JPS6155133B2 - - Google Patents
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- JPS6155133B2 JPS6155133B2 JP54041003A JP4100379A JPS6155133B2 JP S6155133 B2 JPS6155133 B2 JP S6155133B2 JP 54041003 A JP54041003 A JP 54041003A JP 4100379 A JP4100379 A JP 4100379A JP S6155133 B2 JPS6155133 B2 JP S6155133B2
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- JP
- Japan
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- flip
- flop
- gate
- signal
- terminal
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は診断スキヤンパスを有する論理装置の
診断処理装置に関し、特に１ビツトシフト毎にシ
フトデータが反転する診断スキヤンパスを有する
論理装置の診断処理装置に関する。
診断処理装置に関し、特に１ビツトシフト毎にシ
フトデータが反転する診断スキヤンパスを有する
論理装置の診断処理装置に関する。
従来、診断スキヤンパスによる論理装置の診断
にはシフトデータの反転を伴なわずにシフト動作
を行なう診断スキヤンパスが用いられている。し
かしながら、この方式では診断スキヤンパスを構
成する素子に論理装置の初期値と同じ論理値に固
定される故障が発生した場合には、論理装置を初
期化しスキヤンアウト動作を行なう診断手順を用
いても、故障箇所の指摘が出来ないと言う欠点が
あつた。
にはシフトデータの反転を伴なわずにシフト動作
を行なう診断スキヤンパスが用いられている。し
かしながら、この方式では診断スキヤンパスを構
成する素子に論理装置の初期値と同じ論理値に固
定される故障が発生した場合には、論理装置を初
期化しスキヤンアウト動作を行なう診断手順を用
いても、故障箇所の指摘が出来ないと言う欠点が
あつた。
本発明の目的は、診断すべき論理装置の診断ス
キヤンパスとして１ビツトシフト毎にシフトデー
タが反転する診断スキヤンパスを採用し、このよ
うな診断スキヤンパスを有する論理装置に対処し
得る診断処理装置を提供することにより、上記欠
点を除去することにある。
キヤンパスとして１ビツトシフト毎にシフトデー
タが反転する診断スキヤンパスを採用し、このよ
うな診断スキヤンパスを有する論理装置に対処し
得る診断処理装置を提供することにより、上記欠
点を除去することにある。
本発明の別の目的は、前記診断スキヤンパスが
反転シフトする事を意識せずに前記診断すべき論
理装置に診断データを入出力出来る様にした診断
処理装置を提供することにある。
反転シフトする事を意識せずに前記診断すべき論
理装置に診断データを入出力出来る様にした診断
処理装置を提供することにある。
本発明によれば、１ビツトシフト毎にシフトデ
ータが反転する診断スキヤンパスを有する論理装
置に接続され、該論理装置の上記診断スキヤンパ
スのスキヤン出力データ及びスキヤン入力データ
を格納する、１ビツトシフト毎にシフトデータが
反転するシフトレジスタと、上記論理装置の上記
診断スキヤンパスを構成するフリツプフロツプ数
の偶奇数を検出する検出手段と、該検出手段の検
出結果により上記論理装置の上記診断スキヤンパ
スに上記シフトレジスタのシフト出力信号を反転
あるいは非反転して出力するかを選択する選択手
段とを備えた論理装置の診断処理装置が得られ
る。
ータが反転する診断スキヤンパスを有する論理装
置に接続され、該論理装置の上記診断スキヤンパ
スのスキヤン出力データ及びスキヤン入力データ
を格納する、１ビツトシフト毎にシフトデータが
反転するシフトレジスタと、上記論理装置の上記
診断スキヤンパスを構成するフリツプフロツプ数
の偶奇数を検出する検出手段と、該検出手段の検
出結果により上記論理装置の上記診断スキヤンパ
スに上記シフトレジスタのシフト出力信号を反転
あるいは非反転して出力するかを選択する選択手
段とを備えた論理装置の診断処理装置が得られ
る。
次に本発明の実施例について図面を参照して説
明する。
明する。
第１図に示した本発明の一実施例による診断処
理装置は、Ｎ個（本実施例において、Ｎは偶数で
かつ後述する被診断論理装置が有する１系統のス
キヤンパスの最大フリツプフロツプ数ＭとＮ≧Ｍ
なる関係にあるものとする）のフリツプフロツプ
SF1，SF2，…，SFNから構成される反転型シフ
トレジスタと；入力端子１からの入力信号か、前
記反転型シフトレジスタの反転シフト出力信号
（フリツプフロツプSFNの端子からの出力信
号）かを選択して前記反転型シフトレジスタの入
力端子（フリツプフロツプSF1の端子Ａ）に供給
する、ORゲート１０１、ANDゲート１０２，１
０３及びNOTゲート１０４から構成される入力
選択回路と；前記反転型シフトレジスタの反転／
非反転シフト出力信号（フリツプフロツプSFNの
端子あるいは端子Ｑの出力信号）を端子５に選
択出力する、ORゲート１０５、ANDゲート１０
６及び１０７から構成される出力選択回路と；入
力端子１からの信号値をサンプリングして被診断
論理装置の診断スキヤンパスを構成するフリツプ
フロツプ数の偶奇数を検出し前記出力選択回路に
選択信号を供給するJKフリツプフロツプ１０８
と；入力端子２からの入力信号をＪ端子入力信号
とするJKフリツプフロツプ１０９と；前記フリ
ツプフロツプ１０９のＱ端子出力信号を反転した
信号をAND回路１０６，１０７にゲート信号と
して供給するNOTゲート１１０と；入力端子３
からの入力信号をＪ端子入力信号とするJKフリ
ツプフロツプ１１３と；さらに前記JKフリツプ
フロツプ１１３のＱ端子出力信号をＪ端子入力信
号とし、前記入力選択回路にＱ端子出力信号を選
択信号として与えるJKフリツプフロツプ１１４
と；前記JKフリツプフロツプ１１３のＱ端子出
力信号と前記JKフリツプフロツプ１１４の反転
出力である端子出力信号とを入力信号とし、出
力信号をORゲーート１０５に供給するANDゲー
ト１１５と；前記JKフリツプフロツプ１０９の
Ｑ端子出力信号と前記JKフリツプフロツプ１１
４のＱ端子出力信号とを入力信号とするORゲー
ト１１１と；前記JKフリツプフロツプ１０９の
Ｑ端子出力信号と前記JKフリツプフロツプ１１
３のＱ端子出力信号とを入力信号とするORゲー
ト１１２と；入力端子４に与えられるクロツク信
号をバツフアするバツフアゲート１１６及び上記
クロツク信号を反転するNOTゲート１１７と；
ORゲート１１１の出力信号でバツフアゲート１
１６からのクロツク信号をゲートして前記反転型
シフトレジスタにシフトクロツクを供給する
ANDゲート１１８と；ORゲート１１２の出力信
号でバツフアゲート１１６からのクロツク信号を
ゲートして出力端子６にシフトクロツクを出力す
るANDゲート１１９と；ORゲート１１１の出力
信号を反転するNOTゲート１２０と；NOTゲー
ト１２０の出力信号によつて起動される、Ｎ＋１
進のカウンタ１２１とANDゲート１２２と
NANDゲート１２３とから構成されるシフトカウ
ント制御回路と；カウンタ１２１の出力端子
O1，O2，…，ＯKに示されるカウント値をサンプ
リングし出力端子TN1，…，TNKに出力するＫビ
ツトのレジスタ１２４と；カウンタ１２１の出力
端子ＤNの出力信号でクロツク信号の反転信号
（NOTゲート１１７の出力信号）をゲートし、出
力信号をJKフリツプフロツプ１０８のクロツク
端子ＴとJKフリツプフロツプ１０９及び１１４
のリセツト端子Ｒとに供給するAND回路１２５
と；入力端子１からの入力信号をJKフリツプフ
ロツプ１０８のＱ端子出力値に応じて反転／非反
転する排他的ORゲート１２６と；排他的ORゲー
ト１２６の出力信号をJKフリツプフロツプ１１
３のＱ端子出力信号でゲートするANDゲート１
２７と；ANDゲート１２７の出力信号をＪ端子
入力信号とするJKフリツプフロツプ１２８と；
JKフリツプフロツプ１２８のＱ端子出力信号で
クロツク信号の反転信号（NOTゲート１１７の
出力信号）をゲートし、出力信号をJKフリツプ
フロツプ１１３のリセツト端子Ｒ及びレジスタ１
２４のサンプリングクロツク端子Ｓに供給する
ANDゲート１２９と；から構成される。
理装置は、Ｎ個（本実施例において、Ｎは偶数で
かつ後述する被診断論理装置が有する１系統のス
キヤンパスの最大フリツプフロツプ数ＭとＮ≧Ｍ
なる関係にあるものとする）のフリツプフロツプ
SF1，SF2，…，SFNから構成される反転型シフ
トレジスタと；入力端子１からの入力信号か、前
記反転型シフトレジスタの反転シフト出力信号
（フリツプフロツプSFNの端子からの出力信
号）かを選択して前記反転型シフトレジスタの入
力端子（フリツプフロツプSF1の端子Ａ）に供給
する、ORゲート１０１、ANDゲート１０２，１
０３及びNOTゲート１０４から構成される入力
選択回路と；前記反転型シフトレジスタの反転／
非反転シフト出力信号（フリツプフロツプSFNの
端子あるいは端子Ｑの出力信号）を端子５に選
択出力する、ORゲート１０５、ANDゲート１０
６及び１０７から構成される出力選択回路と；入
力端子１からの信号値をサンプリングして被診断
論理装置の診断スキヤンパスを構成するフリツプ
フロツプ数の偶奇数を検出し前記出力選択回路に
選択信号を供給するJKフリツプフロツプ１０８
と；入力端子２からの入力信号をＪ端子入力信号
とするJKフリツプフロツプ１０９と；前記フリ
ツプフロツプ１０９のＱ端子出力信号を反転した
信号をAND回路１０６，１０７にゲート信号と
して供給するNOTゲート１１０と；入力端子３
からの入力信号をＪ端子入力信号とするJKフリ
ツプフロツプ１１３と；さらに前記JKフリツプ
フロツプ１１３のＱ端子出力信号をＪ端子入力信
号とし、前記入力選択回路にＱ端子出力信号を選
択信号として与えるJKフリツプフロツプ１１４
と；前記JKフリツプフロツプ１１３のＱ端子出
力信号と前記JKフリツプフロツプ１１４の反転
出力である端子出力信号とを入力信号とし、出
力信号をORゲーート１０５に供給するANDゲー
ト１１５と；前記JKフリツプフロツプ１０９の
Ｑ端子出力信号と前記JKフリツプフロツプ１１
４のＱ端子出力信号とを入力信号とするORゲー
ト１１１と；前記JKフリツプフロツプ１０９の
Ｑ端子出力信号と前記JKフリツプフロツプ１１
３のＱ端子出力信号とを入力信号とするORゲー
ト１１２と；入力端子４に与えられるクロツク信
号をバツフアするバツフアゲート１１６及び上記
クロツク信号を反転するNOTゲート１１７と；
ORゲート１１１の出力信号でバツフアゲート１
１６からのクロツク信号をゲートして前記反転型
シフトレジスタにシフトクロツクを供給する
ANDゲート１１８と；ORゲート１１２の出力信
号でバツフアゲート１１６からのクロツク信号を
ゲートして出力端子６にシフトクロツクを出力す
るANDゲート１１９と；ORゲート１１１の出力
信号を反転するNOTゲート１２０と；NOTゲー
ト１２０の出力信号によつて起動される、Ｎ＋１
進のカウンタ１２１とANDゲート１２２と
NANDゲート１２３とから構成されるシフトカウ
ント制御回路と；カウンタ１２１の出力端子
O1，O2，…，ＯKに示されるカウント値をサンプ
リングし出力端子TN1，…，TNKに出力するＫビ
ツトのレジスタ１２４と；カウンタ１２１の出力
端子ＤNの出力信号でクロツク信号の反転信号
（NOTゲート１１７の出力信号）をゲートし、出
力信号をJKフリツプフロツプ１０８のクロツク
端子ＴとJKフリツプフロツプ１０９及び１１４
のリセツト端子Ｒとに供給するAND回路１２５
と；入力端子１からの入力信号をJKフリツプフ
ロツプ１０８のＱ端子出力値に応じて反転／非反
転する排他的ORゲート１２６と；排他的ORゲー
ト１２６の出力信号をJKフリツプフロツプ１１
３のＱ端子出力信号でゲートするANDゲート１
２７と；ANDゲート１２７の出力信号をＪ端子
入力信号とするJKフリツプフロツプ１２８と；
JKフリツプフロツプ１２８のＱ端子出力信号で
クロツク信号の反転信号（NOTゲート１１７の
出力信号）をゲートし、出力信号をJKフリツプ
フロツプ１１３のリセツト端子Ｒ及びレジスタ１
２４のサンプリングクロツク端子Ｓに供給する
ANDゲート１２９と；から構成される。
また第２図は第１図の回路のスキヤンアウト動
作を説明するためのタイムチヤートを示し、第３
図はスキヤンイン動作を説明するためのタイムチ
ヤートを示す。これらの図において、ａは入力端
子４に加えられるクロツク信号、ｂは入力端子２
に加えられる信号、ｃはJKフリツプフロツプ１
０９のＱ端子出力信号、ｄはカウンタ１２１のカ
ウント値、ｅはカウンタ１２１のD0端子出力信
号、ｆはカウンタ１２１のＤN端子出力信号、ｇ
はANDゲート１２５の出力信号、ｈはJKフリツ
プフロツプ１０８の記憶値、ｐはスキヤンアウト
動作時のANDゲート１１８又は１１９の出力信
号、ｑは入力端子３に加えられる信号、ｒはJK
フリツプフロツプ１１３のＱ端子出力信号、ｓは
JKフリツプフロツプ１１４のＱ端子出力信号、
ｔはANDゲート１１５の出力信号、ｕはスキヤ
ンイン動作時のANDゲート１１９の出力信号で
あるシフトクロツク、ｖはスキヤンイン動作時の
ANDゲート１１８の出力信号であるシフトクロ
ツク、ｗは排他的ORゲート１２６の出力信号、
ｘはJKフリツプフロツプ１２８のＱ端子出力信
号、ｙはANDゲート１２９の出力信号である。
作を説明するためのタイムチヤートを示し、第３
図はスキヤンイン動作を説明するためのタイムチ
ヤートを示す。これらの図において、ａは入力端
子４に加えられるクロツク信号、ｂは入力端子２
に加えられる信号、ｃはJKフリツプフロツプ１
０９のＱ端子出力信号、ｄはカウンタ１２１のカ
ウント値、ｅはカウンタ１２１のD0端子出力信
号、ｆはカウンタ１２１のＤN端子出力信号、ｇ
はANDゲート１２５の出力信号、ｈはJKフリツ
プフロツプ１０８の記憶値、ｐはスキヤンアウト
動作時のANDゲート１１８又は１１９の出力信
号、ｑは入力端子３に加えられる信号、ｒはJK
フリツプフロツプ１１３のＱ端子出力信号、ｓは
JKフリツプフロツプ１１４のＱ端子出力信号、
ｔはANDゲート１１５の出力信号、ｕはスキヤ
ンイン動作時のANDゲート１１９の出力信号で
あるシフトクロツク、ｖはスキヤンイン動作時の
ANDゲート１１８の出力信号であるシフトクロ
ツク、ｗは排他的ORゲート１２６の出力信号、
ｘはJKフリツプフロツプ１２８のＱ端子出力信
号、ｙはANDゲート１２９の出力信号である。
また第４図は被診断論理装置の診断スキヤンパ
スを示す図で、本診断スキヤンパスは、入力端子
７に加えられた信号を入力信号とするフリツプフ
ロツプFR1と、前段のフリツプフロツプの反転出
力信号を入力信号とするフリツプフロツプFR2，
FR3，…，FRMと、フリツプフロツプFRMの反転
出力信号を外部から入力端子９に加えられる被診
断論理装置選択信号によつてゲートし出力信号を
出力端子１０に出力するANDゲート２０２と、
入力端子８からの診断用シフトクロツクを入力端
子９に与えられる前記被診断論理装置選択信号で
ゲートしフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，
…，FRMに出力するANDゲート２０１とから構
成されている。なおフリツプフロツプFR1，
FR2，FR3，…，FRMはANDゲート２０１から診
断シフトクロツクが印加された時のみ図示した入
力端子が有効となり図示の如き診断スキヤンパス
を構成するが、これ以外の時は本図に示されてい
ない入出力端子を使用して論理装置を構成する素
子として使用される。
スを示す図で、本診断スキヤンパスは、入力端子
７に加えられた信号を入力信号とするフリツプフ
ロツプFR1と、前段のフリツプフロツプの反転出
力信号を入力信号とするフリツプフロツプFR2，
FR3，…，FRMと、フリツプフロツプFRMの反転
出力信号を外部から入力端子９に加えられる被診
断論理装置選択信号によつてゲートし出力信号を
出力端子１０に出力するANDゲート２０２と、
入力端子８からの診断用シフトクロツクを入力端
子９に与えられる前記被診断論理装置選択信号で
ゲートしフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，
…，FRMに出力するANDゲート２０１とから構
成されている。なおフリツプフロツプFR1，
FR2，FR3，…，FRMはANDゲート２０１から診
断シフトクロツクが印加された時のみ図示した入
力端子が有効となり図示の如き診断スキヤンパス
を構成するが、これ以外の時は本図に示されてい
ない入出力端子を使用して論理装置を構成する素
子として使用される。
第４図の被診断論理装置が第１図の実施例の診
断処理装置に接続される時、出力端子５に入力端
子７が、出力端子６に入力端子８が、出力端子１
０に入力端子１が、それぞれ接続される。
断処理装置に接続される時、出力端子５に入力端
子７が、出力端子６に入力端子８が、出力端子１
０に入力端子１が、それぞれ接続される。
この様に構成された本発明の実施例の診断処理
装置の動作を説明すると、入力端子２に与えられ
る第２図に示す信号ｂによつて、本装置のスキヤ
ンアウト動作が起動される。信号ｂが論理「１」
になると入力端子４に与えられているクロツク信
号ａ（第２図）の立下り時にJKフリツプフロツ
プ１０９がセツトされ、JKフリツプフロツプ１
０９のＱ端子出力信号である信号ｃ（第２図）が
論理“１”となり、ORゲート１１１及び１１２
の出力も共に論理“１”となるためANDゲート
１１８，１１９のゲートが開かれ、第１図のフリ
ツプフロツプSF1，SF2，…，SFNで構成される
反転型シフトレジスタと、出力端子６に結線され
ている第４図の入力端子８及びAND回路２０１
を通じてフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，
…，FRMで構成される被診断論理装置の診断スキ
ヤンパスとに、シフトクロツクが印加される。こ
の時第４図の入力端子９に加えられる被診断論理
装置選択信号は論理“１”である事が前提であ
る。以後本信号は変化しないものとする。
装置の動作を説明すると、入力端子２に与えられ
る第２図に示す信号ｂによつて、本装置のスキヤ
ンアウト動作が起動される。信号ｂが論理「１」
になると入力端子４に与えられているクロツク信
号ａ（第２図）の立下り時にJKフリツプフロツ
プ１０９がセツトされ、JKフリツプフロツプ１
０９のＱ端子出力信号である信号ｃ（第２図）が
論理“１”となり、ORゲート１１１及び１１２
の出力も共に論理“１”となるためANDゲート
１１８，１１９のゲートが開かれ、第１図のフリ
ツプフロツプSF1，SF2，…，SFNで構成される
反転型シフトレジスタと、出力端子６に結線され
ている第４図の入力端子８及びAND回路２０１
を通じてフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，
…，FRMで構成される被診断論理装置の診断スキ
ヤンパスとに、シフトクロツクが印加される。こ
の時第４図の入力端子９に加えられる被診断論理
装置選択信号は論理“１”である事が前提であ
る。以後本信号は変化しないものとする。
一方、ORゲート１１１の出力はNOTゲート１
２０で反転し論理“０”となる為NANDゲート１
２３の出力は論理“１”となりANDゲート１２
２が開かれカウンタ１２１にクロツク信号ａが印
加され、カウンタ１２１は計数動作を開始する。
２０で反転し論理“０”となる為NANDゲート１
２３の出力は論理“１”となりANDゲート１２
２が開かれカウンタ１２１にクロツク信号ａが印
加され、カウンタ１２１は計数動作を開始する。
また第１図のフリツプフロツプSF1，SF2，
…，SFNで構成される反転型シフトレジスタには
JKフリツプフロツプ１１４のＱ端子出力が論理
０となつているので、入力端子１からの入力信号
が上記入力選択回路により選択され入力される。
この信号は第４図の被診断論理装置の診断スキヤ
ンパスの出力端子１０からの出力信号でもある。
反対に前記反転型シフトレジスタの出力選択回路
を構成するAND回路１０６，１０７にはNOT回
路１１０を通して信号ｃの反転値、論理“０”が
印加されるのでORゲート１０５の出力端子５は
論理“０”となる。つまり信号ｃが論理“１”の
間は被診断論理装置の診断スキヤンパスの入力端
子７には常に論理０が加えられる事となる。
…，SFNで構成される反転型シフトレジスタには
JKフリツプフロツプ１１４のＱ端子出力が論理
０となつているので、入力端子１からの入力信号
が上記入力選択回路により選択され入力される。
この信号は第４図の被診断論理装置の診断スキヤ
ンパスの出力端子１０からの出力信号でもある。
反対に前記反転型シフトレジスタの出力選択回路
を構成するAND回路１０６，１０７にはNOT回
路１１０を通して信号ｃの反転値、論理“０”が
印加されるのでORゲート１０５の出力端子５は
論理“０”となる。つまり信号ｃが論理“１”の
間は被診断論理装置の診断スキヤンパスの入力端
子７には常に論理０が加えられる事となる。
この様にして１シフトクロツク毎に上記反転型
シフトレジスタには被診断論理装置のフリツプフ
ロツプのデータがスキヤンアウトして書込まれ、
被診断論理装置の診断スキヤンパスの入力端子７
側から数えて奇数番目のフリツプフロツプには論
理０が偶数番目のフリツプフロツプには論理１が
書込まれて行く。
シフトレジスタには被診断論理装置のフリツプフ
ロツプのデータがスキヤンアウトして書込まれ、
被診断論理装置の診断スキヤンパスの入力端子７
側から数えて奇数番目のフリツプフロツプには論
理０が偶数番目のフリツプフロツプには論理１が
書込まれて行く。
Ｎ回のスキヤンシフトが行なわれるとカウンタ
１２１の値ｄ（第２図）もＮとなりカウンタ１２
１の端子ＤNからのＮカウント表示信号ｆ（第２
図）が論理“１”となる。このＮカウント表示信
号ｆによりANDゲート１２５のゲートが開かれ
ANDゲート１２５の出力信号には第２図のｇで
示すパルスが発生する。このパルスによりJKフ
リツプフロツプ１０９がリセツトされORゲート
１１１，１１２の出力も論理０となり全てのシフ
トクロツクが停止する。またANDゲート１２５
の出力信号はJKフリツプフロツプ１０８のクロ
ツク入力ともなつており、JKフリツプフロツプ
は第２図の信号ｇのパルスの立下りで入力端子１
の信号、つまり被診断論理装置のフリツプフロツ
プFRMにセツトされた値の反転値を、サンプリン
グする。このサンプリングした値は次のスキヤン
アウトが起動されるか、次に説明するスキヤンイ
ン動作が終了するまで変化しない。
１２１の値ｄ（第２図）もＮとなりカウンタ１２
１の端子ＤNからのＮカウント表示信号ｆ（第２
図）が論理“１”となる。このＮカウント表示信
号ｆによりANDゲート１２５のゲートが開かれ
ANDゲート１２５の出力信号には第２図のｇで
示すパルスが発生する。このパルスによりJKフ
リツプフロツプ１０９がリセツトされORゲート
１１１，１１２の出力も論理０となり全てのシフ
トクロツクが停止する。またANDゲート１２５
の出力信号はJKフリツプフロツプ１０８のクロ
ツク入力ともなつており、JKフリツプフロツプ
は第２図の信号ｇのパルスの立下りで入力端子１
の信号、つまり被診断論理装置のフリツプフロツ
プFRMにセツトされた値の反転値を、サンプリン
グする。このサンプリングした値は次のスキヤン
アウトが起動されるか、次に説明するスキヤンイ
ン動作が終了するまで変化しない。
以上で本診断処理装置のスキヤンアウト動作は
終了する。この時点で前記反転型シフトレジスタ
及びJKフリツプフロツプ１０８にセツトされた
値に注目すると、次のようである。すなわち、反
転型シフトレジスタにはフリツプフロツプSFNか
ら順にスキヤンアウト動作前に被診断論理装置の
フリツプフロツプFRM，…，FR3，FR2，FR1に
セツトされていた論理値がセツトされている。こ
れは、反転型シフトパスでは１回のシフト毎にデ
ータが反転するが偶数回目のシフトでは元に戻る
事と、シフト回数が反転型シフトレジスタを構成
するフリツプフロツプSF1，SF2，…，SFN数と
一致している事による。またJKフリツプフロツ
プ１０８には被診断論理装置のスキヤンパスを構
成するフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，…，
FRMの個数Ｍが偶数であれば論理０が、奇数であ
れば論理１がセツトされている。これは前に述べ
た様に被診断論理装置の入力端子７に常に論理０
信号が与えられていた為にフリツプフロツプFRM
にはＭが偶数であつた場合には論理１が、奇数で
あつた場合には論理０がセツトされる事から明ら
かであろう。
終了する。この時点で前記反転型シフトレジスタ
及びJKフリツプフロツプ１０８にセツトされた
値に注目すると、次のようである。すなわち、反
転型シフトレジスタにはフリツプフロツプSFNか
ら順にスキヤンアウト動作前に被診断論理装置の
フリツプフロツプFRM，…，FR3，FR2，FR1に
セツトされていた論理値がセツトされている。こ
れは、反転型シフトパスでは１回のシフト毎にデ
ータが反転するが偶数回目のシフトでは元に戻る
事と、シフト回数が反転型シフトレジスタを構成
するフリツプフロツプSF1，SF2，…，SFN数と
一致している事による。またJKフリツプフロツ
プ１０８には被診断論理装置のスキヤンパスを構
成するフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，…，
FRMの個数Ｍが偶数であれば論理０が、奇数であ
れば論理１がセツトされている。これは前に述べ
た様に被診断論理装置の入力端子７に常に論理０
信号が与えられていた為にフリツプフロツプFRM
にはＭが偶数であつた場合には論理１が、奇数で
あつた場合には論理０がセツトされる事から明ら
かであろう。
前記したスキヤンアウト動作の後にスキヤンイ
ン動作が開始されるスキヤンイン動作は外部から
入力端子３に加えられる第３図の信号ｑによつて
起動される。信号ｑが論理“１”になると入力端
子４に与えられているクロツク信号ａ（第３図）
の立下りでJKフリツプフロツプ１１３がセツト
される。この時JKフリツプフロツプ１１４はリ
セツトされているので、AND回路１１５の出力
信号ｔ（第３図）が論理“１”となり、信号ｔを
入力とするORゲート１０５の出力が論理“１”
となる。この時ORゲート１１２の出力も論理
“１”となる為にANDゲード１１９が開かれ出力
端子６を通して被診断論理装置の診断スキヤンパ
スに第３図のｕに示すシフトクロツクが印加され
る。したがつてシフトクロツクｕの１回目のクロ
ツクで被診断論理装置の診断スキヤンパスのフリ
ツプフロツプFR1に論理“１”がセツトされる。
この事はシフトクロツクｕのＭ回目のクロツクで
フリツプフロツプFRMが反転する事を意味してい
る。
ン動作が開始されるスキヤンイン動作は外部から
入力端子３に加えられる第３図の信号ｑによつて
起動される。信号ｑが論理“１”になると入力端
子４に与えられているクロツク信号ａ（第３図）
の立下りでJKフリツプフロツプ１１３がセツト
される。この時JKフリツプフロツプ１１４はリ
セツトされているので、AND回路１１５の出力
信号ｔ（第３図）が論理“１”となり、信号ｔを
入力とするORゲート１０５の出力が論理“１”
となる。この時ORゲート１１２の出力も論理
“１”となる為にANDゲード１１９が開かれ出力
端子６を通して被診断論理装置の診断スキヤンパ
スに第３図のｕに示すシフトクロツクが印加され
る。したがつてシフトクロツクｕの１回目のクロ
ツクで被診断論理装置の診断スキヤンパスのフリ
ツプフロツプFR1に論理“１”がセツトされる。
この事はシフトクロツクｕのＭ回目のクロツクで
フリツプフロツプFRMが反転する事を意味してい
る。
一方、シフトクロツクｕの１回目のクロツクの
立下りと同時期にJKフリツプフロツプ１１４が
セツトされ、JKフリツプフロツプ１１４のＱ端
子出力信号（第３図のｓ）が論理１となり前記入
力選択回路はフリツプフロツプSFNを選択する。
信号ｓはORゲート１１１を通してANDゲート１
１８をも開き、前記反転型シフトレジスタに第３
図ｖのごときシフトクロツクを印加する。また
JKフリツプフロツプ１１４がセツトされると、
ANDゲート１１５の出力信号ｔ（第３図）は論
理０となり、出力端子５にはスキヤンアウト動作
時にフリツプフロツプ１０８にセツトされた値、
つまり被診断論理装置の診断スキヤンパスを構成
するフリツプフロツプ数Ｍの偶奇数を示す値によ
り、前記出力選択回路で選択されたフリツプフロ
ツプSFNのＱ端子出力信号又は端子出力信号が
出力される。
立下りと同時期にJKフリツプフロツプ１１４が
セツトされ、JKフリツプフロツプ１１４のＱ端
子出力信号（第３図のｓ）が論理１となり前記入
力選択回路はフリツプフロツプSFNを選択する。
信号ｓはORゲート１１１を通してANDゲート１
１８をも開き、前記反転型シフトレジスタに第３
図ｖのごときシフトクロツクを印加する。また
JKフリツプフロツプ１１４がセツトされると、
ANDゲート１１５の出力信号ｔ（第３図）は論
理０となり、出力端子５にはスキヤンアウト動作
時にフリツプフロツプ１０８にセツトされた値、
つまり被診断論理装置の診断スキヤンパスを構成
するフリツプフロツプ数Ｍの偶奇数を示す値によ
り、前記出力選択回路で選択されたフリツプフロ
ツプSFNのＱ端子出力信号又は端子出力信号が
出力される。
つまり前記診断スキヤンパスのフリツプフロツ
プ数Ｍが奇数の時フリツプフロツプSFNのＱ端子
出力が、偶数の時はフリツプフロツプSFNの端
子出力が選択され、被診断論理装置の診断スキヤ
ンパスの入力端子７に与えられる。この選択によ
りスキヤンイン動作でフリツプフロツプ数Ｍの偶
奇数にかかわらず正しい値がフリツプフロツプ
FR1，FR2，FR3，…，FRMにセツトされる。ま
たJKフリツプフロツプ１１３のＱ端子出力信号
（第３図のｒ）が論理１となるとANDゲート１２
７が開かれ排他的ORゲート１２６の出力信号
（第３図のｗ）がJKフリツプフロツプ１２８のＪ
端子に加えられる。この排他的ORゲート１２６
はJKフリツプフロツプ１０８のＱ端子出力信号
及び入力端子１の入力信号を入力信号としている
ためスキヤンイン動作が開始される前には前記の
２入力信号は一致しておりフリツプフロツプ１２
８のＪ端子入力信号は論理０である。また入力端
子１の入力信号は被診断論理装置のフリツプフロ
ツプFRMの反転出力で第３図のシフトクロツクｕ
のＭ回目のクロツクで反転する。この時JKフリ
ツプフロツプ１２８のＪ端子入力信号は論理１と
なるのでJKフリツプフロツプ１２８はシフトク
ロツクｕのＭ＋１回目と同タイミングのクロツク
でセツトされJKフリツプフロツプ１２８のＱ端
子出力信号（第３図のｘ）はANDゲート１２９
を開いてANDゲート１２９の出力信号に第３図
のｙに図示したパルスを発生させる。
プ数Ｍが奇数の時フリツプフロツプSFNのＱ端子
出力が、偶数の時はフリツプフロツプSFNの端
子出力が選択され、被診断論理装置の診断スキヤ
ンパスの入力端子７に与えられる。この選択によ
りスキヤンイン動作でフリツプフロツプ数Ｍの偶
奇数にかかわらず正しい値がフリツプフロツプ
FR1，FR2，FR3，…，FRMにセツトされる。ま
たJKフリツプフロツプ１１３のＱ端子出力信号
（第３図のｒ）が論理１となるとANDゲート１２
７が開かれ排他的ORゲート１２６の出力信号
（第３図のｗ）がJKフリツプフロツプ１２８のＪ
端子に加えられる。この排他的ORゲート１２６
はJKフリツプフロツプ１０８のＱ端子出力信号
及び入力端子１の入力信号を入力信号としている
ためスキヤンイン動作が開始される前には前記の
２入力信号は一致しておりフリツプフロツプ１２
８のＪ端子入力信号は論理０である。また入力端
子１の入力信号は被診断論理装置のフリツプフロ
ツプFRMの反転出力で第３図のシフトクロツクｕ
のＭ回目のクロツクで反転する。この時JKフリ
ツプフロツプ１２８のＪ端子入力信号は論理１と
なるのでJKフリツプフロツプ１２８はシフトク
ロツクｕのＭ＋１回目と同タイミングのクロツク
でセツトされJKフリツプフロツプ１２８のＱ端
子出力信号（第３図のｘ）はANDゲート１２９
を開いてANDゲート１２９の出力信号に第３図
のｙに図示したパルスを発生させる。
またカウンタ１２１は前に述べたスキヤンアウ
ト動作と同様にしてORゲート１１１の出力信号
ｓが論理１になると計数動作を開始し前記信号ｙ
のパルスが発生した時点では第３図ｄに図示した
ように計数値Ｍとなつている為、レジスタ１２４
には信号ｙのパルスで数値Ｍがセツトされ端子
TN1，…，TNKに表示される。一方信号ｙのパル
スではJKフリツプフロツプ１１３もリセツトさ
れるのでANDゲート１１９が閉じられシフトパ
ルスｕが止まる。その為被診断論理装置の診断ス
キヤンパスのフリツプフロツプに、第１図の反転
型シフトレジスタにスキヤンイン動作前に記憶さ
れていた値をセツトした状態でスキヤンパスのシ
フトを停止する。これは、フリツプフロツプ
FR1，FR2，FR3，…，FRMがスキヤンアウト動
作を行なう以前の状態に復旧した事を示してい
る。
ト動作と同様にしてORゲート１１１の出力信号
ｓが論理１になると計数動作を開始し前記信号ｙ
のパルスが発生した時点では第３図ｄに図示した
ように計数値Ｍとなつている為、レジスタ１２４
には信号ｙのパルスで数値Ｍがセツトされ端子
TN1，…，TNKに表示される。一方信号ｙのパル
スではJKフリツプフロツプ１１３もリセツトさ
れるのでANDゲート１１９が閉じられシフトパ
ルスｕが止まる。その為被診断論理装置の診断ス
キヤンパスのフリツプフロツプに、第１図の反転
型シフトレジスタにスキヤンイン動作前に記憶さ
れていた値をセツトした状態でスキヤンパスのシ
フトを停止する。これは、フリツプフロツプ
FR1，FR2，FR3，…，FRMがスキヤンアウト動
作を行なう以前の状態に復旧した事を示してい
る。
被診断論理装置のスキヤンパスのシフト動作が
終了してもフリツプフロツプSF1，SF2，…，
SFNで構成される反転型シフトレジスタのシフト
動作は続けられ、スキヤンアウト動作の場合と同
様にＮ回シフトして停止する。この反転型シフト
レジスタは前に述べた様にフリツプフロツプSFN
のＱ端子出力がフリツプフロツプSF1の入力とな
つている為、Ｎ回シフトした後は、シフトする前
の状態に戻つている事は明らかである。
終了してもフリツプフロツプSF1，SF2，…，
SFNで構成される反転型シフトレジスタのシフト
動作は続けられ、スキヤンアウト動作の場合と同
様にＮ回シフトして停止する。この反転型シフト
レジスタは前に述べた様にフリツプフロツプSFN
のＱ端子出力がフリツプフロツプSF1の入力とな
つている為、Ｎ回シフトした後は、シフトする前
の状態に戻つている事は明らかである。
以上説明した様にスキヤンアウト、スキヤンイ
ン動作完了後にはフリツプフロツプSR1，SR2，
…，SRNには被診断論理装置のフリツプフロツプ
FR1，FR2，FR3，…，FRMの値が読込まれ、レ
ジスタ１２４には被診断論理装置のスキヤンパス
を構成するフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，
…，FRMの個数がセツトされている。また被診断
論理装置のフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，
…，FRMは本動作を行なつても状態は保存され
る。また第４図に示した被診断論理装置の診断ス
キヤンパス上に故障がある場合には図に示されて
いないフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，…，
FRMのリセツト端子に初期化信号を印加して０ク
リアした後スキヤンアウト動作を行なえば第１図
のフリツプフロツプSF1，SF2，…，SFNのいく
つかが論理“１”を表示する。このときフリツプ
フロツプSFNからみて個目のフリツプフロツプ
SFN-が最初に論理“１”を表示していれば発
生した故障は前記診断スキヤンパス上のフリツプ
フロツプFRM-を常に論理“１”にする様な故
障、又はフリツプフロツプFRM- +1を常に論理
０とする様な故障であると判定出来る。
ン動作完了後にはフリツプフロツプSR1，SR2，
…，SRNには被診断論理装置のフリツプフロツプ
FR1，FR2，FR3，…，FRMの値が読込まれ、レ
ジスタ１２４には被診断論理装置のスキヤンパス
を構成するフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，
…，FRMの個数がセツトされている。また被診断
論理装置のフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，
…，FRMは本動作を行なつても状態は保存され
る。また第４図に示した被診断論理装置の診断ス
キヤンパス上に故障がある場合には図に示されて
いないフリツプフロツプFR1，FR2，FR3，…，
FRMのリセツト端子に初期化信号を印加して０ク
リアした後スキヤンアウト動作を行なえば第１図
のフリツプフロツプSF1，SF2，…，SFNのいく
つかが論理“１”を表示する。このときフリツプ
フロツプSFNからみて個目のフリツプフロツプ
SFN-が最初に論理“１”を表示していれば発
生した故障は前記診断スキヤンパス上のフリツプ
フロツプFRM-を常に論理“１”にする様な故
障、又はフリツプフロツプFRM- +1を常に論理
０とする様な故障であると判定出来る。
なお本発明は上記実施例に限定されず幾多の変
形や変更が可能である。例えば、上記実施例では
偶数Ｎ個のフリツプフロツプSF1，…，SFNから
構成される反転型シフトレジスタを用い、被診断
論理装置の診断スキヤンパスのフリツプフロツプ
数Ｍが奇数の時フリツプフロツプSFNのＱ端子出
力が、偶数の時端子出力が出力選択回路により
選択され、被診断論理装置の診断スキヤンパスの
入力端子７に与えられるように構成されている
が、上記Ｎ個が奇数個の場合には上記出力選択回
路は上記Ｍが奇数の時フリツプフロツプSFNの
端子出力を、偶数の時フリツプフロツプSFNのＱ
端子出力を、選択して上記診断スキヤンパスの入
力端子７に与えるように構成する必要がある。
形や変更が可能である。例えば、上記実施例では
偶数Ｎ個のフリツプフロツプSF1，…，SFNから
構成される反転型シフトレジスタを用い、被診断
論理装置の診断スキヤンパスのフリツプフロツプ
数Ｍが奇数の時フリツプフロツプSFNのＱ端子出
力が、偶数の時端子出力が出力選択回路により
選択され、被診断論理装置の診断スキヤンパスの
入力端子７に与えられるように構成されている
が、上記Ｎ個が奇数個の場合には上記出力選択回
路は上記Ｍが奇数の時フリツプフロツプSFNの
端子出力を、偶数の時フリツプフロツプSFNのＱ
端子出力を、選択して上記診断スキヤンパスの入
力端子７に与えるように構成する必要がある。
以上説明した様に本発明によれば、１ビツトシ
フト毎にシフトデータが反転する診断スキヤンパ
スを有する論理装置の診断処理装置が得られる。
これにより診断スキヤンパスに論理装置の初期値
と同じ論理値に固定される故障が発生しても故障
箇所の指摘ができ、かつ診断スキヤンパスが反転
シフトする事を意識せずに診断データの処理がで
きるという効果がある。
フト毎にシフトデータが反転する診断スキヤンパ
スを有する論理装置の診断処理装置が得られる。
これにより診断スキヤンパスに論理装置の初期値
と同じ論理値に固定される故障が発生しても故障
箇所の指摘ができ、かつ診断スキヤンパスが反転
シフトする事を意識せずに診断データの処理がで
きるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例による診断処理装置
を示す回路図、第２図及び第３図はそれぞれ第１
図で示した回路図のスキヤンアウト及びスキヤン
イン動作を説明するための各部の信号波形のタイ
ムチヤートを示した図、第４図は第１図の診断処
理装置で診断する被診断論理処理装置の診断スキ
ヤンパスを示す回路図である。 １，２，３，４，７，８，９は入力端子で、
５，６，１０，TS1，TS2，…，TSN，TN1，
…，TNKは出力端子で、SF1，SF2，…，SFN，
FR1，FR2，FR3，…，FRMはフリツプフロツプ
で、１０１，１０５，１１１，１１２はORゲー
トで、１０２，１０３，１０６，１０７，１１
５，１１６，１１８，１１９，１２２，１２５，
１２７，２０１，１２９，２０２はANDゲート
で、１０４，１１０，１１７，１２０はNOTゲ
ートで、１２６は排他的ORゲートで、１０８，
１０９，１１３，１１４，１２８はJKフリツプ
フロツプで、１２１はカウンタで、１２４はレジ
スタで、１２３はNANDゲートである。
を示す回路図、第２図及び第３図はそれぞれ第１
図で示した回路図のスキヤンアウト及びスキヤン
イン動作を説明するための各部の信号波形のタイ
ムチヤートを示した図、第４図は第１図の診断処
理装置で診断する被診断論理処理装置の診断スキ
ヤンパスを示す回路図である。 １，２，３，４，７，８，９は入力端子で、
５，６，１０，TS1，TS2，…，TSN，TN1，
…，TNKは出力端子で、SF1，SF2，…，SFN，
FR1，FR2，FR3，…，FRMはフリツプフロツプ
で、１０１，１０５，１１１，１１２はORゲー
トで、１０２，１０３，１０６，１０７，１１
５，１１６，１１８，１１９，１２２，１２５，
１２７，２０１，１２９，２０２はANDゲート
で、１０４，１１０，１１７，１２０はNOTゲ
ートで、１２６は排他的ORゲートで、１０８，
１０９，１１３，１１４，１２８はJKフリツプ
フロツプで、１２１はカウンタで、１２４はレジ
スタで、１２３はNANDゲートである。
Claims (1)
- １ １ビツトシフト毎にシフトデータが反転する
診断スキヤンパスを有する論理装置に接続され、
該論理装置の上記診断スキヤンパスのスキヤン出
力データ及びスキヤン入力データを格納する、１
ビツトシフト毎にシフトデータが反転するシフト
レジスタと、上記論理装置の上記診断スキヤンパ
スを構成するフリツプフロツプ数の偶奇数を検出
する検出手段と、該検出手段の検出結果により上
記論理装置の上記診断スキヤンパスに上記シフト
レジスタのシフト出力信号を反転あるいは非反転
して出力するかを選択する選択手段とを備えた論
理装置の診断処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4100379A JPS55134456A (en) | 1979-04-06 | 1979-04-06 | Diagnostic processing unit of logic unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4100379A JPS55134456A (en) | 1979-04-06 | 1979-04-06 | Diagnostic processing unit of logic unit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55134456A JPS55134456A (en) | 1980-10-20 |
| JPS6155133B2 true JPS6155133B2 (ja) | 1986-11-26 |
Family
ID=12596217
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4100379A Granted JPS55134456A (en) | 1979-04-06 | 1979-04-06 | Diagnostic processing unit of logic unit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55134456A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02248635A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-10-04 | Man Nutzfahrzeuge Ag | 排気タービン過給式内燃機関の加速補助手段 |
-
1979
- 1979-04-06 JP JP4100379A patent/JPS55134456A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02248635A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-10-04 | Man Nutzfahrzeuge Ag | 排気タービン過給式内燃機関の加速補助手段 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55134456A (en) | 1980-10-20 |
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