JPS6154706A - 電子部品のフアンクシヨナルトリミングの方法 - Google Patents
電子部品のフアンクシヨナルトリミングの方法Info
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- JPS6154706A JPS6154706A JP17628384A JP17628384A JPS6154706A JP S6154706 A JPS6154706 A JP S6154706A JP 17628384 A JP17628384 A JP 17628384A JP 17628384 A JP17628384 A JP 17628384A JP S6154706 A JPS6154706 A JP S6154706A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
- H03H3/04—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks for obtaining desired frequency or temperature coefficient
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はガラス遅延素子、水晶共振子などを含むセラ
ミック電子部品のファンクショナルトリミングの方法に
関するものである。
ミック電子部品のファンクショナルトリミングの方法に
関するものである。
従来のガラス遜鳩索子、水晶共振子などを含むセラミッ
ク電子部品(以下セラミック電子部品という)のファン
クシ曹ナルトリミングの方法を第1図に示す。この方法
ではセラミック電子部品を切削加工開始前に水または水
を含んだ切削液を供給し始め、切削加工が完了し、加工
されたセラミック電子部品の遅延時間や周波数特性など
を測定する段階でも水または水を含んだ切削量が供給さ
れ続けているため、加工面に水が付着する。その付着の
状態が測定中に時々刻々と変化し、測定して得られた値
も変化し、切削量と遅延時間などとの相関がとれなり欠
点があった。また、切削加工機の切削面と加工したセラ
ミック電子部品の加工面を強制的に隔離しない状態で測
定するために、切削加工機の切削面とセラミ、り電子部
品の加工面が、切削加工機の軸の振れなどによシ、切M
IJ加工機の切削面と、セラミ、り電子部品の加工面と
の接触の状態が変化して、測定値の変化を生み、切Al
l itと遅延時間などとの相関がとれない欠点があっ
た。また、切6り加工の段階で、切削条件を一定にして
いるため仕上シの要求精度を高めることができなかりた
。
ク電子部品(以下セラミック電子部品という)のファン
クシ曹ナルトリミングの方法を第1図に示す。この方法
ではセラミック電子部品を切削加工開始前に水または水
を含んだ切削液を供給し始め、切削加工が完了し、加工
されたセラミック電子部品の遅延時間や周波数特性など
を測定する段階でも水または水を含んだ切削量が供給さ
れ続けているため、加工面に水が付着する。その付着の
状態が測定中に時々刻々と変化し、測定して得られた値
も変化し、切削量と遅延時間などとの相関がとれなり欠
点があった。また、切削加工機の切削面と加工したセラ
ミック電子部品の加工面を強制的に隔離しない状態で測
定するために、切削加工機の切削面とセラミ、り電子部
品の加工面が、切削加工機の軸の振れなどによシ、切M
IJ加工機の切削面と、セラミ、り電子部品の加工面と
の接触の状態が変化して、測定値の変化を生み、切Al
l itと遅延時間などとの相関がとれない欠点があっ
た。また、切6り加工の段階で、切削条件を一定にして
いるため仕上シの要求精度を高めることができなかりた
。
本発明の目的は、これらの欠点を取り除くためになされ
たものであり切削加工されたセラミック電子部品の遅延
時間や、周波数特性の測定値のバラツキを最小限にして
歩留ジの良い、セラミック電子部品のファンクシ、ナル
トリミングの方法を提供するものである。
たものであり切削加工されたセラミック電子部品の遅延
時間や、周波数特性の測定値のバラツキを最小限にして
歩留ジの良い、セラミック電子部品のファンクシ、ナル
トリミングの方法を提供するものである。
この目的を達成するための方法である本発明の実施例に
つ−て遅延素子を例に説明する。
つ−て遅延素子を例に説明する。
セラミック電子部品を所望の遅延時間τrになるように
切削する工程を説明する。 ′まず、セラミッ
ク電子部品の切削加工開始直前に、切6り加工機の切s
1面への和水を開始する。次に、加工機の性能で決まる
切削速度(この場合の速度は約1μllN10.1 m
s )であらかじめ設定された箇所(所望の遅延時間τ
、より大きい遅延時間τ。になる寸法の°m所)まで切
削加工する。次に切6り加工機の切削面とセラミック゛
電子部品の加工面とを所定距井!(約200μIFI)
まで隔離しつつ給水を停止する。このとき、加工された
セラミック電子部品の水の付着状態が変化することなく
、切削加工機の切削面とセラミック電子部品の加工面と
が接触しない状態となる。この状態で、加工されたセラ
ミック電子部品の遅延時間を測定し、その値と、あらか
じめ記憶設定され−crる第1の値τ1(τ。〉τ1〉
τr)との差を求め、その差から切削量y1(μm)を
求める演算処理をし、その直後に再び切削加工機の切削
面への給水を開始し1次の切削加工段階へ入る。この切
削加工段階では前の演算処理で求めた切削量y1を初め
の11150μmは切削加工機の性能で決まる高速(こ
の場合の速度は約1μm/Q、1m5)で粗加工し、さ
らに残シ150umは仕上シの費求wit度で決まる低
速(この場合の速度は約1sm 71 ms )で精密
加工する。そして切削加工機の切削面とセラミ、り′電
子部品の加工面とを所定距離(約200μm)まで隔離
しつつ給水を停止して、次の−j定段p冴へ入る。ここ
で測定された:M延待時間6らかじめ記憶設定3れてい
る第2の値τ2(τ、〉τ2中で、)との差を求め、そ
の差から切削量yz(Jsy*)を求める演算処理をし
、その直後に切削加工様の切削面への給水を開始し、次
の切削加工段階へ入る。ここでの切削加工段階では前の
演算処理で求めた切)411 fk 72を初めの72
507IFF+は切814加工機の性能で決まる高速
(この場合の速度は約1 sm /α1m5)で粗加ニ
レ、さらに残りの50μmは仕上りの要求精度で決まる
低速(この場合の速度は約1 sm71 ms )で精
密加工することにより所望の遅延時間τtを有するセラ
ミック電子部品を加工することができる。ここでの切削
加工が終わった直後にセラミック電子部品を切81加工
機の切削面から十分隔離しつつ給水を停止する。その後
セラミ、り電子部品を取り@き、次の取付前に取付位置
を乾燥する。
切削する工程を説明する。 ′まず、セラミッ
ク電子部品の切削加工開始直前に、切6り加工機の切s
1面への和水を開始する。次に、加工機の性能で決まる
切削速度(この場合の速度は約1μllN10.1 m
s )であらかじめ設定された箇所(所望の遅延時間τ
、より大きい遅延時間τ。になる寸法の°m所)まで切
削加工する。次に切6り加工機の切削面とセラミック゛
電子部品の加工面とを所定距井!(約200μIFI)
まで隔離しつつ給水を停止する。このとき、加工された
セラミック電子部品の水の付着状態が変化することなく
、切削加工機の切削面とセラミック電子部品の加工面と
が接触しない状態となる。この状態で、加工されたセラ
ミック電子部品の遅延時間を測定し、その値と、あらか
じめ記憶設定され−crる第1の値τ1(τ。〉τ1〉
τr)との差を求め、その差から切削量y1(μm)を
求める演算処理をし、その直後に再び切削加工機の切削
面への給水を開始し1次の切削加工段階へ入る。この切
削加工段階では前の演算処理で求めた切削量y1を初め
の11150μmは切削加工機の性能で決まる高速(こ
の場合の速度は約1μm/Q、1m5)で粗加工し、さ
らに残シ150umは仕上シの費求wit度で決まる低
速(この場合の速度は約1sm 71 ms )で精密
加工する。そして切削加工機の切削面とセラミ、り′電
子部品の加工面とを所定距離(約200μm)まで隔離
しつつ給水を停止して、次の−j定段p冴へ入る。ここ
で測定された:M延待時間6らかじめ記憶設定3れてい
る第2の値τ2(τ、〉τ2中で、)との差を求め、そ
の差から切削量yz(Jsy*)を求める演算処理をし
、その直後に切削加工様の切削面への給水を開始し、次
の切削加工段階へ入る。ここでの切削加工段階では前の
演算処理で求めた切)411 fk 72を初めの72
507IFF+は切814加工機の性能で決まる高速
(この場合の速度は約1 sm /α1m5)で粗加ニ
レ、さらに残りの50μmは仕上りの要求精度で決まる
低速(この場合の速度は約1 sm71 ms )で精
密加工することにより所望の遅延時間τtを有するセラ
ミック電子部品を加工することができる。ここでの切削
加工が終わった直後にセラミック電子部品を切81加工
機の切削面から十分隔離しつつ給水を停止する。その後
セラミ、り電子部品を取り@き、次の取付前に取付位置
を乾燥する。
この方法では5つの切削加工する段階が1>、それぞれ
3つの段階が終了する毎に切削加工機の切F31J向と
セラミック電子部品の加工面とを所定距離に隔離しつつ
給水を停止することにより、切削加工機の切削面とセラ
ミック電子部品の加工面とが接触することなくかつセラ
ミック電子部品の加工面への水の付着が止まる。この状
態を保りて測定するのでその61す定状態が安定である
ために、得られた測定値の確度を高め、安定にする作用
がある。また切削加工する段階で初めは切削機の性能で
決まる高速で粗加工し、さらに仕上〕要求精度で決まる
低速で精黄加工することによフ、高速で粗加工したとき
に発生するセラミック電子部品の、加工面近傍の微細な
われ、かけ、ひび吟を修正する作用がある。また、切削
工程完了後にセラミック電子部品を取り除きその位置を
乾燥する段階を有するので、新たにトリミングすべきセ
ラミック電子部品への水の影響を小さくする作用がある
〔発明の効果〕 測定状態が安定に保たれているために得られた測定1直
の確度を萬め安定にする作用効果がりシしたがってセラ
ミック電子部品のトリミングが歩留シよくできる。また
、仕上シ要求#を反で決まる低速で梢密加工することに
よシ、前設の高速で粗加工したとき発生する11a細な
われ、かけ、ひび等を修正する作用効果が69このこと
も歩留シをよくする。
3つの段階が終了する毎に切削加工機の切F31J向と
セラミック電子部品の加工面とを所定距離に隔離しつつ
給水を停止することにより、切削加工機の切削面とセラ
ミック電子部品の加工面とが接触することなくかつセラ
ミック電子部品の加工面への水の付着が止まる。この状
態を保りて測定するのでその61す定状態が安定である
ために、得られた測定値の確度を高め、安定にする作用
がある。また切削加工する段階で初めは切削機の性能で
決まる高速で粗加工し、さらに仕上〕要求精度で決まる
低速で精黄加工することによフ、高速で粗加工したとき
に発生するセラミック電子部品の、加工面近傍の微細な
われ、かけ、ひび吟を修正する作用がある。また、切削
工程完了後にセラミック電子部品を取り除きその位置を
乾燥する段階を有するので、新たにトリミングすべきセ
ラミック電子部品への水の影響を小さくする作用がある
〔発明の効果〕 測定状態が安定に保たれているために得られた測定1直
の確度を萬め安定にする作用効果がりシしたがってセラ
ミック電子部品のトリミングが歩留シよくできる。また
、仕上シ要求#を反で決まる低速で梢密加工することに
よシ、前設の高速で粗加工したとき発生する11a細な
われ、かけ、ひび等を修正する作用効果が69このこと
も歩留シをよくする。
さらに転線する段階を有することによシ゛祈たにトリミ
ングすべきセラミック電子部品への水の影響を小さくす
る作用がありトリミングを連続して行う場合に効果があ
る。本発明で記載した数値には限定されない。また、あ
る種の特性が切削寸法と相関をもつものであれば、捕々
の部品について用いることができる。
ングすべきセラミック電子部品への水の影響を小さくす
る作用がありトリミングを連続して行う場合に効果があ
る。本発明で記載した数値には限定されない。また、あ
る種の特性が切削寸法と相関をもつものであれば、捕々
の部品について用いることができる。
〔この方法を実施するための装置41の1例〕従来のこ
の樵の装置はWSs図から第5図に示すような機構であ
りて、遅延索子2を所定位置まで運び位置決め具3とク
ランf6で位置決め固定するものでおる。ここで、遅延
菓子2をフラング6で位lit決め具5に位置決め固定
しようとしたときの、位置決め具5との間のすきまXが
できないように遅延索子2を位置決め具3に当接して固
定する。
の樵の装置はWSs図から第5図に示すような機構であ
りて、遅延索子2を所定位置まで運び位置決め具3とク
ランf6で位置決め固定するものでおる。ここで、遅延
菓子2をフラング6で位lit決め具5に位置決め固定
しようとしたときの、位置決め具5との間のすきまXが
できないように遅延索子2を位置決め具3に当接して固
定する。
フラング6の近傍に空気を吹き出すノズル5を設けその
ノズル5より圧縮空気を遅延素子2の側面に向けて送出
し、遅W、素子2を位置決め具5の当接辺に当接させ位
置決め保持を確実にできるようにする。
ノズル5より圧縮空気を遅延素子2の側面に向けて送出
し、遅W、素子2を位置決め具5の当接辺に当接させ位
置決め保持を確実にできるようにする。
遅延素子2は少なくとも−りの所定角度をもつ平面図形
形状をもつものであシ、第6図、第7図に示してるるキ
アリャ4はその遅延素子2を所定位置(第8@に波線で
示めしである)に運び、かつその所定位置より運び去る
ものでるる。第6から第8図に示す位置決め具3は、基
板1に設けられ、所定角度を有するように開放された当
接辺5a、3bを有し、遅延菓子2の所定角度と当接辺
3at3bとが当接することにより位置決めするもので
ある。クランf6は基板1に設けられカム形状溝造の軸
の回転によりその摺動面が、遅延素子2の側mrc当接
して位置決め具3に押圧し遅延素子2を固定するように
しである。第8図に示すように位置決め具3の遅y&系
子2との尚接辺3a # 3bそれぞれに向けて圧縮空
気が流れる位置でかつ、第9図に示すように遅延素子2
の板厚tとほぼ等しい径aの吹き出しロアを有し遅延素
子2の上面2aに圧縮空気が流れる位flcなるように
ノズル5を設けておる。
形状をもつものであシ、第6図、第7図に示してるるキ
アリャ4はその遅延素子2を所定位置(第8@に波線で
示めしである)に運び、かつその所定位置より運び去る
ものでるる。第6から第8図に示す位置決め具3は、基
板1に設けられ、所定角度を有するように開放された当
接辺5a、3bを有し、遅延菓子2の所定角度と当接辺
3at3bとが当接することにより位置決めするもので
ある。クランf6は基板1に設けられカム形状溝造の軸
の回転によりその摺動面が、遅延素子2の側mrc当接
して位置決め具3に押圧し遅延素子2を固定するように
しである。第8図に示すように位置決め具3の遅y&系
子2との尚接辺3a # 3bそれぞれに向けて圧縮空
気が流れる位置でかつ、第9図に示すように遅延素子2
の板厚tとほぼ等しい径aの吹き出しロアを有し遅延素
子2の上面2aに圧縮空気が流れる位flcなるように
ノズル5を設けておる。
第8図において、図示しない手段で基板1を、所望の上
下位置く所望の速度で移動可能でsb、遅延素子2の下
方に切削具を設けて切削する。
下位置く所望の速度で移動可能でsb、遅延素子2の下
方に切削具を設けて切削する。
遅延時間測定器10は遅延素子2の入力電極2bに信号
を入力し、出力電極2Cより出力された信号を受けてそ
の遅延時間τを測定する。
を入力し、出力電極2Cより出力された信号を受けてそ
の遅延時間τを測定する。
次に動作について説明する。キアリャ4によって運ばれ
た遅延素子2は基板1上の所定位置く置かれる。そして
ノズル5がら空気を送出すると遅延素子2は空気の圧力
とその流れによりて位置決め具3の当接辺3a、3bK
遅延素子2が当接された遅延素子2が位置決めされる。
た遅延素子2は基板1上の所定位置く置かれる。そして
ノズル5がら空気を送出すると遅延素子2は空気の圧力
とその流れによりて位置決め具3の当接辺3a、3bK
遅延素子2が当接された遅延素子2が位置決めされる。
ノズル5から吹きつけられた空気は遅延素子2の上面を
流れ去るが、この際遅延素子2をやや浮上させる力が作
用するから、遅延素子2を位置決め具3に向けて押圧す
るのに都合がよい。次にクラン7’6のカム状構造の軸
の回転によりその摺動面が遅延素子2と当接し板材2を
位置決め具3の当接辺3a 、 3bに押圧、固定する
。そして基板を所望速度で、所定距離移動させながら、
かつ切削面に水を所定量かけながら切削する。
流れ去るが、この際遅延素子2をやや浮上させる力が作
用するから、遅延素子2を位置決め具3に向けて押圧す
るのに都合がよい。次にクラン7’6のカム状構造の軸
の回転によりその摺動面が遅延素子2と当接し板材2を
位置決め具3の当接辺3a 、 3bに押圧、固定する
。そして基板を所望速度で、所定距離移動させながら、
かつ切削面に水を所定量かけながら切削する。
また、乾燥のために、圧縮空気を遅延素子2を取り除い
た基板装置に吹きつける。
た基板装置に吹きつける。
第1図は従来技術を説明するためのフローチャート、第
2図は本発明のフローチャート、第3図は従来技術を説
明するための装置要部の平面図。 第4図は装置要部の正面図、第5図は装置要部の詳細図
、第6図は他の実施例の平面図、第7図は他の実施例の
正面図、第8図は他の実施例の詳細図を示す。第9図は
他の実施例の詳細図。図中の1は基板、2,21.22
は板材、3は位置決め具、4はキプリャ、5はノズル、
6はフラング、7は吹き出し口、10は遅延時間測定器
をそれぞ代理人 弁理士 小 池 龍太部 芋1図 竿4図 隼、5図 第q回
2図は本発明のフローチャート、第3図は従来技術を説
明するための装置要部の平面図。 第4図は装置要部の正面図、第5図は装置要部の詳細図
、第6図は他の実施例の平面図、第7図は他の実施例の
正面図、第8図は他の実施例の詳細図を示す。第9図は
他の実施例の詳細図。図中の1は基板、2,21.22
は板材、3は位置決め具、4はキプリャ、5はノズル、
6はフラング、7は吹き出し口、10は遅延時間測定器
をそれぞ代理人 弁理士 小 池 龍太部 芋1図 竿4図 隼、5図 第q回
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 切削加工機の切削面に給水する段階と; 高速で所定寸法に精密加工する段階と; 切削加工機の切削面と前記精密加工した表面とを隔離し
ながら切削加工機の切削面への給水を停止する段階と; 前記精密加工した電子部品の特性を測定しその値と、あ
らかじめ記憶設定されている第1の値との差を求め、そ
の差を切削量y_1とする段階と;切削加工機の切削面
に給水する段階と; 高速でy_1−a_1の切削を粗加工しさらに低速でa
_1の切削を精密加工して前記切削量y_1を切削加工
する段階と; 切削加工機の切削面と、前記切削量y_1を加工した表
面とを隔離しながら切削加工機の切削面への給水を停止
する段階と; 前記切削量y_1を加工した電子部品の特性を測定し、
その値とあらかじめ記憶設定されている第2の値との差
を求めその差を切削量y_2とする段階と切削加工機の
切削面に給水する段階と; 高速でy_2−a_2の切削を粗加工し、さらに低速で
a_2の切削を精密加工して前記切削量y_2を切削加
工する段階と; 切削加工機の切削面への給水を停止する段階と切削加工
する電子を取り除き、その部品取付位置を乾燥する段階
とを有する電子部品のファンクショナルトリミングの方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17628384A JPS6154706A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 電子部品のフアンクシヨナルトリミングの方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17628384A JPS6154706A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 電子部品のフアンクシヨナルトリミングの方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6154706A true JPS6154706A (ja) | 1986-03-19 |
Family
ID=16010872
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17628384A Pending JPS6154706A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 電子部品のフアンクシヨナルトリミングの方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6154706A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03280603A (ja) * | 1990-03-29 | 1991-12-11 | Anritsu Corp | 電子部品の自動トリミング装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5914463A (ja) * | 1982-07-08 | 1984-01-25 | Toyoda Mach Works Ltd | 研削盤のといし車送り制御装置 |
| JPS5964272A (ja) * | 1982-09-14 | 1984-04-12 | フオルクスアイグナ−・ベトリ−ブ・ヴエルクツオイクマシ−ネンコンビナ−ト゛ジ−ベンテン・オクト−バ−゛ベルリン | Cnc−内面研削盤工程監視法 |
-
1984
- 1984-08-24 JP JP17628384A patent/JPS6154706A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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