JPS615560A - 半導体装置 - Google Patents
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- JPS615560A JPS615560A JP59127879A JP12787984A JPS615560A JP S615560 A JPS615560 A JP S615560A JP 59127879 A JP59127879 A JP 59127879A JP 12787984 A JP12787984 A JP 12787984A JP S615560 A JPS615560 A JP S615560A
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- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、電力半導体モジュールなどに使用する半導
体装置の改良に関するものである。
体装置の改良に関するものである。
〔従来技術〕〜
近年、電子機器の発達は著しく、その小形軽量化が急速
に進んでいる。これらの基をなすものは、半導体装置の
小形化および信頼性の向上によるものである。このなか
でも特にトランジスタの大電流容量化に伴って、かかる
半導体装置の中容量の電力用半導体装置への応用が活発
になっており、小形軽量化を図ったパワーモジュールの
分野への適用も多(なってきている。
に進んでいる。これらの基をなすものは、半導体装置の
小形化および信頼性の向上によるものである。このなか
でも特にトランジスタの大電流容量化に伴って、かかる
半導体装置の中容量の電力用半導体装置への応用が活発
になっており、小形軽量化を図ったパワーモジュールの
分野への適用も多(なってきている。
このようなパワーモジュールのi長は軽量化と低価格で
あるが、このためには装置は樹脂封止形となる。パワー
モジュールでは、複数個の半導体チップを組込んでおり
、半導体チップ自体も大電流容量化に伴い大きくなるた
め、外形寸法は従来の樹脂封止形半導体装置に比べ、か
なり大きなものとなる。最近では、6素子入りのパワー
モジ、エールも実用化されている。
あるが、このためには装置は樹脂封止形となる。パワー
モジュールでは、複数個の半導体チップを組込んでおり
、半導体チップ自体も大電流容量化に伴い大きくなるた
め、外形寸法は従来の樹脂封止形半導体装置に比べ、か
なり大きなものとなる。最近では、6素子入りのパワー
モジ、エールも実用化されている。
このようなことから、パワーモジュールの樹脂封止には
、従来のものとは異なった構造が必要となってくる。な
かでも最も問題となるのは、外形寸法が大きくなること
により、容器内に充てんされる樹脂の体積が大きくなり
、半導体チップの発熱による温度上昇により、封止樹脂
の膨張や温度低下時における収縮によるひずみがチップ
やアルミニウム線に加わり、チップの割れやアルミニウ
ム線の断□線の原因となることである。
、従来のものとは異なった構造が必要となってくる。な
かでも最も問題となるのは、外形寸法が大きくなること
により、容器内に充てんされる樹脂の体積が大きくなり
、半導体チップの発熱による温度上昇により、封止樹脂
の膨張や温度低下時における収縮によるひずみがチップ
やアルミニウム線に加わり、チップの割れやアルミニウ
ム線の断□線の原因となることである。
これらを防止するため、最近では、容器内部の下層には
絶縁材としてのゲル状軟質樹脂で封止してチップやアル
ミニウム線部を囲み、上層には充てん後硬化することに
より強度の方が高くなる封止樹脂で封止し、引出された
外部端子の保持とモジュールの機械的保護とを行う二重
の樹脂封止構造のものが増えてきた。
絶縁材としてのゲル状軟質樹脂で封止してチップやアル
ミニウム線部を囲み、上層には充てん後硬化することに
より強度の方が高くなる封止樹脂で封止し、引出された
外部端子の保持とモジュールの機械的保護とを行う二重
の樹脂封止構造のものが増えてきた。
この種の従来の半導体装置を第1図に示す。第2図は第
1図の平面図であり、第3図は第2図の要部を拡大して
示す断面図である。これらの図はパワーモジュールに使
用するトランジスタの場合を示し、図において、■はア
ルミニウム放熱板であり、1上面にアルミナ材等からな
る絶縁基板2が固着されている。この絶縁基板2上には
内部端子としてのペース電極3B、コレクタ電極3C,
エミッタ電極3Eが纏着されている。コレクタ電極3C
上には、トランジスタチップ41.フライホイールダイ
オードチップ40が、ペース電極3B上には、スピード
アンプダイオードチップ42が固着されている。また、
ベース電極3Bは、外部端子14に、エミッタ電極3E
は外部端子15に引出されている。トランジスタチップ
41上面のペースポンディングパッドがスピードアンプ
ダイオードチップ42上面のパッドとアルミニウム線2
0Bにより、フライホイールダイオードチップ40上面
のエミッタポンディングパッドが対応するエミッタ電極
3Eとアルミニウム線20Bにより、さらにトランジス
タ干ツブ41上面のエミッタボンケイングパッドが対応
するエミッタ電極1(図示せず)とアルミニウム線21
Eによりそれぞれボンディング接続されでいる。
1図の平面図であり、第3図は第2図の要部を拡大して
示す断面図である。これらの図はパワーモジュールに使
用するトランジスタの場合を示し、図において、■はア
ルミニウム放熱板であり、1上面にアルミナ材等からな
る絶縁基板2が固着されている。この絶縁基板2上には
内部端子としてのペース電極3B、コレクタ電極3C,
エミッタ電極3Eが纏着されている。コレクタ電極3C
上には、トランジスタチップ41.フライホイールダイ
オードチップ40が、ペース電極3B上には、スピード
アンプダイオードチップ42が固着されている。また、
ベース電極3Bは、外部端子14に、エミッタ電極3E
は外部端子15に引出されている。トランジスタチップ
41上面のペースポンディングパッドがスピードアンプ
ダイオードチップ42上面のパッドとアルミニウム線2
0Bにより、フライホイールダイオードチップ40上面
のエミッタポンディングパッドが対応するエミッタ電極
3Eとアルミニウム線20Bにより、さらにトランジス
タ干ツブ41上面のエミッタボンケイングパッドが対応
するエミッタ電極1(図示せず)とアルミニウム線21
Eによりそれぞれボンディング接続されでいる。
次に、上記従来装置の組立て方法につしζて説明する。
・
まず、絶縁基板2の両面の所要ハンダ付+i箇所にメタ
ライズ層を施す、放熱板1上にハンダ扉片2/l−介し
て絶縁基板2を形成し、その上にそれぞれハンダ薄片3
A″を介してベース電株3B″、□コレクタ電極3C,
エミッタ電極3Eを載せる。さらにベース電極3B上に
ハンダ薄片4Aを介してスピードアップダイオードチッ
プ42を、コレクタ電極3C上にハンダ薄片4Aを介し
てトランジスタチップ41.フライホイールダイ・オー
ドチップ40を配置する。
ライズ層を施す、放熱板1上にハンダ扉片2/l−介し
て絶縁基板2を形成し、その上にそれぞれハンダ薄片3
A″を介してベース電株3B″、□コレクタ電極3C,
エミッタ電極3Eを載せる。さらにベース電極3B上に
ハンダ薄片4Aを介してスピードアップダイオードチッ
プ42を、コレクタ電極3C上にハンダ薄片4Aを介し
てトランジスタチップ41.フライホイールダイ・オー
ドチップ40を配置する。
このように、各部品が載せられた放熱板1を組立設備の
図示しない熱板上に載せ、加熱し′を各部品をハンダ融
着する。次にトランジスタチップ41上面のエミッタポ
ンディングパッドとエミッタ電極(図示せず)とをアル
ミニウム線21Bにより、フライホイールダイオードチ
ップ40上面のエミッタポンディングパッドとエミッタ
電極3Eとをアルミニウム線20Hにより、さらにミ
トランジスタチップ41上面のペースポンディングパッ
ドとベース電極3B上のスピードアップダイオードチッ
プ42の上面のパッドとをアルミニウム線20Bにより
ライ十ボンドする。各電極3B。
図示しない熱板上に載せ、加熱し′を各部品をハンダ融
着する。次にトランジスタチップ41上面のエミッタポ
ンディングパッドとエミッタ電極(図示せず)とをアル
ミニウム線21Bにより、フライホイールダイオードチ
ップ40上面のエミッタポンディングパッドとエミッタ
電極3Eとをアルミニウム線20Hにより、さらにミ
トランジスタチップ41上面のペースポンディングパッ
ドとベース電極3B上のスピードアップダイオードチッ
プ42の上面のパッドとをアルミニウム線20Bにより
ライ十ボンドする。各電極3B。
3G、3Eの先端を上方に曲げ起こし、これを各電極の
外部端子9〜15にはんだ付は等により接続する。次い
で、放熱板1上に外装容′IS5を接着剤等で接着し、
外装容器5内部の下層には絶縁材としてのゲル状封止樹
脂で封止し、外装容器5の上層には各外部端子9〜15
固定のための硬化封止樹脂7で封止して製品が完成する
。
外部端子9〜15にはんだ付は等により接続する。次い
で、放熱板1上に外装容′IS5を接着剤等で接着し、
外装容器5内部の下層には絶縁材としてのゲル状封止樹
脂で封止し、外装容器5の上層には各外部端子9〜15
固定のための硬化封止樹脂7で封止して製品が完成する
。
ところで、上記従来の半導体装置は、放熱板1上にハン
ダ薄片2Aを介して絶縁基板2を、さらにこの上にそれ
ぞれハンダ薄片3Aを介してベース電極3B、コレクタ
電極3C,エミッタ電極3Eを載せなければならず、ま
た、各トランジスタTrL Tr2.Tr3のコレクタ
電極3Cの先端を外部端子9に銅の電極16を介してハ
ンダ接続しなければならず、そして、各トランジスタT
r4. Tr5+ T−r6のエミッター極3Eの先端
、を銅の電極17を介して外部端子10にハンダ接続し
なければならず、トランジスタTriのエミッタ電極3
EとトランジスタTr4のコレクタ電極3Cとを外部端
子1)に、トランジスタTr2のエミッタ電極3Eとト
ランジスタTr5のコレクタ電極3Cとを外部端子12
に、トランジスタTr3のエミッタ電極3Eとトランジ
スタTr6のコレクタ電極3Cとを外部端子13に、そ
れぞれ立体的にハンダ接続し、トランジスタTri〜T
r6のベース電極3Bとエミッタ電極3Eとは外部端子
14.15に、それぞれハンダ付けをしなければならず
、ハンダ付けに非常に多くの組立工数を必要とし、外部
端子9〜15の位置決めが非常に困難であり、位置決め
のための外部端子9〜15の位置儒正に多くの作業時間
がかかる等の欠点があった。
ダ薄片2Aを介して絶縁基板2を、さらにこの上にそれ
ぞれハンダ薄片3Aを介してベース電極3B、コレクタ
電極3C,エミッタ電極3Eを載せなければならず、ま
た、各トランジスタTrL Tr2.Tr3のコレクタ
電極3Cの先端を外部端子9に銅の電極16を介してハ
ンダ接続しなければならず、そして、各トランジスタT
r4. Tr5+ T−r6のエミッター極3Eの先端
、を銅の電極17を介して外部端子10にハンダ接続し
なければならず、トランジスタTriのエミッタ電極3
EとトランジスタTr4のコレクタ電極3Cとを外部端
子1)に、トランジスタTr2のエミッタ電極3Eとト
ランジスタTr5のコレクタ電極3Cとを外部端子12
に、トランジスタTr3のエミッタ電極3Eとトランジ
スタTr6のコレクタ電極3Cとを外部端子13に、そ
れぞれ立体的にハンダ接続し、トランジスタTri〜T
r6のベース電極3Bとエミッタ電極3Eとは外部端子
14.15に、それぞれハンダ付けをしなければならず
、ハンダ付けに非常に多くの組立工数を必要とし、外部
端子9〜15の位置決めが非常に困難であり、位置決め
のための外部端子9〜15の位置儒正に多くの作業時間
がかかる等の欠点があった。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を解消する
ためになされたもので、アルミニウム放熱板上全面に絶
縁層を直接焼結等により形成し、その上に全面に銅薄及
びアルミニウム薄を形成したのち、パターンニング及び
エツチングにより所望部分のみに銅薄、アルミニウム薄
を残し、これらの上に半導体チップ及びその外部電極端
子を直接載せ、直接ボンディングを行なうようにするこ
とにより、内部電極端子をな(してハンダ付は箇所を大
幅に減らすことができる半導体装置を提供することを目
的としている。
ためになされたもので、アルミニウム放熱板上全面に絶
縁層を直接焼結等により形成し、その上に全面に銅薄及
びアルミニウム薄を形成したのち、パターンニング及び
エツチングにより所望部分のみに銅薄、アルミニウム薄
を残し、これらの上に半導体チップ及びその外部電極端
子を直接載せ、直接ボンディングを行なうようにするこ
とにより、内部電極端子をな(してハンダ付は箇所を大
幅に減らすことができる半導体装置を提供することを目
的としている。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第4〜第6図はこの発明の一実施例による半導体装置を
示すもので、第4図はぞのパワートランジスタモジュー
ルの斜視図であり、第5図は第4図の平面図、第6図は
第5図の要部を拡大して示す断面図である。これらの図
において、第1図〜第3図と同一符号は同−又は相当部
分を示し、第6図において、22は軽量なアルミニウム
放熱板 (1上の全面に形成された絶縁
層、6Cは該絶縁層22上に形成された銅薄、4はこの
銅薄6C上にハンダ3Aにより固着された、銅又はMo
板8等にハンダ付け(4A)した半導体チップ、6B。
示すもので、第4図はぞのパワートランジスタモジュー
ルの斜視図であり、第5図は第4図の平面図、第6図は
第5図の要部を拡大して示す断面図である。これらの図
において、第1図〜第3図と同一符号は同−又は相当部
分を示し、第6図において、22は軽量なアルミニウム
放熱板 (1上の全面に形成された絶縁
層、6Cは該絶縁層22上に形成された銅薄、4はこの
銅薄6C上にハンダ3Aにより固着された、銅又はMo
板8等にハンダ付け(4A)した半導体チップ、6B。
6Eはそれぞれ絶縁層22上に形成された銅薄、7B、
7Bは該各銅薄6B、6E上に形成されたアルミニウム
薄である。一方第5図において、絶縁層22上に銅薄E
iB、’6Eが形成され、銅薄6B上にベース電極14
.スピードアップダイオードチップ43が固着され、か
つアルミニウムI!7Bが形成されており、一方、銅薄
6E上にエミッタ電極15が固着され、かつアルミニウ
ム薄7Eが形成されている。チップ4のエミッタ電極は
銅薄上に形成されたアルミニウム薄19の配線により外
部端子10に接続されている。
7Bは該各銅薄6B、6E上に形成されたアルミニウム
薄である。一方第5図において、絶縁層22上に銅薄E
iB、’6Eが形成され、銅薄6B上にベース電極14
.スピードアップダイオードチップ43が固着され、か
つアルミニウムI!7Bが形成されており、一方、銅薄
6E上にエミッタ電極15が固着され、かつアルミニウ
ム薄7Eが形成されている。チップ4のエミッタ電極は
銅薄上に形成されたアルミニウム薄19の配線により外
部端子10に接続されている。
次に、上記半導体装置の組立て方法について説明する。
第4. 5. 6図に示すごとく、アルミニウム放熱板
l上の片面全面に絶縁層22を直接焼結によ′り形成し
、その上の全面に銅薄を、該銅薄上全面にア)レミニウ
ム薄を形成し、それら銅薄及びアルミニウム薄をパター
ンニングしたのち、エツチングによりそれらの不必要部
分を取り除いて、チップ4.43及びその端子14.1
5のハンダ付けすべき部分に銅薄6B、6G、6Eを残
し、かつ残りの端子9〜13のハンダ付は部及びアルミ
ニウム薄18.19により配線を行うべき部分にも銅薄
を残し、アルミニウムボンディングを行うべき部分にア
ルミニウム薄7B、7Eを、配線を行うべき部分にアル
ミニウム薄18.19を残す。
l上の片面全面に絶縁層22を直接焼結によ′り形成し
、その上の全面に銅薄を、該銅薄上全面にア)レミニウ
ム薄を形成し、それら銅薄及びアルミニウム薄をパター
ンニングしたのち、エツチングによりそれらの不必要部
分を取り除いて、チップ4.43及びその端子14.1
5のハンダ付けすべき部分に銅薄6B、6G、6Eを残
し、かつ残りの端子9〜13のハンダ付は部及びアルミ
ニウム薄18.19により配線を行うべき部分にも銅薄
を残し、アルミニウムボンディングを行うべき部分にア
ルミニウム薄7B、7Eを、配線を行うべき部分にアル
ミニウム薄18.19を残す。
このようにして形成された銅薄上のハンダ付けすべき所
に金属マスク等によりクリーム状のハンダ3Aをハンダ
印刷する。続いて例えば銅薄6C上に、銅又はMo板8
等をハンダ付けしたチップ4を載せ、一方他の銅薄上に
端子9〜15を載せ、リフロー炉かホットプレート上で
ハンダ3Aの融点以上に加熱し、チップ4を銅薄6Cに
、端子9〜15を他の銅薄にそれぞれハンダ付けする。
に金属マスク等によりクリーム状のハンダ3Aをハンダ
印刷する。続いて例えば銅薄6C上に、銅又はMo板8
等をハンダ付けしたチップ4を載せ、一方他の銅薄上に
端子9〜15を載せ、リフロー炉かホットプレート上で
ハンダ3Aの融点以上に加熱し、チップ4を銅薄6Cに
、端子9〜15を他の銅薄にそれぞれハンダ付けする。
その後、チップ4のベースおよびエミッタの各ポンディ
ングパッドと、対応するベース電極14.工ミッタ電極
15の先端のアルミニウム薄7B、7Eとをそれぞれア
ルミニウム線30B、30gでボンディング接続する。
ングパッドと、対応するベース電極14.工ミッタ電極
15の先端のアルミニウム薄7B、7Eとをそれぞれア
ルミニウム線30B、30gでボンディング接続する。
次に各端子9〜15をハンダ付けした根元より起こして
立てる。次にアルミニウム放熱板1上に外装容器5を接
着剤等で接着し、外装容器5内部の下層には絶縁材とし
てのゲル状封止樹脂で封止し、外装容器5の上層には。
立てる。次にアルミニウム放熱板1上に外装容器5を接
着剤等で接着し、外装容器5内部の下層には絶縁材とし
てのゲル状封止樹脂で封止し、外装容器5の上層には。
各外部端子9〜15を固定するための硬化封止樹脂7で
封止して製品が完成する。
封止して製品が完成する。
このように本実施例の半導体装置では、アルミニウム放
熱板1上全面に形成された絶縁層22上の所要部分のみ
に#Iil薄を残し、その1部の銅薄上に直接外部端子
9〜15をハンダ付けしているため、従来のように内部
の端子と外部端子をハンダ付けする必要はない。また、
アルミニウム放熱板1上の全面に絶縁層22を形成した
ので、トランジスタTri〜Tr6を絶縁するために個
々に絶縁基板2を放熱板1上にハンダ付けする必要はな
い。
熱板1上全面に形成された絶縁層22上の所要部分のみ
に#Iil薄を残し、その1部の銅薄上に直接外部端子
9〜15をハンダ付けしているため、従来のように内部
の端子と外部端子をハンダ付けする必要はない。また、
アルミニウム放熱板1上の全面に絶縁層22を形成した
ので、トランジスタTri〜Tr6を絶縁するために個
々に絶縁基板2を放熱板1上にハンダ付けする必要はな
い。
また、外部端子9.10はこれを絶縁層22上の一部の
銅薄上に設け、それぞれコレクタ電極、エミッタ電極と
アルミニウム1)8.19の配線により直接平面配線し
ているため、従来のように立体配線とならずハンダ付は
箇所が減少しており、これは外部端子1)〜13につい
ても同様である。
銅薄上に設け、それぞれコレクタ電極、エミッタ電極と
アルミニウム1)8.19の配線により直接平面配線し
ているため、従来のように立体配線とならずハンダ付は
箇所が減少しており、これは外部端子1)〜13につい
ても同様である。
さらに、外部端子9〜15の位置決めも容易である等、
大幅に作業時間を短縮できる等の利点を有する。
大幅に作業時間を短縮できる等の利点を有する。
以上のように、この発明によれば、アルミニウム放熱板
上全面に絶縁層を形成し、その上に全面に銅薄及びアル
ミ、ニウム薄を形成したのち、バターンニング及びエツ
チングにより所望部分のみに銅薄、アルミニウム薄を残
し、これらの上に半導体チップ、その外部電極端子を載
せ、あるいはポンディングを行うことにより、内部電極
端子をなくしてアルミニウム放熱板上に直接外部電極端
子を設げ、これを平面配線できるようにしたので、大幅
にハンダ付は箇所を減らし、作業時間を短縮できる効果
がある。
上全面に絶縁層を形成し、その上に全面に銅薄及びアル
ミ、ニウム薄を形成したのち、バターンニング及びエツ
チングにより所望部分のみに銅薄、アルミニウム薄を残
し、これらの上に半導体チップ、その外部電極端子を載
せ、あるいはポンディングを行うことにより、内部電極
端子をなくしてアルミニウム放熱板上に直接外部電極端
子を設げ、これを平面配線できるようにしたので、大幅
にハンダ付は箇所を減らし、作業時間を短縮できる効果
がある。
4、FI!Jカ。工4、 (第
1図、第2図は従来の半導体装置を示す斜視図と平面図
、第3図はその装置の要部を拡大して示す断面図、第4
図、第5図はこの発明の一実施例による半導体装置の斜
視図及び平面図、第6図、は本実施例装置の要部を拡大
し王示す断面図であ1・・・アルミニウム放熱板、2i
・・・絶縁層、4・・・半導体チップ、43・・・スぐ
−ドアツブダイオードチップ、5・・・外装容器、6B
、もC,6E・・・銅薄、7B、7E、18.19・・
・アルミニウム薄、30B、30E・・・アルミニウム
線(ポンディングワイヤ)、7・・・硬化封止樹脂(外
部呻子固定のための樹脂)、9〜15・・・外部端子。
1図、第2図は従来の半導体装置を示す斜視図と平面図
、第3図はその装置の要部を拡大して示す断面図、第4
図、第5図はこの発明の一実施例による半導体装置の斜
視図及び平面図、第6図、は本実施例装置の要部を拡大
し王示す断面図であ1・・・アルミニウム放熱板、2i
・・・絶縁層、4・・・半導体チップ、43・・・スぐ
−ドアツブダイオードチップ、5・・・外装容器、6B
、もC,6E・・・銅薄、7B、7E、18.19・・
・アルミニウム薄、30B、30E・・・アルミニウム
線(ポンディングワイヤ)、7・・・硬化封止樹脂(外
部呻子固定のための樹脂)、9〜15・・・外部端子。
なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- (1)アルミニウム放熱板上の片面全面に形成された絶
縁層と、該絶縁層上の全面に銅薄を形成し該銅薄上の全
面にアルミニウム薄を形成したのち、半導体チップ又は
該チップの各電極の外部端子を固着する部分を形成する
銅薄、アルミニウムボンディングを行う部分を形成する
アルミニウム薄及び平面配線のためのアルミニウム薄が
残るようにパターンニング及びエッチングにより上記銅
薄、アルミニウム薄の不必要部分を取り除いて形成され
た複数の銅薄及び複数のアルミニウム薄と、上記一部の
銅薄上に固着された半導体チップと、上記他の一部の銅
薄上に固着された上記チップの各電極の外部端子と、上
記半導体チップと上記アルミニウム薄とを接続するボン
ディングワイヤと、上記アルミニウム放熱板上の周縁部
にその内部下層に絶縁材としての樹脂を、その上層に上
記外部端子固定のための樹脂を封止して装着された絶縁
材からなる外装容器とを備えたことを特徴とする半導体
装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59127879A JPS615560A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 半導体装置 |
| KR1019850002517A KR900001744B1 (ko) | 1984-06-19 | 1985-04-15 | 반도체장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59127879A JPS615560A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS615560A true JPS615560A (ja) | 1986-01-11 |
Family
ID=14970896
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59127879A Pending JPS615560A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 半導体装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS615560A (ja) |
| KR (1) | KR900001744B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1255298A3 (en) * | 2001-05-04 | 2005-04-06 | Ixys Corporation | Power device with a plastic molded package and direct bonded substrate |
-
1984
- 1984-06-19 JP JP59127879A patent/JPS615560A/ja active Pending
-
1985
- 1985-04-15 KR KR1019850002517A patent/KR900001744B1/ko not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1255298A3 (en) * | 2001-05-04 | 2005-04-06 | Ixys Corporation | Power device with a plastic molded package and direct bonded substrate |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR900001744B1 (ko) | 1990-03-19 |
| KR860000714A (ko) | 1986-01-30 |
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