JPS6140029A - 自動マスク・ウェーハ目合せ焼付方法 - Google Patents
自動マスク・ウェーハ目合せ焼付方法Info
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- JPS6140029A JPS6140029A JP16268984A JP16268984A JPS6140029A JP S6140029 A JPS6140029 A JP S6140029A JP 16268984 A JP16268984 A JP 16268984A JP 16268984 A JP16268984 A JP 16268984A JP S6140029 A JPS6140029 A JP S6140029A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70733—Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
- G03F7/7075—Handling workpieces outside exposure position, e.g. SMIF box
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、半導体製造装置に関し、特に1マスクドウ
エーハの目合せ及びウェーハの焼付ケt−自動的に行な
う自動マスク・ウェーハ目金せ焼付装置に関する。
エーハの目合せ及びウェーハの焼付ケt−自動的に行な
う自動マスク・ウェーハ目金せ焼付装置に関する。
従来の技術
従来、この種の装置では直線路にそって未露光ウェーハ
は供給して次の場所でマスクとウエーノ・の目合せ、及
びこれに続いて目合せ装置を移動し、その移動した後で
マスクを介してウェーハへのマスク・パターンの露光焼
付を行ない、その後で露光済ウェーハをウェーハ・キャ
リヤに収納することをそれぞれ半自動的に行なっていた
。
は供給して次の場所でマスクとウエーノ・の目合せ、及
びこれに続いて目合せ装置を移動し、その移動した後で
マスクを介してウェーハへのマスク・パターンの露光焼
付を行ない、その後で露光済ウェーハをウェーハ・キャ
リヤに収納することをそれぞれ半自動的に行なっていた
。
発明が解決しようとする問題点
上述の従来技術では同一場所で目合せと焼付が行なわれ
、その間、未露光ウエーノ・の供給及び露光済ウェーハ
の収納はできないため半導体の量産化は効率的でなかり
た。
、その間、未露光ウエーノ・の供給及び露光済ウェーハ
の収納はできないため半導体の量産化は効率的でなかり
た。
問題を解決するための手段及び作用
この発明の自動マスク・ヴエーハ目金せ焼付装置によれ
ば、割出しテーブルの周上に少なくとも4個のマスク・
ウェーハ・カセットが配置されている。割出しテーブル
の周にそう一固定点にはウェーハ向き検出受渡し手段が
設けられて未露光ウェーハを受け取り、″その向きを決
めこれを到来するマスク・ウェーハ・カセットに供給す
る。マスク・ウェーハ・カセットがウェーハ向き検出手
段から未露光ウェーハを受けた時、このマスク・ウェー
ハ・カセット内のマスクとウェーハの間に平行板が挿入
されてマスクとウェーハに対して空気を吹き出して両者
を平行な所定間隔に調整維持する。この点より割出しテ
ーブルが更に所定角度所定方向に回転した点でマスクと
ウェーハはx、y軸と回動角θに関し目合せされる。こ
の目合せに引続いて更に所定角度、割出しテーブルが所
定方向に回転した位置から更に所定角度、割出しテーブ
ルが所定方向に回転した位置までの間にマスクを介して
ウェー・・は露光及び焼付をされる。この後、露光済ウ
ェー・・は露光済つエーノ・・キャリヤに収納される。
ば、割出しテーブルの周上に少なくとも4個のマスク・
ウェーハ・カセットが配置されている。割出しテーブル
の周にそう一固定点にはウェーハ向き検出受渡し手段が
設けられて未露光ウェーハを受け取り、″その向きを決
めこれを到来するマスク・ウェーハ・カセットに供給す
る。マスク・ウェーハ・カセットがウェーハ向き検出手
段から未露光ウェーハを受けた時、このマスク・ウェー
ハ・カセット内のマスクとウェーハの間に平行板が挿入
されてマスクとウェーハに対して空気を吹き出して両者
を平行な所定間隔に調整維持する。この点より割出しテ
ーブルが更に所定角度所定方向に回転した点でマスクと
ウェーハはx、y軸と回動角θに関し目合せされる。こ
の目合せに引続いて更に所定角度、割出しテーブルが所
定方向に回転した位置から更に所定角度、割出しテーブ
ルが所定方向に回転した位置までの間にマスクを介して
ウェー・・は露光及び焼付をされる。この後、露光済ウ
ェー・・は露光済つエーノ・・キャリヤに収納される。
よる自動マスク・ウエーノ・目合せ焼付装置10の一実
施が示されている。この装置には割出し動作をする割出
しテーブル12が設けられており、その周にそりて等間
隔に5個のマスク・ウェーI・・カセット14が割出テ
ーブル12に設けられている。各マスク・ウェーI・・
カセット14は第4図かられかるように、はぼ4角形の
カバー141とこれに可変間隔をもつ底板142′t−
有し、カッ(−141には露光焼付装置60よりの露光
を受ける円形の窓146とガラスマスク144t−空気
流により吸着する周辺溝145、これに連通する吸引ニ
ブル146が設けられている。底板142上にはウェー
ハ取付板147が設けられ、このウェーハ取付板147
’には底板142を貫通して下方に半球上の整合部14
8があり、更に、整合部148の下には、これ金相補的
に受ける凹状の球面受台149がある。これらの部材を
一体の組立状態に保つには、空気通流溝14911.1
48a、147aがあり、更に、カバー141と底板1
42の接合部にも空気通流溝が150.151,152
の・個所に設けられている。156はスロット153a
内のねじ部材でばね154を介してカバー141と底板
142とをゆるく連結している。割出しテ−プル12の
周にそう空間の第一の点P1の近くKはウェーハOF検
出部受渡し装置16が設けられていて未露光ウェーハ・
モヤリヤ18から受取った未露光ウェーハのOF(切欠
縁)を検出して所定の向きをこの未露光ウエーノ・に与
え到来した割出しテーブル12のマスク内蔵のマスク・
ウェーハ・カセット14に空気吸着式の平行板20で吸
着してその未露光ウェーハを渡すようになっている。こ
の平行板20はウェーハOF検出部受渡し装置16の位
置に設けられていて到来したマスク・ウェーハφカセブ
ト14のマスク拳ウェーハの間に挿入されてマスクとウ
ェーハが完全に平行になるよう空気をマスクとウェーハ
に向って吹き出す。この時にマスク・ウェーハ・カセッ
ト14は上方から圧力を受けてマスク・ウェー・・・カ
セットの各構成要素を下方に押し、ウェーハ取付板14
7の下方の半球状の凸凹整合部を調整してウェーハ。
施が示されている。この装置には割出し動作をする割出
しテーブル12が設けられており、その周にそりて等間
隔に5個のマスク・ウェーI・・カセット14が割出テ
ーブル12に設けられている。各マスク・ウェーI・・
カセット14は第4図かられかるように、はぼ4角形の
カバー141とこれに可変間隔をもつ底板142′t−
有し、カッ(−141には露光焼付装置60よりの露光
を受ける円形の窓146とガラスマスク144t−空気
流により吸着する周辺溝145、これに連通する吸引ニ
ブル146が設けられている。底板142上にはウェー
ハ取付板147が設けられ、このウェーハ取付板147
’には底板142を貫通して下方に半球上の整合部14
8があり、更に、整合部148の下には、これ金相補的
に受ける凹状の球面受台149がある。これらの部材を
一体の組立状態に保つには、空気通流溝14911.1
48a、147aがあり、更に、カバー141と底板1
42の接合部にも空気通流溝が150.151,152
の・個所に設けられている。156はスロット153a
内のねじ部材でばね154を介してカバー141と底板
142とをゆるく連結している。割出しテ−プル12の
周にそう空間の第一の点P1の近くKはウェーハOF検
出部受渡し装置16が設けられていて未露光ウェーハ・
モヤリヤ18から受取った未露光ウェーハのOF(切欠
縁)を検出して所定の向きをこの未露光ウエーノ・に与
え到来した割出しテーブル12のマスク内蔵のマスク・
ウェーハ・カセット14に空気吸着式の平行板20で吸
着してその未露光ウェーハを渡すようになっている。こ
の平行板20はウェーハOF検出部受渡し装置16の位
置に設けられていて到来したマスク・ウェーハφカセブ
ト14のマスク拳ウェーハの間に挿入されてマスクとウ
ェーハが完全に平行になるよう空気をマスクとウェーハ
に向って吹き出す。この時にマスク・ウェーハ・カセッ
ト14は上方から圧力を受けてマスク・ウェー・・・カ
セットの各構成要素を下方に押し、ウェーハ取付板14
7の下方の半球状の凸凹整合部を調整してウェーハ。
マスク、平行板の三部材を平行状態にし、これら三部材
間にそれぞれ空PJを作って空気を流し、これら二部材
が接触されないようにする。この後、この三部材間の平
行状態が維持されるようにするため上記凸凹球面整合部
間、ウェーハとその取付板、及び球面受台のクランプ部
と底板それぞれの間が真空でクランプされる。平行が得
られると、マスク・ウェーハ平行板20はマスク・ウェ
ーハ・カセット14から引き抜かれて所定位置で待機デ
る。完全に平行になりたマスクとウェーハの間隔は検出
装置(図示せず)により読み出され記憶される。
間にそれぞれ空PJを作って空気を流し、これら二部材
が接触されないようにする。この後、この三部材間の平
行状態が維持されるようにするため上記凸凹球面整合部
間、ウェーハとその取付板、及び球面受台のクランプ部
と底板それぞれの間が真空でクランプされる。平行が得
られると、マスク・ウェーハ平行板20はマスク・ウェ
ーハ・カセット14から引き抜かれて所定位置で待機デ
る。完全に平行になりたマスクとウェーハの間隔は検出
装置(図示せず)により読み出され記憶される。
第1の点P1より時計方向に175回転した割出しテー
ブル12にそう空間内の第2の点P、には目合せ用顕微
鏡22及びマニプレータ24が設けられていて左右のマ
スク・ウェー/・目合せ用微動ノ・7ドル26(XY±
5n以内の微調整可能)とマスク・ウェーハ目金せ用粗
動ノ・ンドル28(XY±20w5)と協力してマスク
とウエーノ・のx、y軸及び回動角θ(スイッチによる
モータの作動制御による)について正確な目合わせがで
きるようになっている。 、 割出しテーブル12の中央には水銀灯内蔵の回動可能な
露光焼付装置30が設けられ、その半径方向外方下方に
延びる露光案内部50hを介して第2の点P、から到来
したカセットの未露光ウェーハに対し、第2の点P、か
ら時計方向に115回転回動した空間内の第3の点P、
から露光焼付を開始し、第3の点から更に時計方向に1
15回転した空間内の第4の点P4までウエーノ・と共
に回動して露光焼付を継続して行ない、第40点P4で
焼付けが終ると露光焼付装[30は第3の点P3まで復
帰するようになっている。
ブル12にそう空間内の第2の点P、には目合せ用顕微
鏡22及びマニプレータ24が設けられていて左右のマ
スク・ウェー/・目合せ用微動ノ・7ドル26(XY±
5n以内の微調整可能)とマスク・ウェーハ目金せ用粗
動ノ・ンドル28(XY±20w5)と協力してマスク
とウエーノ・のx、y軸及び回動角θ(スイッチによる
モータの作動制御による)について正確な目合わせがで
きるようになっている。 、 割出しテーブル12の中央には水銀灯内蔵の回動可能な
露光焼付装置30が設けられ、その半径方向外方下方に
延びる露光案内部50hを介して第2の点P、から到来
したカセットの未露光ウェーハに対し、第2の点P、か
ら時計方向に115回転回動した空間内の第3の点P、
から露光焼付を開始し、第3の点から更に時計方向に1
15回転した空間内の第4の点P4までウエーノ・と共
に回動して露光焼付を継続して行ない、第40点P4で
焼付けが終ると露光焼付装[30は第3の点P3まで復
帰するようになっている。
焼付が終−)たウェーハはカセ−y ) 14に収納さ
れfcまま、第4の点P4から時計方向Vc115回転
した空間内の第6の点P、!で割出しテーブル12によ
シ回動されて第6の点P、で露光法ウェーハはg元焼付
ウェーハキャリア82へ渡されて収納されるようになっ
ている。
れfcまま、第4の点P4から時計方向Vc115回転
した空間内の第6の点P、!で割出しテーブル12によ
シ回動されて第6の点P、で露光法ウェーハはg元焼付
ウェーハキャリア82へ渡されて収納されるようになっ
ている。
作用
1ず、本装開の作動には主電源スイッチ、各部機構機能
スイッチ、マスク合せ顕微鏡光源電源スィッチ、露光焼
付用水銀灯光源電源スィッチがオンとされる。
スイッチ、マスク合せ顕微鏡光源電源スィッチ、露光焼
付用水銀灯光源電源スィッチがオンとされる。
(a) 次に各部機構、機能始動スイッチ(図示せず
)をオンにする。すると露光済つェーノドキャリヤ82
が最下位置にセットされ上部より絽光済ウェーハを受け
る準備をする。また、未露光つ工−ハ・キャリヤ18は
最上位置にセットされてその最下位置よ、90F検出受
渡し部16に未露光ウェーハを供給して後−股下がる。
)をオンにする。すると露光済つェーノドキャリヤ82
が最下位置にセットされ上部より絽光済ウェーハを受け
る準備をする。また、未露光つ工−ハ・キャリヤ18は
最上位置にセットされてその最下位置よ、90F検出受
渡し部16に未露光ウェーハを供給して後−股下がる。
OF検出受渡し部16は供給された未絽元ウェーハの0
F=i検出してこのウェーハに適正な向きを与えて割出
しテーブル12のマスク・ウェーハ・カ七ツ)14が第
1の点P1に来た時にウェーハを供給できるよう準備す
る。
F=i検出してこのウェーハに適正な向きを与えて割出
しテーブル12のマスク・ウェーハ・カ七ツ)14が第
1の点P1に来た時にウェーハを供給できるよう準備す
る。
マスク−ウェーハ・カセット14が第1の点2里に来る
と、OF検出受渡し装置16は平行板20に適正な向き
の未露光ウェーハを吸着してカセット14内に挿入する
。するとカセット14には上方より圧力が加わって平行
板20を間にしてマスクとウェーハが平行になるようウ
ェーハ取付板147の下方の半球状の6整合部148と
これを受ける四半球状の球面受台149の球面部149
bとの間で角度!!#整がされる。
と、OF検出受渡し装置16は平行板20に適正な向き
の未露光ウェーハを吸着してカセット14内に挿入する
。するとカセット14には上方より圧力が加わって平行
板20を間にしてマスクとウェーハが平行になるようウ
ェーハ取付板147の下方の半球状の6整合部148と
これを受ける四半球状の球面受台149の球面部149
bとの間で角度!!#整がされる。
そしてウェーハ、マスク、平行板20のそれぞれの間に
は空隙が作られて空気流を流し、これら三部材が接触さ
れて損傷されることがないようにする。次に、これら三
部材が平行状態でクランプされた11維持されるように
するため、6整合部148と球面受台149との間、ウ
ェーハとその取付板147の間、球面受台14907ラ
ンジ1149dと底板142の間にそれ・それ存在する
空気通流溝148a 、149b 。
は空隙が作られて空気流を流し、これら三部材が接触さ
れて損傷されることがないようにする。次に、これら三
部材が平行状態でクランプされた11維持されるように
するため、6整合部148と球面受台149との間、ウ
ェーハとその取付板147の間、球面受台14907ラ
ンジ1149dと底板142の間にそれ・それ存在する
空気通流溝148a 、149b 。
147a、149eが真空吸引され、カバー141と底
板142の接合部の個所150,151.152の空気
通流溝(図示せず)も真空吸引される。この後、マスク
とウェー71の間の間隔が測定されてその数値が記憶さ
れ、平行板20はマスクとウエーノ・の間から後退して
定位置で停止する 7 。この時は萱だ、N
1光焼付装置30の水銀灯光源2ンプノ・ウスは第8の
点P3にあってシャッタはオフである。この後、各部機
構、fJA能及び粗動、微動ノ・ンドルは零位置にセッ
トされる。
板142の接合部の個所150,151.152の空気
通流溝(図示せず)も真空吸引される。この後、マスク
とウェー71の間の間隔が測定されてその数値が記憶さ
れ、平行板20はマスクとウエーノ・の間から後退して
定位置で停止する 7 。この時は萱だ、N
1光焼付装置30の水銀灯光源2ンプノ・ウスは第8の
点P3にあってシャッタはオフである。この後、各部機
構、fJA能及び粗動、微動ノ・ンドルは零位置にセッ
トされる。
(bl 次に各部ias機能始動スイッチをオンにす
る。
る。
すると、割出しテーブル12は115回転時計方向に回
転して第2の点P!に停止する。マ二グレータ部24に
割出しテーブル12のり2ンプ状態のカセットが空気吸
着式で、装着される。
転して第2の点P!に停止する。マ二グレータ部24に
割出しテーブル12のり2ンプ状態のカセットが空気吸
着式で、装着される。
また、この時、0’ F検出受渡し装置16に未露光ウ
ェーハが供給され、未繕元ウェーハーキャリヤ18は一
段下る。OF検出受渡し装置16は供給された未jlI
ft、ウエーノ・のOF検出を行なうO この後、上記段階(a)の場合と同様に、OF検出のウ
ェーハは第1の点P1に到来し九カセット内に平行板2
0により挿入され、マスク、平行板20、ウェーハの平
行がとられ、マスクとウェーハの間隔が測定されてその
数値が記憶され、マスク、ウェーハの位置が保持されて
り2/プされ、平行板20は定位置へ後退する。
ェーハが供給され、未繕元ウェーハーキャリヤ18は一
段下る。OF検出受渡し装置16は供給された未jlI
ft、ウエーノ・のOF検出を行なうO この後、上記段階(a)の場合と同様に、OF検出のウ
ェーハは第1の点P1に到来し九カセット内に平行板2
0により挿入され、マスク、平行板20、ウェーハの平
行がとられ、マスクとウェーハの間隔が測定されてその
数値が記憶され、マスク、ウェーハの位置が保持されて
り2/プされ、平行板20は定位置へ後退する。
先にマニグレータ部24に装着されたカセツ)14に対
し、マニプレータ部24の2軸24aが上記段階(al
で得たマスクとウェーハの間隔の記憶数値に対応して上
昇し、目合せできるマスク・ウェーハ間隔で停止される
。それから目合せ顕微鏡22によシ穐、動ステージ移動
ハンドル26と粗動ステージ移動)1ンドル28及びθ
と第2の点P!の定位置に各カセットが設定されている
。
し、マニプレータ部24の2軸24aが上記段階(al
で得たマスクとウェーハの間隔の記憶数値に対応して上
昇し、目合せできるマスク・ウェーハ間隔で停止される
。それから目合せ顕微鏡22によシ穐、動ステージ移動
ハンドル26と粗動ステージ移動)1ンドル28及びθ
と第2の点P!の定位置に各カセットが設定されている
。
次に、第2の点P、のマニプレータ部24に装着されて
いたカセツ)14の吸着が解は割出テーブル12に装着
できる状態となる。次にマニプレータ部24の2軸24
aが下9割出テーブル12にカセット14が装着される
。マニプレータ部24よシカセット14放出後各部機構
、機能及びステージ粗動微動ハンドルは零位置にセット
される。
いたカセツ)14の吸着が解は割出テーブル12に装着
できる状態となる。次にマニプレータ部24の2軸24
aが下9割出テーブル12にカセット14が装着される
。マニプレータ部24よシカセット14放出後各部機構
、機能及びステージ粗動微動ハンドルは零位置にセット
される。
(C) 次に各部機構・機能始動スイッチ金オンにす
る。すると、割出しテーブル12が時計方向に1/6回
転回転して停止する。これによシ、マニプレータ部24
には割出しテーブル12の第1の点PKにあったカセッ
トエ4が装着される。
る。すると、割出しテーブル12が時計方向に1/6回
転回転して停止する。これによシ、マニプレータ部24
には割出しテーブル12の第1の点PKにあったカセッ
トエ4が装着される。
一方、OF検出受渡し装置16に未露光ウェーハ・キャ
リヤ18からウェーハが供給され、未露光ウェーハ拳キ
ャリヤ18は一段下がる。OF検出受渡し装置16では
供給された未露光ウェーハの0Ft−検出し、上述のよ
りに、未露光ウェーハは向きを与えられて平行板20に
吸着されて第1の点P1に来たマスク・ウェーハ・カセ
ット14内へ挿入されて平行にされ、マスクとウェーハ
はその間隔測定がされ、その数値が記憶され、真空クラ
ンプされ、平行板20は定位置へ後退する◎ 第3の位置Ps Kは目合せされたマスク−ウェーハの
カセット14が米てiで、露光焼付装置80の水銀灯シ
ャッタが開き照射が始する。
リヤ18からウェーハが供給され、未露光ウェーハ拳キ
ャリヤ18は一段下がる。OF検出受渡し装置16では
供給された未露光ウェーハの0Ft−検出し、上述のよ
りに、未露光ウェーハは向きを与えられて平行板20に
吸着されて第1の点P1に来たマスク・ウェーハ・カセ
ット14内へ挿入されて平行にされ、マスクとウェーハ
はその間隔測定がされ、その数値が記憶され、真空クラ
ンプされ、平行板20は定位置へ後退する◎ 第3の位置Ps Kは目合せされたマスク−ウェーハの
カセット14が米てiで、露光焼付装置80の水銀灯シ
ャッタが開き照射が始する。
第20点P3では、マニプレータ24に装着されたカセ
ット14に対しマニプレータ24のZ軸24aが対応の
カセット14のマスクとウェーハの間隔の記憶数値に対
応する量だけ上昇し目合せできるマスク・ウェー/S間
隔で停止する。そして、目合せ顕微鏡22により微動粗
動ステージ移動ハンドル26.28、θ角度調整スイッ
チでマスクとウェーハの目合せをし、カセット14のマ
スクとウェーハは適正な位置関係を保持して空気作用で
■定される。マニプレータ部24に装着さ・れていたカ
セツ)14の吸着が解はカセット14は□割出テーブル
12に装着準備可能となる。すると、マニプレータ部2
4の2軸24aが下クカセット14 以下余白 は割出テーブル12に装着される。マニプレータ部24
よシカセット14の放出後、各部機構。
ット14に対しマニプレータ24のZ軸24aが対応の
カセット14のマスクとウェーハの間隔の記憶数値に対
応する量だけ上昇し目合せできるマスク・ウェー/S間
隔で停止する。そして、目合せ顕微鏡22により微動粗
動ステージ移動ハンドル26.28、θ角度調整スイッ
チでマスクとウェーハの目合せをし、カセット14のマ
スクとウェーハは適正な位置関係を保持して空気作用で
■定される。マニプレータ部24に装着さ・れていたカ
セツ)14の吸着が解はカセット14は□割出テーブル
12に装着準備可能となる。すると、マニプレータ部2
4の2軸24aが下クカセット14 以下余白 は割出テーブル12に装着される。マニプレータ部24
よシカセット14の放出後、各部機構。
機能及びステージ粗動微動ハンドル等は零位置にセット
される。この状態では第1.2.8の点PI、P2.P
8において、カセット14がそれぞれ定位置にセットさ
れている。
される。この状態では第1.2.8の点PI、P2.P
8において、カセット14がそれぞれ定位置にセットさ
れている。
(d) 次に各部機構機能始動スイッチをオンにする
。すると割出しテーブル12はイ回転時計方、向に回転
されて停止する。この時、マニプレータ部24には割出
テーブル12よシ第1の点P1から今到来したマスク・
ウェーハ・カセット14が装着される。
。すると割出しテーブル12はイ回転時計方、向に回転
されて停止する。この時、マニプレータ部24には割出
テーブル12よシ第1の点P1から今到来したマスク・
ウェーハ・カセット14が装着される。
一方、未露光ウーーハ・=ヤリヤニ8は。F検出受渡し
装置16へ未露光ウェーハを供給して一段下る。OF検
出受渡し装置16は受け取った未露光ウェーハのOFを
検出し、このウェーハに適正な向きを与える。平行板2
0はこのウェーハを吸着して第1の点P1にあるカセッ
ト14にウェーハを供給し上述の場合と同様にマスクと
ウェーハの平行が取られ、その間隔は記憶され、マスク
とウェーハはその平行状態にクランプされ、平行板20
は後退位置へ移動して停止する。
装置16へ未露光ウェーハを供給して一段下る。OF検
出受渡し装置16は受け取った未露光ウェーハのOFを
検出し、このウェーハに適正な向きを与える。平行板2
0はこのウェーハを吸着して第1の点P1にあるカセッ
ト14にウェーハを供給し上述の場合と同様にマスクと
ウェーハの平行が取られ、その間隔は記憶され、マスク
とウェーハはその平行状態にクランプされ、平行板20
は後退位置へ移動して停止する。
第3の点P3に来九カセツ) /4Lは露光焼付準備態
勢となる。この時すでに第3の点P3から%回転時計方
向にずれた第4の点ア4まで第8の点P8から回転する
カセット14のウェーハは水銀灯光源から照射を受ける
。シャッタはリセット光電計の設定量が達せられるとオ
フとなシ、露光焼付装置80は第2の点P2へ回動して
戻シ、そこに到着したカセット120ウエーハに対しマ
スクを通して露光焼付を開始する。
勢となる。この時すでに第3の点P3から%回転時計方
向にずれた第4の点ア4まで第8の点P8から回転する
カセット14のウェーハは水銀灯光源から照射を受ける
。シャッタはリセット光電計の設定量が達せられるとオ
フとなシ、露光焼付装置80は第2の点P2へ回動して
戻シ、そこに到着したカセット120ウエーハに対しマ
スクを通して露光焼付を開始する。
第2の点P2に先に到着していたマスク・ウェーハ・カ
セット14に対しマニプレータ部24の2軸24&が上
昇し目合せできるマスク・ウェーハ間隔で停止する。目
合せ顕微鏡22にょシ粗動ステージ移動ハンドル28.
微動ステージ移動ハンドル26.θ角度調整用スイッチ
によシマスフとウェーハの目合せをする。この結果、カ
セット14のマスクとウェーハの位置は保持され空気作
用で固定される。マニプレータ部24に装着されていた
カセット14の吸着が解け、このカセットは割出テーブ
ル12に装着できる状態となる。そして、マニプレータ
部24の2軸24aが下シそのカセット14は割出テー
ブル12に装着される。マニプレータ部24よシカセッ
ト14の放出後、各部機構1機能及びステージ粗動微動
ステージ移動ハンドル等は0位置にセットされる。
セット14に対しマニプレータ部24の2軸24&が上
昇し目合せできるマスク・ウェーハ間隔で停止する。目
合せ顕微鏡22にょシ粗動ステージ移動ハンドル28.
微動ステージ移動ハンドル26.θ角度調整用スイッチ
によシマスフとウェーハの目合せをする。この結果、カ
セット14のマスクとウェーハの位置は保持され空気作
用で固定される。マニプレータ部24に装着されていた
カセット14の吸着が解け、このカセットは割出テーブ
ル12に装着できる状態となる。そして、マニプレータ
部24の2軸24aが下シそのカセット14は割出テー
ブル12に装着される。マニプレータ部24よシカセッ
ト14の放出後、各部機構1機能及びステージ粗動微動
ステージ移動ハンドル等は0位置にセットされる。
(e) 次に各部機構・機能始動スイッチ始動スイッ
チがオンとされる。すると、割出しテーブル1.2は%
回転時計方向に回転され停止される。
チがオンとされる。すると、割出しテーブル1.2は%
回転時計方向に回転され停止される。
マニプレータ部24には割出テーブル12のカセット1
4が装着される。
4が装着される。
未露光ウェーハ・キャリヤ18はOF検出受渡し部16
に未露光ウェーハを供給して一段下る。
に未露光ウェーハを供給して一段下る。
OF検出受渡し装置16は供給された未露光ウェーハの
OFを検出してこのウェーハに適正な向きを与える。平
行板20紘この向きを与えられたウェーハを吸着して第
1の点P1に到来し九カセット14の中にそのウェーハ
を挿入する。
OFを検出してこのウェーハに適正な向きを与える。平
行板20紘この向きを与えられたウェーハを吸着して第
1の点P1に到来し九カセット14の中にそのウェーハ
を挿入する。
上述の場合と同様に、マスク、ウェーハ、平行板20の
平行がとられ、マスクとウェーハ間の間隔は測定されて
記憶される。マスクとウェーハの相互間係は真空クラン
プされ、平行板2゜は定位置へ後退する。
平行がとられ、マスクとウェーハ間の間隔は測定されて
記憶される。マスクとウェーハの相互間係は真空クラン
プされ、平行板2゜は定位置へ後退する。
第8の点P3で割出しテーブル12のカセット14は露
光焼付可能状態となる。この前すでにf4sの点P8に
あったカセット12は水銀灯の照射を受けながら第4の
点P4まで移動しリセット光量計の設定量が達成される
とシャッタはオフとなる。露光焼付装置8oの光源は第
2の点P8まで回動して戻ル、そこに到達したカセット
に露光焼付を開始する。また、第4の点−P4よシ時計
方向にイ回転した第6の点F5−4で第4の点P4よ)
回動したカセット14の露光焼付済ウェーハは、カセッ
ト14が割出しテーブルエソ上で回動して露光焼付済ウ
ェーハ・キャリヤ32へ放出口を向け、露光焼付ウェー
ハを露光焼付ウェーハ・キャリヤ32へ渡し収納させる
。
光焼付可能状態となる。この前すでにf4sの点P8に
あったカセット12は水銀灯の照射を受けながら第4の
点P4まで移動しリセット光量計の設定量が達成される
とシャッタはオフとなる。露光焼付装置8oの光源は第
2の点P8まで回動して戻ル、そこに到達したカセット
に露光焼付を開始する。また、第4の点−P4よシ時計
方向にイ回転した第6の点F5−4で第4の点P4よ)
回動したカセット14の露光焼付済ウェーハは、カセッ
ト14が割出しテーブルエソ上で回動して露光焼付済ウ
ェーハ・キャリヤ32へ放出口を向け、露光焼付ウェー
ハを露光焼付ウェーハ・キャリヤ32へ渡し収納させる
。
マニプレータ部24に装着された上述のカセット14に
対しマニプレータ部24のZ軸24aが対応のマスクと
ウェーへの間隔の測定記憶値に対応する量だけ上昇し目
合せできるマスク・ウェーハ間隔で停止する。目合せ顕
微鏡22゜微動、粗動ステージ移動ハンドル26.28
゜θ角度調整用スイッチによシマスフとウェーハの目合
せができる。この後、第2の点P2にカセット14のマ
スク生ウェーへの位置−1)D−保持されて空気作用に
よシ固定される。マニプレータ部24に装着されていた
カセッ)14の吸着が解ケ、カセット】4は割出しテー
ブルエ2に装着できる状態となる。次に、マニプレータ
部24(D Z 軸24 aが下シ割出しテーブル12
にそのカセット14は装着される。マニプレータ部24
よシカセット放出後、各部機構2機能及び粗動微動ステ
ージ移動ハンドル等は零位置にセットされる。
対しマニプレータ部24のZ軸24aが対応のマスクと
ウェーへの間隔の測定記憶値に対応する量だけ上昇し目
合せできるマスク・ウェーハ間隔で停止する。目合せ顕
微鏡22゜微動、粗動ステージ移動ハンドル26.28
゜θ角度調整用スイッチによシマスフとウェーハの目合
せができる。この後、第2の点P2にカセット14のマ
スク生ウェーへの位置−1)D−保持されて空気作用に
よシ固定される。マニプレータ部24に装着されていた
カセッ)14の吸着が解ケ、カセット】4は割出しテー
ブルエ2に装着できる状態となる。次に、マニプレータ
部24(D Z 軸24 aが下シ割出しテーブル12
にそのカセット14は装着される。マニプレータ部24
よシカセット放出後、各部機構2機能及び粗動微動ステ
ージ移動ハンドル等は零位置にセットされる。
この状9では割出テーブル120g1,2゜3.4.5
の各点p1. P2 、 Pa 、 P4 、P、5の
定莫にカセットがそれぞれセットされる。
の各点p1. P2 、 Pa 、 P4 、P、5の
定莫にカセットがそれぞれセットされる。
上記目合せ装置は顕微鏡にょシ手動的に行なうものとし
て示したが公知の自動目金せ装置を組みこむことにょシ
装置の全自動化が達成される。なお、目合せ用顕微鏡2
2の代jDK1個のテレビスクリーンを設けて複数個の
本装置をコンビニ・−夕制御方式でオペレータが遠隔制
御によシマスフとウェーハの目合わせを時分割集中制御
方式で行なうことができる。
て示したが公知の自動目金せ装置を組みこむことにょシ
装置の全自動化が達成される。なお、目合せ用顕微鏡2
2の代jDK1個のテレビスクリーンを設けて複数個の
本装置をコンビニ・−夕制御方式でオペレータが遠隔制
御によシマスフとウェーハの目合わせを時分割集中制御
方式で行なうことができる。
発明の効果
以上から明らかなように、この発明によれば、未露光ウ
ェーハの供給、01F検出、平行板の挿入。
ェーハの供給、01F検出、平行板の挿入。
!、7.θ等の位置合わせ、焼付等すべて順次行なわれ
、各工程のうちで遊んでいるものがないため操作が自動
的効率的に行なわれ、また、テーブル周辺にカセットを
順次配置したことによシ装置全体がコンパクトになった
。
、各工程のうちで遊んでいるものがないため操作が自動
的効率的に行なわれ、また、テーブル周辺にカセットを
順次配置したことによシ装置全体がコンパクトになった
。
第1図はこの発明の自動マスク・ウェー八目合せ焼付装
置の簡略平面図、第2図は正面図、第8図は側面図、第
4図(At 、 (B) 、偏(ol 、 (D)はそ
れぞれマスク・ウェーハ・カセットの平面図、第4図(
A)の上下左のそれぞれの矢印B 、 O、D44一方
向に見た側面図、第4図((、)は知の要素の圧縮図、
第4図(FS)はマスク・ウェーハ・カセットの底面図
、第4図(P)は第4図(114)の矢印P方向に見た
側面図、第5図(Nは平行板の平面図、第5図体)は第
5図(Alの矢印B方向に見た側面図である。 10・・・自動目金せ焼付装置、12・・・割出しテー
ブル、14・・・マスク・ウェーハ・カセット、16・
・・O’?検出部受渡し装置、18・・・未露光ウエー
ノ・・カセット、20・・・マスク・ウェーハ平行板、
22・・・目合せ用顕微鏡、24・・・マニプレータ部
、26・・・マスク・ウエーノ・目合せ用微動ステージ
移動)1ンドル、28・・・マスク・ウエーノ・目合せ
用粗動ステージ移動I・ンドル、30・・・露光焼付装
置、80a・・・露光案内部、82・・・露光焼付法ウ
エーノ・・キャリヤ、34・・・装置電源空圧コントロ
ール・ボックス、86・・・装置コントロール・スイッ
チ部、88・・・目合せ用顕微鏡用光源ランプ、147
m)・・・空気通流溝。 第4図(E) 計 第4回(F)
置の簡略平面図、第2図は正面図、第8図は側面図、第
4図(At 、 (B) 、偏(ol 、 (D)はそ
れぞれマスク・ウェーハ・カセットの平面図、第4図(
A)の上下左のそれぞれの矢印B 、 O、D44一方
向に見た側面図、第4図((、)は知の要素の圧縮図、
第4図(FS)はマスク・ウェーハ・カセットの底面図
、第4図(P)は第4図(114)の矢印P方向に見た
側面図、第5図(Nは平行板の平面図、第5図体)は第
5図(Alの矢印B方向に見た側面図である。 10・・・自動目金せ焼付装置、12・・・割出しテー
ブル、14・・・マスク・ウェーハ・カセット、16・
・・O’?検出部受渡し装置、18・・・未露光ウエー
ノ・・カセット、20・・・マスク・ウェーハ平行板、
22・・・目合せ用顕微鏡、24・・・マニプレータ部
、26・・・マスク・ウエーノ・目合せ用微動ステージ
移動)1ンドル、28・・・マスク・ウエーノ・目合せ
用粗動ステージ移動I・ンドル、30・・・露光焼付装
置、80a・・・露光案内部、82・・・露光焼付法ウ
エーノ・・キャリヤ、34・・・装置電源空圧コントロ
ール・ボックス、86・・・装置コントロール・スイッ
チ部、88・・・目合せ用顕微鏡用光源ランプ、147
m)・・・空気通流溝。 第4図(E) 計 第4回(F)
Claims (1)
- 割出しテーブルの周上に少なくとも4個のマスク・ウェ
ーハ・カセットを等間隔に配置すると共に、割出しテー
ブルの周にそう一固定点に、未露光ウェーハを受け取っ
てその向きを決めこれを到来するマスク・ウェーハ・カ
セットに供給するウェーハ向き検出受渡し手段を設けマ
スク・ウェーハ・カセットがウェーハ向き検出受渡し手
段から未露光ウェーハを受けた時、このマスク・ウェー
ハ・カセット内のマスクとウェーハの間に平行板が挿入
されてマスクとウェーハに対して空気を吹き出して両者
を平行な所定間隔に維持し、この位置より割出しテーブ
ルが更に所定角度所定方向に回転した点でマスクとウェ
ーハはx、y軸及びθに関し目合せされ、更に割出しテ
ーブルが所定角度所定方向に回転した位置からこれに続
く更に所定角度回転した位置までの間にウェーハはマス
クを介してそのパターンの焼付け露をされ、その後、露
光済ウェーハを露光済ウェーハ・キャリヤに収納するこ
とを特徴とする自動マスク・ウェーハ目合せ焼付装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16268984A JPS6140029A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | 自動マスク・ウェーハ目合せ焼付方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16268984A JPS6140029A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | 自動マスク・ウェーハ目合せ焼付方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6140029A true JPS6140029A (ja) | 1986-02-26 |
| JPH0141250B2 JPH0141250B2 (ja) | 1989-09-04 |
Family
ID=15759424
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16268984A Granted JPS6140029A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | 自動マスク・ウェーハ目合せ焼付方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6140029A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61177726A (ja) * | 1985-02-01 | 1986-08-09 | Hitachi Ltd | 半導体用露光装置 |
| JPS62273727A (ja) * | 1986-04-15 | 1987-11-27 | ハンプシヤ− インスツルメンツ,インコ−ポレ−テツド | X線リソグラフイ装置及び処理方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50152670A (ja) * | 1974-05-28 | 1975-12-08 | ||
| JPS5147026A (ja) * | 1974-08-21 | 1976-04-22 | Ciba Geigy | Biizukeijonoganryososeibutsunoseizoho |
-
1984
- 1984-07-31 JP JP16268984A patent/JPS6140029A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50152670A (ja) * | 1974-05-28 | 1975-12-08 | ||
| JPS5147026A (ja) * | 1974-08-21 | 1976-04-22 | Ciba Geigy | Biizukeijonoganryososeibutsunoseizoho |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61177726A (ja) * | 1985-02-01 | 1986-08-09 | Hitachi Ltd | 半導体用露光装置 |
| JPS62273727A (ja) * | 1986-04-15 | 1987-11-27 | ハンプシヤ− インスツルメンツ,インコ−ポレ−テツド | X線リソグラフイ装置及び処理方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0141250B2 (ja) | 1989-09-04 |
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