換した化合物類が挙げられる。 また、有機ジル
:Iニラl、化合物として、前記例示した有機チタニウ
ム化合物と同様の置換21(を有するジル:Iニウムア
ルコギシド類、その重合体類、およびジルmlニラJ、
アルコキシドまたはその重合体のアル′:Iキシ基の一
部または全部を前記した2個の官能基を有するキレ−1
・化剤の残基で置換した化合物類などを例示できる。
Ta化合物およびNb化合物についても、前記した有機
チタン化合物と同様の置換基を有するアルコキシド類、
およびアルコキシドのアルコキシ基の一部または全部を
前記した2個の官能基を有するキレ−1・化剤の残基で
置換した化合物類などを使用する。 また、マグネシウ
ム化合物、コバルト化合物。
プロピオニル醋酸、ベンゾイル蟻酸等のケ1ヘン酸類、
ケトン酸のメチル、エチル、プロピル、ブチル等の低級
アルギルエステル類、乳酸、グリコール酸、α−オキシ
酪酸、サリチル酸等のオキシ酸類、オ;)−シ酸の低級
アルキルエステル類、ジアセトンアル:1−ル、アセ1
〜イン等のオキシケトン類、グリシン、アラニン等のα
−アミノ酸類、アミノエチルアルコール等のアミノアル
コール類などの2個の官能基を有するキレート化剤の残
基で置換した化合物類が挙げられる。 また、有機ジル
:Iニラl、化合物として、前記例示した有機チタニウ
ム化合物と同様の置換21(を有するジル:Iニウムア
ルコギシド類、その重合体類、およびジルmlニラJ、
アルコキシドまたはその重合体のアル′:Iキシ基の一
部または全部を前記した2個の官能基を有するキレ−1
・化剤の残基で置換した化合物類などを例示できる。
Ta化合物およびNb化合物についても、前記した有機
チタン化合物と同様の置換基を有するアルコキシド類、
およびアルコキシドのアルコキシ基の一部または全部を
前記した2個の官能基を有するキレ−1・化剤の残基で
置換した化合物類などを使用する。 また、マグネシウ
ム化合物、コバルト化合物。
鉄化合物、クロム化合物、亜鉛化合物、マンガン化合物
。
。
ニッケル化合物、カドミウム化合物、ランタン化合物お
よび鉛化合物として、当該金属の酸化物、水酸化物、硝
酸塩等の無機塩類、酢酸塩、プロピオン酸塩、酪酸塩等
のカルボン酸塩およびアルコキシド類などを使用する。
よび鉛化合物として、当該金属の酸化物、水酸化物、硝
酸塩等の無機塩類、酢酸塩、プロピオン酸塩、酪酸塩等
のカルボン酸塩およびアルコキシド類などを使用する。
本発明の薄膜誘電体の製造方法において、誘電体形成前
駆体溶液は、前記した有機溶媒に、前記した金属化合物
の2種以」−の混合物または反応生成物を、金属の複合
酸化物に換算して5ないし20重量%の濃度に溶解した
溶液である。
駆体溶液は、前記した有機溶媒に、前記した金属化合物
の2種以」−の混合物または反応生成物を、金属の複合
酸化物に換算して5ないし20重量%の濃度に溶解した
溶液である。
本発明のv5月模誘電体の製造方法において、前記した
誘電体形成前駆体溶液の基板への塗布、乾燥および仮焼
または本焼成の繰り返しの回数は、少なくとも2回、好
ましくは、3回以上である。
誘電体形成前駆体溶液の基板への塗布、乾燥および仮焼
または本焼成の繰り返しの回数は、少なくとも2回、好
ましくは、3回以上である。
本発明の薄膜誘電体の製造方法において、仮焼温度は金
属化合物の種類、使用した有機溶媒の種類等により異な
るが、およそ200〜500°Cであり、また、本焼成
温度は誘電体の種類により異なるが、通常、450°C
以上である。
属化合物の種類、使用した有機溶媒の種類等により異な
るが、およそ200〜500°Cであり、また、本焼成
温度は誘電体の種類により異なるが、通常、450°C
以上である。
= 11−
作 用:
本発明の薄膜誘電体は、ノル板上に誘電体の薄膜を2層
以1−積層して形成した、その合S1膜厚が0.1ない
しioo tlmの極めて薄い透光性の誘電体であり、
当該誘電体の誘電体磁器と同等またはそれ以上の極めて
優れた誘電特性を有する。 誘電体の合計膜厚が[1,
1,+1m未?1Y1では、導通が避げに<<、たとえ
導通がない場合でも、誘電体としての耐久性が劣り好ま
しくない。 また、10071mを越える場合には、特
に問題はないが、好ましい膜厚範囲は、0.5〜501
1mである。 誘電体の薄膜の積層数は、それを増加す
ることにより、各層に存在するピンホール、結晶粒界に
添って起こるクランク等の薄膜欠陥が互いに相殺され補
修された導通のない薄lI#誘電体となる。したがって
、誘電体の薄膜の積層数は、好ましくは、3層以−に、
さらに好ましく lj、5層以上である。
以1−積層して形成した、その合S1膜厚が0.1ない
しioo tlmの極めて薄い透光性の誘電体であり、
当該誘電体の誘電体磁器と同等またはそれ以上の極めて
優れた誘電特性を有する。 誘電体の合計膜厚が[1,
1,+1m未?1Y1では、導通が避げに<<、たとえ
導通がない場合でも、誘電体としての耐久性が劣り好ま
しくない。 また、10071mを越える場合には、特
に問題はないが、好ましい膜厚範囲は、0.5〜501
1mである。 誘電体の薄膜の積層数は、それを増加す
ることにより、各層に存在するピンホール、結晶粒界に
添って起こるクランク等の薄膜欠陥が互いに相殺され補
修された導通のない薄lI#誘電体となる。したがって
、誘電体の薄膜の積層数は、好ましくは、3層以−に、
さらに好ましく lj、5層以上である。
本発明の薄膜誘電体は、本発明の製造方法のいずれによ
っても製造することができる。 すなわち、前記基板の
いずれかに、前記した誘電体形成前駆体溶液の1種を塗
布、乾燥して該前駆体の均一な厚さの塗1りを形成し、
ついで、酸素含有気流中において、塗膜中の有機物の分
解温度以−1−1誘電体の結晶化温度以下の温度に加熱
保持して仮焼し、さ 12− らに、この前駆体溶液の塗布、乾燥および仮焼を繰り返
すで、所望の膜厚の薄膜を形成した後、誘電体の結晶化
温度以下の温度に加熱保持して本焼成する方法、もしく
は、前駆体溶液の塗布、乾燥および本焼成を繰り返す方
法により、所望の1ジ厚の薄膜誘電体を製造することか
できる。 好ましくは、ピンホール、クラック等の薄膜
欠陥の発生しにくい前者を採用する。
っても製造することができる。 すなわち、前記基板の
いずれかに、前記した誘電体形成前駆体溶液の1種を塗
布、乾燥して該前駆体の均一な厚さの塗1りを形成し、
ついで、酸素含有気流中において、塗膜中の有機物の分
解温度以−1−1誘電体の結晶化温度以下の温度に加熱
保持して仮焼し、さ 12− らに、この前駆体溶液の塗布、乾燥および仮焼を繰り返
すで、所望の膜厚の薄膜を形成した後、誘電体の結晶化
温度以下の温度に加熱保持して本焼成する方法、もしく
は、前駆体溶液の塗布、乾燥および本焼成を繰り返す方
法により、所望の1ジ厚の薄膜誘電体を製造することか
できる。 好ましくは、ピンホール、クラック等の薄膜
欠陥の発生しにくい前者を採用する。
誘電体形成前駆体溶液の基板への倹布法は、均一な膜厚
の塗膜が得られ方法であればよく、ディッピング法、ス
プレー法、スピンナー法、ロールコート法、刷毛塗り法
等を採用できる。 特に、簡単な操作で均一な膜厚の塗
膜が得られ易く、大量処理が容易なディッピング法が好
ましく採用される。 さらに好ましくは、均質で、かつ
、均一な膜厚の塗膜が得られる、前駆体溶液を40ない
し95°Cの温度に加温して基板のディッピングを行う
ホットディッピング法を採用する。 誘電体形成前駆体
溶液の基板への塗布、乾燥および仮焼または本焼成の繰
り返し回数は、形成される薄膜のピンポール、クラック
等の欠陥または結晶粒界を1fflLでの導通を解消す
るために、少なくとも2回以上、好ましくは、3回以上
、さらに好ましくは5回収」二である。
の塗膜が得られ方法であればよく、ディッピング法、ス
プレー法、スピンナー法、ロールコート法、刷毛塗り法
等を採用できる。 特に、簡単な操作で均一な膜厚の塗
膜が得られ易く、大量処理が容易なディッピング法が好
ましく採用される。 さらに好ましくは、均質で、かつ
、均一な膜厚の塗膜が得られる、前駆体溶液を40ない
し95°Cの温度に加温して基板のディッピングを行う
ホットディッピング法を採用する。 誘電体形成前駆体
溶液の基板への塗布、乾燥および仮焼または本焼成の繰
り返し回数は、形成される薄膜のピンポール、クラック
等の欠陥または結晶粒界を1fflLでの導通を解消す
るために、少なくとも2回以上、好ましくは、3回以上
、さらに好ましくは5回収」二である。
繰り返し回数が少な過ぎる場合には、導通を解消できな
いことがあり好ましくない。
いことがあり好ましくない。
誘電体形成前駆体溶液は、溶媒として前記した有a溶媒
の準独またはそれらを主成分とする混合溶媒を使用する
が、これらの有m溶媒は、誘電体形成前駆体の溶解度が
大きく高濃度の前駆体溶液とすることができ、該前駆体
溶液中の金属原子とキレ−1−環を形成して金属化合物
類を均一に分散させるばかりでなく、該前駆体ン容液を
安定化し、加水分解により沈澱物が生成するのを防11
−する。 また、これらの有機溶媒類を溶媒とする前駆
体溶液G:11.!1(板、特に、金属基板への誘電体
の薄膜の形成性が、著しく優れており、さらに、焼成に
あたり、水酸基が残留することなく分解するため、水酸
基の残留に起因する導通を防+Lする。 有機溶媒とし
て、β−ジケトン類、特に、入手が容易で安価なアセチ
ルアセトンが好ましく使用される。
の準独またはそれらを主成分とする混合溶媒を使用する
が、これらの有m溶媒は、誘電体形成前駆体の溶解度が
大きく高濃度の前駆体溶液とすることができ、該前駆体
溶液中の金属原子とキレ−1−環を形成して金属化合物
類を均一に分散させるばかりでなく、該前駆体ン容液を
安定化し、加水分解により沈澱物が生成するのを防11
−する。 また、これらの有機溶媒類を溶媒とする前駆
体溶液G:11.!1(板、特に、金属基板への誘電体
の薄膜の形成性が、著しく優れており、さらに、焼成に
あたり、水酸基が残留することなく分解するため、水酸
基の残留に起因する導通を防+Lする。 有機溶媒とし
て、β−ジケトン類、特に、入手が容易で安価なアセチ
ルアセトンが好ましく使用される。
誘電体形成前駆体溶液の濃度が低ずぎると、1回の塗布
、乾燥および焼成で形成する誘電体の薄膜の厚さが薄く
なりすぎ、所望の膜厚の薄膜誘電体を得るための塗布、
乾燥および焼成の繰り返し回数が多くなりすぎるので好
ましくない。 また、濃度が高すぎると、1回の塗布で
形成される塗膜が厚くなりすぎ、焼成に際し、ピンポー
ルやクラック等の薄膜欠陥を生じ易いので好ましくない
。
、乾燥および焼成で形成する誘電体の薄膜の厚さが薄く
なりすぎ、所望の膜厚の薄膜誘電体を得るための塗布、
乾燥および焼成の繰り返し回数が多くなりすぎるので好
ましくない。 また、濃度が高すぎると、1回の塗布で
形成される塗膜が厚くなりすぎ、焼成に際し、ピンポー
ルやクラック等の薄膜欠陥を生じ易いので好ましくない
。
誘電体形成前駆体溶液の好ましい濃度範囲は、採用する
塗布法によっても異なるが、前駆体溶液に含有する金属
の複合酸化物に換算して、5ないし20重量%である。
塗布法によっても異なるが、前駆体溶液に含有する金属
の複合酸化物に換算して、5ないし20重量%である。
以下に、各々の誘電体3.11成の薄膜誘電体の製造方
法ついて、さらに詳細に説明する。
法ついて、さらに詳細に説明する。
3成分系PZT薄膜誘電体:
前記PZT誘電体形成前駆体溶液に、さらに、マグネシ
ウム化合物、コバルト化合物、鉄化合物、クロム化合物
。
ウム化合物、コバルト化合物、鉄化合物、クロム化合物
。
亜鉛化合物、マンガン化合物、ニッケル化合物および力
Fミウム化合物よりなる群から選ばれた1種とタンタル
化合物またはニオブ化合物とを添加混合した溶液または
添加反応させた溶液、好ましくは、反応溶液、さらに好
ましくは、前記した特願昭57−152739号におい
て本出願人が開示した、下記組成式(5) %式%) (ここに、M、M’、M”、R,R’ 、s、 t、お
よびj+l(は、前記と同し意味を表す。) で表される反応生成物のアセチルアセトン溶液を誘電体
形成前駆体溶液として用い、 該前駆体溶液を40〜9
5℃、好ましくは、40〜50°Cの温度に保持した中
に、該前駆体溶液とほぼ同温度に加温した基板を浸漬し
た後、一定15− の速度で引き上げ乾燥して誘電体形成前駆体の被膜を形
成する。 ついで、該基板を、大気中、200〜500
°C1好ましくは、400〜500°Cの温度に加熱保
持して仮焼して薄膜を形成する。 さらに、前駆体溶液
の塗布、乾燥および仮焼を繰り返して所望の膜厚の薄膜
を形成した後、650°C以」二、好ましくは、600
〜800℃の温度に加熱保持し本焼成することにより、
基板−にに所望の膜厚の3成分系1)ZTの薄膜が形成
され、3成分系PZTR1J膜誘電体を製造するごとが
できる。
Fミウム化合物よりなる群から選ばれた1種とタンタル
化合物またはニオブ化合物とを添加混合した溶液または
添加反応させた溶液、好ましくは、反応溶液、さらに好
ましくは、前記した特願昭57−152739号におい
て本出願人が開示した、下記組成式(5) %式%) (ここに、M、M’、M”、R,R’ 、s、 t、お
よびj+l(は、前記と同し意味を表す。) で表される反応生成物のアセチルアセトン溶液を誘電体
形成前駆体溶液として用い、 該前駆体溶液を40〜9
5℃、好ましくは、40〜50°Cの温度に保持した中
に、該前駆体溶液とほぼ同温度に加温した基板を浸漬し
た後、一定15− の速度で引き上げ乾燥して誘電体形成前駆体の被膜を形
成する。 ついで、該基板を、大気中、200〜500
°C1好ましくは、400〜500°Cの温度に加熱保
持して仮焼して薄膜を形成する。 さらに、前駆体溶液
の塗布、乾燥および仮焼を繰り返して所望の膜厚の薄膜
を形成した後、650°C以」二、好ましくは、600
〜800℃の温度に加熱保持し本焼成することにより、
基板−にに所望の膜厚の3成分系1)ZTの薄膜が形成
され、3成分系PZTR1J膜誘電体を製造するごとが
できる。
P L Z T薄膜誘電体:
有機チタニウム化合物、有機ジルコニラJ、化合物、ラ
ンタン化合物および鉛化合物の71L合物まツバ:1反
応ノ反応酸物の前記有機溶媒溶液、好ましくは、反応生
成物のβ−ジケトン溶液、さらに好ましくは、前記した
特願昭57−152739号において本出願人が開示し
た、下記x1■成式(6)%式%) (ここに、M、R,R’、z、およびj+には、前記と
同じ意味を表す。) で表される反応生成物のアセチルアセI・ンン容液を誘
電体形成前駆体溶液として用い、前記、3成分系PZT
薄膜誘電体の場合と同様の方法により、P L Z T
薄膜誘電体を製造 16− することができる。 P L Z T誘電体の場合の仮
焼温度は、200〜500℃、好ましくは、400〜5
00°Cであり、本焼成温度は、その金属原子比により
異なるが、600°C以上、好ましくは、600〜80
0°Cの範囲である。
ンタン化合物および鉛化合物の71L合物まツバ:1反
応ノ反応酸物の前記有機溶媒溶液、好ましくは、反応生
成物のβ−ジケトン溶液、さらに好ましくは、前記した
特願昭57−152739号において本出願人が開示し
た、下記x1■成式(6)%式%) (ここに、M、R,R’、z、およびj+には、前記と
同じ意味を表す。) で表される反応生成物のアセチルアセI・ンン容液を誘
電体形成前駆体溶液として用い、前記、3成分系PZT
薄膜誘電体の場合と同様の方法により、P L Z T
薄膜誘電体を製造 16− することができる。 P L Z T誘電体の場合の仮
焼温度は、200〜500℃、好ましくは、400〜5
00°Cであり、本焼成温度は、その金属原子比により
異なるが、600°C以上、好ましくは、600〜80
0°Cの範囲である。
実施例:
以下に、本発明のより好ましい態様を、実施例および比
較例によりさらに詳細に説明する。 ただし、本発明の
範囲は、下記実施例により、何等限定されるものではな
い。
較例によりさらに詳細に説明する。 ただし、本発明の
範囲は、下記実施例により、何等限定されるものではな
い。
実施例I
P L Z T薄膜誘電体およびその製造温度計、還流
冷却器および撹拌機イ」の200mρ四ロフラスコに、
純度99.1wt%の酢酸鉛: I’h(CII3CO
O) z 14.85 g(45,3mmol)、純度
95.6 wt%の酢酸ランタン: La (C1li
COO) 31.57 g(4,fl mmol)、純
度86.9 wt%テトラブトキシジルコニウム: Z
r(OCdl、)414.40 g (32,5mmo
l)、純度99 wt%テ1−ラブドキシチタン: T
i(OCJ、)46.02 g (17,5mmol)
およびキシレン37 gを仕込み、窒素雰囲気下に攪拌
しながら1温した。反応温度約130℃からブタノール
およびブチルアセテ−1・が留出し始め、反応液し才当
初の白濁した状態から黄褐色の均一透明な溶液に変化し
た。減圧下にキシレン約25 gを留去した。ついでア
セチルアセトン約100gを加えて加熱還流し、 Pbo、 qo5Lao、 oq5<Zro、 asT
io、 3s)03に換算した濃度が10−t%の飴色
のPLZT誘電体形成前駆体溶液を調整した。
冷却器および撹拌機イ」の200mρ四ロフラスコに、
純度99.1wt%の酢酸鉛: I’h(CII3CO
O) z 14.85 g(45,3mmol)、純度
95.6 wt%の酢酸ランタン: La (C1li
COO) 31.57 g(4,fl mmol)、純
度86.9 wt%テトラブトキシジルコニウム: Z
r(OCdl、)414.40 g (32,5mmo
l)、純度99 wt%テ1−ラブドキシチタン: T
i(OCJ、)46.02 g (17,5mmol)
およびキシレン37 gを仕込み、窒素雰囲気下に攪拌
しながら1温した。反応温度約130℃からブタノール
およびブチルアセテ−1・が留出し始め、反応液し才当
初の白濁した状態から黄褐色の均一透明な溶液に変化し
た。減圧下にキシレン約25 gを留去した。ついでア
セチルアセトン約100gを加えて加熱還流し、 Pbo、 qo5Lao、 oq5<Zro、 asT
io、 3s)03に換算した濃度が10−t%の飴色
のPLZT誘電体形成前駆体溶液を調整した。
60〜70℃に保持した、前記調整したP L Z T
誘電体形成前駆体溶液に、30mm X 50mm X
0 、2mmの白金基板を60℃に加温して浸漬し、
47cm/minの速度で引き上げ該前駆体の被膜を形
成した。ついで、500℃の温度に加熱した電気炉中に
30分間保持し仮焼成した。前駆体溶液へのディッピン
グおよび仮焼成を繰り返した後、さらに750℃に加熱
j−だ電気炉中に30分間保持して本焼成し形成された
薄膜の結晶化を行った。
誘電体形成前駆体溶液に、30mm X 50mm X
0 、2mmの白金基板を60℃に加温して浸漬し、
47cm/minの速度で引き上げ該前駆体の被膜を形
成した。ついで、500℃の温度に加熱した電気炉中に
30分間保持し仮焼成した。前駆体溶液へのディッピン
グおよび仮焼成を繰り返した後、さらに750℃に加熱
j−だ電気炉中に30分間保持して本焼成し形成された
薄膜の結晶化を行った。
得られた薄膜のX線回折の結果、P L Z Tの薄膜
であることが確認された。
であることが確認された。
得られたP L Z T薄膜誘電体表面に、] cm
X l cmの金薄膜をスパッタリング法により形成し
、その上に銀ペースI・を塗り電極とした。この電極と
金薄膜との間に、0.1Kllzの交流電流を印加し、
誘電特性を測定した。
X l cmの金薄膜をスパッタリング法により形成し
、その上に銀ペースI・を塗り電極とした。この電極と
金薄膜との間に、0.1Kllzの交流電流を印加し、
誘電特性を測定した。
得られたPLZT薄膜誘電体の誘電特性を、第1表に示
す。
す。
(以下余白)
第1表
実施例2
3成分系PZT″iii膜誘電体およびその製造:実施
例1で用いた反応容器と同一の反応容器に、純度99.
1 wt%の酢酸鉛:Pb(CIl、C00)z 16
.4 g (50mmol)、純度86.6 wt%の
テトラブトキシジルコニウム:Zr(OC4H7)43
.0g(6,8mmol)、純度99−t%のテトラブ
トキシチタン: Zr (QCtll、)46.3 g
(18,3nunol)、純度99 wt%の酢酸マ
グネシウム: Mg(CIL+C00)z 1.2 g
(8,3mmol)、純度99.99 wt%のベン
タブI−キシニオブ:Nb(OC4,Hq)s 7.6
g (16,7mmol)およびキシレン30 gを
仕込み、窒素雰囲気下に攪拌しながら昇温した。 反応
温度約130℃からブタノールおよびブチルアセテート
が留出し始め、反応液は当初の白濁した19− 状態から黄褐色の均一透明な溶液に変化した。 減圧下
にキシレン約10 gを留去し、ついで、アセチルアセ
トン約100gを加えて加熱還流し、0.135r’b
ZrO3−0,365I’bTiOa−0,500Pb
(Mg+z3Nbzza)O+に換算した濃度が1.0
ivt%の3成分系PZT誘電体形成前駆体溶液を調製
した。
例1で用いた反応容器と同一の反応容器に、純度99.
1 wt%の酢酸鉛:Pb(CIl、C00)z 16
.4 g (50mmol)、純度86.6 wt%の
テトラブトキシジルコニウム:Zr(OC4H7)43
.0g(6,8mmol)、純度99−t%のテトラブ
トキシチタン: Zr (QCtll、)46.3 g
(18,3nunol)、純度99 wt%の酢酸マ
グネシウム: Mg(CIL+C00)z 1.2 g
(8,3mmol)、純度99.99 wt%のベン
タブI−キシニオブ:Nb(OC4,Hq)s 7.6
g (16,7mmol)およびキシレン30 gを
仕込み、窒素雰囲気下に攪拌しながら昇温した。 反応
温度約130℃からブタノールおよびブチルアセテート
が留出し始め、反応液は当初の白濁した19− 状態から黄褐色の均一透明な溶液に変化した。 減圧下
にキシレン約10 gを留去し、ついで、アセチルアセ
トン約100gを加えて加熱還流し、0.135r’b
ZrO3−0,365I’bTiOa−0,500Pb
(Mg+z3Nbzza)O+に換算した濃度が1.0
ivt%の3成分系PZT誘電体形成前駆体溶液を調製
した。
60〜70℃に保持した、前記調製した3成分系誘電体
形成前駆体溶液に、30mm X 50vn X 0.
2m+11の白金基板を60℃に加温して浸漬し、47
cm/minの速度で引き上げ該前駆体の被膜を形成し
た。 ついで、500℃の温度に加熱した電気炉中に3
0分間保持して仮焼成した。 前駆体溶液へのディッピ
ングおよび仮焼成を繰り返した後、さらに700℃に加
熱した電気炉中に30分間保持して本焼成し形成された
薄膜の結晶化を行った。
形成前駆体溶液に、30mm X 50vn X 0.
2m+11の白金基板を60℃に加温して浸漬し、47
cm/minの速度で引き上げ該前駆体の被膜を形成し
た。 ついで、500℃の温度に加熱した電気炉中に3
0分間保持して仮焼成した。 前駆体溶液へのディッピ
ングおよび仮焼成を繰り返した後、さらに700℃に加
熱した電気炉中に30分間保持して本焼成し形成された
薄膜の結晶化を行った。
得られた薄膜のX線回折の結果、0.135PbZrO
s−0,365PbTiOa−−0,500Pb(Mg
+7Jbzy3)O+の組成の3成分系PZTの薄膜で
あることが確認された。
s−0,365PbTiOa−−0,500Pb(Mg
+7Jbzy3)O+の組成の3成分系PZTの薄膜で
あることが確認された。
実施例1と同様にして測定した、得られた3成分系PZ
T薄膜誘電体の誘電特性を、第2表に示す。
T薄膜誘電体の誘電特性を、第2表に示す。
(以下余白)
21−
20−
第2表
実施例3
3成分系PZT″m膜誘電体およびその製造:実施例1
で用いた反応容器と同一の反応容器に、純度99.1
wt%の酢酸鉛:Pb(C1l*C00) 216.4
g (50mmol) 、純度86.6 wt%のテ
トラブトキシジルコニウム:Zr(OC4HJt 3.
3g (7,5mmol)、純度99−t%のテトラブ
トキシチタン:ZrC0C4H7)* 6.0 g (
17,5mmolL純度98.2 wt%の酢酸ニッケ
ル: N1(C1l*C00)z 3.Q g (16
,7mmol)、純度99.99 wt%のペンタブト
キシニオブ:Nb(QC4,Flq)s 15.2 g
(33,3mmol)およびキシレン30 gを仕込
み、窒素雰囲気下に攪拌しながら昇温した。 反応温度
約130℃からブタノールおよびブチルアセテートが留
出し始め、反応液は当初の白濁した状態から黄褐色の均
一透明な溶液に変化した。 反応液にアセチルアセトン
約150gを加えて加熱還流し、0.15PbZroz
−−0,35PbTi03−−0.500Ph(Ni
Iy3Nh2y3)Ozに換算した濃度が10i%の3
成分系PZT誘電体形成前駆体溶液を調製した。
で用いた反応容器と同一の反応容器に、純度99.1
wt%の酢酸鉛:Pb(C1l*C00) 216.4
g (50mmol) 、純度86.6 wt%のテ
トラブトキシジルコニウム:Zr(OC4HJt 3.
3g (7,5mmol)、純度99−t%のテトラブ
トキシチタン:ZrC0C4H7)* 6.0 g (
17,5mmolL純度98.2 wt%の酢酸ニッケ
ル: N1(C1l*C00)z 3.Q g (16
,7mmol)、純度99.99 wt%のペンタブト
キシニオブ:Nb(QC4,Flq)s 15.2 g
(33,3mmol)およびキシレン30 gを仕込
み、窒素雰囲気下に攪拌しながら昇温した。 反応温度
約130℃からブタノールおよびブチルアセテートが留
出し始め、反応液は当初の白濁した状態から黄褐色の均
一透明な溶液に変化した。 反応液にアセチルアセトン
約150gを加えて加熱還流し、0.15PbZroz
−−0,35PbTi03−−0.500Ph(Ni
Iy3Nh2y3)Ozに換算した濃度が10i%の3
成分系PZT誘電体形成前駆体溶液を調製した。
60〜70℃に保持した、前記調製した3成分系誘電体
形成前駆体溶液に、30mm X 50mm X 0.
2mmの白金基板を60℃に加温して浸漬し、47cm
/ minの速度で引き上げ該前駆体の被膜を形成し
た。 ついで、500°Cの温度に加熱した電気炉中に
30分間保持して仮焼成した。 前駆体溶液へのディッ
ピングおよび仮焼成を繰り返した後、さらに700℃に
加熱した電気炉中に30分間保持して本焼成し形成され
た薄膜の結晶化を行った。
形成前駆体溶液に、30mm X 50mm X 0.
2mmの白金基板を60℃に加温して浸漬し、47cm
/ minの速度で引き上げ該前駆体の被膜を形成し
た。 ついで、500°Cの温度に加熱した電気炉中に
30分間保持して仮焼成した。 前駆体溶液へのディッ
ピングおよび仮焼成を繰り返した後、さらに700℃に
加熱した電気炉中に30分間保持して本焼成し形成され
た薄膜の結晶化を行った。
得られた薄膜のX線回折の結果、0.15hZrOz−
0,35PbTi03−−0.500Pb(Ni+7J
nzz3)Osの組成の3成分系PZTの薄膜であるこ
とが確認された。
0,35PbTi03−−0.500Pb(Ni+7J
nzz3)Osの組成の3成分系PZTの薄膜であるこ
とが確認された。
実施例1と同様にして測定した、得られた3成分系pz
Tの薄膜誘電体の誘電特性を、第3表に示す。
Tの薄膜誘電体の誘電特性を、第3表に示す。
第3表
実施例4
実施例1で調整した誘電体形成前駆体溶液を用い、Sn
をドープした酸化インジウム薄膜(ITO膜)を形成し
たガラス基板に、実施例1と同様の条件でP L Z
Tの薄膜を形成し透光性の薄膜誘電体を製造した。
をドープした酸化インジウム薄膜(ITO膜)を形成し
たガラス基板に、実施例1と同様の条件でP L Z
Tの薄膜を形成し透光性の薄膜誘電体を製造した。
得られたP L Z T薄膜誘電体の誘電特性および6
00nmの波長の光の直入透過率を第4表に示す。
00nmの波長の光の直入透過率を第4表に示す。
比較例1〜3
実施例1〜3で用いた誘電体形成前駆体の溶媒を、アル
コール系の溶媒に替えた前駆体溶液を使用し、以下各実
施例に記載の条件と同一の条件で薄膜誘電体を製造した
。
コール系の溶媒に替えた前駆体溶液を使用し、以下各実
施例に記載の条件と同一の条件で薄膜誘電体を製造した
。
得られた頂tl!誘電体の誘電特性を、実施例1に記載
の方法と同一の方法で測定したが、第5表中に示すごと
く、いずれも導通があり薄膜誘電体として使用不可能で
あった。
の方法と同一の方法で測定したが、第5表中に示すごと
く、いずれも導通があり薄膜誘電体として使用不可能で
あった。
(以下余白)
発明の効果:
本発明の薄膜誘電体は、前記実施例に示す如く、誘電体
の膜厚が0.1〜100μmと極めて薄いにもがかわら
ず1、前記実施例に示す如く、導通がなく優れた誘電特
性を有しており、また、透明である。 したがって、薄
膜コンデンサー5圧電体、焦電体等の誘電体素子として
の利用が期待される。
の膜厚が0.1〜100μmと極めて薄いにもがかわら
ず1、前記実施例に示す如く、導通がなく優れた誘電特
性を有しており、また、透明である。 したがって、薄
膜コンデンサー5圧電体、焦電体等の誘電体素子として
の利用が期待される。
本発明の薄膜誘電体の誘電特性は、その製造方法に密接
に関わっており、その製造に際し溶液性の化学的に均一
な組成の誘電体形成前駆体溶液を使用することにより、
ストイソキオメトリ制御が容易であり、得られる誘電体
薄膜の化学的な組成が均一であること、誘電体の薄膜を
2層以上に形成することにより、各薄膜層の有するピン
ホール、クラック等の薄膜欠陥が補修され導通がなくな
ることによるものである。 さらに、この高誘電体特性
は、薄膜を形成する誘電体の結晶軸が一定方向に配向し
ていることを示唆する。
に関わっており、その製造に際し溶液性の化学的に均一
な組成の誘電体形成前駆体溶液を使用することにより、
ストイソキオメトリ制御が容易であり、得られる誘電体
薄膜の化学的な組成が均一であること、誘電体の薄膜を
2層以上に形成することにより、各薄膜層の有するピン
ホール、クラック等の薄膜欠陥が補修され導通がなくな
ることによるものである。 さらに、この高誘電体特性
は、薄膜を形成する誘電体の結晶軸が一定方向に配向し
ていることを示唆する。
また、誘電体形成前駆体溶液の溶媒として、前記有機溶
媒類を使用することにより、加水分解に対して安定な金
属化合物類の高濃度の前駆体溶液となり薄膜誘電体の製
造作業を容易なものとする。 また、前駆体溶液を塗布
した基板の焼成に際し、有機物が極めて容易に分解し、
特に、導通の原因となる水酸基が薄膜に残留しにくい利
点を有する。
媒類を使用することにより、加水分解に対して安定な金
属化合物類の高濃度の前駆体溶液となり薄膜誘電体の製
造作業を容易なものとする。 また、前駆体溶液を塗布
した基板の焼成に際し、有機物が極めて容易に分解し、
特に、導通の原因となる水酸基が薄膜に残留しにくい利
点を有する。
本発明は、優れた誘電体特性を有する極めて膜厚の薄い
薄膜誘電体およびその製造方法を提供するものであり、
その産業的意義は極めて大きい。
薄膜誘電体およびその製造方法を提供するものであり、
その産業的意義は極めて大きい。
出願人 日本曹達株式会社
代理人 伊藤晴之
横山吉美
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 基板上に、下記(a)または(h)の1種の誘電体
の薄膜を、2層以上積層してなる薄膜誘電体 (a)組成式(1) %式%(1) (ここに、「は2価のMg、Co、Fe、Cr、Zn、
Mn、NiまたはCdM”はNhまたばTaを表し、 Xは0.3〜0.55 yは0.7〜0.45であり、かつ、 X+y=1 s+t=1かつ、t≦0.6 である。)で表される第
3成分を含有するチタンジルコン酸鉛(b)組成式(2
) %式%(2) (ここに、HはTiおよびZrを表し、2≦0.2であ
る。)2 請求の範囲第1項の記載において、基板が、
ガラス板、セラミック板、導電膜を被着したガラス板、
導電膜を被着したセラミック板、金属板および金属箔よ
りなる群から選ばれる1種である薄膜誘電体 3請求の範囲第1項の記載において、組成式(1)で表
されるチタンジルコン酸鉛が、組成式(3)の中の門゛
がMgであり、かつ、門”がNbであるか、もしくは、
門”が旧であり、かつ、門”がNhである薄膜誘電体4
β−ジケトン類、ケトン酸類、ケトエステル類、オキシ
酸類、オキシ酸エステル類およびオキシケトン類よりな
る群から選ばれる1種または2種以上を主成分とする有
機溶媒に、マグネシウム化合物、コバルト化合物、鉄化
合物、クロム化合物、亜鉛化合物、マンガン化合物、ニ
ッケル化合物およびカドミウム化合物よりなる群から選
ばれる1種、タンタル化合物またはニオブ化合物、有機
チタニウム化合物、有機ジルコニウム化合物および鉛化
合物の混合物または反応生成物もしくCよランタン化合
物、有機チタニウム化合物、有機ジルコニウム化合物お
よび鉛化合物の混合物または反応生成物よりなる誘電体
形成前駆体を溶解した誘電体形成前駆体溶液を、基板上
に塗布、乾燥して誘電体形成前駆体の塗膜を形成した後
、塗膜中の有機物の分解温度以上誘電体の結晶化温度以
下の温度で仮焼し、ついで、誘電体の結晶化温度以上の
温度で本焼成して誘電体の薄膜を形成するか、もしくは
、基板上への誘電体形成前駆体溶液の塗布、乾燥および
誘電体の結晶化温度以上のでの本焼成を繰り返して誘電
体の薄膜を形成することを特徴とする薄膜誘電体の製造
方法。 5請求の範囲第4項の記載において、誘電体形成前駆体
溶液が、下記組成式(5)または(6)で表される金属
化合物反応生成物よりなる群から選ばれる1種のアセチ
ルアセトン溶液である薄膜誘電体の製造方法 Pb Ms (M’+z:+M”z/3)t 0z(O
R)J(OCOR’) K −−−−−−−−(5)(
ここに、HはTiおよびZr 門゛は2価のMg+ COI Fe、 Cr、 Zn、
Mn、 NiまたはCd「はNbまたはTa RおよびRoは、異種同種の1価の炭化水素基を表し、 s+t=1かつ、t≦0.6 j+に=2である。) Pb+−z Laz Ml−2/402(OR) =
(OCOR’) K −−−−(6)(ここに、■はT
iおよびZr RおよびRoは異種同種の1価の炭化水素基を表し、 2 ≦ 0.2 j→−k =2である。) 5請求の範囲第4項の記載において、誘電体形成前駆体
溶液の基板への塗布法が、ホットディッピング法である
薄膜誘電体の製造方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59056467A JPS60200403A (ja) | 1984-03-24 | 1984-03-24 | 薄膜誘電体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59056467A JPS60200403A (ja) | 1984-03-24 | 1984-03-24 | 薄膜誘電体の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60200403A true JPS60200403A (ja) | 1985-10-09 |
| JPH0449721B2 JPH0449721B2 (ja) | 1992-08-12 |
Family
ID=13027906
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59056467A Granted JPS60200403A (ja) | 1984-03-24 | 1984-03-24 | 薄膜誘電体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60200403A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60236404A (ja) * | 1984-05-10 | 1985-11-25 | 日本曹達株式会社 | 薄膜強誘電体の製造方法 |
| JP2001036030A (ja) * | 1999-06-28 | 2001-02-09 | Hyundai Electronics Ind Co Ltd | 半導体デバイス及びその製造方法 |
| JP2004075424A (ja) * | 2002-08-12 | 2004-03-11 | Mitsubishi Materials Corp | 耐疲労特性に優れた強誘電体薄膜とその形成用組成物 |
| JP2014172778A (ja) * | 2013-03-08 | 2014-09-22 | Mitsubishi Materials Corp | 誘電体薄膜形成用組成物及び誘電体薄膜の形成方法並びにこの方法で形成された誘電体薄膜 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS549320A (en) * | 1977-06-23 | 1979-01-24 | Nippon Denso Co Ltd | Apparatus for supplying secondary air |
| JPS5623948A (en) * | 1979-08-06 | 1981-03-06 | Tsuzuki Junichi | Electromagnetic sound walk inducing apparatus for blind person |
| JPS59220913A (ja) * | 1983-05-31 | 1984-12-12 | 日本曹達株式会社 | チタンジルコン酸鉛誘電体薄膜の製造方法 |
-
1984
- 1984-03-24 JP JP59056467A patent/JPS60200403A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS549320A (en) * | 1977-06-23 | 1979-01-24 | Nippon Denso Co Ltd | Apparatus for supplying secondary air |
| JPS5623948A (en) * | 1979-08-06 | 1981-03-06 | Tsuzuki Junichi | Electromagnetic sound walk inducing apparatus for blind person |
| JPS59220913A (ja) * | 1983-05-31 | 1984-12-12 | 日本曹達株式会社 | チタンジルコン酸鉛誘電体薄膜の製造方法 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60236404A (ja) * | 1984-05-10 | 1985-11-25 | 日本曹達株式会社 | 薄膜強誘電体の製造方法 |
| JP2001036030A (ja) * | 1999-06-28 | 2001-02-09 | Hyundai Electronics Ind Co Ltd | 半導体デバイス及びその製造方法 |
| JP2004075424A (ja) * | 2002-08-12 | 2004-03-11 | Mitsubishi Materials Corp | 耐疲労特性に優れた強誘電体薄膜とその形成用組成物 |
| JP2014172778A (ja) * | 2013-03-08 | 2014-09-22 | Mitsubishi Materials Corp | 誘電体薄膜形成用組成物及び誘電体薄膜の形成方法並びにこの方法で形成された誘電体薄膜 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0449721B2 (ja) | 1992-08-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4636908A (en) | Thin-film dielectric and process for its production | |
| US5972527A (en) | Transparent electrically conductive layer, electrically conductive transparent substrate and electrically conductive material | |
| JPS60236404A (ja) | 薄膜強誘電体の製造方法 | |
| JPH0845781A (ja) | 電子薄膜部品およびその製造方法 | |
| JP4329287B2 (ja) | Plzt又はpzt強誘電体薄膜、その形成用組成物及び形成方法 | |
| AU5548290A (en) | Preparation of thin film ceramics by sol gel processing | |
| JPS60200403A (ja) | 薄膜誘電体の製造方法 | |
| JP4329289B2 (ja) | Sbt強誘電体薄膜、その形成用組成物及び形成方法 | |
| JP4329288B2 (ja) | Blt又はbt強誘電体薄膜、その形成用組成物及び形成方法 | |
| JPH06309925A (ja) | 誘電体組成物、その製造法、その薄膜の製造法および薄膜コンデンサ | |
| JP3456305B2 (ja) | Ba1−xSrxTiO3薄膜形成用組成物 | |
| JPH0414516B2 (ja) | ||
| EP4173022A1 (en) | Material deposition method | |
| JPH01226721A (ja) | 超伝導体製造用安定溶液及び超導薄膜の製造方法 | |
| JPH08183605A (ja) | 塗布法による金属酸化物膜の製造方法 | |
| JP2676775B2 (ja) | 薄膜状誘電体及びその製造方法 | |
| JP3161477B2 (ja) | マンガンコバルト酸化物薄膜の形成方法 | |
| JP3116428B2 (ja) | 薄膜誘電体およびその製造方法 | |
| JPH01226727A (ja) | 鉛含有複合酸化物薄膜の製造方法 | |
| JPH06115946A (ja) | マンガンニッケル系酸化物薄膜の形成方法 | |
| JP3166786B2 (ja) | マンガンコバルト酸化物薄膜の形成方法 | |
| JPH043901A (ja) | 酸化ルテニウム系薄膜抵抗体及びその製造方法 | |
| JPS59181413A (ja) | 酸化タンタル透明誘電体膜およびその製造方法 | |
| JPS63252301A (ja) | 薄膜状誘電体の製造方法 | |
| JP3183303B2 (ja) | マンガンコバルト酸化物薄膜の形成方法 |