JPS6142722A - 磁気記録方法 - Google Patents
磁気記録方法Info
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- JPS6142722A JPS6142722A JP59163249A JP16324984A JPS6142722A JP S6142722 A JPS6142722 A JP S6142722A JP 59163249 A JP59163249 A JP 59163249A JP 16324984 A JP16324984 A JP 16324984A JP S6142722 A JPS6142722 A JP S6142722A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
工 発明の背景
技術分野
本発明は、磁気記jI!媒体、特に金属薄膜型の磁気記
録媒体と、その媒体を用いた磁気記録方法に関する。
録媒体と、その媒体を用いた磁気記録方法に関する。
先行技術とその問題点
ビデオ用、オーディオ用等の磁気記録媒体として、テー
プ化して巻回したときのコンパクト性から、可とう性基
板上に金属薄膜型の磁性層を有するものの開発が活発に
行なわれている。
プ化して巻回したときのコンパクト性から、可とう性基
板上に金属薄膜型の磁性層を有するものの開発が活発に
行なわれている。
このような連続薄膜型の媒体の磁性層としては、特性上
、基体法線に対し所定の傾斜角にて蒸着を行なう、いわ
ゆる斜め蒸着法によって形成したCo系、Co−Ni系
等からなる蒸着膜が好適である。
、基体法線に対し所定の傾斜角にて蒸着を行なう、いわ
ゆる斜め蒸着法によって形成したCo系、Co−Ni系
等からなる蒸着膜が好適である。
これらの磁気記録媒体においては、特に磁気テープおよ
び磁気ディスクの用途で1±、摩擦係数が小さく、円滑
で安定な走行性を示すこと。
び磁気ディスクの用途で1±、摩擦係数が小さく、円滑
で安定な走行性を示すこと。
耐摩耗性に優れ、長時間にわたって安定走行を行ないう
ること、置かれた環境条件に対して安定でいつでも確実
な再生ができること、耐久性のあること等が強く求めら
れる。
ること、置かれた環境条件に対して安定でいつでも確実
な再生ができること、耐久性のあること等が強く求めら
れる。
従来より、耐久性を改善する目的で1種々の可とう性基
板に対する前処理が行なわれてきた。
板に対する前処理が行なわれてきた。
前処理としては、薬液処理、コーティング処理、コロナ
放電処理等がある。
放電処理等がある。
薬液処理法としては、猷、アルカリ処理がある。 もっ
とも効果的な薬液処理方法としては、クロム酸処理液の
ような強酸/強酸剤の薬液を用いて表面を酸化させ、カ
ルボニル基やカルボキシル基を導入して表面をエツチン
グするものがある。
とも効果的な薬液処理方法としては、クロム酸処理液の
ような強酸/強酸剤の薬液を用いて表面を酸化させ、カ
ルボニル基やカルボキシル基を導入して表面をエツチン
グするものがある。
しかしながら、薬液処理方法においては、フィルム表面
の洗浄、乾燥が必要のみならず、廃液処理に多大な投資
を必要とすることが欠点である。 特に、クロム酸処理
は、廃液が公害規制の対象となるので、今日では利用が
少なくなってきている。
の洗浄、乾燥が必要のみならず、廃液処理に多大な投資
を必要とすることが欠点である。 特に、クロム酸処理
は、廃液が公害規制の対象となるので、今日では利用が
少なくなってきている。
フィルムのコーティング法においては、アンダーコート
に含まれるバインダー系と磁性層との相互作用が必要で
ある。
に含まれるバインダー系と磁性層との相互作用が必要で
ある。
すなわち、磁性層のバインダー、顔料の組成の変更があ
れば、それに最適なアンダーコーティング組成の選択が
必要である。 コーティング法においては、このような
ソフト技術が必要のみならず、塗布、乾燥のプロセスを
準備することを必要とし、また、コーティング原材料を
消費するため製品の゛コストアップが避けられない。
れば、それに最適なアンダーコーティング組成の選択が
必要である。 コーティング法においては、このような
ソフト技術が必要のみならず、塗布、乾燥のプロセスを
準備することを必要とし、また、コーティング原材料を
消費するため製品の゛コストアップが避けられない。
コロナ放電処理は、ドライプロセスであるため、洗浄、
乾燥や廃液処理のプロセスを必要としないことが有利で
ある。
乾燥や廃液処理のプロセスを必要としないことが有利で
ある。
このコロナ処理は、古くから行なわれており、接着性、
ぬれ特性、印刷性の改善効果がある。
ぬれ特性、印刷性の改善効果がある。
しかし、コロナ処理では、今後ますます要求が厳しくな
る高性悌な磁気記録媒体の特性を満足できないという問
題がある。
る高性悌な磁気記録媒体の特性を満足できないという問
題がある。
その他の方法としては、火炎処理があるが寸法安定性の
要求が厳しく磁気記録媒体には利用できない。
要求が厳しく磁気記録媒体には利用できない。
このような実状からベースフィルムに対するプラズマ処
理の提案がなされている。
理の提案がなされている。
プラズマ処理法は、一工程のみから成り、ドライプロセ
スであるので乾燥、廃液処理が必要でなく、バインダー
等の原材料を消費しないという利点がある。 さらに、
プラズマ処理法は、高速での連続生産が可能であるため
、磁気記録媒体製造工程に容易に組み込むことができ、
その生産性を阻害しない。
スであるので乾燥、廃液処理が必要でなく、バインダー
等の原材料を消費しないという利点がある。 さらに、
プラズマ処理法は、高速での連続生産が可能であるため
、磁気記録媒体製造工程に容易に組み込むことができ、
その生産性を阻害しない。
ベースフィルムに対するプラズマ処理としては、例えば
、特公昭57−42889号には、空気、酸素、窒素、
水素、ヘリウム、アルゴン等を処理ガスとして、ラジオ
波あるいはマイクロ波の周波数のプラズマで処理する技
術が開示されている。
、特公昭57−42889号には、空気、酸素、窒素、
水素、ヘリウム、アルゴン等を処理ガスとして、ラジオ
波あるいはマイクロ波の周波数のプラズマで処理する技
術が開示されている。
また、特開昭58−77030号には、酸素、アルゴン
、ヘリウム、ネオン、あるいは窒素を処理ガスとして、
商用周波数にて所定の印加電流でプラズマ処理する技術
が開示されている。
、ヘリウム、ネオン、あるいは窒素を処理ガスとして、
商用周波数にて所定の印加電流でプラズマ処理する技術
が開示されている。
これらプラズマ処理によれば、磁性層との接着力が向上
し、耐久性が向上する。
し、耐久性が向上する。
しかし、接着強度および耐久性の点では未だ不十分であ
る。
る。
他方、強磁性金属薄膜型磁性層を有する磁気記録媒体は
、スペーシングロスによる特性低下が大きいので、その
表面をできるたけ平滑化する必要がある。
、スペーシングロスによる特性低下が大きいので、その
表面をできるたけ平滑化する必要がある。
しかし、あまり表面を平坦にすると、摩擦が大きくなり
、ヘッドタッチ、走行面で支障が出る。
、ヘッドタッチ、走行面で支障が出る。
ところで、金属薄膜型の媒体では、磁性層が0.05〜
0.5−と非常にうすいため、媒体の表面性は基板の表
面性に依存する。
0.5−と非常にうすいため、媒体の表面性は基板の表
面性に依存する。
このため、基板表面に比較的なだらかな、いわゆるしわ
状、ミミズ状等の突起を設ける旨が提案されている(特
開昭53−116115号等)。
状、ミミズ状等の突起を設ける旨が提案されている(特
開昭53−116115号等)。
また、特開昭58−68227号、同58−10022
1号には、基体表面に微粒子を配設して、光学顕微鏡で
50〜400倍で観察でき、しかも触針式表面粗さ測定
装置で高さが実測できる凹凸(高さ100〜2000人
)を設ける旨が提案されている。
1号には、基体表面に微粒子を配設して、光学顕微鏡で
50〜400倍で観察でき、しかも触針式表面粗さ測定
装置で高さが実測できる凹凸(高さ100〜2000人
)を設ける旨が提案されている。
そして、これらにより、走行摩擦、走行耐久性、走行安
定性等の物性や、電磁変換特性が改良されるものである
。
定性等の物性や、電磁変換特性が改良されるものである
。
ところで、磁性層としての強磁性金属Q膜層の形成を所
定の分圧の酸素の存在下で行なう等により、磁性層中に
酸素を含有させ、とりわけ強磁性金属薄i層表面に1強
磁性金属(Co。
定の分圧の酸素の存在下で行なう等により、磁性層中に
酸素を含有させ、とりわけ強磁性金属薄i層表面に1強
磁性金属(Co。
Ni)の酸化物の被膜を形成すると、各種物性、電磁変
換特性等が向上する。
換特性等が向上する。
このように、特に磁性暦表面に酸化物を形成する場合、
前記した、しわ状等のなだらかな突起では、その効果は
ほとんどない。
前記した、しわ状等のなだらかな突起では、その効果は
ほとんどない。
一方、特開昭58−68227号の微小突起密度は、た
かだか1Mあたり106程度である・ この場合、ビデ
オレコーダーでは、最短記録波長が1−未満、例えば0
.7−程度であり、このような記録波長では、庸化物被
膜が磁性層表面に存在する場合、物性、電磁変換特性と
も不十分である。
かだか1Mあたり106程度である・ この場合、ビデ
オレコーダーでは、最短記録波長が1−未満、例えば0
.7−程度であり、このような記録波長では、庸化物被
膜が磁性層表面に存在する場合、物性、電磁変換特性と
も不十分である。
他方、特開昭58−100221号の実施例1.2では
、300〜500人の高さの微小突起を1mあたり10
4〜106個配設した例が示される。 しかし、この場
合には、磁性層表面に酸化物が形成されていないと思わ
れ、磁性層表面に酸化物被膜を形成したときと異なる走
行耐久性の挙動を示し、酸化物被膜を形成するときには
、微小突起のより最適なサイズと密度との関係が必要と
される。
、300〜500人の高さの微小突起を1mあたり10
4〜106個配設した例が示される。 しかし、この場
合には、磁性層表面に酸化物が形成されていないと思わ
れ、磁性層表面に酸化物被膜を形成したときと異なる走
行耐久性の挙動を示し、酸化物被膜を形成するときには
、微小突起のより最適なサイズと密度との関係が必要と
される。
すなりち、従来の金属薄膜型の媒体は、耐久性、接着強
度、物性、電磁変換特性とも、すべて良好な特性を示す
には至っていない。
度、物性、電磁変換特性とも、すべて良好な特性を示す
には至っていない。
■ 発明の目的
本発明の目的は、耐久性と磁性層の接着強度とが格段と
向上した、プラズマ処理を施した可とう性基板を用いた
磁気記録媒体を提供し、さらに物性、電磁変換性とも最
適な特性をうることのできる微小突起のサイズと密着と
を有する金属薄膜型の磁気記録媒体を提供し、さらにこ
のような媒体を用いた磁気記録方法を提供することにあ
る。
向上した、プラズマ処理を施した可とう性基板を用いた
磁気記録媒体を提供し、さらに物性、電磁変換性とも最
適な特性をうることのできる微小突起のサイズと密着と
を有する金属薄膜型の磁気記録媒体を提供し、さらにこ
のような媒体を用いた磁気記録方法を提供することにあ
る。
このような目的は下記の本発明によって達成される。
すなわち本発明は、
可とう性基板上にCoを主成分とする強磁性金属薄膜層
を設けてなる磁気記録媒体において、 10KHz〜200 KHzの周波数のプラズマ処理を
施した可とう性基板上に、強磁性金属薄膜層を有し、こ
の強磁性金属薄膜層が酸素を含んでおり、かつ磁気ヘッ
ドのギャップ長をaμmとしたとき、磁気記録媒体が表
面に1mm2当り平均lQ5/a2個以上の突起を有し
、しかも突起が30〜300人の高さを有することを特
徴とする磁気記録媒体である。
を設けてなる磁気記録媒体において、 10KHz〜200 KHzの周波数のプラズマ処理を
施した可とう性基板上に、強磁性金属薄膜層を有し、こ
の強磁性金属薄膜層が酸素を含んでおり、かつ磁気ヘッ
ドのギャップ長をaμmとしたとき、磁気記録媒体が表
面に1mm2当り平均lQ5/a2個以上の突起を有し
、しかも突起が30〜300人の高さを有することを特
徴とする磁気記録媒体である。
またm2の発明は、
可とう性基板上にCoを主成分とする強磁性金属薄膜層
を設けてなる磁気記録媒体を用いて、ri1気ヘッドに
より記録再生を行う磁気記録方法において、 10KHz〜200 KHzの周波数のプラズマ処理を
施した可とう性基板上に、強磁性金属薄膜を有し、この
強磁性金属薄膜層が酸素を含んでおり、かつ磁気ヘッド
のギャップ長をaμmとしたとき、磁気記録媒体が表面
に1mm2当り平均lQ 5 / 32個以上の突起を
有し、しかも突起が30〜300人の高さを有すること
を特徴とする磁気記録方法である。
を設けてなる磁気記録媒体を用いて、ri1気ヘッドに
より記録再生を行う磁気記録方法において、 10KHz〜200 KHzの周波数のプラズマ処理を
施した可とう性基板上に、強磁性金属薄膜を有し、この
強磁性金属薄膜層が酸素を含んでおり、かつ磁気ヘッド
のギャップ長をaμmとしたとき、磁気記録媒体が表面
に1mm2当り平均lQ 5 / 32個以上の突起を
有し、しかも突起が30〜300人の高さを有すること
を特徴とする磁気記録方法である。
■ 発明の具体的構成
以下、本発明の具体的構成について詳細に説明する。
本発明の磁気記録媒体の表面には、微細な突起が所定の
密度で設けられる。
密度で設けられる。
微細な突起は、30〜300人、より好ましくは50〜
250人の高さを有するものである。
250人の高さを有するものである。
すなわち1本発明の突起は、光学顕微鏡で観察でき、か
つ触針型表面粗さ計で測定できるものではなく、走査型
電子lA微鏡にて観察できる程度のものである。
つ触針型表面粗さ計で測定できるものではなく、走査型
電子lA微鏡にて観察できる程度のものである。
突起高さが300人をこえ、光学顕微鏡にて観察できる
ものとなると、電磁変換特性の劣化と、走行安定性の低
下をもたらす。
ものとなると、電磁変換特性の劣化と、走行安定性の低
下をもたらす。
また、50人未満となると、物性の向上の実効がない。
そして、その密度はl mm2あたり平均105/a2
個、より好ましくは2X10[i/a2〜1X109/
a2個である。
個、より好ましくは2X10[i/a2〜1X109/
a2個である。
この場合、aはJLm単位にて、磁気ヘッドのギャップ
長を表わす。
長を表わす。
そして、磁気ヘッドのギャップ長は、0.1〜0.5p
m、特に0.1−0.4pmとされる。
m、特に0.1−0.4pmとされる。
なお、突起密度が105/a2個/ 5rs2.より好
ましくは2X106/a2個/mm2未満となると、ノ
イズが増大し、スチル特性が低下する等物性の低下をき
たし、実用に耐えない。
ましくは2X106/a2個/mm2未満となると、ノ
イズが増大し、スチル特性が低下する等物性の低下をき
たし、実用に耐えない。
また、109/a2個/1■2をこえると、物性上の効
果が少なくなってしまう。
果が少なくなってしまう。
このような突起を設けるには、通常、基板上に微粒子を
配設すればよい、 微粒子径は。
配設すればよい、 微粒子径は。
30〜300人、特に50〜250人とすればよく、こ
れにより微粒子径を対応した微細突起が形成される。
れにより微粒子径を対応した微細突起が形成される。
用いる微粒子としては1通常コロイド粒子として知られ
ているものであって1例えば5i02(=ロイダルシリ
カ)、A1203(アルミナゾル)、MgO,TiO2
。
ているものであって1例えば5i02(=ロイダルシリ
カ)、A1203(アルミナゾル)、MgO,TiO2
。
ZnO、Fe203 、ジルコニア、CdO。
NiO,CaWO4、CaCo3。
BaCo3、CoCo3’、BaTiO3。
Ti(チタンブラック)、Au、Ag、Cu。
Ni、Fe、各種ヒドロシルや、樹脂粒子等が使用可能
である。 この場合、特に無機物質を用いるのが好まし
い。
である。 この場合、特に無機物質を用いるのが好まし
い。
このような微粒子は、各種溶媒を用いて塗布液とし、こ
れを基板状に塗布、乾燥してもよく、あるいは塗布液中
に各種水性エマルジョン等の樹脂分を添加したものを塗
布、乾燥しても゛よい。
れを基板状に塗布、乾燥してもよく、あるいは塗布液中
に各種水性エマルジョン等の樹脂分を添加したものを塗
布、乾燥しても゛よい。
なお、本発明においては、基板Ejlr按プラズマ処理
を施してもよいが、基板上に、上記塗布液を塗布後、プ
ラズマ処理することが好ましい。
を施してもよいが、基板上に、上記塗布液を塗布後、プ
ラズマ処理することが好ましい。
このように、微粒子を少なくとも一方の面に配設した可
とう性基板の少なくとも磁性層形成面には、プラズマ処
理が施される。
とう性基板の少なくとも磁性層形成面には、プラズマ処
理が施される。
プラズマ処理法は、処理ガスとして無機ガスを用い、こ
のガスの放電プラズマを可とう性基板に接触させること
により可とう性基板表面をプラズマ処理するものである
。
のガスの放電プラズマを可とう性基板に接触させること
により可とう性基板表面をプラズマ処理するものである
。
原理について概説すると、9&体を低圧に保ち電場を作
用させると、気体中に少量存在する自由電子は、常圧に
比べ分子距離が非常に大きいため、電界加速を受け5〜
10eVの運動エネルギー(電子温度)を獲得する。
用させると、気体中に少量存在する自由電子は、常圧に
比べ分子距離が非常に大きいため、電界加速を受け5〜
10eVの運動エネルギー(電子温度)を獲得する。
この加速電子が原子や分子に衝突すると、原子軌道や分
子軌道を分断し、これらを電子、イオン、中性ラジカル
など、通常の状態では不安定の化学種に解離させる。
子軌道を分断し、これらを電子、イオン、中性ラジカル
など、通常の状態では不安定の化学種に解離させる。
解離した電子は再び電界加速を受けて、別の原子や分子
を解離させるが、この連鎖作用で気体はたちまち高度の
電離状態となる。 そしてこれはプラズマガスと呼ばれ
ている。
を解離させるが、この連鎖作用で気体はたちまち高度の
電離状態となる。 そしてこれはプラズマガスと呼ばれ
ている。
気体分子は電子との衝突の機会が少ないのでエネルギー
をあまり吸収せず、常温に近い温度に保たれている。
をあまり吸収せず、常温に近い温度に保たれている。
このように、電子のM!&エネルギー(1を子温度)と
、分子の熱Mlh (ガス温度)が分離した系は低温プ
ラズマと呼ばれ、ここでは化学種が比較的原型を保った
まま重合等の加成的化学皮応を進めうる状況を創出して
おり、本発明はこの状況を利用して可とう性基板をプラ
ズマ処理しようとするものである。 なお低温プラズマ
を利用するため、可とう性基板の熱影響は全くない。
、分子の熱Mlh (ガス温度)が分離した系は低温プ
ラズマと呼ばれ、ここでは化学種が比較的原型を保った
まま重合等の加成的化学皮応を進めうる状況を創出して
おり、本発明はこの状況を利用して可とう性基板をプラ
ズマ処理しようとするものである。 なお低温プラズマ
を利用するため、可とう性基板の熱影響は全くない。
プラズマにより、可とう性基板表面を処理する装置例が
第1図に示しである。 第1rgは、周波数可変型の電
源を泪いたプラズマ処理装置である。
第1図に示しである。 第1rgは、周波数可変型の電
源を泪いたプラズマ処理装置である。
第1図において、反応容器Hには、処理ガス源511ま
たは512から処理ガスがそれぞれマスフローコントロ
ーラ521およ(1522を経て供給される。 ガス源
lまたは2から別々のガスを供給する場合は、混合器5
3において混合して供給する。
たは512から処理ガスがそれぞれマスフローコントロ
ーラ521およ(1522を経て供給される。 ガス源
lまたは2から別々のガスを供給する場合は、混合器5
3において混合して供給する。
処理ガスは、各々1〜250m1/分の流量範囲をとり
うる。
うる。
反応容器R内には、被処理体である微粒子を配設した可
とう性基板の支持装置が設置され、ここでは磁気テープ
用のフィルムの処理を目的として、繰出しロール561
と巻取りロール562とが示しである。
とう性基板の支持装置が設置され、ここでは磁気テープ
用のフィルムの処理を目的として、繰出しロール561
と巻取りロール562とが示しである。
被処理磁気記録媒体用可とう性基板の形態に応じて様々
の支持装置が使用でき、例えばa置式の回転支持装置が
使用されうる。
の支持装置が使用でき、例えばa置式の回転支持装置が
使用されうる。
被処理可とう性基板を間に挟んで対向する電極551.
552が設けられており、一方の電極551は周波数可
変型の電源54に接続され、他方の電極552は接地さ
れている。
552が設けられており、一方の電極551は周波数可
変型の電源54に接続され、他方の電極552は接地さ
れている。
さらに、反応容器R内には、容器内を排気するための真
空系統が配備され、そしてこれは液体窒素トラップ57
、油回転ポンプ58および真空コントローラ59を含む
、 これら真空系統は反応容器内を0.01〜10To
rrの真空度の範囲に維持する。
空系統が配備され、そしてこれは液体窒素トラップ57
、油回転ポンプ58および真空コントローラ59を含む
、 これら真空系統は反応容器内を0.01〜10To
rrの真空度の範囲に維持する。
操作においては1反応容器R内がまず103Torr以
下になるまで油回転ポンプにより容器内を排気し、その
後処理ガスが所定の流量において容器内に混合状態で供
給される。
下になるまで油回転ポンプにより容器内を排気し、その
後処理ガスが所定の流量において容器内に混合状態で供
給される。
このとき1反応容器内の真空は0.O1〜10Torr
の範囲に管理される。
の範囲に管理される。
被処理可とう性基板の移行速度ならびに処理ガスの流量
が安定すると、周波数可変型電源がオンにされる。 こ
うして、移行中のベースフィルムがプラズマ処理される
。
が安定すると、周波数可変型電源がオンにされる。 こ
うして、移行中のベースフィルムがプラズマ処理される
。
このようなプラズマ処理において、処理ガスとしては、
窒素、アルゴン等を単独で用いることができる。
窒素、アルゴン等を単独で用いることができる。
この場合、より好ましくは、酸素を含む無機ガスを用い
る。
る。
無機ガス中の酸素含有量は5〜100%である。 これ
は、5%未満となると、本発明の実効がなくなるからで
ある。
は、5%未満となると、本発明の実効がなくなるからで
ある。
なお、無機ガス中に酸素以外のガスが含まれる場合、含
有ガスは、アルゴン、ネオン、ヘリウム、窒素、水素等
の1.l!iないし2種以上いずれであってもよい、
また、無機ガスとして空気を用・いてもよい。
有ガスは、アルゴン、ネオン、ヘリウム、窒素、水素等
の1.l!iないし2種以上いずれであってもよい、
また、無機ガスとして空気を用・いてもよい。
さらに、電源の周波数は、10KHz〜200KHzと
される。
される。
周波数が、10KHzより小、ないし200KHzより
大となると、耐久性が急激に、減少し。
大となると、耐久性が急激に、減少し。
接層強度が急激に低くなる。
なお、印加電流、処理時間等は通常の条件とすればよい
。
。
以上のようにプラズマ処理を施される可とう性基板の厚
さは、種々のものであってよいが、特に5〜20−であ
ることが好ましい。
さは、種々のものであってよいが、特に5〜20−であ
ることが好ましい。
本発明の磁気記録媒体に用いる可とう性基板の材質とし
ては、非磁性プラスチックであれば特に制限はないが、
通常は、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル
等を用いる。 また、その形状、寸法、厚さには制限は
なく、用途に応じたものとすればよい。
ては、非磁性プラスチックであれば特に制限はないが、
通常は、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル
等を用いる。 また、その形状、寸法、厚さには制限は
なく、用途に応じたものとすればよい。
なお、微粒子配設に際し、樹脂分を用いる場合、これら
微粒子にもとづく微細突起に重畳してゆるやかな突起を
設けることもできるが、η常はこのようにする必要はな
い。
微粒子にもとづく微細突起に重畳してゆるやかな突起を
設けることもできるが、η常はこのようにする必要はな
い。
また、基板と強磁性金属薄aSとの間には、必要に応じ
、公知の各種下地層を介在させることもできる。
、公知の各種下地層を介在させることもできる。
そして、基板の強磁性金属薄ll51層形成面の裏面に
は、公知の種々のバックコート層が形成されていてもよ
い。
は、公知の種々のバックコート層が形成されていてもよ
い。
また、強磁性金属薄膜層表面には、公知の種々のトップ
コート層が形成されていてもよい。
コート層が形成されていてもよい。
本発明における磁性層としての強磁性金属薄膜層は、G
oを主成分とし、これに0を含み、さらに必要に応じN
iおよび/またはCrが含有される組成を有する。
oを主成分とし、これに0を含み、さらに必要に応じN
iおよび/またはCrが含有される組成を有する。
すなわち、好ましい態様においては、Co単独からなっ
てもよく、CoとNiからなってもよい、 Niが含ま
れる場合、Co / N iの重量比は、1.5以上で
あることが好ましい。
てもよく、CoとNiからなってもよい、 Niが含ま
れる場合、Co / N iの重量比は、1.5以上で
あることが好ましい。
さらに、強磁性金属薄膜層中には、Crが含有されてい
てもよい。
てもよい。
Crが含有されると、電磁変換特性が向上し、出力およ
びS/N比が向上し、さらに膜強度も向上する。
びS/N比が向上し、さらに膜強度も向上する。
このような場合、Cr / CoあるいはCr/(Go
+Ni)の重量比は0.001〜0、l、より好ましく
は、0.005〜0.05であることが好ましい。
+Ni)の重量比は0.001〜0、l、より好ましく
は、0.005〜0.05であることが好ましい。
さらに1強磁性金属薄膜中にはOが含有されるものであ
る。
る。
強磁性金属薄膜中の平均酸素量は、原子比、特にO/(
CoまたはCo+Ni)の原子比で、0.5以下、より
好ましくは0.05〜0.5であることが好ましい。
CoまたはCo+Ni)の原子比で、0.5以下、より
好ましくは0.05〜0.5であることが好ましい。
この場合1強磁性金属薄膜層の表面では、酸素が強磁性
金属(Co、Ni)と酸化物を形成している。
金属(Co、Ni)と酸化物を形成している。
すなわち、表面部、特に表面から50〜500人、より
好ましくは50〜200人の厚さの範囲には、オージェ
分光分析により、酸化物を示すピークが認められるもの
である。 七″して、この酸化物層の酸素含有量は、5
X子比で0.5〜1.0程度である。
好ましくは50〜200人の厚さの範囲には、オージェ
分光分析により、酸化物を示すピークが認められるもの
である。 七″して、この酸化物層の酸素含有量は、5
X子比で0.5〜1.0程度である。
なお、このような強磁性金属薄膜中には、さらに他の微
量成分、特に遷移元素、例えばFe 、Mn、V、Zr
、Nb、Ta、Ti *Z n + M o * W
+ Cu等が含まれていてもよい。
量成分、特に遷移元素、例えばFe 、Mn、V、Zr
、Nb、Ta、Ti *Z n + M o * W
+ Cu等が含まれていてもよい。
このような強磁性金属薄膜層は、好ましい態様において
、上記したGoを主成分とする柱状結晶粒の集合体から
なる。
、上記したGoを主成分とする柱状結晶粒の集合体から
なる。
この場合、強磁性金属薄HMの厚さは、0.05〜0.
5gm、好ましくは、0.07〜0.3ルmとされる。
5gm、好ましくは、0.07〜0.3ルmとされる。
そして、柱状の結晶粒は、薄膜の厚さ方向のほぼ全域に
亘る長さをもち、その長手方向は、基体の主面の法線に
対して、lO〜70°の範囲にて傾斜していることが好
ましい。
亘る長さをもち、その長手方向は、基体の主面の法線に
対して、lO〜70°の範囲にて傾斜していることが好
ましい。
なお、酸素は、表面部の柱状の結晶粒の表面に前記のと
おり化合物の形で存在するものである。
おり化合物の形で存在するものである。
また、強磁性金属薄膜層の酸素の濃度勾配の何如には特
に制限はない。
に制限はない。
また、結晶粒の短径は、50〜500人程度の長さをも
つことが好ましい。
つことが好ましい。
また、もし必要であるならば、強磁性金属薄膜層を複数
に分割して、その間に非強磁性金属薄膜層を介在させて
もよい。
に分割して、その間に非強磁性金属薄膜層を介在させて
もよい。
本発明において、磁性層の形成は電解蒸着、イオンブレ
ーティング、メッキ等を用いることもできるが、いわゆ
る斜め蒸着法によって形成されることが好ましい。
ーティング、メッキ等を用いることもできるが、いわゆ
る斜め蒸着法によって形成されることが好ましい。
この場合、基体法線に対する、蒸着物質の入射角の最小
値は、20”以上とすることが好ましい。
値は、20”以上とすることが好ましい。
入射角が20@未満となると、電磁変換特性が低下する
。
。
なお、蒸着雰囲気は、通常、アルゴン、ヘリウム、真空
等の不活性雰囲気に、酸素ガスを含む雰囲気とし、10
−5〜100Pa程度の圧力とし、また、蒸着距離、基
体搬送方向、キャツやマスクの構造、配置等は公知の条
件と同様にすればよい。
等の不活性雰囲気に、酸素ガスを含む雰囲気とし、10
−5〜100Pa程度の圧力とし、また、蒸着距離、基
体搬送方向、キャツやマスクの構造、配置等は公知の条
件と同様にすればよい。
そして、酸素雰囲気での蒸着により、表面に金属酸化物
の被膜が形成される。 なお、金属酸化物が形成される
酸素ガス分圧は、実験から容易に求めることができる。
の被膜が形成される。 なお、金属酸化物が形成される
酸素ガス分圧は、実験から容易に求めることができる。
なお、表面に金属酸化物の被膜を形成するには、各種酸
化処理が可能である。
化処理が可能である。
適用できる酸化処理としては下記のようなものがある。
1)乾式処理
a、エネルギー粒子処理
特願昭58−76640号に記載したように、蒸着の後
期に、イオンガンや中性ガンにより酸素をエネルギー粒
子として磁性層にさしむけるもの。
期に、イオンガンや中性ガンにより酸素をエネルギー粒
子として磁性層にさしむけるもの。
b、グロー処理
02 、H20,02+H20等とAr。
N2等の不活性ガスとを用い、これをグロー放電してプ
ラズマを生じさせ、このプラズマ中に磁性膜表面をさら
すもの。
ラズマを生じさせ、このプラズマ中に磁性膜表面をさら
すもの。
C0酸化性ガス
オゾン、加熱水蒸気等の酸化性ガスを吹きつけるもの。
d、加熱処理
加熱によって酸化を行うもの、 加熱温度は60〜15
0℃程度。
0℃程度。
2)湿式処理
a、陽極酸化
す、アルカリ処理
C1酸処理
クロム酸塩処理、過マンガン酸塩処理、リン酸塩処理等
を用いる。
を用いる。
d、酸化剤処理
H2O2等を用いる。
他方、用いる磁気ヘッドは5種々のものを用いることが
できるが、少なくともギャップ部端面を金属強磁性体で
構成したものであることが好ましい。
できるが、少なくともギャップ部端面を金属強磁性体で
構成したものであることが好ましい。
このとき諸特性が向上する。
この場合、コア全体を金属強磁性体から形成することも
でき、必要に応じ、ギャップ部端面を含むコアの一部を
金属強磁性体から形成することもできる。
でき、必要に応じ、ギャップ部端面を含むコアの一部を
金属強磁性体から形成することもできる。
第2図には、例えばフェライト等の強磁性体からなるコ
ア半休21.22のギャップ部端面に、1〜5μの厚さ
の金属強磁性体31.32をスパッタリング等により被
着し、ガラス質等のギャップ4を介して、コア゛半休2
1.22をつきあわせて磁気へ7ドlを構成した例が示
される。
ア半休21.22のギャップ部端面に、1〜5μの厚さ
の金属強磁性体31.32をスパッタリング等により被
着し、ガラス質等のギャップ4を介して、コア゛半休2
1.22をつきあわせて磁気へ7ドlを構成した例が示
される。
そして、その形状、構造等は公知のものであってよい。
ただ、ギャップ長aは、前記のとおり、通常、0.1〜
9.5g、特に0.1〜0.4μ、またトラック幅は、
通常、10〜50−1特に10〜20μとする。
9.5g、特に0.1〜0.4μ、またトラック幅は、
通常、10〜50−1特に10〜20μとする。
用いる金属強磁性体としては、種々のものが可能であり
、非品質磁性合金、センダスト、ハードパーマロイ、パ
ーマロイ等の薄膜、薄板等はいずれも使用可能である。
、非品質磁性合金、センダスト、ハードパーマロイ、パ
ーマロイ等の薄膜、薄板等はいずれも使用可能である。
ただ、これらのうちで、ヘッド目づまりないし付着が特
に少なく、電磁変換特性が良好なのは、Coを主成分と
する非品質磁性合金である。
に少なく、電磁変換特性が良好なのは、Coを主成分と
する非品質磁性合金である。
このような非品質磁性合金としては、C。
70〜95at%で、ガラス化元素として、Zr、Nb
、Ta、Hf、希土類元素、SL 。
、Ta、Hf、希土類元素、SL 。
B、P、C,Ai等、特にZrおよび/またはNbを5
〜20at%含有するものが好適である。
〜20at%含有するものが好適である。
あるいは、ガラス化元素として15〜35at%のSi
および/またはBを含むものも好適である。
および/またはBを含むものも好適である。
この場合、さらに10at%以下のFe 、 25at
%以下cy)Ni、総計20at%以下のCr。
%以下cy)Ni、総計20at%以下のCr。
T i 、 Ru 、 W 、 M o 、 T i
、 M u等の1種以上が含有されていてもよい。
、 M u等の1種以上が含有されていてもよい。
これら非品質磁性合金は、スパッタリングや高速急冷法
等を用いて、コア半体ないしギャツ゛プ部等として形成
される。
等を用いて、コア半体ないしギャツ゛プ部等として形成
される。
このような磁気ヘッドを用いて、前記した媒体に対して
記録再生を行なうには、いわゆるVH3方式、ベータ方
式、8■ビデオ方式、U規格方式等公知のビデオ録画シ
ステムに従えばよい。
記録再生を行なうには、いわゆるVH3方式、ベータ方
式、8■ビデオ方式、U規格方式等公知のビデオ録画シ
ステムに従えばよい。
■ 発明の具体的作用効果
本発明の磁気記録媒体は、各種の用途に用いられる。
磁気ヘッドのギャップ長をaμとしたとき。
磁気記録媒体が、表面に1mm2当り平均105/a2
個以上の突起を有し、しかも突起が30〜300人の高
さを有するので、走行摩擦が安定して小さくなる。
個以上の突起を有し、しかも突起が30〜300人の高
さを有するので、走行摩擦が安定して小さくなる。
さらに、処理ガス中の醜素分圧とプラズマ周波数を特定
範囲に制御したプラズマ処理を行うので、耐久性が臨界
的に向上′する。
範囲に制御したプラズマ処理を行うので、耐久性が臨界
的に向上′する。
特に、スチル特性が格段と向上し耐久走行性が格段と向
上する。
上する。
また、直接ないし下地層を介して設層される各種磁性層
との接着強度も格段と向上する。
との接着強度も格段と向上する。
また、走行耐久性が格段と向上し、多数回走行後も走行
摩擦の増大がなく、くりかえし録画、再生回数が格段と
向上し、スチル特性が格段と向上する。
摩擦の増大がなく、くりかえし録画、再生回数が格段と
向上し、スチル特性が格段と向上する。
そして、走行安定性も高く、高温高温から低温低湿まで
、巾広い条件下できわめて高い安定性を示す。
、巾広い条件下できわめて高い安定性を示す。
サラに、スペーシングロスにもとづく再生出力の低下も
きわめて少ない。
きわめて少ない。
また、ノイズもきわめて少ない。
そして、ヘッドのめづまりも少ない。
■ 発明の具体的実施例
以下、本発明の具体的実施例、比較例、実験例を示し、
本発明をさらに詳細に説明する。
本発明をさらに詳細に説明する。
実施例1
10μsのポリエチレンテレフタレート(PET)製の
基板に対して、コロイダルシリカを塗布し、微小突起を
有する基板を得た。
基板に対して、コロイダルシリカを塗布し、微小突起を
有する基板を得た。
これを、アルゴン、酸素およびこれらの混合ガスを処理
ガスとしてプラズマ処理した。
ガスとしてプラズマ処理した。
プラズマ処理条件は次の通りとした。
ガス流量: 100m見/分
Ar、02の単独ガス、Arと02
の混合ガスのいずれにても100
m11分の一定量とする。
真空度: 0 、5Torr
電 源 : 6 0Hz 〜2 、 45GH
z 、直流200W 基板走行速度:30m/分 この処理されたポリエステルフィルムを、真空槽中に設
けた冷却用ロールに沿わせて走行させながら、Co−N
i合金をEBガンで加熱しo2を導入しつつ蒸着した。
z 、直流200W 基板走行速度:30m/分 この処理されたポリエステルフィルムを、真空槽中に設
けた冷却用ロールに沿わせて走行させながら、Co−N
i合金をEBガンで加熱しo2を導入しつつ蒸着した。
この場合バックグラウンドの圧力は、5×10 ’ T
orr、02 導入後の圧力は2XlO−’Torr、
とした。
orr、02 導入後の圧力は2XlO−’Torr、
とした。
また、蒸着の入射角は、90’から30’まで連続的に
減少させた。
減少させた。
組成は、Co8O−Ni20 (重量比)であり、膜厚
は約1500人とした。
は約1500人とした。
本発明のサンプルでは、光学顕微鏡による観察および触
針型表面粗さ計による測定で、コロイダルシリカ塗布の
効果は検出されなかったが、走査型電子顕微鏡による高
倍率の観察では、磁性膜に突起がみられ、その大小は、
塗布したコロイダルシリカの大小に対応していた。
針型表面粗さ計による測定で、コロイダルシリカ塗布の
効果は検出されなかったが、走査型電子顕微鏡による高
倍率の観察では、磁性膜に突起がみられ、その大小は、
塗布したコロイダルシリカの大小に対応していた。
また、用いた磁気ヘッドは、フェライトヘッドと第1図
に示されるものであり、ギャップ長0.25u、トラッ
ク長20−のものである。
に示されるものであり、ギャップ長0.25u、トラッ
ク長20−のものである。
この場合、コア半休21.22はフェライト酸、ギャッ
プ端面は、スパッタリングにより形成した3μ厚のCo
O,8,Ni O,1゜Zn O,1(at%
)であり、ギャップ材はガラスとした。
プ端面は、スパッタリングにより形成した3μ厚のCo
O,8,Ni O,1゜Zn O,1(at%
)であり、ギャップ材はガラスとした。
磁性層表面の突起の高さおよび密度と特性の関係を表1
に示す。
に示す。
なお、特性、最短記録波長0.7μsの信号を用いて実
験を行なった。
験を行なった。
これらの結果から、本発明の効果があきらかである。
なお、105/a2は1.8 X 106 (mm2
) −’である。
) −’である。
なお、特性の測定方法は以下のとおりである。
(1)突起観察
SEM(走査型電子顕微m)およびTEM(透過型電子
11微m)を使用 (2)スチル特性 5 MHzで記録し、再生出力が最初の80%となる時
間をスチル特性として測定する。
11微m)を使用 (2)スチル特性 5 MHzで記録し、再生出力が最初の80%となる時
間をスチル特性として測定する。
(3)耐久走行テスト後の面状態
50パス走行後のテープ面の状態を光学顕微鏡で観察す
る。
る。
O:キズまったくなし
0:ヘッド走行面積の20%未満にキズ発生
Δ:ヘッド走行面積の20%以上にキズ発生
X:磁性層欠落
なお、これらの磁性層表面はオージェ分光分析の結果、
ioo〜200人の酸化物層で覆われていることが判明
した。
ioo〜200人の酸化物層で覆われていることが判明
した。
なお、上記実施例では、無機微粒子としてコロイダルシ
リカを用いたが、外の物質例えばアルミナゾル、チタン
ブラック、ジルコニアあるいは各種ヒドロシル等を用い
ても、同等の結果を得た。
リカを用いたが、外の物質例えばアルミナゾル、チタン
ブラック、ジルコニアあるいは各種ヒドロシル等を用い
ても、同等の結果を得た。
また、サンプルNo、15では、上記と同サイズのフェ
ライトヘッドを用いた。
ライトヘッドを用いた。
表1に示される結果から1本発明の効果があきらかであ
る。
る。
そこで、プラズマ処理されたポリエステルフィルムの接
触角を測定した。
触角を測定した。
lO〜200 KHzにてプラズマあ埋する際の処理ガ
ス中の酸素の含有量が5%以上になると、官能基の生成
が著しくなり、接触角が低下しぬれやすくなることが分
る。 また、プラズマ処理により表面がff+化され、
W B L (w@akBoundary Layer
)が除去される・これらの効果により、接着力、スチ
ル時間が大幅に改善される。
ス中の酸素の含有量が5%以上になると、官能基の生成
が著しくなり、接触角が低下しぬれやすくなることが分
る。 また、プラズマ処理により表面がff+化され、
W B L (w@akBoundary Layer
)が除去される・これらの効果により、接着力、スチ
ル時間が大幅に改善される。
この結果、フィルム表面の接触角の急激な低下により、
表面のぬれ性が向上され、それがプラズマ処理による表
面の浄化と相俟って接着強度を向上させ、ス4−11/
時間を延!!させてぃろことが判明した。
表面のぬれ性が向上され、それがプラズマ処理による表
面の浄化と相俟って接着強度を向上させ、ス4−11/
時間を延!!させてぃろことが判明した。
実施例2
突起高さ100人、密度2X10a個/−として、プラ
ズマ周波数および02量と、スチル時間との関係を測定
した。
ズマ周波数および02量と、スチル時間との関係を測定
した。
磁性層およびヘッドは実施例1と同一とした。
結果をm3図、第4図に示す。
これらの結果から1本発明の効果があきらかである。
tISl[は直流、交流および周波数可変型電源を使用
したプラズマ処理装置の概略図、第2図は用いる磁気ヘ
ッドの例を示す部分正面図、第3図は本発明および従来
技術で処理されたベースフィルムを用いる磁気記録媒体
の処理ガス中の厳秦含有量とスチル時間との関係を示す
プロット図、第4図はプラズマ周波数とスチル時間との
関係を示すプロット図である。 1−1ii気ヘツド、 4・・・ギヤ、プ、21.2
2・・・コア半休。 31.32・・・強磁性金属。 53・・・混合器、 54・・・直流、交流および周波数可変型電源、57・
・・液体窒素トラップ、 58・・・油回転ポンプ、 511.512・・・処理ガス源。 521.522・・・マスフローコントローラ、561
.562・・・繰出しおよび巻取りロール出願人 テ
ィーディーケー株式会社 FIG、I FIG、 4 手続補正目(眩) 昭和60年 8月12日 昭和59年特許願第163249号 2、発明の名称 磁気記録媒体および磁気記録方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都中央区日本橋−丁目13番1号名
称 (306)ティーディーケイ株式会社代表者
大 歳 寛 4、代理人 〒101 電話864−4498住 所
東京都千代田区岩本町3丁目2番2号明細書の「発
明の詳細な説明」の欄 6・補正の内容 (1)明細書第18頁第19行目のr103Jをrlo
−3Jと補正する。
したプラズマ処理装置の概略図、第2図は用いる磁気ヘ
ッドの例を示す部分正面図、第3図は本発明および従来
技術で処理されたベースフィルムを用いる磁気記録媒体
の処理ガス中の厳秦含有量とスチル時間との関係を示す
プロット図、第4図はプラズマ周波数とスチル時間との
関係を示すプロット図である。 1−1ii気ヘツド、 4・・・ギヤ、プ、21.2
2・・・コア半休。 31.32・・・強磁性金属。 53・・・混合器、 54・・・直流、交流および周波数可変型電源、57・
・・液体窒素トラップ、 58・・・油回転ポンプ、 511.512・・・処理ガス源。 521.522・・・マスフローコントローラ、561
.562・・・繰出しおよび巻取りロール出願人 テ
ィーディーケー株式会社 FIG、I FIG、 4 手続補正目(眩) 昭和60年 8月12日 昭和59年特許願第163249号 2、発明の名称 磁気記録媒体および磁気記録方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都中央区日本橋−丁目13番1号名
称 (306)ティーディーケイ株式会社代表者
大 歳 寛 4、代理人 〒101 電話864−4498住 所
東京都千代田区岩本町3丁目2番2号明細書の「発
明の詳細な説明」の欄 6・補正の内容 (1)明細書第18頁第19行目のr103Jをrlo
−3Jと補正する。
Claims (12)
- (1)可とう性基板上にCoを主成分とする強磁性金属
薄膜層を設けてなる磁気記録媒体において、 10KHz〜200KHzの周波数のプラズマ処理を施
した可とう性基板上に、強磁性金属薄膜層を有し、この
強磁性金属薄膜層が酸素を含んでおり、かつ磁気ヘッド
のギャップ長をaμmとしたとき、磁気記録媒体が表面
に1mm^2当り平均10^5/a^2個以上の突起を
有し、しかも突起が30〜300Åの高さを有すること
を特徴とする磁気記録媒体。 - (2)プラズマ処理の処理ガスが酸素を含んでいる特許
請求範囲第1項に記載の磁気記録媒体。 - (3)処理ガス中の酸素の含有量が5〜 100%である特許請求範囲第1項または第2項に記載
の磁気記録媒体。 - (4)可とう性基板上に径が30〜300Åの大きさを
有する微粒子を配設してプラズマ処理を施し、その上に
強磁性金属薄膜層を設けてなる特許請求範囲第1項ない
し第3項のいずれかに記載の磁気記録媒体。 - (5)強磁性金属薄膜が表面に強磁性金属の酸化物層を
有する特許請求範囲第1項ないし第4項のいずれかに記
載の磁気記録媒体。 - (6)突起個数が1mm^2当り平均2×10^6/a
^2〜1×10^9/a^2個である特許請求の範囲囲
第1項ないし第5項のいずれかに記載の磁気記録媒体。 - (7)a≦0.5μmである特許請求範囲第1項ないし
第6項のいずれかに記載の磁気記録媒体。 - (8)強磁性金属薄膜層が、CoとOとからなるか、C
oとOとNiおよびCrのうちの1種または2種とから
なる特許請求範囲第1項ないし第7項のいずれかに記載
の磁気記録媒体。 - (9)強磁性金属薄膜のO/(Coまたは Co+Ni)の原子比が0.5以下である特許請求範囲
第1項ないし第8項のいずれかに記載の磁気記録媒体。 - (10)可とう性基板上にCoを主成分とする強磁性金
属薄膜層を設けてなる磁気記録媒体を用いて、磁気ヘッ
ドにより記録再生を行う磁気記録方法において、 10KHz〜200KHzの周波数のプラズマ処理を施
した可とう性基板上に、強磁性金属薄膜を有し、この強
磁性金属薄膜層が酸素を含んでおり、かつ磁気ヘッドの
ギャップ長をaμmとしたとき、磁気記録媒体が表面に
1mm^2当り平均10^5/a^2個以上の突起を有
し、しかも突起が30〜300Åの高さを有することを
特徴とする磁気記録方法。 - (11)磁気ヘッドの少なくともギャップ部端面を金属
強磁性体で形成した特許請求範囲第10項に記載の磁気
記録方法。 - (12)金属強磁性体がCoを主成分とする非品質磁性
合金である特許請求範囲第10項または第11項に記載
の磁気記録方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59163249A JPH0687300B2 (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | 磁気記録方法 |
| US06/758,436 US4734810A (en) | 1984-08-02 | 1985-07-24 | Magnetic recording medium comprising protrusion on its surface and a plasma treated substrate and recording/reproducing method therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59163249A JPH0687300B2 (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | 磁気記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6142722A true JPS6142722A (ja) | 1986-03-01 |
| JPH0687300B2 JPH0687300B2 (ja) | 1994-11-02 |
Family
ID=15770189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59163249A Expired - Lifetime JPH0687300B2 (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | 磁気記録方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4734810A (ja) |
| JP (1) | JPH0687300B2 (ja) |
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| WO2020230754A1 (ja) * | 2019-05-13 | 2020-11-19 | 京セラ株式会社 | クランプ部材、工作機械及び切削加工物の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4734810A (en) | 1988-03-29 |
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