JPH0333022Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本考案は、プリント基板の回路パターンの接続
状態を検査する２アダプタ式基板検査機に関す
る。

(ロ) 従来技術 従来、この種検査機は、基板に配設された複数
のランド部にコンタクトプローブを接触させ、電
圧を印加することで該コンタクトプローブ間の抵
抗値を測定し、断線・短絡等の有無を判別するも
のであるが、該コンタクトプローブが配設される
アダプタによつて次の３タイプに分類することが
できる。

即ち、複数のランド部に対応すべく基板毎に
コンタクトプローブを配設したアダプタを使用す
る所謂専用形検査機、格子の全交点上にコンタ
クトプローブを配設したアダプタを使用する所謂
汎用形検査機、１つの細長い汎用形アダプタを
使用し、該アダプタをステツプ送りして基板の検
査全領域を検査する所謂分割汎用形検査機であ
る。

ところが、のものは個別にアダプタを作成す
るため費用が嵩むという問題があつた。また、
のものは多数のコンタクトプローブが必要で高価
になると共に、コンタクトプローブの接触圧を大
きくする必要があり、そのため加圧側の構造が複
雑となり、検査ソフトウエアに問題があつた。さ
らに、のものは例えば斜め配線の場合、アダプ
タの面積内に中継ランドを必要とするなど基板設
計上の制約が多く、且つ、検査全領域を検査する
ためには基板の向きを90度変えて２回検査しなけ
ればならず非常に手間がかかるという問題があつ
た。

さらに、の分割汎用形検査機において、２ア
ダプタ方式を採用することが考えられるが、これ
を実現するためには、２個のアダプタを独立して
駆動させると共に高い停止位置精度が要求され、
さらに、コンタクトプローブとプリント基板を接
触させるのに上下運動の機構が必要であり非常に
複雑な構造となるという問題がある。

(ハ) 目的 本考案はこのような問題点を解決し、基板を１
回セツトするのみで容易迅速に検査全領域に亙つ
て検査することができると共に、アダプタの停止
位置を高精度に制御でき、且つ、コンタクトプロ
ーブとプリント基板との良好なコンタクトが得ら
れる２アダプタ式基板検査機を提供することを目
的とする。

(ニ) 構成 そこで、本考案の特徴とする処は、プリント基
板をセツトし、検査機本体のベースプレートに昇
降可能に設けられたテーブルと、該テーブルの上
方に水平移動して、前記プリント基板に配設され
た複数のランド部にコンタクトプローブを接触さ
せて回路パターンの接続状態を検査する一対のア
ダプタとを備え、且つ、該アダプタの一端部は、
前記ベースプレートに設けられたボールネジに螺
合するナツトに固着され、それぞれ別個に移動可
能に構成されると共に、該アダプタの他端部に
は、前記ベースプレートに設けられた位置決めバ
ーの複数の孔部にロツドが嵌脱自在に嵌合するシ
リンダが設けられ、該ロツドによつてアダプタの
位置決めをした後前記テーブルが上昇して、前記
ランド部にコンタクトプローブを接触させるよう
に構成された点にある。

(ホ) 実施例 以下、図示の実施例に基づき本考案を詳説す
る。

第１図及至第３図において、１は検査機本体２
の上面に設けられた平面矩形のベースプレートで
あり、該ベースプレート１の略中央部右寄りには
テーブル３が昇降可能に配置されている。

４，５は一対のアダプタであり、ベースプレー
ト１の上部に配設されたリニアウエイ６に、裏面
に固着したガイド部材８が嵌合し、該リニアウエ
イ６をガイドとしてそれぞれ別個に移動可能に構
成されている。そして、アダプタ４，５は、前記
テーブル３に基板ベース１４を介してセツトした
プリント基板７の上方に移動して、該プリント基
板７に配設された複数のランド部にコンタクトプ
ローブ９を接触させて回路パターンの接続状態を
検査する。

具体的には、前記テーブル３は支柱１０を介し
てシリンダ１１のロツド１２の先端に連結され、
該ロツド１２の往復動に伴つて昇降可能に構成さ
れている。また、前記ベースプレート１には、テ
ーブル３の外周縁部に対応して複数の逆Ｌ字状の
ストツパ１３が固着され、該ストツパ１３に対応
して設けられたテーブル３の切欠部３ａが該スト
ツパ１３に当接してテーブル３の上昇が所定高さ
に規制される。このテーブル３３の上昇動作は、
前記アダプタ４，５が所定の位置に水平移動（ス
テツプ送り）された後行われる。

１５，１６はテーブル３の裏面に突設された一
対のガイドピンであり、該ガイドピン１５，１６
がそれぞれ前記ベースプレート１に穿設された孔
部１７，１８に摺動自在に嵌挿され、テーブル３
の周方向への回動を防止している。１９は前記テ
ーブル３の昇降高さ位置を検出するためのスイツ
チであり、一方のガイドピン１５に関連して設け
られている。なお、前記テーブル３の対向辺部に
は切欠部２０が形成され、テーブル３への基板ベ
ース１４の搭載を容易となす。また、前記テーブ
ル３にはコの字状のクランパ２２が支軸２２廻り
に揺動自在に枢着され、テーブル３にセツトした
プリント基板７をずれないように固定する。

また、前記ベースプレート１には、前記リニア
ウエイ６に平行してボールネジ２４が設けられる
と共に、対向辺部に位置決めバー２５が設けられ
ている。略位置決めバー２５には所定間隔（アダ
プタ４，５の１ステツプ当たりの移動距離）をも
つて複数の孔部２５ａが凹設されている。

一方、前記アダプタ４，５は、それぞれ短冊板
状の本体２６の裏面に補強板２７を介して絶縁材
３１に固着された複数の前記コンタクトプローブ
９と、本体２６の裏面上部に設けられ、前記ボー
ルネジ２４に螺合するナツト２１と、該ナツト２
１をボールネジ２４に対して螺進退自在に移動さ
せるパルスモータ２８と、本体２６の裏面下部に
設けられ、前記位置決めバー２５の孔部２５ａに
ロツド２９が嵌脱自在に嵌合するシリンダ３０と
を備えている。このロツド２９の嵌合動作の後、
テーブル３の上昇が開始する。なお、前記ロツド
２９が垂直下降し、正確に孔部２５ａに嵌合する
ようにガイド片４２が設けられている。

具体的には、前記コンタクトプローブ９はガラ
スエポキシ等の絶縁材３１に固着され、該絶縁材
３１を前記補強板２７に取り付けることで本体２
６に配設されている。また、該コンタクトプロー
ブ９は所定間隔（例えば2.54mm間隔）をもつて配
設されると共に、スプリング（図示省略）にて常
時下方に付勢され、所定の接触圧が確保される。
なお、アダプタ４，５が隣接する際、本体２６同
志が先に衝突し隣接プローブ間隔が所定寸法から
逸脱するのを防止するために、前記絶縁材３１の
対向端縁側はそれぞれ本体２６より僅かに突出し
ている。

また、前記パルスモータ２８及びナツト２１の
プーリ３２，３３にはタイミングベルト３４が懸
架され、前記パルスモータ２８の動力をナツト２
１に伝達し、アダプタ４，５を左右に移動可能と
する。

さらに、前記本体２６のシリンダ３０側の端部
には、Ｌ字状のガイド片３５が垂設され、前記位
置決めバー２５の側外方に突出したガイド部２５
ｂにガイド片３５の折曲部３５ａが係合して、前
記テーブル３の上昇によつてアダプタ４，５が押
し上げられるのを規制する。

しかして、３６及び３７はスローダウン用及び
停止用のフオトインタラプタであり、一対の該フ
オトインタラプタ３６，３７が、前記ボールネジ
２４の下方所定位置の２箇所及び一方の前記アダ
プタ５にそれぞれブラケツト３８を介して取り付
けられている。図例では、右側からアダプタ５
用、アダプタ４用、双方のアダプタ４，５の接触
防止用のものであり、それぞれのフオトインタラ
プタ３６，３７に対応てアダプタ４，５側に遮光
板３９が配設されている。これらのフオトインタ
ラプタ３６，３７によつて、アダプタ４，５が検
査開始位置Ｘに待機する。

また、本体２６のフオトインタラプタ４０に関
連して前記パルスモータ２８の駆動軸２８ａにデ
イスク４１が設けられ、図外のパソコン・シーケ
ンサの制御信号に基づきパルスモータ２８・シリ
ンダ３０のロツド２９・シリンダ１１のロツド１
２を作動させ、前記アダプタ４，５及びテーブル
３を予め設定されたプログラム通りに移動させる
ことでプリント基板７の検査全領域を検査する。
なお、前記アダプタ４，５の動作は、前記ボール
ネジ２４のバツクラツシユを考慮してプリント基
板７のランド部間の検査直前には検査領域を一方
向（図中、右方向）に移動するように設定されて
いる。また、コンタクトプローブ９は双方のアダ
プタ４，５が隣接した際、該隣接部の前記コンタ
クトプローブ９間隔が他のコンタクトプローブ９
間隔と略同一寸法（2.54±0.05mm）に設定される
ように配設されている。

次に、本考案の２アダプタ式基板検査機の使用
例を第４図に基づき説明する。

(1) アダプタ４，５は、テーブル３にプリント基
板７をセツトするために第１図のように左側に
退避している。

(2) プリント基板７のセツト完了後、まず、アダ
プタ４，５は検査開始位置Ｘに移動し、テーブ
ル３を上昇させてコンタクトプローブ９をラン
ド部に接触させ、電圧を印加することで最初の
検査が行われる（第４図ａ）。

(3) 検査終了の信号に基づきテーブル３が下降
し、アダプタ４は(2)の位置に待機した状態で、
アダプタ５がワンステツプずつ図中右側に移動
していき、その都度検査が行われる（第４図
ｂ）。

(4) アダプタ５がプリント基板７の最右端部の検
査を終了すると、該アダプタ５が戻つて(2)の状
態となる（第４図ｃ）。

(5) アダプタ５がワンステツプ右側に移動した
後、アダプタ４が追随して双方のアダプタ４，
５が近接した状態で且つ(2)の状態からワンステ
ツプ右側に移動した位置にくる。この状態で検
査が行われる（第４図ｄ）。

(6) この状態から、アダプタ４が待機のままで、
アダプタ５が右側にワンステツプずつ移動し、
その都度検査が行われる（第４図ｅ）。前記同
様アダプタ５が最右端部の検査を終了すると、
該アダプタ５が戻つて(5)の状態となる（第４図
ｆ）。

(7) 上記の動作を繰り返すことで、アダプタ４，
５によつてプリント基板７の検査全領域の検査
が行われ（第４図ｇ）、アダプタ４，５は第１
図の状態に退避し、次のプリント基板７の検査
に備える。

なお、本考案のアダプタ４，５をインサーキツ
トテスタのユニバーサルヘツド部に応用し、部品
搭載後の基板検査も同様の動作にて検査すること
も可能である。また、コンタクトプローブ９の代
わりに視覚センサを取り付け、フイルム原版など
の検査を行うことも可能である。

(ヘ) 効果 本考案は上述のように構成したので、基板を１
回セツトするのみで検査全領域に亙つて容易迅速
に検査することができると共に、低価格で、且つ
従来の汎用機に比べコンタクトプローブの数が少
なくプリント基板への接触圧が小さくてすみ、加
圧側の構造の簡素化を図ることができる。さら
に、アダプタの停止位置を高精度に制御でき、且
つ、コンタクトプローブとプリント基板との良好
なコンタクトが得られて検査ミスのおそれがな
い。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を示す平面図、第２
図は同断面側面図、第３図はアダプタの断面正面
図、第４図は検査手順説明図である。 １……ベースプレート、２……検査機本体、３
……テーブル、４，５……アダプタ、７……プリ
ント基板、９……コンタクトプローブ、２１……
ナツト、２４……ボールネジ、２５……位置決め
バー、２５ａ……孔部、２９……ロツド、３０…
…シリンダ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. プリント基板をセツトし、検査機本体のベース
   プレートに昇降可能に設けられたテーブルと、該
   テーブルの上方に水平移動して、前記プリント基
   板に配設された複数のランド部にコンタクトプロ
   ーブを接触させて回路パターンの接続状態を検査
   する一対のアダプタとを備え、且つ、該アダプタ
   の一端部は、前記ベースプレートに設けられたボ
   ールネジに螺合するナツトに固着され、それぞれ
   別個に移動可能に構成されると共に、該アダプタ
   の他端部には、前記ベースプレートに設けられた
   位置決めバーの複数の孔部にロツドが嵌脱自在に
   嵌合するシリンダが設けられ、該ロツドによつて
   アダプタの位置決めをした後前記テーブルが上昇
   して、前記ランド部にコンタクトプローブを接触
   させるように構成されたことを特徴とする２アダ
   プタ式基板検査機。