JPS6130741A - 光フアイバの後方散乱光異常パタ−ン検出方法およびその装置 - Google Patents
光フアイバの後方散乱光異常パタ−ン検出方法およびその装置Info
- Publication number
- JPS6130741A JPS6130741A JP15343684A JP15343684A JPS6130741A JP S6130741 A JPS6130741 A JP S6130741A JP 15343684 A JP15343684 A JP 15343684A JP 15343684 A JP15343684 A JP 15343684A JP S6130741 A JPS6130741 A JP S6130741A
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- JP
- Japan
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- curve
- optical fiber
- backscattered light
- points
- abnormal pattern
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）発明の属する技術分野
本発明は光ファイバの後方散乱光測定に関し、より詳細
には光ファイバの後方散乱光測定により得られたＢＳ曲
線をもとに光ファイバの欠陥の存在有無およびその種類
の判定を行うための方法および装置に関する。
には光ファイバの後方散乱光測定により得られたＢＳ曲
線をもとに光ファイバの欠陥の存在有無およびその種類
の判定を行うための方法および装置に関する。
（ロ）従来技術とその問題点
光ファイバの欠陥、たとえば段、うねり２曲り等を検出
する方法として第１図にそのシステム概要を示すような
後方散乱光測定法が用いられている。第１図において、
パルス発生器１．光送信部２が協働して光パルスを発生
させ、この光パルスがレンズ３．ハーフミラ−５および
レン、ズ４を経て光ファイバ６の一端に入射される。光
ファイバ６の内部で反射した光が後方散乱光として逆方
向に戻り、ハーフミラ−５で反射されてレンズ７を経て
受光装置８により受けられる。そして表示又は記録装置
９により横軸を伝播時間、縦軸を受光パワーであられし
た後方散乱光の受光パワー曲線すなわち１３８曲線とし
て表示される。被測定光ファイバにたとえば段、うねり
１曲り等の欠陥が存在していた場合にはその欠陥がＢＳ
曲線上にそれぞれ第２図、第３図および第４図にやや誇
張的に示すような異常パターンとしてあられれる。これ
によりＢＳ曲線のパターンを見ることにより光ファイバ
の欠陥の存在有無およびその欠陥の種類を判定すること
ができる。このようにＢＳ曲線の目視観察により光ファ
イバの判定を行うのが従来の方法であった。
する方法として第１図にそのシステム概要を示すような
後方散乱光測定法が用いられている。第１図において、
パルス発生器１．光送信部２が協働して光パルスを発生
させ、この光パルスがレンズ３．ハーフミラ−５および
レン、ズ４を経て光ファイバ６の一端に入射される。光
ファイバ６の内部で反射した光が後方散乱光として逆方
向に戻り、ハーフミラ−５で反射されてレンズ７を経て
受光装置８により受けられる。そして表示又は記録装置
９により横軸を伝播時間、縦軸を受光パワーであられし
た後方散乱光の受光パワー曲線すなわち１３８曲線とし
て表示される。被測定光ファイバにたとえば段、うねり
１曲り等の欠陥が存在していた場合にはその欠陥がＢＳ
曲線上にそれぞれ第２図、第３図および第４図にやや誇
張的に示すような異常パターンとしてあられれる。これ
によりＢＳ曲線のパターンを見ることにより光ファイバ
の欠陥の存在有無およびその欠陥の種類を判定すること
ができる。このようにＢＳ曲線の目視観察により光ファ
イバの判定を行うのが従来の方法であった。
しかしながら上記従来の光ファイバの後方散乱光異常パ
ターン検出方法においては、光ファイバに実際に欠陥が
存在する場合でもＢ、Ｓ曲線に必ずしも明確な異常バタ
τンがあられれるとは限らず、またノイズの影響もうけ
るためＢＳ曲線の目視観察では光ファイバの欠陥の存在
有無およびその種類に関し正確かつ客観的な判断を下す
ことが困難な場合が多かった。
ターン検出方法においては、光ファイバに実際に欠陥が
存在する場合でもＢ、Ｓ曲線に必ずしも明確な異常バタ
τンがあられれるとは限らず、またノイズの影響もうけ
るためＢＳ曲線の目視観察では光ファイバの欠陥の存在
有無およびその種類に関し正確かつ客観的な判断を下す
ことが困難な場合が多かった。
ｅう 発明の目的
本発明は上記従来の事情に鑑みなされたものであって、
光ファイバの欠陥の存在有無およびその種類の判定を正
確かつ客観的に行うことを可能にする光ファイバの後方
散乱光異常パターン検出方法およびその装置を提供する
ことを目的としている。
光ファイバの欠陥の存在有無およびその種類の判定を正
確かつ客観的に行うことを可能にする光ファイバの後方
散乱光異常パターン検出方法およびその装置を提供する
ことを目的としている。
に）発明の構成
本発明は光ファイバの後方散乱光測定にて得られたＢＳ
曲線をその平均直線から上記ＢＳ曲線上の各点までの隔
りを示す曲線に変換し、上記隔りを示す曲線を平滑化処
理し、上記平滑化処理後の上記隔りを示す曲線の極大点
および極小点の個数とその絶対値をパラメータとし、あ
らかじめ同一の平滑化条件にて求めておいたパラメータ
基準値と比較することにより光ファイバ°の欠陥の存在
有無およびその種類を判定することを特徴とする。
曲線をその平均直線から上記ＢＳ曲線上の各点までの隔
りを示す曲線に変換し、上記隔りを示す曲線を平滑化処
理し、上記平滑化処理後の上記隔りを示す曲線の極大点
および極小点の個数とその絶対値をパラメータとし、あ
らかじめ同一の平滑化条件にて求めておいたパラメータ
基準値と比較することにより光ファイバ°の欠陥の存在
有無およびその種類を判定することを特徴とする。
これにより光ファイバの欠陥の存在の有無およびその種
類の判定を正確かつ客観的に行うことが可能な光ファイ
バの後方散乱光異常パターン検出方法および装置が提供
される。
類の判定を正確かつ客観的に行うことが可能な光ファイ
バの後方散乱光異常パターン検出方法および装置が提供
される。
（ホ）発明の実施例
光パルス試験器により得られた後方散乱光特性をあられ
すＢＳ曲線の一例が第５図に１１で示されている。横軸
は光ファイバ端からの距離または伝播時間を示し、縦軸
は受光パワー（ｄｎ）を示す。
すＢＳ曲線の一例が第５図に１１で示されている。横軸
は光ファイバ端からの距離または伝播時間を示し、縦軸
は受光パワー（ｄｎ）を示す。
このＢＳ曲線１１からＢＳ曲線の平均直線１２が求めら
れる。平均直線１２からＢＳ曲線１１上の一定時間間隔
ごとの各点までの隔りを示すＢＳ変換曲線］４が、水平
軸１３に関し連続的なドツトとして縦軸に関し拡大され
た座標で示されている。
れる。平均直線１２からＢＳ曲線１１上の一定時間間隔
ごとの各点までの隔りを示すＢＳ変換曲線］４が、水平
軸１３に関し連続的なドツトとして縦軸に関し拡大され
た座標で示されている。
第２図乃至第４図に例示したようなＢＳ曲線の異常パタ
ーンの判定をしやすくするためのＢＳ曲線の平滑化を行
うにあたり、水平軸に関ｌ一連続的なドツトで示したＢ
Ｓ変換曲線１４をもとに平滑化処理を行う。本例におい
ては５゛０点の移動平均を求めた結果が第６図に示され
ている。第６図の曲線ではまだ平滑化が不十分であるた
め滑かさにかげ、それぞれＮ印およびＮ印で示されるよ
うに極太、極小点が曲線に沿って多数存在していること
が分る。そこで第６図の曲線をもとにさらに５０点の移
動平均を求めた結果が第７図に示されている。第７図の
曲線ではかなりの程度まで平滑化がなされており滑かな
曲線を示している。極太、極小点はそれぞれＮ印および
Ｎ印で示されるよう各一点づつのみ存在している。
ーンの判定をしやすくするためのＢＳ曲線の平滑化を行
うにあたり、水平軸に関ｌ一連続的なドツトで示したＢ
Ｓ変換曲線１４をもとに平滑化処理を行う。本例におい
ては５゛０点の移動平均を求めた結果が第６図に示され
ている。第６図の曲線ではまだ平滑化が不十分であるた
め滑かさにかげ、それぞれＮ印およびＮ印で示されるよ
うに極太、極小点が曲線に沿って多数存在していること
が分る。そこで第６図の曲線をもとにさらに５０点の移
動平均を求めた結果が第７図に示されている。第７図の
曲線ではかなりの程度まで平滑化がなされており滑かな
曲線を示している。極太、極小点はそれぞれＮ印および
Ｎ印で示されるよう各一点づつのみ存在している。
正常な光ファイバと各種の欠陥、ここではそれぞれ段、
うねり２曲りを有する光ファイバについて上述と同一の
方法にてＢＳ変換曲線に関する平滑化を行い、その極太
、極小点のあられれ方を調べたところ下表のような結果
が得られた（表１）。
うねり２曲りを有する光ファイバについて上述と同一の
方法にてＢＳ変換曲線に関する平滑化を行い、その極太
、極小点のあられれ方を調べたところ下表のような結果
が得られた（表１）。
表１
ここで極太、極小の最大、最小値の単位は１カー２０ｄ
Ｉｉに相当する。表１の極太および極小点数から段、う
ねりおよび曲りを有する光ファイバのＢＳ曲線が概ね第
２図乃至第４図に示したようなパターンを有することを
示しており、各種欠陥の種類に応じて１８曲線にあられ
れるべき特徴的ノ（ターンが平滑化の結果間らかになる
ことが分る。
Ｉｉに相当する。表１の極太および極小点数から段、う
ねりおよび曲りを有する光ファイバのＢＳ曲線が概ね第
２図乃至第４図に示したようなパターンを有することを
示しており、各種欠陥の種類に応じて１８曲線にあられ
れるべき特徴的ノ（ターンが平滑化の結果間らかになる
ことが分る。
すなわち１８曲線の生データでは必ずしも明確に示され
ないＢＳ曲線の異常パターンのマクロ的特徴が平滑化に
より明確化されるのである。また光ファイバが正常な場
合は極太、極小点数が欠陥ありの場合に比べ多（、シか
も極太、極小の最大。
ないＢＳ曲線の異常パターンのマクロ的特徴が平滑化に
より明確化されるのである。また光ファイバが正常な場
合は極太、極小点数が欠陥ありの場合に比べ多（、シか
も極太、極小の最大。
最小値の絶対値が／」・さいことが分る。
以上の結果にもとづき、平滑化処理されたＢＳ変換曲線
の極太、極小点数と極太の最大値、極小の最小値の絶対
値をパラメータとしであるＢＳ曲線を示した光ファイバ
の欠陥の存在有無およびその種類を判定することが可能
となることが分る。
の極太、極小点数と極太の最大値、極小の最小値の絶対
値をパラメータとしであるＢＳ曲線を示した光ファイバ
の欠陥の存在有無およびその種類を判定することが可能
となることが分る。
すなわち、各種欠陥を有する、および正常な光ファイバ
についてあらかじめそれらのＢＳ変換曲線から平滑化処
理により上記パラメータの基準値を求めておき、同じ条
件で平滑化処理した未判定の光ファイバのＢＳ変換曲線
から得られた上記パラメータ値を基準値と比較すること
により光ファイバの欠陥の存在有無およびその種類を判
定できるのである。−例として第１表に示したデータを
もとに、ＢＳ変換曲線からある時間間隔でとった５０点
の移動平均を２回くり返すという平滑化条件にて、下記
を判定のためのパラメータ基準値とすることができる（
表２）。
についてあらかじめそれらのＢＳ変換曲線から平滑化処
理により上記パラメータの基準値を求めておき、同じ条
件で平滑化処理した未判定の光ファイバのＢＳ変換曲線
から得られた上記パラメータ値を基準値と比較すること
により光ファイバの欠陥の存在有無およびその種類を判
定できるのである。−例として第１表に示したデータを
もとに、ＢＳ変換曲線からある時間間隔でとった５０点
の移動平均を２回くり返すという平滑化条件にて、下記
を判定のためのパラメータ基準値とすることができる（
表２）。
麦 ２
なおりＳ変換曲線の平滑化条件はＢＳ曲線のマクロ的異
常パターンが最も良くあられれるように決めれば良いの
で、上記例に限らず生データの条件に応じて任意に、た
とえば移動平均３回繰り返しを行うように、設定するこ
とができる。
常パターンが最も良くあられれるように決めれば良いの
で、上記例に限らず生データの条件に応じて任意に、た
とえば移動平均３回繰り返しを行うように、設定するこ
とができる。
上記光ファイバの後方散乱光異常パターン検出方法は機
械的にかつ自動的に実施することも可能である。すなわ
ち第８図にシステム構成の概念を示すようにＢＳ変換曲
線の生データを１段もしくは複数段のフィルタ回路１５
を通すことにより１回もしくは複数回の平滑化処理を行
い、その結果得られた極太、極小点の個数とその絶対値
の大きさをコンピュータを利用したコンパン−夕１６に
て、あらかじめ同一条件にて各種の光ファイバから得た
パラメータ基準値と比較することにより、被測定光ファ
イバの欠陥の存在の有無またその欠陥の種類の判定を自
動的かつ即座に行うことができる。こうして光ファイバ
の自動検査装置を提供することも可能となる。
械的にかつ自動的に実施することも可能である。すなわ
ち第８図にシステム構成の概念を示すようにＢＳ変換曲
線の生データを１段もしくは複数段のフィルタ回路１５
を通すことにより１回もしくは複数回の平滑化処理を行
い、その結果得られた極太、極小点の個数とその絶対値
の大きさをコンピュータを利用したコンパン−夕１６に
て、あらかじめ同一条件にて各種の光ファイバから得た
パラメータ基準値と比較することにより、被測定光ファ
イバの欠陥の存在の有無またその欠陥の種類の判定を自
動的かつ即座に行うことができる。こうして光ファイバ
の自動検査装置を提供することも可能となる。
（１発明の効果
以上のように本発明は光ファイバの後方散乱光測定にて
得られたＢＳ曲線をその平均直線から上記ＢＳ曲線上の
各点までの隔りを示す曲線に変換し、上記隔りを示す曲
線を平滑化処理し、上記平滑化処理後の上記隔りを示す
曲線の極大点および極小点の個数とその絶対値をパラメ
ータとし、あらかじめ同一の平滑化条件にて求めておい
たパラメータ基準値と比較することにより光ファイバの
欠陥の存在有無およびその種類を判定することを特徴と
する。
得られたＢＳ曲線をその平均直線から上記ＢＳ曲線上の
各点までの隔りを示す曲線に変換し、上記隔りを示す曲
線を平滑化処理し、上記平滑化処理後の上記隔りを示す
曲線の極大点および極小点の個数とその絶対値をパラメ
ータとし、あらかじめ同一の平滑化条件にて求めておい
たパラメータ基準値と比較することにより光ファイバの
欠陥の存在有無およびその種類を判定することを特徴と
する。
これにより光ファイバの欠陥の存在有無およびその種類
の判定を視覚的な主観を排し正確かつ客観的に行うこと
を可能にする光ファイバの後方散乱光異常パターン検出
方法および装置が提供される０
の判定を視覚的な主観を排し正確かつ客観的に行うこと
を可能にする光ファイバの後方散乱光異常パターン検出
方法および装置が提供される０
第１図は光ファイバの後方散乱光測定システムの構成を
示す概要図、 第２図は段を有する光ファイバのＢＳ曲線の異常パター
ンの一例を示す図、 第３図はうねりを有する光ファイバのＢＳ曲線の異常パ
ターンの一例を示す図、 第４図は曲りを有する光ファイバのＢＳ 曲線の異常
パターンの一例を示す図、 第５図はＢＳ曲線の一例とそのＢＳ変換曲線を示す図、 第６図は第５図のＢＳ変換曲線を１回平滑化処理した後
の曲線、 第７図は第５図のＢＳ変換曲線を２回平滑化処理した後
の曲線、 第８図は光ファイバの後方散乱光異常ノ（ターン検出装
置の概念図。 １１・・・ＢＳ曲線 １４・・・ＢＳ変換曲線１５・
・・ファルタ回路’ 、１６・・・コンノくレーク特許
出願人 住友電気工業株式会社 同 日本電信電話公社 （外５名） 奉１図 寅識ｖ！ｒ藺 秦５７ 算、４圀 イラ＼ｉｌ１竿Ｆも電 本７図 イう己、［一時開 葬ッ６凹 ／Ｆ
示す概要図、 第２図は段を有する光ファイバのＢＳ曲線の異常パター
ンの一例を示す図、 第３図はうねりを有する光ファイバのＢＳ曲線の異常パ
ターンの一例を示す図、 第４図は曲りを有する光ファイバのＢＳ 曲線の異常
パターンの一例を示す図、 第５図はＢＳ曲線の一例とそのＢＳ変換曲線を示す図、 第６図は第５図のＢＳ変換曲線を１回平滑化処理した後
の曲線、 第７図は第５図のＢＳ変換曲線を２回平滑化処理した後
の曲線、 第８図は光ファイバの後方散乱光異常ノ（ターン検出装
置の概念図。 １１・・・ＢＳ曲線 １４・・・ＢＳ変換曲線１５・
・・ファルタ回路’ 、１６・・・コンノくレーク特許
出願人 住友電気工業株式会社 同 日本電信電話公社 （外５名） 奉１図 寅識ｖ！ｒ藺 秦５７ 算、４圀 イラ＼ｉｌ１竿Ｆも電 本７図 イう己、［一時開 葬ッ６凹 ／Ｆ
Claims (6)
- （１）光ファイバの後方散乱光測定にて得られたＢＳ曲
線をその平均直線から該ＢＳ曲線上の各点までの隔りを
示す曲線に変換し、該隔りを示す曲線を平滑化処理し、
該平滑化処理後の該隔りを示す曲線の極大点、極小点の
個数とその絶対値をパラメータとし、あらかじめ同一の
平滑化条件にて求めておいたパラメータ基準値と比較す
ることにより光ファイバの欠陥の存在有無およびその種
類を判定することを特徴とする光ファイバの後方散乱光
異常パターン検出方法。 - （２）該平滑化処理が該隔りを示す曲線上の一定間隔ご
との複数の点に関する移動平均を求める操作を１回また
は複数回くりかえすことを特徴とする特許請求の範囲第
１項に記載の光ファイバの後方散乱光異常パターン検出
方法。 - （３）該移動平均を求める操作が２回くりかえされるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第２項に記載の光ファイ
バの後方散乱光異常パターン検出方法。 - （４）光パルス試験器により得られた光ファイバのＢＳ
曲線から変換された該ＢＳ曲線の平均直線から該ＢＳ曲
線上の各点までの隔りを示す曲線を平滑化処理するため
のフィルタ回路と；該フィルタ回路による平滑化処理に
より得られた曲線の極大点、極小点の個数とその絶対値
をあらかじめ同一の平滑化条件にて求めておいたパラメ
ータ基準値と比較することにより該光ファイバの欠陥の
存在有無およびその種類を判定するためのコンパレータ
とを含むことを特徴とする光ファイバの後方散乱光異常
パターン検出装置。 - （５）該平滑化処理するためのフィルタ回路が該隔りを
示す曲線上の一定間隔ごとの複数の点に関する移動平均
を求めるための１段または複数段のフィルタ回路である
ことを特徴とする特許請求の範囲第４項に記載の光ファ
イバの後方散乱光異常パターン検出装置。 - （６）該複数段のフィルタ回路が２段のフィルタ回路で
あることを特徴とする特許請求の範囲第５項に記載の光
ファイバの後方散乱光異常パターン検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15343684A JPS6130741A (ja) | 1984-07-24 | 1984-07-24 | 光フアイバの後方散乱光異常パタ−ン検出方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15343684A JPS6130741A (ja) | 1984-07-24 | 1984-07-24 | 光フアイバの後方散乱光異常パタ−ン検出方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6130741A true JPS6130741A (ja) | 1986-02-13 |
| JPH0544975B2 JPH0544975B2 (ja) | 1993-07-07 |
Family
ID=15562478
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15343684A Granted JPS6130741A (ja) | 1984-07-24 | 1984-07-24 | 光フアイバの後方散乱光異常パタ−ン検出方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6130741A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0422836A (ja) * | 1990-05-18 | 1992-01-27 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 電気的パルスエコーによる光海底ケーブルの障害点測定方法 |
| JP2011158330A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光線路測定装置及び光線路測定方法 |
-
1984
- 1984-07-24 JP JP15343684A patent/JPS6130741A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0422836A (ja) * | 1990-05-18 | 1992-01-27 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 電気的パルスエコーによる光海底ケーブルの障害点測定方法 |
| JP2011158330A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光線路測定装置及び光線路測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0544975B2 (ja) | 1993-07-07 |
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