JPS6174082A - パタ−ンマツチング用標準パタ−ンの作成方法 - Google Patents
パタ−ンマツチング用標準パタ−ンの作成方法Info
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- JPS6174082A JPS6174082A JP59194670A JP19467084A JPS6174082A JP S6174082 A JPS6174082 A JP S6174082A JP 59194670 A JP59194670 A JP 59194670A JP 19467084 A JP19467084 A JP 19467084A JP S6174082 A JPS6174082 A JP S6174082A
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- G06V10/44—Local feature extraction by analysis of parts of the pattern, e.g. by detecting edges, contours, loops, corners, strokes or intersections; Connectivity analysis, e.g. of connected components
- G06V10/443—Local feature extraction by analysis of parts of the pattern, e.g. by detecting edges, contours, loops, corners, strokes or intersections; Connectivity analysis, e.g. of connected components by matching or filtering
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、標僧パターンの作成方法に係り、画像を処理
することによって、対象を認識する装置、特に、パター
ンマツチングにより対象を認識する装置のために、対象
品種毎の標準パターンを自動的に作成する方法に関する
ものである。
することによって、対象を認識する装置、特に、パター
ンマツチングにより対象を認識する装置のために、対象
品種毎の標準パターンを自動的に作成する方法に関する
ものである。
従来から、特公昭58−39357号に記載のように、
物体の輪郭パターンや表面に存在するパターンを用いて
その物体の位置を検出する方法として部分パターンマツ
チング法があり、トランジスタ、IC,LSIなどの組
立に広く利用されている。この方法では、物体中の特徴
的な部分パターンを予め記憶しておき、入力される物体
の画像からそのパターンの位置を検出することを基本と
する。ここでは、対象の全体ではなく部分のみを標準パ
ターンとすることによって、標準パターンの構成点数を
小さく抑えることができ、従って実用的な装置規模で専
用の高速処理回路を構成することができる。しかし、こ
の方法の実施に際しては、どの部分を標準パターンとす
ればよいかということが問題となり、標準パターンのユ
ニークさが問われることになる。すなわち、標準パター
ンとしては画面内で他に類似のパターンが現れないよう
な部分を選択しなければならない。
物体の輪郭パターンや表面に存在するパターンを用いて
その物体の位置を検出する方法として部分パターンマツ
チング法があり、トランジスタ、IC,LSIなどの組
立に広く利用されている。この方法では、物体中の特徴
的な部分パターンを予め記憶しておき、入力される物体
の画像からそのパターンの位置を検出することを基本と
する。ここでは、対象の全体ではなく部分のみを標準パ
ターンとすることによって、標準パターンの構成点数を
小さく抑えることができ、従って実用的な装置規模で専
用の高速処理回路を構成することができる。しかし、こ
の方法の実施に際しては、どの部分を標準パターンとす
ればよいかということが問題となり、標準パターンのユ
ニークさが問われることになる。すなわち、標準パター
ンとしては画面内で他に類似のパターンが現れないよう
な部分を選択しなければならない。
当初、この選択は、特開昭50−144343号に記載
されたような装置を用いることによって、・ 人の直感
にたよっておこなわれたが、対象物体の品種切替が多い
ときにはそのための手間、熟練者の必要なことが問題と
なり、自動化が望まれていた。
されたような装置を用いることによって、・ 人の直感
にたよっておこなわれたが、対象物体の品種切替が多い
ときにはそのための手間、熟練者の必要なことが問題と
なり、自動化が望まれていた。
本発明の目的は、部分パターンマツチングのため−に、
自動的に標準パターンを選択する有効な方法を提供する
ことにある。
自動的に標準パターンを選択する有効な方法を提供する
ことにある。
目的を達成するため、まず誤マツチングの原因を解析し
、誤マツチングを起さないための条件を求め、次いで標
準パターンとしてのユニークさを表わす評価関数を考案
した。さらに標準パターン選択の処理時間を短縮するた
め、補助評価関数を併せて考案した。
、誤マツチングを起さないための条件を求め、次いで標
準パターンとしてのユニークさを表わす評価関数を考案
した。さらに標準パターン選択の処理時間を短縮するた
め、補助評価関数を併せて考案した。
まず、本発明の説明に先たち、部分パターンマツチング
の定義をしておく。
の定義をしておく。
画像を標本化したときの各櫟本点を画素と呼ぶ。
2値画像を構成する画素数をMXM、座標を(X。
Y)とし、(X、Y)における画素の値をP(X、Y)
とする。こ、:でP(X、Y)=0または1.1≦X≦
M、l≦Y≦Mである。一方探準パターンの横縦の画素
数をNXN、座標を(i、j)、(i、j)における値
をT(II j)とする。このとき、T(i、j)=0
または1であり、 とする。
とする。こ、:でP(X、Y)=0または1.1≦X≦
M、l≦Y≦Mである。一方探準パターンの横縦の画素
数をNXN、座標を(i、j)、(i、j)における値
をT(II j)とする。このとき、T(i、j)=0
または1であり、 とする。
2値画像から縦横ともに画素毎にサンプリングした圧縮
画像の中から部分パターンを抜き出すことを考える。最
初のサンプリング点、すなわちサンプリングの位相をξ
、ηとする。O≦ξ≦に−1,0≦η≦に−1であり、
このときサンプリング点の座標(x、y)は1次式を満
たす。
画像の中から部分パターンを抜き出すことを考える。最
初のサンプリング点、すなわちサンプリングの位相をξ
、ηとする。O≦ξ≦に−1,0≦η≦に−1であり、
このときサンプリング点の座標(x、y)は1次式を満
たす。
X=に工+ξ、Y=に、+ワ
ここで工、yはサンプリングした画像における座標であ
る。したがって、(X、Y)の代りに(X。
る。したがって、(X、Y)の代りに(X。
y、ξr i)でも画素の座標を表現できる。
このように画像の大きさM、s準パターンの大きさN、
サンプリングの間隔には記述の簡単のため縦横同じ値と
したが、これは以下の議論の一般性を失うものではない
。
サンプリングの間隔には記述の簡単のため縦横同じ値と
したが、これは以下の議論の一般性を失うものではない
。
任意の点(X、Y’)=(XI y+ ξ、η)を中
心とするNXNの部分パターンと標準パターンとのマツ
チング誤差Eを次式で定義する。
心とするNXNの部分パターンと標準パターンとのマツ
チング誤差Eを次式で定義する。
E(XI Y)=E(XI y+ξ、η)=ΣΣP(x
十i、y十j、ξ、η)■T(i、j) (2
)i ここで■は排他的論理和に相当する2を法とする加算を
示し一1rJは(1)式の範囲を移動するものとする。
十i、y十j、ξ、η)■T(i、j) (2
)i ここで■は排他的論理和に相当する2を法とする加算を
示し一1rJは(1)式の範囲を移動するものとする。
部分パターンマツチングの処理は1画面中の部分パター
ンに対しく2)式の演算を行ない、次式により最小誤差
Ernとそのときの部分パターンの座標xm、y、、を
求めることである。
ンに対しく2)式の演算を行ない、次式により最小誤差
Ernとそのときの部分パターンの座標xm、y、、を
求めることである。
ET、、= min E(X、!/l ξ、
り)Xr V rξ、η =E(X、n、y□、ξ、η)(3) こうして求まった座標(X□、Y□)=(x−。
り)Xr V rξ、η =E(X、n、y□、ξ、η)(3) こうして求まった座標(X□、Y□)=(x−。
ym、ξ、η)を標準パターンに対応する位置として認
識する。
識する。
さて、標準パターンの選択が不適切であると誤マツチン
グが起ったり、あるいはそのポテンシャルが高くなる。
グが起ったり、あるいはそのポテンシャルが高くなる。
部分パターンマツチングで誤マツチングとは標準パター
ンに対応する本来の部分が求まらず、それと異なる部分
が求まることをいう。
ンに対応する本来の部分が求まらず、それと異なる部分
が求まることをいう。
(2)式のマツチング誤差で、標準パターンに対応する
部分のものを自己誤差値Eaと呼び、その他の部分のも
のを自己誤差値E。と呼ぶことにする。自己誤差値が増
大し、画面中いずれかの部分の相互誤差値を越えた時、
誤マツチングが起る。
部分のものを自己誤差値Eaと呼び、その他の部分のも
のを自己誤差値E。と呼ぶことにする。自己誤差値が増
大し、画面中いずれかの部分の相互誤差値を越えた時、
誤マツチングが起る。
従って、自己誤差値と相互誤差値の両方の変動について
考慮する必要がある。
考慮する必要がある。
とくに、標準パターン登録時とマツチング時では、同一
品種の対象を撮った画像であっても、以下に挙げるよう
な原因で入力画像が変動するため、標準パターンに対応
する部分のパターンが異なり。
品種の対象を撮った画像であっても、以下に挙げるよう
な原因で入力画像が変動するため、標準パターンに対応
する部分のパターンが異なり。
従って自己誤差値が増大することは当然起ることとして
考慮しておかなければならない。 。
考慮しておかなければならない。 。
(1)対象の回転。部分パターンマツチングでは対象が
画像入力装置に対して多少回転している(例えば10度
程度)ことは許容していて、これが画像変動の一因とな
る。ただし、これは標準パターンの形状にも依存し、例
えば同心円パターンではほとんど影響はないが、反対に
放射状のパターンでは影響は大きい。
画像入力装置に対して多少回転している(例えば10度
程度)ことは許容していて、これが画像変動の一因とな
る。ただし、これは標準パターンの形状にも依存し、例
えば同心円パターンではほとんど影響はないが、反対に
放射状のパターンでは影響は大きい。
(ii) 標本化誤差。対象の画像入力装置に対する
位置ずれ量は一般に連続であり、必ずしも標本化間隔の
整数倍ではないので、標本点と対象との位置関係も毎回
異なり、境界近傍の点が0,1いずれになるかが不確定
である。この観点からだけで言えば、自己誤差値の増大
を抑えるには標準パターンにおける境界点は少ない方が
良いことにな゛る。
位置ずれ量は一般に連続であり、必ずしも標本化間隔の
整数倍ではないので、標本点と対象との位置関係も毎回
異なり、境界近傍の点が0,1いずれになるかが不確定
である。この観点からだけで言えば、自己誤差値の増大
を抑えるには標準パターンにおける境界点は少ない方が
良いことにな゛る。
(iii) 2値化の変動。対象の2値画像に変動を
起す原因として照明系、センサ、ビデオ回路、対象の表
面状態などの変動があり、これらの組合わせの全てに対
して常に同一の画像を得るような汎用的かつ実用的な2
値化の方式は存在しない。
起す原因として照明系、センサ、ビデオ回路、対象の表
面状態などの変動があり、これらの組合わせの全てに対
して常に同一の画像を得るような汎用的かつ実用的な2
値化の方式は存在しない。
自己誤差値がこのように増大しても、他の部分の相互誤
差値が大きいときには誤マツチングは起らない。しかし
、標準パターンを切り出す部分によっては、画面中の他
の部分に相互誤差値ECがもともと小さい部分があるこ
とがある。さらにECは登録画像のときより減少する方
向にもばらつく。すなわち相互誤差値E0の全画面での
最小値E。mが小さいと誤認識のポテンシャルが高くな
る。従って、ここではこのE。□をもって評価関数とし
、この値の大きい程ユニークさを持つ良好な標準パター
ンとする。ただし、マツチング誤差の標準パターンの位
置での分布が特に尖鋭でなければ、その近傍でEC□が
発生してしまうので。
差値が大きいときには誤マツチングは起らない。しかし
、標準パターンを切り出す部分によっては、画面中の他
の部分に相互誤差値ECがもともと小さい部分があるこ
とがある。さらにECは登録画像のときより減少する方
向にもばらつく。すなわち相互誤差値E0の全画面での
最小値E。mが小さいと誤認識のポテンシャルが高くな
る。従って、ここではこのE。□をもって評価関数とし
、この値の大きい程ユニークさを持つ良好な標準パター
ンとする。ただし、マツチング誤差の標準パターンの位
置での分布が特に尖鋭でなければ、その近傍でEC□が
発生してしまうので。
標準パターンの位置を含むある幅の領域はE。□を求め
る処理から除くこととする。すなわち評価関数E cm
は次式で定義される。
る処理から除くこととする。すなわち評価関数E cm
は次式で定義される。
ただしRは次式に示すように、標準パターンの位置(x
o、yo)の近傍を除いた領域である。
o、yo)の近傍を除いた領域である。
IX−X、l>ω、 IY−Yol >ω(5)一つの
標準パターン候補に対しECを求めるためにはN’M’
回の2人力排他的論理和演算と加算か必要で、これを全
画面の標準パターン候補について処理すると2N2M’
回の演算となる。例えばN=8.に=1.M=256と
すると2.4X 1. O”回となり、この処理をアド
レス計算を含め1μsで実行する高速計′B、機で行な
うと約671、+i間かかる。マイクロコンピュータで
はさらに1桁以−ヒ長くかかると考えられる。また、パ
ターンマツチング専用のJA置を用いても約17分とな
る。
標準パターン候補に対しECを求めるためにはN’M’
回の2人力排他的論理和演算と加算か必要で、これを全
画面の標準パターン候補について処理すると2N2M’
回の演算となる。例えばN=8.に=1.M=256と
すると2.4X 1. O”回となり、この処理をアド
レス計算を含め1μsで実行する高速計′B、機で行な
うと約671、+i間かかる。マイクロコンピュータで
はさらに1桁以−ヒ長くかかると考えられる。また、パ
ターンマツチング専用のJA置を用いても約17分とな
る。
こ才りが1<=5となるとに4=625分の1となり、
おなし高速計0.機で6.5分に短縮されるがやはり長
い。そこで標償パターン候補内部で演算できる補助評f
ifli関数を導入してN2 M 2オーダの演算で1
次選択を11なう事を考える。どのような特徴を用いる
かを考えるために、実際の対象の画像について、そこか
ら切出した標準パターンによるマツチング誤差分布を観
察すると次のような性質がわかる。
おなし高速計0.機で6.5分に短縮されるがやはり長
い。そこで標償パターン候補内部で演算できる補助評f
ifli関数を導入してN2 M 2オーダの演算で1
次選択を11なう事を考える。どのような特徴を用いる
かを考えるために、実際の対象の画像について、そこか
ら切出した標準パターンによるマツチング誤差分布を観
察すると次のような性質がわかる。
(1)原画像中に白と黒の広い塗り潰し領域が存在する
ため、その領域に含まれる部分パターン(全て白あるい
は全て黒)との誤差値の頻度が際立って大きい。標準パ
ターンの白画素比が0.5のときはこの2つのピークは
重なって1つとなるが、そうでないときには中央から等
間隔の所に現れる。従って標準パターンの白画素比が0
あるいは1のいずれに近づいても、このピークが0に近
づき誤マツチングの可能性が高くなる。
ため、その領域に含まれる部分パターン(全て白あるい
は全て黒)との誤差値の頻度が際立って大きい。標準パ
ターンの白画素比が0.5のときはこの2つのピークは
重なって1つとなるが、そうでないときには中央から等
間隔の所に現れる。従って標準パターンの白画素比が0
あるいは1のいずれに近づいても、このピークが0に近
づき誤マツチングの可能性が高くなる。
(2)原画像におけるa¥準パターンの位置と大きさが
同じときにはマツチング誤差の分散がほぼ同じとなる。
同じときにはマツチング誤差の分散がほぼ同じとなる。
すなわちNが異なってもKXNが同じであれば同程度の
分散となる。
分散となる。
これらの観察から次のような標準パターン選択の指針が
得られる。
得られる。
(1) FrLパターンにおける白画素比は0.5に
近くする。
近くする。
(2) 装置や時間の制約からNを小さくせざるを得
ない応用ではサンプリングを行ない間隔Kを適切に選ぶ
。これによって大きなパターンによるマツチングとほぼ
等価な効果を保つことができる。
ない応用ではサンプリングを行ない間隔Kを適切に選ぶ
。これによって大きなパターンによるマツチングとほぼ
等価な効果を保つことができる。
評価関数として用いる基本的な特徴量を求めるため、2
×2の部分パターンに関する統計を用いることを考える
。この部分パターンは4画素からなるので2’=16通
り存在する。これをその部分パターンに含まれる境界線
の方向に従って次の6グループに分類する。
×2の部分パターンに関する統計を用いることを考える
。この部分パターンは4画素からなるので2’=16通
り存在する。これをその部分パターンに含まれる境界線
の方向に従って次の6グループに分類する。
NXNの部分画像には2×2の部分パターンが(N−t
)”個あり、これを上記グループに分類してその頻度を
求めhk(k=1.2’、3’、4)とする。ただしh
2はG21と62□の頻度の和すなわち斜め線の頻度、
11.はG 3LとG 32の頻度の和すなわち垂直水
平線の頻度とする。また構成比率dkを次式で求める。
)”個あり、これを上記グループに分類してその頻度を
求めhk(k=1.2’、3’、4)とする。ただしh
2はG21と62□の頻度の和すなわち斜め線の頻度、
11.はG 3LとG 32の頻度の和すなわち垂直水
平線の頻度とする。また構成比率dkを次式で求める。
こうすると、D=(d□、d2.d3.d4)は部分画
像の性質の一面を表わす特徴ベクトルといえる。
像の性質の一面を表わす特徴ベクトルといえる。
次に、複雑さを一つのスカラ量で表わすために、部分画
像に含まれる境界長を単位画素あたりに換算した正規化
境界長Cを求める。これは2X2パターンの頻度から近
似的に求めることができる。
像に含まれる境界長を単位画素あたりに換算した正規化
境界長Cを求める。これは2X2パターンの頻度から近
似的に求めることができる。
第5図に式(6)のG21.Gヨ□l G 4の3つの
グループの各先頭の2X2パターンと、その4つの標本
点あるいは格子点に囲まれた領域に含まれる境界線を示
す。他のパターンも同様であり、格子点間隔を1とする
と、近似的にグループG2ではH/2、G3では1.G
4では5の境界長を持つと考えられる。従って、境界長
を面積で割った正規化境界長は次式によって算出できる
。
グループの各先頭の2X2パターンと、その4つの標本
点あるいは格子点に囲まれた領域に含まれる境界線を示
す。他のパターンも同様であり、格子点間隔を1とする
と、近似的にグループG2ではH/2、G3では1.G
4では5の境界長を持つと考えられる。従って、境界長
を面積で割った正規化境界長は次式によって算出できる
。
c=(#/2)d2−+−d、+7Td、 (8
)特徴ベクトルD、正規化境界長Cは各々画面の複雑さ
を反映している。標準パターンについてもこれらの特徴
を求めることができる。
)特徴ベクトルD、正規化境界長Cは各々画面の複雑さ
を反映している。標準パターンについてもこれらの特徴
を求めることができる。
上述の特徴量を用いて、標準パターンの必要条件として
次の評価関数を定義する。
次の評価関数を定義する。
(1) 白画素比(Whit、e Pixel Ra
仁10)′白画素数WのN2に対する比(W/N2)t
’o’、5が最適テアリ、l W/N” −0,5l≦
εで判定する。
仁10)′白画素数WのN2に対する比(W/N2)t
’o’、5が最適テアリ、l W/N” −0,5l≦
εで判定する。
(2)単純パターン比(S impie P aler
n Ratio)標準パターンの特徴ベクトルの第一要
素をを除外する。
n Ratio)標準パターンの特徴ベクトルの第一要
素をを除外する。
(3)正規化境界長(B oundary L eng
th)γ1≦C≦72で判定する。
th)γ1≦C≦72で判定する。
これも(2)と同様の意味を持つ。
(4) 直交要素
標準パターンの中に直交する境界成分の存在を示す次の
判定式を用いる。
判定式を用いる。
(d21≧θ)AND (d2□≧0)(d31≧θ)
AN D Cd s2≧θ)ただしOは閾値で簡単の
ため4つとも同じとする。これは水平垂直の両境界 (t(orizor+tal and Vertica
l Edge)が存在゛ するか、あるいは斜め2方向
の両境界が存在するかを検定するものである。これは1
つの標準パターンでX、Y方向ともに最適位置が決まる
ためのものである。
AN D Cd s2≧θ)ただしOは閾値で簡単の
ため4つとも同じとする。これは水平垂直の両境界 (t(orizor+tal and Vertica
l Edge)が存在゛ するか、あるいは斜め2方向
の両境界が存在するかを検定するものである。これは1
つの標準パターンでX、Y方向ともに最適位置が決まる
ためのものである。
これらの評価関数は標準パターンの複雑さに関係するも
のである。このように候補を絞り、その中から式(4)
の評価関数によって最適な標準パターンを選択すればよ
い。
のである。このように候補を絞り、その中から式(4)
の評価関数によって最適な標準パターンを選択すればよ
い。
これまでの説明ではとくに標準パターンの数には触れな
いで来た。部分パターンマツチングを回転ずれのないこ
とが保証されている対象に適用するときには、適正な標
準パターン1つを用いて位置検出ができることになる。
いで来た。部分パターンマツチングを回転ずれのないこ
とが保証されている対象に適用するときには、適正な標
準パターン1つを用いて位置検出ができることになる。
しかしこのときには。
誤マツチングが起っていないことを確認する手段がなく
、高い信頼性を要求される応用には問題であるにれに対
して複数の4M’193パターンを用いると、2つの標
準パターンに対して求まった位置の相互関係を検定する
ことによって誤マツチングの検査ができ、さらに予備の
標準パターンを$備しておくことにより、冗長性を持た
せて高い認識率を達成することができる。そのためには
画面から複数の標準パターンを選択することになるが、
このとき相互の配置関係が問題となる。
、高い信頼性を要求される応用には問題であるにれに対
して複数の4M’193パターンを用いると、2つの標
準パターンに対して求まった位置の相互関係を検定する
ことによって誤マツチングの検査ができ、さらに予備の
標準パターンを$備しておくことにより、冗長性を持た
せて高い認識率を達成することができる。そのためには
画面から複数の標準パターンを選択することになるが、
このとき相互の配置関係が問題となる。
複数の標準パターンを用いる部分パターンマツチングで
は、ある角度範囲までの回転補正も幾何学的計算によっ
て可能であるが、その精度を確保するためには2つの標
準パターンの画面上での距離が離れていることが要求さ
れる。冗長性を持たせるため3以上の標準パターンを用
意するときには、どの2つをとってもそうなっていなけ
ればならない。回転補正の必要がないときには、この条
件は不要である。
は、ある角度範囲までの回転補正も幾何学的計算によっ
て可能であるが、その精度を確保するためには2つの標
準パターンの画面上での距離が離れていることが要求さ
れる。冗長性を持たせるため3以上の標準パターンを用
意するときには、どの2つをとってもそうなっていなけ
ればならない。回転補正の必要がないときには、この条
件は不要である。
ユニークさの評価関数Ecmの大きいものを例式とする
。この方式では相互の最短距離が保証される。次にその
アルゴリズムを示す。
。この方式では相互の最短距離が保証される。次にその
アルゴリズムを示す。
b) Ecmの最大の標準パターン候補を採択し登録
する。
する。
(11)残った標準パターン候補の中でE Cmの最大
のものをとりあげ、既に登録した標準パターンとの距離
が定めた最短距離より大であるかどうかを検定する。検
定に合格すれば登録し、合格しなければ捨てる。
のものをとりあげ、既に登録した標準パターンとの距離
が定めた最短距離より大であるかどうかを検定する。検
定に合格すれば登録し、合格しなければ捨てる。
(iii) 所定の個数登録できるまで(in)のス
テップに戻る。
テップに戻る。
以上、本発明の基本的な方法を述べた。以下この方法を
実施する装置について説明する。
実施する装置について説明する。
一般に標準パターンの作成を行なうと、それを用いての
認識は非常に回数多く行なわれ、従って、認識時間は極
力短かくすることが要求されるが。
認識は非常に回数多く行なわれ、従って、認識時間は極
力短かくすることが要求されるが。
標準パターンの作成時間に対する要求は、それほど厳し
くはない6従って1本発明の最も前車な実現方法は認識
対象の像を含む入力画像を画像メモリに記憶し1画像メ
モリの任意の位置の情報を計算機が読み取れるように準
備することである。このようにすれば既に述へた標準パ
ターン作成のための処理は全て計算機上で行なうことが
可能となり自動作成が行なわれる。
くはない6従って1本発明の最も前車な実現方法は認識
対象の像を含む入力画像を画像メモリに記憶し1画像メ
モリの任意の位置の情報を計算機が読み取れるように準
備することである。このようにすれば既に述へた標準パ
ターン作成のための処理は全て計算機上で行なうことが
可能となり自動作成が行なわれる。
しかし、マツチング誤差の計算は一般の計算機ではかな
りの時間を要するので、認識の・ために既に備えられて
いるマツチング回路を用いることが好ましい。第1図が
そのための装置の構成を示したものである。図において
、10はテレビカメラなどの撮像装置であり、光学系や
対象物体の供給固定装置などと共に対象物体の像を得る
働きをする。I5は撮像装置からの信号を受信し5閾値
と比較して2値化する回路である。20は撮像装置やマ
ツチング回路へのタイミング信号を発生するタイミング
発生回路であり、撮像装置の画面走査と対応する走査座
標(x、y)を示す信号21を基本クロックから作り出
し、またX、Yの周期毎に撮像装置で必要とする水平・
垂直の同期信号22を発生する。計算機90から画像取
込みコマンド91が来ると、一画面分だけ画像メモリ4
0へ書込み信号23を送り、画像を取込む。このときの
画像メモリ40のアドレスはアドレス切換回路41を走
査座標信号21の方に接続すればよい。
りの時間を要するので、認識の・ために既に備えられて
いるマツチング回路を用いることが好ましい。第1図が
そのための装置の構成を示したものである。図において
、10はテレビカメラなどの撮像装置であり、光学系や
対象物体の供給固定装置などと共に対象物体の像を得る
働きをする。I5は撮像装置からの信号を受信し5閾値
と比較して2値化する回路である。20は撮像装置やマ
ツチング回路へのタイミング信号を発生するタイミング
発生回路であり、撮像装置の画面走査と対応する走査座
標(x、y)を示す信号21を基本クロックから作り出
し、またX、Yの周期毎に撮像装置で必要とする水平・
垂直の同期信号22を発生する。計算機90から画像取
込みコマンド91が来ると、一画面分だけ画像メモリ4
0へ書込み信号23を送り、画像を取込む。このときの
画像メモリ40のアドレスはアドレス切換回路41を走
査座標信号21の方に接続すればよい。
画像の取込みが終るとアドレス切換回路41を計′a、
機90からのアドレス信号92に切換えることによって
計算機90から任意の座標の画像データを読取ることが
できる。従ってB市パターンの候補とする部分パターン
もこの方法で取出すことができ、上述した一次選択のた
めの評価関数の計算も計算機内で行なうことができる。
機90からのアドレス信号92に切換えることによって
計算機90から任意の座標の画像データを読取ることが
できる。従ってB市パターンの候補とする部分パターン
もこの方法で取出すことができ、上述した一次選択のた
めの評価関数の計算も計算機内で行なうことができる。
そして主な評価関数である最小相互誤差値については、
認識時に用いる高速のマツチング専用回路50を用いる
。
認識時に用いる高速のマツチング専用回路50を用いる
。
マツチング専用回路50については既に特R[49−1
11665号、特開昭52−91331号、特開昭53
−134330号などに詳しく述べられているので、こ
こでは簡単に説明する。2値化回路15の出力が直接(
図中破線で示した線によって)、あるいは画像メモリ4
0から読出した出力がマツチング回路に供給されると、
まずN−1本の直列に接続されたシフトメモリ51に入
力される。各シフトメモリの長さ、すなわち段数は水平
走査毎に送り込まれる画素数に等しく設定する。従って
この入力とN−1本のシフトメモリの出力先の信号は互
いに1水平走査づつ離れた画素に対応している。このN
本の信号を並列切出しレジスタ52に入力する。これは
N本の直列入力並列出力の各N段のシフトレジスタで構
成されていて、結局NXNの並列出力が取出せ、これは
画面内で2次元に配列した部分パターンに対応している
。シフトメモリ51.並列切出しレジスタ52ともにク
ロック24の入力毎に1段ずつシフトするので、並列切
出しレジスタ52の出力に対応する部分パターンは画面
内で刻々移動し、タイミング発生回路20が1画面分の
走査をするのと同時に移動を行なう。これに対し同じN
XNの並列出力を持つ標準パターンレジスタ53は計算
機90からその内容を設定される。標準パターン作成時
に1才ここに標準パターンの候補が設定される。この2
つのレジスタ52.53の出力は、パターン照合回路5
4に入力される。ここでは、切出しレジスタ52と標準
パターンレジスタ53の各々対応する出力信号を組にし
、その不一致を検出する。このためには排他的論理和演
算回路を用いればよい。そうすると不一致のときに”
1″′の出力が得られる。そしてNXNの不一致検出の
結果を加算すると、これが(2)式で示したマツチング
誤差に対応した信号55となる。
11665号、特開昭52−91331号、特開昭53
−134330号などに詳しく述べられているので、こ
こでは簡単に説明する。2値化回路15の出力が直接(
図中破線で示した線によって)、あるいは画像メモリ4
0から読出した出力がマツチング回路に供給されると、
まずN−1本の直列に接続されたシフトメモリ51に入
力される。各シフトメモリの長さ、すなわち段数は水平
走査毎に送り込まれる画素数に等しく設定する。従って
この入力とN−1本のシフトメモリの出力先の信号は互
いに1水平走査づつ離れた画素に対応している。このN
本の信号を並列切出しレジスタ52に入力する。これは
N本の直列入力並列出力の各N段のシフトレジスタで構
成されていて、結局NXNの並列出力が取出せ、これは
画面内で2次元に配列した部分パターンに対応している
。シフトメモリ51.並列切出しレジスタ52ともにク
ロック24の入力毎に1段ずつシフトするので、並列切
出しレジスタ52の出力に対応する部分パターンは画面
内で刻々移動し、タイミング発生回路20が1画面分の
走査をするのと同時に移動を行なう。これに対し同じN
XNの並列出力を持つ標準パターンレジスタ53は計算
機90からその内容を設定される。標準パターン作成時
に1才ここに標準パターンの候補が設定される。この2
つのレジスタ52.53の出力は、パターン照合回路5
4に入力される。ここでは、切出しレジスタ52と標準
パターンレジスタ53の各々対応する出力信号を組にし
、その不一致を検出する。このためには排他的論理和演
算回路を用いればよい。そうすると不一致のときに”
1″′の出力が得られる。そしてNXNの不一致検出の
結果を加算すると、これが(2)式で示したマツチング
誤差に対応した信号55となる。
このマツチング誤差信号に対しく3)式に示す最小値を
求めるが最小値検出回路80である。その詳細を第2図
により説明する。初期値設定回路81は最小値レジスタ
82に初期値として大きな数を与えるためのものである
。最小値の探索を開始するに先だって送られる初期化信
号83により。
求めるが最小値検出回路80である。その詳細を第2図
により説明する。初期値設定回路81は最小値レジスタ
82に初期値として大きな数を与えるためのものである
。最小値の探索を開始するに先だって送られる初期化信
号83により。
切替回路84を初期値設定回路に切替え、さらに論理和
ゲート85を通って最小値レジスタ82のセラI−を行
なわせる。その後切替え回路84はマツチング誤差信号
55に切替え、比較器86によってマツチング誤差値と
、その時点での最小値レジスタ82の値とを刻々比較し
、マツチング誤差値の方が小であれば出力を出す。この
出力は論理積ゲート87によって比較クロック69でゲ
ートされた後、論理和ゲート85を通って最小値レジス
タ82のセットを行なうように働らく。このようにすれ
ば走査の終了時に最小値レジスタ82には最小値が求ま
っていて、その値は信号94として計算機へ取り込まれ
、計算機から読出すことができる。また、最小値の更新
毎に論理積回路87の出力パルスが出るので、走査座標
信号21をマツチング座標レジスタ88に入力し、論理
積回路87の出力パルスによって走査座標をレジスタ8
8にセノ1−すれば、最後の更新すなわち最小値が発生
したときの走査座標がレジスタ88に残り、これを信号
95として計算機に取り込み計算機から読出すことがで
きる。
ゲート85を通って最小値レジスタ82のセラI−を行
なわせる。その後切替え回路84はマツチング誤差信号
55に切替え、比較器86によってマツチング誤差値と
、その時点での最小値レジスタ82の値とを刻々比較し
、マツチング誤差値の方が小であれば出力を出す。この
出力は論理積ゲート87によって比較クロック69でゲ
ートされた後、論理和ゲート85を通って最小値レジス
タ82のセットを行なうように働らく。このようにすれ
ば走査の終了時に最小値レジスタ82には最小値が求ま
っていて、その値は信号94として計算機へ取り込まれ
、計算機から読出すことができる。また、最小値の更新
毎に論理積回路87の出力パルスが出るので、走査座標
信号21をマツチング座標レジスタ88に入力し、論理
積回路87の出力パルスによって走査座標をレジスタ8
8にセノ1−すれば、最後の更新すなわち最小値が発生
したときの走査座標がレジスタ88に残り、これを信号
95として計算機に取り込み計算機から読出すことがで
きる。
認識の際には走査範囲全体での最小値を求めればよいの
で比較クロック69は常に与えておけばよい。しかし標
準パターン候補に対し最小相互誤差値を求めるときには
(5)式で表わす領域でのみ最小値を求めることが必要
である。この領域の限定を行ない、領域内でのみ比較ク
ロックを出すのが、領域限定回路60である。その詳細
を第3図により説明する。
で比較クロック69は常に与えておけばよい。しかし標
準パターン候補に対し最小相互誤差値を求めるときには
(5)式で表わす領域でのみ最小値を求めることが必要
である。この領域の限定を行ない、領域内でのみ比較ク
ロックを出すのが、領域限定回路60である。その詳細
を第3図により説明する。
まず、計算機から設定されるX。レジスタ61−1とY
0レジスタ61−2があり、また(5)式のωを表わす
定数レジスタ62がある。これらの間で加減算を行なう
。減算器63−1はXo−ωを加算器64−1はX0+
ωを、減算器63−2はY。−ωを加算器64−2はY
。十ωを算出する。これらの値と走査座標X、Yとの比
較を行なう起比較器65−1ではXくX。−〇のとき比
較器65−2ではX>X 0+ωのとき出力を″ビ′と
するので論理和回路66−1の出力が1となるのは結局
1XXol>ωのときとなる6同様に啓 比硬イ5 3ではY<Yo−ωのとき、比較器65−4
ではY>Y 0+ωのとき出力をII 1 uとし、論
理和回路66−2の出力はIY−Yoj>ωのとき”
1 ”となる。最後に論理積回路67によってX、Yの
条件を共に満足しかつクロック24のタイミングで出る
比較クロック69をつくり出力する。
0レジスタ61−2があり、また(5)式のωを表わす
定数レジスタ62がある。これらの間で加減算を行なう
。減算器63−1はXo−ωを加算器64−1はX0+
ωを、減算器63−2はY。−ωを加算器64−2はY
。十ωを算出する。これらの値と走査座標X、Yとの比
較を行なう起比較器65−1ではXくX。−〇のとき比
較器65−2ではX>X 0+ωのとき出力を″ビ′と
するので論理和回路66−1の出力が1となるのは結局
1XXol>ωのときとなる6同様に啓 比硬イ5 3ではY<Yo−ωのとき、比較器65−4
ではY>Y 0+ωのとき出力をII 1 uとし、論
理和回路66−2の出力はIY−Yoj>ωのとき”
1 ”となる。最後に論理積回路67によってX、Yの
条件を共に満足しかつクロック24のタイミングで出る
比較クロック69をつくり出力する。
以上に説明した装置を用いると計算機90の制御によっ
て部分パターンを画像メモリ40から取出し、それを標
準パターン候補としてマツチング回路50に送り込み、
(4)式(5)式に表わされた最・ 小値相互誤差値の
算出を高速の専用回路で実行でき、最小値を信号94と
して読取ることができることになり、処理の高速化が図
れる。
て部分パターンを画像メモリ40から取出し、それを標
準パターン候補としてマツチング回路50に送り込み、
(4)式(5)式に表わされた最・ 小値相互誤差値の
算出を高速の専用回路で実行でき、最小値を信号94と
して読取ることができることになり、処理の高速化が図
れる。
また、この装置は、特開昭52−91331号に示され
た位置検出装置に対して、領域限定回路60と画像メモ
リ40とその関連回路を追加し、計算機90のプログラ
ムを入れかえることにより構成でき、追加のために増加
するコストは小さい。
た位置検出装置に対して、領域限定回路60と画像メモ
リ40とその関連回路を追加し、計算機90のプログラ
ムを入れかえることにより構成でき、追加のために増加
するコストは小さい。
さて1次に一次選択関数の内で白画素比を高速↓こ演算
する回路の例を第4図に示す。これは、第1図の回路に
追加して構成されているので、共通の部分については説
明を省略する。
する回路の例を第4図に示す。これは、第1図の回路に
追加して構成されているので、共通の部分については説
明を省略する。
白画素比を求めるときには、標準パターンレジスタ53
には全て黒すなわち50の標準パターンを設定する。そ
うすると並列切出レジスタ52に表われる部分パターン
の内向の画素が不一致となり、照合回路50の出力55
には部分パターンの自画:@数Wが求まっている。そこ
で、値域判定回路100で値が(0,5−ε)N2以上
かつ(0,5+E)N”以下であるときにのみ判定出力
” 1 ”を出すようにする。この判定出力は、部分パ
ターン選択ビットメモリ略して選択メモリ110に書込
まれる。このときには選択メモリの71〜レス切換回路
111は走査座標信号21を接続していて1部分パター
ンの画面中における位置かアドレスとして供給される。
には全て黒すなわち50の標準パターンを設定する。そ
うすると並列切出レジスタ52に表われる部分パターン
の内向の画素が不一致となり、照合回路50の出力55
には部分パターンの自画:@数Wが求まっている。そこ
で、値域判定回路100で値が(0,5−ε)N2以上
かつ(0,5+E)N”以下であるときにのみ判定出力
” 1 ”を出すようにする。この判定出力は、部分パ
ターン選択ビットメモリ略して選択メモリ110に書込
まれる。このときには選択メモリの71〜レス切換回路
111は走査座標信号21を接続していて1部分パター
ンの画面中における位置かアドレスとして供給される。
ただし走査座標は部分パターンの一度後から入力される
、右下ずみの座標となっていて、中心からX、YともN
/2づつ大きくなっている。
、右下ずみの座標となっていて、中心からX、YともN
/2づつ大きくなっている。
この選択メモリ110の内容によって部分パターンの予
備選択を行ない、マツチング誤差の判定を行なうには次
の手順で処理する。候補の部分パターンの位置を画面走
査と同じ順序で発生する。
備選択を行ない、マツチング誤差の判定を行なうには次
の手順で処理する。候補の部分パターンの位置を画面走
査と同じ順序で発生する。
このとき部分パターンの位置は中心ではなく、右下ずみ
の画素の位置として発生する。この位置座標を領域限定
回路60のX。、Y0レジスタ61に送り込む。このレ
ジスタの値は信号68として送り出され、アドレス切換
回路illを通って選択メモリ110のアドレスとして
与えられる。従って選択メモリに書込まれてあった予備
選択の結果すなわち、いまの例では白画素比の適性なも
のが′1″という情報が読出され、読取線96を通じて
計算機90に読取られる。もしこの情報が” o ”で
不適であれば、直ちに次の部分パターン候補に移り、そ
の位置座標をXo、Y0レジスタ61に送り込めばよい
。選択メモリ110の情報が” l ”となってはじめ
て、その部分パターンを画像メモリ4から読取り、必要
であれば、その他の一次選択関数による適否の検定を行
なって、さらにふるいにかけた後その部分パターンを候
補として標情パターンレジスタ53に送り込み、マツチ
ング誤差の最小値を求める。なお、ここで用いた値域判
定回路100は2つの数値比較回路と論理蹟回路て簡貼
に構成できるので詳細については省略する。
の画素の位置として発生する。この位置座標を領域限定
回路60のX。、Y0レジスタ61に送り込む。このレ
ジスタの値は信号68として送り出され、アドレス切換
回路illを通って選択メモリ110のアドレスとして
与えられる。従って選択メモリに書込まれてあった予備
選択の結果すなわち、いまの例では白画素比の適性なも
のが′1″という情報が読出され、読取線96を通じて
計算機90に読取られる。もしこの情報が” o ”で
不適であれば、直ちに次の部分パターン候補に移り、そ
の位置座標をXo、Y0レジスタ61に送り込めばよい
。選択メモリ110の情報が” l ”となってはじめ
て、その部分パターンを画像メモリ4から読取り、必要
であれば、その他の一次選択関数による適否の検定を行
なって、さらにふるいにかけた後その部分パターンを候
補として標情パターンレジスタ53に送り込み、マツチ
ング誤差の最小値を求める。なお、ここで用いた値域判
定回路100は2つの数値比較回路と論理蹟回路て簡貼
に構成できるので詳細については省略する。
マツチング誤差の最小値は座標とともに計算機90内の
メモリに記憶しておき、全ての位置の部分パターンにつ
いて調入終ると、この計算機内のメモリに記憶されたマ
ツチング誤最小値の内で最も太きいものから既に述へた
方法で選択するとよし)6 〔発明の効果〕 本発明によれば、テレビカメラの画面の内から自動的に
パターンマツチングに用いる適切な標準パターンあるい
は標準パターンの組を選択することができるので、テレ
ビカメラの視野に新しい品種の対象を供給して選択処理
の起動をかけるだけで、その後の新品種の認識のための
$備が出来ることになる。従って、従来七大#標準パタ
ーンを選択するために行なっていた人間の直感をたより
とする慎重な選択の操作は必要でなくなり、熟練を要せ
ず誰でもが簡単な操作で済ませることができる。また1
選択のために必要な時間も、マツチング回路への小規模
の附加回路によって短縮され、特に複数の標僧パターン
を選択するときには、より短い時間で処理できる。
メモリに記憶しておき、全ての位置の部分パターンにつ
いて調入終ると、この計算機内のメモリに記憶されたマ
ツチング誤最小値の内で最も太きいものから既に述へた
方法で選択するとよし)6 〔発明の効果〕 本発明によれば、テレビカメラの画面の内から自動的に
パターンマツチングに用いる適切な標準パターンあるい
は標準パターンの組を選択することができるので、テレ
ビカメラの視野に新しい品種の対象を供給して選択処理
の起動をかけるだけで、その後の新品種の認識のための
$備が出来ることになる。従って、従来七大#標準パタ
ーンを選択するために行なっていた人間の直感をたより
とする慎重な選択の操作は必要でなくなり、熟練を要せ
ず誰でもが簡単な操作で済ませることができる。また1
選択のために必要な時間も、マツチング回路への小規模
の附加回路によって短縮され、特に複数の標僧パターン
を選択するときには、より短い時間で処理できる。
第1図は、本発明を実施する装置の一例を示すブロック
図、第2図は第1図における最小値検出回路のブロック
図、第3図は同じく領域限定回路のブロック図、第4図
は、第1図の装置にさらに高速化のための附加回路を追
加した一実施例を示すブロック図、第5図は周囲長算出
の説明図であ 。 る。 符号の説明 IO・・・カメラ、20・・・タイミング発生回路、4
0 画像メモリ、50 マツチング回路、53・−標情
パターンレジスタ、60・・領域限定回路280 最小
値検出回路、90 ・計算機、100 値域判定回路、
110 選択メモリ。 第 z 区 と 第 4図 毛 左 図
図、第2図は第1図における最小値検出回路のブロック
図、第3図は同じく領域限定回路のブロック図、第4図
は、第1図の装置にさらに高速化のための附加回路を追
加した一実施例を示すブロック図、第5図は周囲長算出
の説明図であ 。 る。 符号の説明 IO・・・カメラ、20・・・タイミング発生回路、4
0 画像メモリ、50 マツチング回路、53・−標情
パターンレジスタ、60・・領域限定回路280 最小
値検出回路、90 ・計算機、100 値域判定回路、
110 選択メモリ。 第 z 区 と 第 4図 毛 左 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、検出対象の画像から求めるべき標準パターンの大き
さの部分パターンを順次切出して、標準パターンの候補
とし、順次切出された部分パターンあるいは該部分パタ
ーンと検出対象の画像とから標準パターンとしての適性
を表わす評価値を求め、その値に基づいて標準パターン
を決定することを特徴とするパターンマッチング用標準
パターンの作成方法。 2、第1項記載の作成方法において、上記評価値として
、候補部分パターンと、その部分パターンを切出した位
置を除く全画面から順次切出した同じ大きさの部分パタ
ーンとの一致あるいは不一致の程度を求めることを特徴
とするパターンマッチング用標準パターンの作成方法。 3、第2項記載の作成方法において、上記部分パターン
を切出した位置だけでなく、ある定めた近傍の位置を除
外して一致あるいは不一致の程度を求めることを特徴と
するパターンマッチング用標準パターンの作成方法。 4、第2項又は第3項記載の作成方法において、一致あ
るいは不一致の程度を求めるために、位置検出の際に用
いる部分パターンの切出しおよび一致あるいは不一致の
程度を求める手段を共用することを特徴とするパターン
マッチング用標準パターンの作成方法。 5、処理すべき画像の各構成画素が2値であるとき、上
記評価値として、候補部分パターンの各画素の内2値の
内どちらか1方の値を持つ画素の数と部分パターンの全
画素数の1/2との差の絶対値を用い、その評価値が小
さいほどよいとすることを特徴とする第1項記載のパタ
ーンマッチング用標準パターンの作成方法。 6、第5項記載の作成方法において、上記評価値を求め
るために、位置検出の際に用いる部分パターンの切出し
および一致あるいは不一致の程度を求める手段を共用す
ることを特徴とするパターンマッチング用標準パターン
の作成方法。 7、第2項記載の作成方法において、上記評価値による
選択の外に、候補部分パターン内部の情報から標準パタ
ーンとしての適性を検定する処理を加えて不適切なもの
を除外することを特徴とするパターンマッチング用標準
パターンの作成方法。 8、第7項記載の作成方法において、上記検定の処理と
して、候補部分パターンの構成画素における値の出現頻
度分布が所定の条件を満しているか否かを調べることを
特徴とするパターンマッチング用標準パターンの作成方
法。 9、第7項記載の作成方法において、上記検定の処理と
して、対象とする画像が2値のときには、候補部分パタ
ーンの構成画素の内、所定の値をとる画素の数が、予め
定めた範囲にあるか否かを調べることを特徴とするパタ
ーンマッチング用標準パターンの作成方法。 10、第7項記載の作成方法において、上記検定の処理
として、候補部分パターンに含まれる境界線長さが所定
の範囲にあるか否かとを調べることを特徴とするパター
ンマッチング用標準パターンの作成方法。 11、第7項記載の作成方法において、上記検出の処理
として、候補部分パターンに直交する2方向の境界線が
存在するか否かを調べることを特徴とするパターンマッ
チング用標準パターンの作成方法。 12、第7項記載の作成方法において、上記検出の処理
として、候補部分パターンの中からさらに切出される2
×2の部分パターンの内、4画素全てが同じ値であるも
の個数を求め、それが所定の範囲にあるか否かを調べる
ことを特徴とするパターンマッチング用標準パターンの
作成方法。 13、第1項から第12項までのいずれかに記載の作成
方法において、上記評価値を用いて、順次評価値のよい
候補部分パターンを標準パターンとして採用するとし、
次に評価値のよい候補部分パターンについて、その候補
部分パターンの位置が、それ以前に採用した候補部分パ
ターンの位置のいずれとも所定の距離以上、離れている
ときには当該候補部分パターンを標準パターンとして採
用するようにして、所定の個数の標準パターンが求まる
までその処理を繰り返すことを特徴とする、パターンマ
ッチング用標準パターンの作成方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59194670A JPH0754549B2 (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | パターンマッチング用標準パターンの作成方法 |
| US06/777,724 US4783831A (en) | 1984-09-19 | 1985-09-19 | Method for producing a standard pattern for pattern matching |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59194670A JPH0754549B2 (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | パターンマッチング用標準パターンの作成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6174082A true JPS6174082A (ja) | 1986-04-16 |
| JPH0754549B2 JPH0754549B2 (ja) | 1995-06-07 |
Family
ID=16328350
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59194670A Expired - Lifetime JPH0754549B2 (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | パターンマッチング用標準パターンの作成方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4783831A (ja) |
| JP (1) | JPH0754549B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007003212A (ja) * | 2005-06-21 | 2007-01-11 | Hitachi High-Technologies Corp | 走査型電子顕微鏡用撮像レシピ作成装置及びその方法並びに半導体パターンの形状評価装置 |
| JP2013157042A (ja) * | 2013-05-24 | 2013-08-15 | Mega Chips Corp | ブロックマッチング回路及びデータ更新方法 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3650771D1 (de) * | 1985-12-13 | 2002-08-14 | Canon Kk | Bildverarbeitungsgerät |
| US5067162A (en) * | 1986-06-30 | 1991-11-19 | Identix Incorporated | Method and apparatus for verifying identity using image correlation |
| US4969200A (en) * | 1988-03-25 | 1990-11-06 | Texas Instruments Incorporated | Target autoalignment for pattern inspector or writer |
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