JPS6143239Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、小径部品例えばデイジタル式腕時計
用基板（以下基板という）にLSIチツプを搭載し
た後、回路試験機と接続しているプローブを該基
板の所定位置に接触し、該基板の特性検査を行な
い試験結果に応じて自動的に良品、不良品を分類
する接続装置ハンドラにおいて、ターンテーブル
上の基板品種ごとに設けたアダプタに作業者が１
個ずつセツトした基板の所定位置にターンテーブ
ルがインデツクスして停止後、複数本同時にプロ
ーブを接触する接触機構の構造に関するものであ
る。

従来、基板の検査な回路試験機と接続している
プローブを植えたプローブヘツドを作業者が一回
ずつ基板に押しつけ、接触が完了したら回路試験
機をスタートさせ、回路試験機の検査結果をラン
プ点灯等で確認し、基板セツト部からセツトした
ときのようにピンセツトでつまみ出して分類して
いた。

しかしながら、この方法は基板セツト、基板と
プローブとの接触、検査結果に応じた分類とすべ
て作業者が行なわなければならず、作業内容の改
善、作業工数の低減、誤分類の除去等を目的とし
て作業者は基板セツトのみ行なえば検査・分類を
自動的に行なう接続装置ハンドラの開発が必要と
された。とりわけ基板のプローブ接触部が小さい
ことから、ターンテーブルの回転停止時位置決め
精度をあまり必要としないで、基板とプローブと
の接触が図れる接触機構の必要性が生じた。

本考案の目的はターンテーブルの回転体上にイ
ンデツクス数と同数の被検査物に応じたアダプタ
を介して乗せた被検査物に任意ステージに固定し
てある回路試験機と接続しているプローブを確実
に接触するための接触機構を提供することにあ
る。

本考案によれば、制御部の信号により動作する
上下動駆動部に取り付け、かつターンテーブル８
のインデツクス後の停止位置の一個所で被試験物
の検査位置に対向してターンテーブル８の上部側
からプローブ１７を下向きに多数本保持している
プローブヘツド１６の真下に設けた圧縮ばね５を
内蔵している持ち上げヘツド６と、前記ターンテ
ーブル８の表面上にインデツクス数と同じ数だけ
設けた位置決め用ブツシユ１９を有するアダプタ
９と、このアダプタ９に基板１２を精度よく位置
決めする基板位置決めピン１８と、前記ターンテ
ーブル８に対して前記アダプタ９をがたを持たせ
て粗位置決めするターンテーブル８に設けたピン
１０と、前記アダプタ９の位置決め用ブツシユ１
９に入るピン２３を保持し圧縮ばね２１によつて
上下動できる前記プローブヘツド１６の真下でプ
ローブヘツド１６の取付用アツパーベース１３に
設けた位置決めストツパ２４とから構成した接触
機構が得られる。

次に本考案接触機構の一実施例を図面によつて
詳細に説明する。

第１図は、本考案による接触機構の一実施例を
示す構成図であり、ベース１にはガイドシヤフト
２を複数本立ててあり、このガイドシヤフト２に
上下動駆動部（図示省略）に取り付けてあつてガ
イドベアリング３により上下動する中間ベース４
が水平に取り付けてある。中間ベース４には圧縮
ばね５を内蔵している持ち上げヘツド６が打ち込
まれており、圧縮ばね５の強さを調整するのにナ
ツト７が組込まれている。

ターンテーブル８にはアダプタ９をがたを持た
せて粗位置決めするピン１０が打ち込まれてい
る。アダプタ９はピン１０で位置決めされるばか
穴１１と、基板１２とアツパーベース１３にピン
１４とねじ１５で位置決め固定したプローブヘツ
ド１６に植え込んだプローブ１７とが接触するた
めの基板位置決めピン１８と、位置決め用ブツシ
ユ１９とから構成している。位置決め用ブツシユ
１９は、持ち上げヘツド６でアダプタ９を持ち上
げたとき、アツパーベース１３に取り付けたベア
リング２０と圧縮ばね２１を内蔵しているホルダ
２２に打ち込んである先端をテーパ状にした位置
決めピン２３に入るようになつている。

位置決めストツパ２４は、アツパーベース１３
の下部にあり、アツパーベース１３に取り付けた
ホルダ２２のベアリング２０、ガイドシヤフト２
５圧縮ばね２１によりアダプタ９の一定水平面上
に水平に位置している。

第２図および第３図はアダプタ９の動きを第１
図をもとにして説明図的に図示したものであり、
第２図は持ち上げヘツド６が上下動駆動部により
ターンテーブル８の穴部を通り抜けてアダプタ９
の下面まで上昇したときの状態であり、第３図は
第２図より持ち上げヘツド６が上昇したもので、
基板１２とプローブ１７の接触が図れている状態
を示している。

第４図は、ターンテーブル８とアダプタ９と持
ち上げヘツド６の関係を示した平面図であり、ア
ダプタ９を水平に持ち上げるよう持ち上げヘツド
６は４本になつている。

なお、第１図〜第３図はばか穴１１と位置決め
用ブツシユ１９の位置関係を実際の配置の第４図
のようにせず、一部説明図的に表わしている。

以上の構成を持つ本考案の接触機構において、
この一実施例の動作を図面を参照しながら順を追
つて説明する。

基板１２をターンテーブル８上のアダプタ９に
基板位置決めピン１８を使用して作業者がセツト
すると、ターンテーブル８の制御部（省略）のコ
ントロールにより設定インデツクスで回転し、何
回か回転停止を繰り返した後プローブ１７が設け
てあるステージにくる。この状態が第１図に示す
ものである。

ターンテーブル８の回転が停止すると、上下動
駆動部が働らき中間ベース４を持ち上げるので、
持ち上げヘツド６もターンテーブル８の穴を通り
抜けて上昇する。上昇していつてアダプタ９の下
面に当たり、なお上下動駆動部が働らくのでアダ
プタ９はターンテーブル８面上より持ち上げら
れ、持ち上げヘツド６の上面に乗り、さらに上昇
する。上昇とすると、アダプタ９の基板１２を乗
せている上面がちようど真上に位置している位置
決めストツパ２４の下面に接触する。この状態
は、アダプタ９の位置決め用ブツシユ１９がプロ
ーブヘツド１６側から下方に向いて設置してある
位置決めピン２３と同一垂線上にあるので、位置
決めピン２３の先端と接触した状態となる。しか
し、プローブ１７と基板１２の接触部はまだ接触
していない。

このとき、位置決め用ブツシユ１９は先端をテ
ーパ状にした位置決めピン２３が入り易くなるよ
う、内面を「面取り」してあるので、多少水平方
向にずれてアダプタ９の位置を修正し接触した状
態になる。

この状態でさらに上昇するので、位置決めスト
ツパ２４は圧縮ばね２１がたわみベアリング２０
のガイドにより上昇する。従つて位置決めピン２
３はアダプタ９の位置決め用ブツシユ１９に確実
に入つていき、位置決めストツパ２４の上面がア
ツパーベース１３の下面に接触する寸前で上下動
駆動部が停止し第３図の状態になる。

これで、アツパーベース１３に取り付けたプロ
ーブヘツド１６に植え込んだプローブ１７と基板
１２の所定位置が確実に接触したことになる。従
つて、上下動駆動部がアツパーリミツトまで上昇
したことで働らく回路試験機によつて基板１２の
検査ができる。

検査終了後、前記上下動駆動部を下降すれば持
ち上げヘツド６が下降するので、圧縮ばね２１に
より位置決めストツパ２４でアダプタ９を押さえ
た状態で下降し、ある高さまで下降すると、圧縮
ばね２１が位置決めピン２３と位置決め用ブツシ
ユ２４をリジエクトする働らをする。

両者が完全に外れるとアダプタ９は、ターンテ
ーブル８の表面に落下し、また第１図の状態にな
る。このとき、アダプタ９のばか穴１１はピン１
０より大きいので多少アダプタ９が横ずれしても
よいようになつている。

また、持ち上げヘツド６は圧縮ばね５を内蔵し
ているので、位置決めストツパ２４にアダプタ９
を所定圧力以上に押しつけることもない。なお、
基板１２のセツトは検査中すなわちターンテーブ
ル８の停止中に次々と行なう。

以上、説明したように本考案によれば、ターン
テーブル等の回転体を用いてインデツクス後プロ
ーブと被試験物の基板の接触部とを接触させる時
に必要なターンテーブルのインデツクス停止精度
をさほど必要とせず、基板を乗せているアダプタ
がプローブに対してセルフアライメントする機能
を有しており、また、接触後インデツクスするた
めに基板がプローブから離れる時には、アダプタ
のばか穴のためターンテーブル上に設けたピンに
スムースに入ることができるので、次のインデツ
クスに安心して進めることができる。従つて、例
えば腕時計用基板等の検査の時接触する端子面積
が小さい（巾0.5mm、長1.5mm程度）ものに確実に
プローブを接触することができ、停止精度を上げ
るために必要な機構を不要にし、ま停止精度を上
げるためにはどうしても小径のターンテーブルに
ならざるを得なかつたものを大径のターンテーブ
ルにすることができるので、基板のセツト枚数も
ふやせ作業工数の低減が図れる接触機構が得られ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案による一実施例を示す接触機構
の構成図、第２図および第３図は被検査物とプロ
ーブが接触する過程を示す説明図、第４図は被検
査物を乗せるアダプタ関係を示す平面図である。 なお図において、１はベース、２はガイドシヤ
フト、３はガイドベアリング、４は中間ベース、
５は圧縮ばね、６は持ち上げヘツド、７はナツ
ト、８はターンテーブル、９はアダプタ、１０は
ピン、１１はばか穴、１２は基板、１３はアツパ
ーベース、１４はピン、１５はねじ、１６はプロ
ーブヘツド、１７はプローブ、１８は基板位置決
めピン、１９は位置決め用ブツシユ、２０はベア
リング、２１は圧縮ばね、２はホルダ、２３は位
置決めピン、２４は位置決めストツパ、２５はガ
イドシヤフトである。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 小径部品のコネクタ端子に回路試験機と接続し
   ているプローブを接触して、特性検査を行ない試
   験結果に応じて分類する接続装置ハンドラにおい
   て、制御部の信号により動作する上下動駆動部に
   取り付け、かつターンテーブル８のインデツクス
   後の停止位置の一個所で被試験物の検査位置に対
   向してターンテーブル８の上部側からプローブ１
   ７を下向きに多数本保持しているプローブヘツド
   １６の下側に設けた圧縮ばね５を内蔵している持
   ち上げヘツド６と、前記ターンテーブル８の表面
   上にインデツクス数と同じ数だけ位置決め用ブツ
   シユ１９を有するアダプタ９と、このアダプタ９
   に基板１２を精度よく位置決めする基板位置決め
   ピン１８と、前記ターンテーブル８に対して前記
   アダプタ９をがたを持たせて粗位置決めするター
   ンテーブル８に設けたピン１０と、前記アダプタ
   ９の位置決め用ブツシユ１９に入るピン２３を保
   持し圧縮ばね２１によつて上下動できる前記プロ
   ーブヘツド１６の下側でプローブヘツド１６の取
   付用アツパーベース１３に設けた位置決めストツ
   パ２４とから構成した接触機構。