JPS61292600A - X線光学系 - Google Patents

X線光学系

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JPS61292600A
JPS61292600A JP13494785A JP13494785A JPS61292600A JP S61292600 A JPS61292600 A JP S61292600A JP 13494785 A JP13494785 A JP 13494785A JP 13494785 A JP13494785 A JP 13494785A JP S61292600 A JPS61292600 A JP S61292600A
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JP
Japan
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lens
rays
ray
curved
mirror
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JP13494785A
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JPH0511600B2 (ja
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貞雄 青木
伊藤 治昌
伴 悦夫
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Jeol Ltd
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Jeol Ltd
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Publication date
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、X線顕微鏡等の対物レンズと接眼レンズに使
用して最適なX線光学系に関する。
[従来技術] 考えられているが、その中で、回転体反射鏡を用いるも
のが注目されている。この光学系は、例えば、回転双曲
面体と回転楕円面体との内側表面をX線の全反射面とし
、該内側表面によってX線を全反射させて該X11を集
光するように構成している。この集光されたX線を試料
に照射し、該試料によって回折されたX線を回転楕円面
体と回転双曲面体とより成る対物レンズと、同じく回転
楕円面体と回転双曲面体とより成る接眼レンズとより構
成されるX線光学系によって結像すれば、試料のX線像
を得ることができる。
[発明が解決しようとする問題点] 上述したX線光学系は、多数の2焦点回転曲面体を使用
し、各曲面体の焦点を直線上の光軸上に配置しなければ
ならないため、像の結像方向も限られた方向となる。又
、回転曲面体の内側のX線反剣面は、高い精度の加工が
要求されるが、回転面であるがためにその工作は、極め
て国号である。
本発明は、上述した点に鑑みてなされたもので、像の結
像方向を任意に設定できると共に、レンズの加工も容易
なX線光学系を促供することを目的としている。
[問題点を解決するための手段] 本発明に基づくX線光学系は、2焦点回転曲面体を有し
、物点からのX線を該曲面体の内面において全反射させ
て集光する第1のレンズと、2焦点曲面体を有し、該第
1のレンズによって集光されたX線を該曲面体の内面に
おいて全反射させて結像する第2のレンズとを備えてお
り、該第1と第2のレンズの光軸は、該第1のレンズの
集光点において交差するように傾けて配置され、該第2
のレンズを構成する2焦点曲面体は、回転体の一部が切
り欠かれている形状に形成されていることを特徴として
いる。
[作用] X線源からのX線は集光されて試料に照射される。該試
料からのX線は2焦点回転曲面体より成る第1のX線レ
ンズによって集光される。該集光されたX線は2焦点曲
面体より成る第2のX線レンズによって結像されるが、
該第1のレンズを構成する2焦点回転曲面体の2焦点を
結ぶ光軸に対し、該第2のレンズを構成する2焦点曲面
体の2焦点を結ぶ光軸は、所定の角度傾けられて配置さ
れ、該第2のレンズの曲面体の一方の焦点が該第1のレ
ンズによるX線の集光点と一致して配置されている。更
に、該第2のX線レンズを構成する曲面体の一部は該光
軸を傾けることによってX線が入射しなくなるため、該
曲面体は、その部分が切り欠かれた形状とされている。
この結果、X線の結像方向は該第2のレンズの光軸の方
向に応じて変えることができ、又、部分的に切り欠かれ
た曲面体の高精度の研磨等の加工は容易となる。
[実施例] 以下本発明の一実施例を添付図面に基づき詳述する。
第1図は本発明を実施したX線顕微鏡を示しており、1
は、例えば、回転対陰極型のX線源であり、該X線源か
ら発生したX線の内、特定方向に進むX線は第1のX線
反射鏡2によって全反射させられる。該第1の反射鏡に
よって全反射させられたX線は、第2のX線反射鏡3に
よって全反射させられ、光軸01に平行なX線とされる
。該第1及び第2のX線反射鏡2.3は夫々回転体で、
一体加工されており、例えば、該第1の反tFJM2は
回転双曲面鏡、第2の反射鏡3は回転放物面鏡である。
該光軸に平行とされたX線は、第3及び第4のX線反射
鏡4.5によって試料6上に集光される。尚、本実施例
において、該第3の反射鏡4は回転放物面鏡であり、第
4の反射鏡5は回転双曲面鏡である。ここで、7は第1
と第2の反射鏡2,3によって全反射されるxIjI以
外のX線を遮蔽するためのX線遮蔽部材、8は第1〜第
4のX線反射鏡より成るX線集光系の焦平面に配置され
た絞り板であり、該絞り板8にはリング状のスリットが
設けられている。該試料6へのX線の照射により、該試
料6から回折されたX線は、第5と第6の反射vi10
,11によって全反射されるが、該第5の反射鏡10は
回転双曲面鏡であり、該第6の反射鏡11は回転楕円面
鏡であり、この第5と第6の反l)I鏡は試料6から回
折されたX線の対物レンズを構成している。該対物レン
ズによって試料6から回折されたX線は光軸01上の回
転楕円面鏡11の一方の焦点F1に集光される。
該焦点F1に集光されたX線は、更に第7と第8の反射
鏡12.13によって全反射されるが、該第7の反射鏡
12は回転双曲面鏡であり、該第8の反射鏡13は回転
楕円面鏡であり、この第7と第8の反射鏡は接眼レンズ
を構成している。該第7と第8の反射鏡12.13の各
焦点は該光軸01と焦点F1で交差する光軸02上に配
置されている。該第7と第8の反射鏡12.13は、回
転体の一部が切り欠かれた形状であるが、焦点F1から
のX線が入射する部分は少なくとも反射面が形成されて
いる。14は該結像系によるX線像の結像位置、すなわ
ち、第8の反射鏡の一方の焦点位置F2に配置された撮
像管であり、該撮像管14によって検出された信号は、
増幅器15に供給されて増幅され、陰極線管の如き表示
手段16に供給される。尚、各反射鏡として、表面に多
層膜が設けられた反射鏡を使用すれば、集光するX線の
坦を増加できる。
上述した如き構成において、X線源1がら発生したX線
の内、特定方向に放射されたX線は、第1と第2のXF
A反rJJ鏡2.3によって全反射させられて光@ol
と平行なX線とされ、更に、それ以外のX線はXa遮蔽
板7によって遮蔽されるため、絞り板8上にはリング状
のX線が照射されることになる。該リング状のX線は、
該絞り板8のスリットを通過することによって整形され
、該整形されたXI!のみが試料6上の微小点に第3と
第4の反射鏡4,5によって集光されることになる。
該試料6に照射されたX線は該試料の厚さ、あるいは、
構成成分の違いに応じて回折される。該回折光は対物レ
ンズを構成する第5と第6の反射鏡10.11により全
反射させられ、回転楕円体である反射鏡11の一方の焦
点F1に集光される。
該集光されたX線は、接眼レンズによって結像されるが
、該接眼レンズを構成する双曲面反射鏡12の一方の焦
点は、前記集光点F1と一致され、他方の焦点は楕円面
反射鏡13の一方の焦点と共通に配置されている。そし
て、該楕円面反射鏡13の他方の焦点F2には、前記し
たように記像管14が配置されている。この結果、該焦
点F1からのX線は、双曲面皮D[12によって全反射
された後、楕円面皮tA鏡13によって全反射され、焦
点F2に結像される。ここで、該接眼レンズを構成する
双曲面反射鏡12と楕円面反射鏡13の各焦点は、光軸
o1と集光点F2において交差する光軸02上に配置さ
れているが、両光軸がずれていても、集光されたX綴金
てが双曲面12によって全反射されるように該光軸が傾
けられているため、X線の結像には何等の支障もない。
更に、このように光軸を傾けたので、双曲面反射鏡12
と楕円面皮tA鏡13は完全な回転体である必要はなく
、X線が入射する部分のみ全反射面が存在すれば良い。
従って、該反射鏡12.13としては、X線が入射しな
い回転体の一部分を切り欠いた形状の反射鏡を用いるこ
とができる。このように、部分的に回転体となっている
反射鏡は、反射面の研磨1反射面への多層膜の蒸着等を
完全な回転体に比べて簡単に行うことができ、その製作
が容易となる。
以上、本発明の一実施例を詳述したが、本発明はこの実
施例に限定されず、幾多の変形が可能である。例えば、
対物レンズあるいは接眼レンズとして、2種の曲面体を
組合せたレンズ系を用いたが、各レンズ共、単一の曲面
体によって構成しても良く、逆に、3F!以上の曲面体
を組合せたレンズ系を用いても良い。
[効果] 以上詳述した如く、本発明は、対物レンズ等の第1のレ
ンズの光軸に対して、接眼レンズ等の第2のレンズの光
軸を傾けて配置するようにしたため、X線像の結像方向
を所望の方向に変えることができる。又、該第2のレン
ズの光軸を傾けたため、第2のレンズを構成する曲面体
を回転体の一部の形状とすることができ、該レンズの製
作を簡単に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
添附図面は本発明の一実施例であるX線顕微鏡を示す図
である。 1・・・X線源 2.3.4.5・・・X線反射鏡 6・・・試料     7・・・X線遮蔽板8・・・絞
り板    9・・・スリット10.11.12.13
・・・X線反射鏡14・・・搬像管   15・・・増
幅器16・・・表示手段

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)2焦点回転曲面体を有し、物点からのX線を該曲
    面体の内面において全反射させて集光する第1のレンズ
    と、2焦点曲面体を有し、該第1のレンズによって集光
    されたX線を該曲面体の内面において全反射させて結像
    する第2のレンズとを備えており、該第1と第2のレン
    ズの光軸は、該第1のレンズの集光点において交差する
    ように傾けて配置され、該第2のレンズを構成する2焦
    点曲面体は、回転体の一部が切り欠かれている形状に形
    成されていることを特徴とするX線光学系。
JP13494785A 1985-06-20 1985-06-20 X線光学系 Granted JPS61292600A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13494785A JPS61292600A (ja) 1985-06-20 1985-06-20 X線光学系

Applications Claiming Priority (1)

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JP13494785A JPS61292600A (ja) 1985-06-20 1985-06-20 X線光学系

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61292600A true JPS61292600A (ja) 1986-12-23
JPH0511600B2 JPH0511600B2 (ja) 1993-02-15

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ID=15140280

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JP (1) JPS61292600A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01117252A (ja) * 1987-10-30 1989-05-10 Hamamatsu Photonics Kk X線像観察装置
US5055679A (en) * 1989-01-06 1991-10-08 Hitachi, Ltd. Surface analysis method and apparatus
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JP2012242165A (ja) * 2011-05-17 2012-12-10 Hamamatsu Photonics Kk X線装置

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JPH0511600B2 (ja) 1993-02-15

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