JPS6146111A - 継電器の点検装置 - Google Patents
継電器の点検装置Info
- Publication number
- JPS6146111A JPS6146111A JP59165055A JP16505584A JPS6146111A JP S6146111 A JPS6146111 A JP S6146111A JP 59165055 A JP59165055 A JP 59165055A JP 16505584 A JP16505584 A JP 16505584A JP S6146111 A JPS6146111 A JP S6146111A
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- JP
- Japan
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- circuit
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は静止化オフセットモー形継電器の点検方式に関
する。
する。
従来の技術
オフセットモー形継電器は、距離測定、方向判別、脱調
検出、界磁喪失検出等に使用され、第2図に示すような
動作インピーダンス特性を持つ。
検出、界磁喪失検出等に使用され、第2図に示すような
動作インピーダンス特性を持つ。
同図において、動作領域Aは界磁喪失継電器の特性を示
し、θlが一90度固定、オフセット値X1とリーチ整
定値X2が各々単独に整定される。動作領域Bは領域へ
のオフセット値をX3.jj−チをX4 Vc変えた場
合を示し、動作領域Cはθlを02に置き換えてオフセ
ット値Xs 、 リーチX6にした距離継電器特性を
示す。
し、θlが一90度固定、オフセット値X1とリーチ整
定値X2が各々単独に整定される。動作領域Bは領域へ
のオフセット値をX3.jj−チをX4 Vc変えた場
合を示し、動作領域Cはθlを02に置き換えてオフセ
ット値Xs 、 リーチX6にした距離継電器特性を
示す。
こ°うした特性の継電器において、その静止化に伴って
点検回路を具備するものが普及している。
点検回路を具備するものが普及している。
第3図は従来の点検機能付き界磁喪失継電器のブロック
図を示す。保護対象からの検出入力INI 。
図を示す。保護対象からの検出入力INI 。
IN2の一方が比較基準で他方が比較入力とされ、これ
ら人力INs 、 IN2は夫々フィルタ1,2t−
通して波形処理される。ここで、フィルタ1,2は、バ
ンドパスフィルタやローパスフィルタ”g ラK )を
移相器等にされ、保護機能によって使用する回路要素は
異なる。フィルタ1,2を経た信号は加減算回路3,4
で互いに加算、減算が行なわれかつ演算結果として矩形
波を得る整形回路を通される。
ら人力INs 、 IN2は夫々フィルタ1,2t−
通して波形処理される。ここで、フィルタ1,2は、バ
ンドパスフィルタやローパスフィルタ”g ラK )を
移相器等にされ、保護機能によって使用する回路要素は
異なる。フィルタ1,2を経た信号は加減算回路3,4
で互いに加算、減算が行なわれかつ演算結果として矩形
波を得る整形回路を通される。
両回路3,4の出力はアンド回路5で論理積が取られ、
この出力は位相比較器6で整定位相との位相差が判定さ
れ、さらにはタイマを介して保護出力OUTが取り出さ
れる。位相比較器6は、アンド回路5の出力が1周期の
1/2時間でハイレベル(回路3,4の出力が共に同相
側)のときハイレベル出力を得、アンド回路5の出力が
常にローレベル(回路3,4の出力が逆相側)のときロ
ーレベル出力を得るように構成され、一般的にアンド回
路5の出力が1周期の1/4の時間でハイレベルのとき
が動作臨界となっており、その時間以上ハイレベルのと
きに動作するようにしている。
この出力は位相比較器6で整定位相との位相差が判定さ
れ、さらにはタイマを介して保護出力OUTが取り出さ
れる。位相比較器6は、アンド回路5の出力が1周期の
1/2時間でハイレベル(回路3,4の出力が共に同相
側)のときハイレベル出力を得、アンド回路5の出力が
常にローレベル(回路3,4の出力が逆相側)のときロ
ーレベル出力を得るように構成され、一般的にアンド回
路5の出力が1周期の1/4の時間でハイレベルのとき
が動作臨界となっており、その時間以上ハイレベルのと
きに動作するようにしている。
点検回路7は、常時は補助リレー7Aを復帰させて入力
IN+ 、 IN2を夫々フィルタ1,2に印加させ
、二相の発振出力(点検信号)φ1.φ2をフィルタ1
,2への入力をしゃ断しておく。そして、点検時に補助
リレー7 A 19作させ、入力IN1. IN2に
代えて発振出力φl、φ2をフィルタ1.2に印加させ
て回路1〜6の動作をチェックする。例えば、回路1〜
6の動作インピーダンス特性が第2図の領域Aとすれば
、発振出力φ1.φ2は領域Aの内側に相当する位相と
大鎗さを持った信号とする。
IN+ 、 IN2を夫々フィルタ1,2に印加させ
、二相の発振出力(点検信号)φ1.φ2をフィルタ1
,2への入力をしゃ断しておく。そして、点検時に補助
リレー7 A 19作させ、入力IN1. IN2に
代えて発振出力φl、φ2をフィルタ1.2に印加させ
て回路1〜6の動作をチェックする。例えば、回路1〜
6の動作インピーダンス特性が第2図の領域Aとすれば
、発振出力φ1.φ2は領域Aの内側に相当する位相と
大鎗さを持った信号とする。
発明が解決しようとする問題点
従来の点検方式では、点検回路7としては対象継電器に
応じた点検信号を得るよ5回路構成される必要があって
継電器側々に異なる設計のものを必要とする。また、同
じ種類の継電器であってもその仕様、特性の変更に点検
回路側の変更も必要とし設計上や運用上に問題がある。
応じた点検信号を得るよ5回路構成される必要があって
継電器側々に異なる設計のものを必要とする。また、同
じ種類の継電器であってもその仕様、特性の変更に点検
回路側の変更も必要とし設計上や運用上に問題がある。
例えば、オフセット設定値、リーチ設定値を保眼対象に
よって変更すると、第2図の特性人からBに変更される
ときに点検回路γの出力φ1.φ2の大きさ、位相を変
更する手間を要す。
よって変更すると、第2図の特性人からBに変更される
ときに点検回路γの出力φ1.φ2の大きさ、位相を変
更する手間を要す。
また、従来方式では、入力信号や点検信号は補助リレー
の機械接点を使用してしゃ断、投入するため、該接点の
接触不良の可能性から信頼性に問題がある。
の機械接点を使用してしゃ断、投入するため、該接点の
接触不良の可能性から信頼性に問題がある。
問題点を解決するための手段と作用
本発明はフィルタと加減算回路以降の保護演算回路とを
個別に点検することを特像とし、フィルタにはダイオー
ドを介して点検時に入力信号よりも十分に高いレベルの
点検信号を印加してその入力を該点検信号に強制し、保
護演算回路にはダイオードを介して点検時にフィルタ出
力よりも十分に高いレベルでかつ前記点検信号を共通に
して印加してその入力を点検信号に強制し、フィルタの
出力は点検時にレベル比較回路で検出して該フィルタの
動作チェックをし、保護演算回路の動作はその保護出力
の発生でチェックすることを特徴とする。
個別に点検することを特像とし、フィルタにはダイオー
ドを介して点検時に入力信号よりも十分に高いレベルの
点検信号を印加してその入力を該点検信号に強制し、保
護演算回路にはダイオードを介して点検時にフィルタ出
力よりも十分に高いレベルでかつ前記点検信号を共通に
して印加してその入力を点検信号に強制し、フィルタの
出力は点検時にレベル比較回路で検出して該フィルタの
動作チェックをし、保護演算回路の動作はその保護出力
の発生でチェックすることを特徴とする。
実施例
第1図は本発明の一実施例を示す回路図であり、第3図
に示すものと同じものは同一符号で示す。
に示すものと同じものは同一符号で示す。
点検回路11は点検信号φ1t−ダイオード12.−1
3を介してフィルタ1,2に入力信号IN1. IN2
と共に印加し、さらに点検信号φ1をダイオード14を
介して加減算回路3,4のフィルタ1側入力に印加する
構成にされる。フィルタ1の出力は抵抗1st−介して
加減算回路3,4の入力にされると共にレベル比較器1
6の比較入力にされる。
3を介してフィルタ1,2に入力信号IN1. IN2
と共に印加し、さらに点検信号φ1をダイオード14を
介して加減算回路3,4のフィルタ1側入力に印加する
構成にされる。フィルタ1の出力は抵抗1st−介して
加減算回路3,4の入力にされると共にレベル比較器1
6の比較入力にされる。
フィルタ2の出力は加減算回路3,40入力とされると
共にレベル比較器17の比較入力にさ”れゐ。
共にレベル比較器17の比較入力にさ”れゐ。
レベル比較器16.17の出力はアンド回路IBの入力
にされ、このアンド回路1Bのゲート入力として点検回
路11の点検指令RDが与えられる。
にされ、このアンド回路1Bのゲート入力として点検回
路11の点検指令RDが与えられる。
この点検指令RDは論理インバーター9を介してアンド
回路IBの出力と共にオア回路200Å力にされ、オア
回路20の出力は位相比較器6の出力と共にアンド回路
21の入力にされて該アンド回路21の出力゛が保護出
力OUTにされる。
回路IBの出力と共にオア回路200Å力にされ、オア
回路20の出力は位相比較器6の出力と共にアンド回路
21の入力にされて該アンド回路21の出力゛が保護出
力OUTにされる。
ここで、点検回路11の点検指令RDは非点検時にロー
レベルにされてアンド回路18のゲートを閉じると共に
インバーター9を通してオア回路20にハイレベル出力
を得てアンド回路21のゲ−トを開〜・ておき、入力信
号IN!、 INzに対する位相比較器6からの保護
出力が得られるようにしている。また、点検回路11の
点検信号φ1は非点検時に入力信号IN1. IN2
に較べて充分に負の電位にされてダイオード12,13
.14を非導通にして入力信号やフィルタ出力への作用
がしゃ断されている。
レベルにされてアンド回路18のゲートを閉じると共に
インバーター9を通してオア回路20にハイレベル出力
を得てアンド回路21のゲ−トを開〜・ておき、入力信
号IN!、 INzに対する位相比較器6からの保護
出力が得られるようにしている。また、点検回路11の
点検信号φ1は非点検時に入力信号IN1. IN2
に較べて充分に負の電位にされてダイオード12,13
.14を非導通にして入力信号やフィルタ出力への作用
がしゃ断されている。
そして、点検時には指令RDがハイレベルにされてアン
ド回路18のゲートを開けておき、点検信号φ1は入力
信号INl、 lN2Oレベルに較べて充分に大きな
発振出力にしてフィルタ1,2及び加減算回路3,4へ
の入力を該点検信号の位相及びレベルに強制する。抵抗
15はダイオード14を通した点検信号がフィルタ1の
出力に電流を流すのを抑止すると共にフィルタ1の出力
に優先して加減算回路3,4に点検信号を印加させる。
ド回路18のゲートを開けておき、点検信号φ1は入力
信号INl、 lN2Oレベルに較べて充分に大きな
発振出力にしてフィルタ1,2及び加減算回路3,4へ
の入力を該点検信号の位相及びレベルに強制する。抵抗
15はダイオード14を通した点検信号がフィルタ1の
出力に電流を流すのを抑止すると共にフィルタ1の出力
に優先して加減算回路3,4に点検信号を印加させる。
従って、点検時にはフィルタ1,2の出力は点検信号φ
1に対するフィルタ出力になり加減算回路3,4の入力
も点検48号φlとフィルタ2の出力(φlK対するフ
ィルタ出力)になる。
1に対するフィルタ出力になり加減算回路3,4の入力
も点検48号φlとフィルタ2の出力(φlK対するフ
ィルタ出力)になる。
レベル比較器16.17は、非点検時にはその出力がア
ンド回路18で抑止されており、点検時にはフィルタ1
,2の出力レベル(φtK対する出力レベル)が所定の
範囲内のときハイレベル出力を得、それよりも低レベル
又は高レベルのときはローレベル出力を得るいわゆるウ
ィンドコンパレータ動作をする。
ンド回路18で抑止されており、点検時にはフィルタ1
,2の出力レベル(φtK対する出力レベル)が所定の
範囲内のときハイレベル出力を得、それよりも低レベル
又は高レベルのときはローレベル出力を得るいわゆるウ
ィンドコンパレータ動作をする。
従って、点検時にはフィルタ1,2の機能が共に正常で
あることをレベル比較器16.17とアンド回路18で
チェックし得、加減算回路3,4以降の位相比較器6ま
での保護演算回路の正常動作を点検信号φ、によって加
減算回路3.4に同相入力を与えることでアンド回路2
1の出力としてチェックすることができる。
あることをレベル比較器16.17とアンド回路18で
チェックし得、加減算回路3,4以降の位相比較器6ま
での保護演算回路の正常動作を点検信号φ、によって加
減算回路3.4に同相入力を与えることでアンド回路2
1の出力としてチェックすることができる。
発明の効果
本発明によれば、点検回路の点検信号を入力信号に優先
してフィルタに入力し及び該フィルタ出力に優先して保
護演算回路に入力し、フィルタと保護演算回路を個別に
チェックするため、点検信号が1相分で済むし動作特性
のオフセットやリーチを変更した場合や異なる継電器に
も同じ点検信号で済む。また、点検信号の印加に機械接
点による切換えを不要にして信頼性の高い点検機能付き
継電器になる。
してフィルタに入力し及び該フィルタ出力に優先して保
護演算回路に入力し、フィルタと保護演算回路を個別に
チェックするため、点検信号が1相分で済むし動作特性
のオフセットやリーチを変更した場合や異なる継電器に
も同じ点検信号で済む。また、点検信号の印加に機械接
点による切換えを不要にして信頼性の高い点検機能付き
継電器になる。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図はオフ
セットモー形継電器の特性例を示す複素線図、第3図は
従来の点検機能付き継電器の回路図である。 1.2・・・フィルタ、3,4・・・加減算回路、6・
・・位相比較器、7.工1・・・点検回路、16.17
・・・レベル比較器。
セットモー形継電器の特性例を示す複素線図、第3図は
従来の点検機能付き継電器の回路図である。 1.2・・・フィルタ、3,4・・・加減算回路、6・
・・位相比較器、7.工1・・・点検回路、16.17
・・・レベル比較器。
Claims (1)
- 複数の入力信号を夫々フィルタを通し、このフィルタ出
力を使って保護演算回路で保護演算する静止化オフセッ
トモー形継電器において、点検時に前記入力信号よりも
十分に高いレベルの点検信号をフィルタの入力として導
く第1のダイオード回路と、点検時に前記フィルタ出力
よりも十分に高いレベルで前記点検信号を前記保護演算
回路の入力として導く第2のダイオード回路と、点検時
に前記フィルタの出力レベルから該フィルタの動作チェ
ックをするレベル比較回路とを備え、フィルタと保護演
算回路の個別点検をすることを特徴とする継電器の点検
方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59165055A JPS6146111A (ja) | 1984-08-07 | 1984-08-07 | 継電器の点検装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59165055A JPS6146111A (ja) | 1984-08-07 | 1984-08-07 | 継電器の点検装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6146111A true JPS6146111A (ja) | 1986-03-06 |
| JPH0572166B2 JPH0572166B2 (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=15804983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59165055A Granted JPS6146111A (ja) | 1984-08-07 | 1984-08-07 | 継電器の点検装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6146111A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1077019C (zh) * | 1995-01-24 | 2002-01-02 | 东丽株式会社 | 聚酯制品的制造方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57110019A (en) * | 1980-12-24 | 1982-07-08 | Hitachi Ltd | Method of automatically inspecting digital protection relay unit |
-
1984
- 1984-08-07 JP JP59165055A patent/JPS6146111A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57110019A (en) * | 1980-12-24 | 1982-07-08 | Hitachi Ltd | Method of automatically inspecting digital protection relay unit |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1077019C (zh) * | 1995-01-24 | 2002-01-02 | 东丽株式会社 | 聚酯制品的制造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0572166B2 (ja) | 1993-10-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |