JPS6148045A - 擬似障害発生方式 - Google Patents

擬似障害発生方式

Info

Publication number
JPS6148045A
JPS6148045A JP59169496A JP16949684A JPS6148045A JP S6148045 A JPS6148045 A JP S6148045A JP 59169496 A JP59169496 A JP 59169496A JP 16949684 A JP16949684 A JP 16949684A JP S6148045 A JPS6148045 A JP S6148045A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
interrupt
window
fault
program
central processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59169496A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Hongo
本郷 喜裕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP59169496A priority Critical patent/JPS6148045A/ja
Publication of JPS6148045A publication Critical patent/JPS6148045A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、障害が割込みによって中央処理装置へ報告さ
れる電子計算機システムにおける擬似障害発生方式に関
する。
〔従来技術〕
従来、障害が割込みKよって中央処理装置に報告される
電子計算機システムにおけるプログラムの障害処理に関
連する部分のデバッグやテストは論理回路の特定の部分
を人為的に短絡させたり、あたかも障害が発生したかの
如き割込み動作を中央処理装ff1lc起こさせる装置
診断命令を実行したりして、擬似的に障害を発生させる
方式が実施されてきた。前者の方式では人手が介入する
ので障害による割込みが発生するプログラムの部分を特
定することは不可能であるし、後者の方式では装置診断
命令は通常特権命令であること、および割込みを抑止す
る割込みiスフレジスタを使用しない限り、該命令の実
行により直ちに擬似障害による割込みが発生するととか
う、通常のプログラムの実行中の障害処WK関連する部
分のデバッグやテストに使用することは困難である。ま
た、割込みマスクレジスタはオペレーティングシステム
がシステムの制御手段として使用しており、通常のプロ
グラムのデバッグやテストの目的でその内容を変更でき
るものではない。したがって、従来の方式はいずれも擬
似障害による割込みの発生のタイミングに関する制約が
極めて大きく、通常のプログラムの障害処理に関連する
部分の網羅的デバッグやテストには使えないという欠点
をもつ。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上述の欠点を除去し、擬似的な障害に
よる割込みの発生のタイミングに関する制約を緩和し、
プログラムの障害処理に関連する部分のデバッグやテス
トの網m性を上げられるような擬似障害発生方式を提供
することにある。
〔発明の構成〕
本発明の擬似障害発生方式は、中央処理装置への割込み
のうち障害に関するものだけに有効であり、かつ障害に
よる割込みを許可するか否かを示すウィンドウと、前記
ウィンドウに前記許可あるいは不許可を示させるための
設定手段と、障害の擬似的発生を起動する起動手段とを
有し、前記起動手段によって障害の発生が起動された後
前記ウィンドウに許可が示されている時にだけ中央処理
装置へ割込みKよって障害を報告し、前記ウィンドウに
不許可が示されている時には、前記設定手段により許可
が示されるまで中央処理装置への割込みによる障害の報
告を保留することを特徴とする。
〔実施例〕
本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明の擬似障害発生方式を適用した電子計算
機システムの一実施例を示すブロック図である。本実施
例の電子計算機システムは中央処理装置Xt、1と、チ
ャネル制御装置3と、主記憶装置4と、これらの各装置
1〜3に接続されるシステム制御装R2とから構成され
ている。さらにシステム制御装置2にはチャネル制御装
置3および中央処理装置1からアクセス可能な、中央処
理装置1に対する割込み要求を保留する割込みセル2a
が設けられ、中央処理装置lには割込みセル2aに保留
された割込み要求のうち、どれを中央処理装置1が受取
るべきかを還択する割込みマスクレジスタlaと中央処
理装置1への割込みのうち障害に関するものだけに有効
で、かつ障害による割込みを許可するか否かを示すウィ
ンドウ1bが設げられている。割込みセル2aには割込
みの1別に対応したビット位置があり、障害による割込
みも割込みセル2aの特定のビット位置を占める。割込
みマスクレジスタ1aは割込みセル2aと同一の配列を
もつビット位置を有し、同様に障害による割込みのビッ
ト位置が存在する。障害の擬似的発生を起動する起動手
段は割込みセA/2aの当該ビットをオン(保留状態)
にすることができる。
またウィンドウ1bに障害による割込みを許可するかあ
るいは許可しないかを示させる設定手段も存在する。本
実施例ではこれらはいずれも中央処理装置1の命令とし
て提供される。
第2図は中央処理装置10割込み処理を示すフローチャ
ートである。先づ割込みセル2aに割込みが保留されて
いるか判定する(ステップ11)。
割込みが保留されていれば、割Rζスクレジスタlaと
ウィンド1bをチェックしくステップ12゜13)、割
込みが障害でかつこの障害による割込みを許可する場合
に割込みセル2aの当該ビットをクリヤした後(ステッ
プ14)割込み処理を行ない(ステップ15)、とれ以
外の場合は割込与処理な行なわず次の命令を実行する(
ステップ16)。
第3図は本実施例によるプログラムの障害処理に関連す
る部分のテストの流れを示すタイムチャートである。被
テストプログ2ムは、テスト対象区間のみウィンドウ1
bに許可を示す。時刻t。
の時点でプログラムは、テスト対象外区間に入りウィン
ドウ1bに不許可を示すための命令II を実行する。
その後時刻t2の時点で擬似障害を起動するための命令
■2を実行し割込みセル2aの当該ビットが保留状態に
設定される。時刻【40時点でウィンドウ1bに許可を
示すための命令■3を実行し直ちに擬似障害による割込
みが発生し彼テストプログラムの障害処理関連部分のテ
ストが行なわれることになる。本実施例では割込みマス
クレジスタ1aがオフ(割込みを禁止している)の区間
は時刻t1から13であるので時刻(4の擬似障害によ
る割込みの発生に何ら影響を与えない。割込みiスフレ
ジスタ1aのオフ状態が時刻t3以降時刻【4を越えて
続(と、その間は擬似障害による割込みについても保留
される。
なお、本実施例では障害による割込みが割込みセル2a
と割込みマスクレジスタ1aによって処理される外部割
込みとして扱われる場合を取上げたが、障害による割込
みが内部割込みとして扱われる場合でも全く同禄である
〔発明の効果〕
本発明は障害による割込みに関して該割込みを許可する
か否かをプログラムで制御できるウィンドウを設けるよ
うにしたので、擬似障害による割込み発生のタイミング
に関する制約が緩和され、プログラムの障害処理に関連
する部分のデバッグやテストが容易になるといつ効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の擬似障害発生方式を適用した電子計
31L機システムの一実施例を示すブロック図、第2図
は第1図の電子計算機システムの中央処理装置1の割込
み処理を示すフローチャート、第3図はi1図の実施例
におけるプログラムの障害処理に関連する部分のテスト
の流れを示すタイムチャートである。 1・・・中央処理装置 2・・・システム制御装置 3・・・チャネル装置 4・・・主記憶装置 Ia・・・割込みマスクレジスタ 1b・・・ウィンドウ 2a・・・割込みセル。 特許出願人  日本電気株式会社 、−m−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 障害が割込みによつて中央処理装置へ報告される電子計
    算機システムにおいて、中央処理装置への割込みのうち
    障害に関するものだけに有効であり、かつ障害による割
    込みを許可するか否かを示すウィンドウと、前記ウィン
    ドウに前記許可あるいは不許可を示させるための設定手
    段と、障害の擬似的発生を起動する起動手段とを有し、
    前記起動手段によつて障害の発生が起動された後前記ウ
    ィンドウに許可が示されている時にだけ中央処理装置へ
    割込みによつて障害を報告し、前記ウィンドウに不許可
    が示されている時には、前記設定手段により許可が示さ
    れるまで中央処理装置への割込みによる障害の報告を保
    留することを特徴とする擬似障害発生方式。
JP59169496A 1984-08-14 1984-08-14 擬似障害発生方式 Pending JPS6148045A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59169496A JPS6148045A (ja) 1984-08-14 1984-08-14 擬似障害発生方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59169496A JPS6148045A (ja) 1984-08-14 1984-08-14 擬似障害発生方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6148045A true JPS6148045A (ja) 1986-03-08

Family

ID=15887596

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59169496A Pending JPS6148045A (ja) 1984-08-14 1984-08-14 擬似障害発生方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6148045A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6148045A (ja) 擬似障害発生方式
JPH0415834A (ja) コンピュータの試験方式
JPS58181160A (ja) 緊急動作制御方式
JP2684966B2 (ja) 入出力処理装置のデバッグ装置
JPH02272947A (ja) 障害監視方式
JPH04369046A (ja) 活性チェック回路のテスト方式
JPH06103110A (ja) ブレークポイント設定方式
JPS6111855A (ja) デ−タ処理装置の機能診断方式
JPH01170879A (ja) 論理回路パッケージ
JPS6155748A (ja) 電子計算機システム
JPH01276249A (ja) ログアウト制御方式
JPS6139136A (ja) 情報処理装置の検査方式
JPS6162943A (ja) 情報処理装置の検査方式
JPS6162945A (ja) 情報処理装置の検査方式
JPS6250858B2 (ja)
JPS6015749A (ja) インラインtmp方式
JPS6051744B2 (ja) 擬似障害発生方式
JPS61240334A (ja) 情報処理装置の検査方式
JPS60171544A (ja) 計算機システム異常自己診断装置
JPH05241898A (ja) ハードブレーク方式
JPS6340942A (ja) 装置試験方式
JPH05274173A (ja) 擬似障害設定方式
JPS6259814B2 (ja)
JPH02110743A (ja) 故障診断処理方式
JPH01166140A (ja) 情報処理装置診断方式