JPS6167819A - 半導体レ−ザ光走査装置 - Google Patents

半導体レ−ザ光走査装置

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Publication number
JPS6167819A
JPS6167819A JP59191025A JP19102584A JPS6167819A JP S6167819 A JPS6167819 A JP S6167819A JP 59191025 A JP59191025 A JP 59191025A JP 19102584 A JP19102584 A JP 19102584A JP S6167819 A JPS6167819 A JP S6167819A
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JP
Japan
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semiconductor laser
laser beam
scanning
laser light
arrow
Prior art date
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Pending
Application number
JP59191025A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Ito
修 伊藤
Masaichiro Tachikawa
雅一郎 立川
Hiroshi Wakahara
廣 若原
Yasuhiro Ozawa
小沢 康宏
Hironori Ono
小野 広則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPS6167819A publication Critical patent/JPS6167819A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体レーザプリンタ等に用いられる半導体
レーザビーム走査装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点 近年、半導体技術の進歩に伴ない半導体レーザは年々信
頼性が向上し、かつ価格も安くなっている。これに加え
て、半導体レーザは小型でかつ直接変調が可能であると
いう特徴を持つため、その利用分野が急速に広がってお
り、半導体レーザビーム走査装置にも、一層の高精度化
が要求されている。
以下においては、半導体レーザビーム走査装置を利用し
た典型的な例として、半導体レーザビームプリンタを取
りあげ、説明を行なう。
以下、図面を参照しながら従来の半導体レーザビームプ
リンタについて説明する。第1図は従来の半導体レーザ
ビームプリンタの斜視図であり、1は半導体レーザ、2
はコリメートレンズ、3は回転多面鏡、4はfθレンズ
、5は感光体、6は同期検出装置、7は半導体レーザ駆
動装置である。
以上の様に構成された半導体レーザビームプリンタにつ
いて、その動作を以下に説明する。半導体レーザ1から
発せられたレーザ光は、コリメートレンズ2によって平
行レーザ光となり、回転多面鏡3に入射する。回転多面
鏡3の図中矢印入方向の回転により、平行レーザ光は図
中矢印B方向に走査され、さらにfθレンズ4によって
感光体5上に結像され、感光体5上を図中矢印C方向に
等速走査する。さらに感光体6が図中矢印り方向に回転
することによって感光体5上に平面走査が行なわれる。
レーザ光の一部は同期検出装置6の受光面に結像する。
同期検出装置6は、半導体レーザ駆動装置アに、−走査
線毎の書き込み開始信号を与え感光体60回転方向に関
して走査の同期をとる。
しかしながら、上記のような構成においては、回転多面
鏡3の図中矢印入方向の回転速度変動によって、感光体
S上に記録されるレーザ光走査線が図中矢印C方向に対
してむらを生じて、その結果、画質が低下するという問
題点を有していた。
発明の目的 本発明の目的は高精度の走査を可能とする半導体レーザ
ビーム走査装置を提供する事である。
発明の構成 本発明の半導体レーザ走査装置は光源となる半導体レー
ザと、前記半導体レーザが発するレーザ光を平行レーザ
光とするコリメートレンズと、第1の方向に対して前記
レーザ光の走査を行なうレーザ光走査手段と、前記レー
ザ光の前記走査の前記第1の方向の速度変動を検出する
速度変動検出手段と、前記速度変動検出手段によって検
出される前記速度変動に応じて、前記半導体レーザと前
記コリメートレンズを前記第1の方向に対応する方向に
相対的に移動させる光学系移動手段とを具備するように
構成したものであり、これにより、レーザ光走査のむら
を補正し、高精度の走査を行なうものである。
実施例の説明 以下、本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。
第2図は本発明の一実施例における半導体レーザビーム
プリンタの斜視図であり、8は半導体レーザ、9はコリ
メートレンズ、1oは回転多面鏡、11はfθレンズ、
12は感光体、13は同期検出装置、14は半導体レー
ザ駆動装置、16は回転多面鏡回転速度変動検出装置、
16はごリメートレンズ移動装置である。
以上の様に構成された本実施例の半導体レーザビームプ
リンタについて、以下その動作を説明する。但し、8〜
140基本的な動作については第1図の1〜アの動作と
同様であるので説明を省略する。
回転多面鏡回転速度変動検出装置1Sは、回転多面鏡1
oの図中矢印E方向の回転速度変動を検出する。検出さ
れた回転速度変動から、走査線の図中矢印F方向の位置
ずれ量が求められる。コリメートレンズ移動装置16は
、検出された位置ずれ量に応じて、コリメートレンズ9
を図中矢印G方向に移動させ、位置ずれを補正する。
コリメートレンズの移動によって、走査線のずれをどの
程度補正できるかを、第3図を用いて説明する。第3図
は、本発明の一実施例における半導体レーザビームプリ
ンタの正面図であり、17は半導体レーザ、18はコリ
メートレンズ、19はfθレンズ、20はレーザ光結像
線、21ばfθレンズ19の光軸である。また、半導体
レーザ17の発光点は、fθレンズ19の光軸上に位置
する。さらに、第3図において、aはコリメートレンズ
18の光軸とfθレンズ19の光軸21とのずれ量、θ
はコリメートレンズ18通過後のレーザ光と光軸21と
の傾き、bは結像点と光軸21のずれ量、fl、f2ば
それぞれコリメートレンズ18、fθレンズ19の焦点
距離、図中矢印Hは第2図中の矢印F、 Gに対応する
方向を示す矢印である。第3図より、θは下式にて求め
られる。
θ;a/f1    ・・・・・・(1)fθレンズの
特性から、 b;f2θ    ・・・・・・(2)(1)、 (2
)式より 走査線のずれ量は、通常、 5626μm   ・・・・・・(4)程度であり、ま
た光学系としては、 f =10個   ・・・・・・(5)f  =250
翻   ・・・・・・(6)程度に設計される。
(4)〜(6)式を(鴫式に代入して、661μm  
  ・・・・・・(7)が得られ、コリメートレンズ1
8をわずかに変位させるだけで、レーザ光走査線のずれ
量の補正が可能である事がわかる。
また、第2図のコリメートレンズ移動装置16は電歪効
果を持つ材料を用いて構成しているため、簡易な構成で
(7)式で表わされるような微小な変位を精度良く実現
している。
発明の効果 以上の説明から明らかなように、本発明による半導体レ
ーザ光走査装置は、光源となる半導体レーザと、前記半
導体レーザが発するレーザ光を平行レーザ光とするコリ
メートレンズと、第1の方向に対して前記レーザ光の走
査を行なうレーザ光走査手段と、前記レーザ光の前記走
査の前記第1の方向の速度変動を検出する速度変動検出
手段と、前記速度変動検出手段によって検出される前記
速度変動に応じて、前記半導体レーザと前記コリメート
レンズを前記第1の方向に対応する方向に相対的に移動
させる光学系移動手段とを具備するように構成したもの
であり、これにより、レーザ光走査手段の速度変動が原
因で起こるレーザ光の走査むらを補正し、高精度の走査
を行なえるという優れた効果が得られる。
さらに、光学系移動手段に電歪効果を持つ部材を利用す
る事により、簡易な構成で、半導体レーザとコリメート
レンズの相対的移動を精度良く実現できるという効果が
得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の半導体レーザビームプリンタの斜視図、
第2図は本発明の一実施例における半導体レーザ光走査
装置の斜視図、第3図は本発明の一実施例における半導
体レーザビームプリンタの平面図である。 8.17・・・・・・半導体レーザ、9,18・・・・
・・コリメートレンズ、1Q・・・・・・回転多面鏡、
1S・・・・・・回転多面鏡回転速度変動検出装置。1
e・・・・・・コリメートレンズ移動装置。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第3
図 H1

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源となる半導体レーザと、前記半導体レーザが
    発するレーザ光を平行レーザ光とするコリメートレンズ
    と、第1の方向に対して前記レーザ光の走査を行なうレ
    ーザ光走査手段と、前記レーザ光の前記走査の前記第1
    の方向の速度変動を検出する速度変動検出手段と、前記
    速度変動検出手段によって検出される前記速度変動に応
    じて、前記半導体レーザと前記コリメートレンズを前記
    第1の方向に対応する方向に相対的に移動させる光学系
    移動手段とを具備することを特徴とする半導体レーザ光
    走査装置。
  2. (2)光学系移動手段に電歪効果を持つ部材を利用した
    事を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体レー
    ザ光走査装置。
JP59191025A 1984-09-12 1984-09-12 半導体レ−ザ光走査装置 Pending JPS6167819A (ja)

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JP59191025A JPS6167819A (ja) 1984-09-12 1984-09-12 半導体レ−ザ光走査装置

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JP59191025A JPS6167819A (ja) 1984-09-12 1984-09-12 半導体レ−ザ光走査装置

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JPS6167819A true JPS6167819A (ja) 1986-04-08

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JP59191025A Pending JPS6167819A (ja) 1984-09-12 1984-09-12 半導体レ−ザ光走査装置

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